Członkowie zespołu: Ilasz Tadeusz i Grybski Ryszard
|
|
Wykonał: Ilasz Tadeusz
|
|
Nr zespołu: 2
|
Data wyk. ćw. : 6.04.2000 |
Prowadzący zajęcia: dr Bronisław Majchrzak
|
|
Tytuł ćwiczenia: Pomiar parametrów sygnałów sinusoidalnych metodą próbkowania i cyfrowego przetwarzania. |
1.Cel ćwiczenia:
Zapoznanie się z metodą próbkowania i cyfrowego przetwarzania przy pomiarach parametrów sygnałów napięciowych.
2.Spis przyrządów:
Częstościomierz C549A;
Woltomierz V543
Oscyloskop LG03-5020;
Generator KZ1118.
3.Schemat pomiarowy:
4.Przebieg pomiarów:
Pomiary zostały przeprowadzone przy pomocy komputera z odpowiednim oprogramowaniem. Napięcie mierzone o częstotliwości 50 Hz było próbkowane z częstotliwością Ts = 12198 próbek/sekundę i kwantowane w dwunastobitowym przetworniku a/c. Wartości cyfrowe próbek, których maksymalna liczba Nmax = 500, były wpisane do pamięci komputera. Komputer obliczał wartość średnią, skuteczną napięcia, wyszukiwał wartości ekstremalne próbek, sporządzał histogram wyników.
Dobór parametrów polegał na ustaleniu częstotliwości i okna czasowego próbkowania Tw. Dla raz spróbkowanego zapamiętanego sygnału można uzyskać wyniki dla różnej wartości okna czasowego poprzez uwzględnienie na analizie różnej liczby próbek.
6.Wyniki pomiarów:
Ilość próbek |
Okno czasowe |
Próbkowana część okresu |
Dane wzorcowe |
Wartości zmierzone |
Błąd względny |
|
|
|
Składowa stała |
Składowa stała |
|
|
[ms] |
[%] |
[V] |
[V] |
[%] |
256 |
20,48 |
102,4 |
0,004 |
0,0094 |
135 |
253 |
20,24 |
101,2 |
0,004 |
-0,019 |
573 |
250 |
20,00 |
100 |
0,004 |
-0,0455 |
1237 |
240 |
19,20 |
99 |
0,004 |
-0,1185 |
3062 |
225 |
18,00 |
90 |
0,004 |
-0,1691 |
4327 |
216 |
17,28 |
86,4 |
0,004 |
-0,1591 |
4077 |
164 |
13,12 |
65,6 |
0,004 |
0,6150 |
15275 |
128 |
10,24 |
51,2 |
0,004 |
1,7010 |
42425 |
Ilość próbek |
Okno czasowe |
Próbkowana część okresu |
Dane wzorcowe |
Wartości zmierzone |
Błąd względny |
|
|
|
Składowa zmienna |
Składowa zmienna |
|
|
[ms] |
[%] |
[V] |
[V] |
[%] |
256 |
20,48 |
102,4 |
2,549 |
2,550 |
0,03 |
253 |
20,24 |
101,2 |
2,549 |
2,551 |
0,08 |
250 |
20,00 |
100 |
2,549 |
2,555 |
0,20 |
240 |
19,20 |
99 |
2,549 |
2,584 |
1,37 |
225 |
18,00 |
90 |
2,549 |
2,660 |
4,70 |
216 |
17,28 |
86,4 |
2,549 |
2,720 |
6,62 |
164 |
13,12 |
65,6 |
2,549 |
2,71 |
6,27 |
128 |
10,24 |
51,2 |
2,549 |
2,53 |
0,78 |
błąd względny
wartość zmierzona
wartość wzorcowa
np.
Tg - okres sygnału badanego
Ts - okres próbkowania
Tw - okno czasowe
fg - częstotliwość sygnału badanego
fs - częstotliwość próbkowania
N - ilość próbek w oknie czasowym
fg = 50 [Hz] Tg = 20 [ms]
fs = 12198 próbek/sekundę Ts = 0,08 [ms]
.
Aby spróbkować jeden okres
Tw = N * Ts
np.
Tw = 256 * 0,08 = 20,48 [ms]
Wnioski:
Wartość skuteczną napięcia zmiennego możemy zmierzyć woltomierzem napięcia stałego wyposażonym w przetwornik napięcia zmiennego na stałe lub metodą próbkowania i kwantowania sygnału analogowego, która polega na pobieraniu próbek chwilowych wartości wielkości ciągłej w wybranych chwilach czasu.
Błąd określenia wartości mierzonych metodą próbkowania w znacznym stopniu zależy od szerokości okna czasowego. Im wartość tego okna bliższa jest wartości okresu przebiegu mierzonego lub jego wielokrotności tym pomiary są dokładniejsze.
Najdokładniejszy wynik pomiarów otrzymałem gdy próbkowałem nieco więcej niż jeden okres, ponieważ na dokładność ma również wpływ liczba próbek w oknie czasowym. Powinna ona wynosić 2n, gdzie n = 1, 2, 3... . Ponieważ maksymalna liczba próbek w oknie czasowym wynosi 500, spróbkowałem dany okres liczbą próbek od 128 do 256.
Woltomierz
cyfrowy
Oscyloskop
Częstościomierz
Monitor
IBM
PC
Generator sygnału
Karta przetwornika a/c