SPC 07, SPC- Statystyczne Sterowanie Procesem


ZAŁĄCZNIK B

Nadmierna regulacja

Nadmierna regulacja jest sposobem postępowania, który podchodzi do każdego odchylenia od wartości zadanej tak, jakby ono było oddziaływaniem specjalnej przyczyny zmienności w procesie. Jeżeli stabilny proces jest wyregulowany na podstawie każdego dokonanego pomiaru, wtedy to wyregulowanie staje się dodatkowym źródłem zmienności. Problem ten jest przedstawiony za pomocą następujących przykładów. Pierwszy rysunek pokazuje wyniki bez regulowania. Drugi przedstawia zmienność w wyniku przeprowadzania regulowania procesu, dla skompensowania każdego odchylenia od wartości zadanej. Trzeci jest przykładem kompensowania dla utrzymania się w granicach specyfikacji. Każda metoda regulowania powoduje zwiększenie się zmienności na wyjściu, gdyż zmienność bez regulowania jest stabilna (patrz Załącznik H, odsyłacz 4, Dział 11).

Wyniki bez regulowania

0x08 graphic

Wyniki z regulowaniem dla skompensowania ostatniego odchylenia od wartości zadanej

0x08 graphic

Wyniki z regulowaniem dla skompensowania ostatniego odchylenia od wartości zadanej, gdy odchylenie jest większe od 1.

0x08 graphic

ZAŁACZNIK C

Procedura wyboru dla zastosowań kart kontrolnych

opisanych w tym podręczniku

0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic

0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
ZAŁĄCZNIK D

Zależność między C pm* i innymi wskaźnikami a

(USL - T) = (T - LSL) **

0x08 graphic

0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic

zaś u = całkowitej liczbie pojedynczych odczytów dla próbek

** L.J. Chan, S.W. Cheng i F.A. Spiring, "A New Measure of Process Capability: Cpm,"Journal of Quality Technology, Vol. 20, nr 3 czerwiec 1989, str. 16. Przedruk z Journal od Quality Technology, Publikacja American Society for Quality Control.

ZAŁĄCZNIK E

Tablica Współczynników oraz Wzorów dla Kart Kontrolnych

Karty 0x01 graphic
i R

Karty 0x01 graphic
i s*

Karta dla średnich (0x01 graphic
)

Karta dla Rozstępów (R)

Karta dla Średnich (0x01 graphic
)

Karta dla odchyleń standardowych (s)

Wielk.

Podgr.

Współ. Dla

Granic kontrolnych

Dzielnik dla szac. Odchyl. Stand.

Współ. Dla

Granic kontrolnych

Współ. Dla

Granic kontrolnych

Dzielnik dla szac. Odchyl. Stand.

Współ. Dla granic kontrolnych

N

A2

D2

D3

D4

A3

c4

B3

B4

2

1.880

1.128

-

3.267

2.659

0.7979

-

3.267

3

1.023

1.693

-

2.574

1.954

0.8862

-

2.568

4

0.729

2.059

-

2.282

1.628

0.9213

-

2.266

5

0.577

2.326

-

2.114

1.427

0.9420

-

2.089

6

0.483

2.534

-

2.004

1.287

0.9515

0.030

1.970

7

0.419

2.704

0.076

1.924

1.182

0.9594

0.118

1.882

8

0.373

2.847

0.136

1.864

1.099

0.9650

0.185

1.815

9

0.337

2.970

0.184

1.816

1.032

0.9693

0.239

1.761

10

0.308

3.078

0.223

1.777

0.975

0.9727

0.284

1.716

11

0.285

3.173

0.256

1.744

0.927

0.9754

0.321

1.679

12

0.266

3.258

0.283

1.717

0.886

0.9776

0.354

1.646

13

0.249

3.336

0.307

1.693

0.850

0.9794

0.382

1.618

14

0.235

3.407

0.328

1.672

0.817

0.9810

0.406

1.594

15

0.223

3.472

0.347

1.653

0.789

0.9823

0.428

1.572

16

0.212

3.532

0.363

1.637

0.763

0.9835

0.448

1.552

17

0.203

3.588

0.378

1.622

0.739

0.9845

0.466

1.534

18

0.194

3.640

0.391

1.608

0.718

0.9854

0.482

1.518

19

0.187

3.689

0.403

1.597

0.698

0.9862

0.497

1.503

20

0.180

3.735

0.415

1.585

0.680

0.9869

0.510

1.490

21

0.173

3.778

0.425

1.575

0.663

0.9876

0.523

1.477

22

0.167

3.819

0.434

1.566

0.647

0.9882

0.534

1.466

23

0.162

3.858

0.443

1.557

0.633

0.9887

0.545

1.455

24

0.157

3.895

0.451

1.548

0.619

0.9892

0.555

1.445

25

0.153

3.931

0.459

1.541

0.606

0.9896

0.565

1.435

0x01 graphic
0x01 graphic

*Z publikacji ASTM STP - 15 D, Podręcznik Przedstawiania Danych oraz Analiz Kart Kontrolnych, 1976, strony 134 - 136, przedruk za zezwoleniem ASTM, 1916 Race Street, Filadelfia, Pensylwania 19103.

Załącznik E - Tablica współczynników oraz wzorów dla kart kontrolnych (kontynuacja)

Karty median**

Karty jednostek*

Karta dla median (0x01 graphic
)

Karta dla Rozstępów (R)

Karta dla jednostek (X)

Karta dla Rozstępów (R)

Wielk.

Podgr.

Współ. Dla

Granic kontrolnych

Dzielnik dla szac. Odchyl. Stand.

Współ. Dla

Granic kontrolnych

Współ. Dla

Granic kontrolnych

Dzielnik dla szac. Odchyl. Stand.

Współ. Dla granic kontrolnych

n

0x01 graphic

d2

D3

D4

E2

d2

D3

D4

2

1.880

1.128

-

3.267

2.660

1.128

-

3.267

3

1.187

1.693

-

2.574

1.772

1.693

-

2.574

4

0.796

2.059

-

2.282

1.457

2.059

-

2.282

5

0.691

2.326

-

2.114

1.290

2.326

-

2.114

6

0.548

2.534

-

2.004

1.184

2.534

-

2.004

7

0.508

2.704

0.076

1.924

1.109

2.704

0.076

1.924

8

0.433

2.847

0.136

1.864

1.054

2.847

0.136

1.864

9

0.412

2.970

0.184

1.816

1.010

2.970

0.184

1.816

10

0.362

3.078

0.223

1.777

0.975

3.078

0.223

1.777

0x01 graphic
0x01 graphic

* Z publikacji ASTM STP - 15 D, Podręcznik Przedstawiania Danych oraz Analiz Kart Kontrolnych, 1976, strony 134 - 136, przedruk za zezwoleniem ASTM, 1916 Race Street, Filadelfia, Pensylwania 19103.

** Współczynnik 0x01 graphic
wzięty z ASTM - STP - 15D Tabeli Danych i Wydajności, która zawarta została z W. J. Dixon i F. J. Massey, Jr., Wprowadzenie do analizy statystycznej, wydanie trzecie, 1969; Strona 488; Mc Graw - Hill Book Company, Nowy Jork.

Załącznik E - Tablica współczynników oraz wzorów dla kart kontrolnych (kontynuacja)

Karty dla danych atrybutowych

0x08 graphic

Karta p, dla proporcji jednostek niezgodnych, z prób o niekoniecznie stałej wielkości:

0x01 graphic

lub

0x01 graphic

Karta np., dla liczby sztuk niezgodnych z prób o stałej wielkości:

0x01 graphic

Karta c, dla liczby niezgodności, z prób o stałej wielkości:

0x01 graphic

Karta u, dla liczby niezgodności na jednostkę, z prób o niekoniecznie stałej wielkości:

0x01 graphic

lub

0x01 graphic

Należy pamiętać, że wybór kart dla danych atrybutowych jest następujący:

Sztuki niezgodne Niezgodności

0x08 graphic
0x08 graphic

Liczba

(prosta, ale wymaga stałej

wielkości prób)

0x08 graphic
0x08 graphic

Proporcja

(bardziej złożona, ale dostosowana

do zrozumiałej proporcji i może być

stosowana przy zmieniającej się

wielkości prób)

ZAŁĄCZNIK F

Standardowy rozkład normalny

Pz = proporcja wyjścia procesu poza wartość nas interesującą (np. granice specyfikacji) tak, że jednostka standardowego odchylenia jest poza średnią procesu (dla procesu który jest statystycznie sterowany i ma normalny rozkład). Np. jeśli z = 2.17, Pz = .0150 lub 1.5%. w każdej sytuacji proporcja ta może być podana tylko w przybliżeniu.

z

x.x0

x.x1

x.x2

x.x3

x.x4

x.x5

x.x6

x.x7

x.x8

x.x9

4.0

.00003

3.9

.00005

.00005

.00004

.00004

.00004

.00004

.00004

.00004

.00003

.00003

3.8

.00007

.00007

.00007

.00006

.00006

.00006

.00006

.00005

.00005

.00005

3.7

.00011

.00010

.00010

.00010

.00009

.00009

.00008

.00008

.00008

.00008

3.6

.00016

.00015

.00015

.00014

.00014

.00013

.00013

.00012

.00012

.00011

3.5

.00023

.00022

.00022

.00021

.00020

.00019

.00019

.00018

.00017

.00017

3.4

.00034

.00032

.00031

.00030

.00029

.00028

.00027

.00026

.00025

.00024

3.3

.00048

.00047

.00045

.00043

.00042

.00040

.00039

.00038

.00036

.00035

3.2

.00069

.00066

.00064

.00062

.00060

.00058

.00056

.00054

.00052

.00050

3.1

.00097

.00094

.00090

.00087

.00084

.00082

.00079

.00076

.00074

.00071

3.0

.00135

.00131

.00126

.00122

.00118

.00114

.00111

.00107

.00104

.00100

2.9

.0019

.0018

.0018

.0017

.0016

.0016

.0015

.0015

.0014

.0014

2.8

.0026

.0025

.0024

.0023

.0023

.0022

.0021

.0021

.0020

.0019

2.7

.0035

.0034

.0033

.0032

.0031

.0030

.0029

.0028

.0027

.0026

2.6

.0047

.0045

.0044

.0043

.0041

.0040

.0039

.0038

.0037

.0036

2.5

.0062

.0060

.0059

.0057

.0055

.0054

.0052

.0051

.0049

.0048

2.4

.0082

.0080

.0078

.0075

.0073

.0071

.0069

.0068

.0066

.0064

2.3

.0107

.0104

.0102

.0099

.0096

.0094

.0091

.0089

.0087

.0084

2.2

.0139

.0136

.0132

.0129

.0125

.0122

.0119

.0116

.0113

.0110

2.1

.0179

.0174

.0170

.0166

.0162

.0158

.0154

.0150

.0146

.0143

2.0

.0228

.0222

.0217

.0212

.0207

.0202

.0197

.0192

.0188

.0183

1.9

.0287

.0281

.0274

.0268

.0262

.0256

.0250

.0244

.0239

.0233

1.8

.0359

.0351

.0344

.0336

.0329

.0322

.0314

.0307

.0301

.0294

1.7

.0446

.0436

.0427

.0418

.0409

.0401

.0392

.0384

.0375

.0367

1.6

.0548

.0537

.0526

.0516

.0505

.0495

.0485

.0475

.0465

.0455

1.5

.0668

.0655

.0643

.0630

.0618

.0606

.0594

.0582

.0571

.0559

1.4

.0808

.0793

.0778

.0764

.0749

.0735

.0721

.0708

.0694

.0681

1.3

.0968

.0951

.0934

.0918

.0901

.0885

.0869

.0853

.0838

.0823

1.2

.1151

.1131

.1112

.1093

.1075

.1056

.1038

.1020

.1003

.0985

1.1

.1357

.1335

.1314

.1292

.1271

.1251

.1230

.1210

.1190

.11170

1.0

.1587

.1562

.1539

.1515

.1492

.1469

.1446

.1423

.1401

.1379

0.9

.1841

.1814

.1788

.1762

.1736

.1711

.1685

.1660

.1635

.1611

0.8

.2119

.2090

.2061

.2033

.2005

.1977

.1949

.1922

.1894

.1867

0.7

.2420

.2389

.2358

.2327

.2297

.2266

.2236

.2206

.2177

.2248

0.6

.2742

.2709

.2676

.2643

.2611

.2578

.2546

.2514

.2483

.2451

0.5

.3085

.3050

3.015

.2981

.2946

.2912

.2877

.2843

.2810

.2776

0.4

.3446

.3409

.3372

.3336

.3300

.3264

.3228

.3192

.3156

.3121

0.3

.3821

.3783

.3745

.3707

.3669

.3632

.3594

.3557

.3520

.3483

0.2

.4207

.4168

.4129

.4090

.4052

.4013

.3974

.3936

.3897

.3859

0.1

.4602

.4562

.4522

.4483

.4443

.4404

.4364

.4325

.4286

.4247

0.0

.5000

.4960

.4920

.4880

.4840

.4801

.4761

.4721

.4681

.4641

ZAŁĄCZNIK G

Słownik Pojęć i Symboli

Są to intuicyjne opisy pojęć stosowanych w tym podręczniku. Dla uzyskania definicji operacyjnych i matematycznych patrz źródła podane w Załączniku H.

Pojęcia Użyte w tym Podręczniku

Analiza strefy jest to metoda szczegółowej analizy karty kontrolnej Shewharta, która dzieli wykres0x01 graphic
pomiędzy granicami kontrolnymi na trzy równoległe strefy powyżej linii centralne i trzy równoległe strefy poniżej linii centralnej. Strefy te czasami są nazywane strefami „sigma” (sigma jest tu odchyleniem standardowym ŚREDNIEGO rozkładu, a nie indywidualnych wyników). Każdej strefie przypisane jest prawdopodobieństwo proporcji punktów od których oczekuje się, że znajdą się w tej samej strefie, pod warunkiem, że dane mają rozkład normalny (tj. są w zakresie sterowania). Np. strefom przyległym do przeciętnej przypisane jest prawdopodobieństwo 0.3413, następne strefy mają prawdopodobieństwo 0.136, a zewnętrzne strefy mają prawdopodobieństwo 0.02135. Każdy poza górną i dolną granicą kontrolną ma przypisane prawdopodobieństwo 0.00135. Dane mogą być potem badane na rozstęp nienormalny w oparciu o położenie punktów danych w odniesieniu do trzech stref. Prawdopodobieństwa dla kart rozstępów zależą od wielkości prób prawdopodobieństwa dla kart atrybutowych są oparte na rozkładach dwumianowych lub Poissona. Proste zasady wyprowadzane z tego systemu mogą być używane jako system wczesnego ostrzegania o nieznacznych zmianach procesu, które mogą się ujawnić jako punkty poza granicami kontrolnymi. Aby uzyska ć dokładne informacje na ten temat polecane jest zapoznanie się z Podręcznikiem „Statistical Quality Control Handbook” Western Elecrtic strony 25-31 i 180 - 183 (Załącznik H, Odsyłacz 7).

Błąd typu I Odrzucenie przypuszczenia, że jest prawdą; np. pojęcie działania dla specjalnej przyczyny gdy w rzeczywistości proces nie zmienił się; nadmierne sterowanie.

Błąd typu II Nie odrzucenie przypuszczenia, że jest nieprawdą; np. nie podjęcie właściwego działania gdy w rzeczywistości proces jest pod wpływem specjalnej przyczyny; niewystarczające sterowanie.

Charakterystyka Wyróżniająca cecha procesu lub jego wyjścia, dla której mogą być zbierane dane zmienne lub atrybutowe.

Ciągłe doskonalenie w jakości i produktywności - Filozofia działania, która większy użytek robi z talentów w organizacji, dla wytwarzania wyrobów o rosnącej jakości dla naszych klientów, w coraz efektywniejszy sposób który zapewnia zwrot kapitału u naszych pośredników. Jest to strategia dynamiczna mająca w zamyśle powiększenie siły przedsiębiorstwa w obliczu obecnych i przyszłych warunków na rynku. Kontrastuje ona z wszystkimi strategiami statystycznymi, które akceptują (wyraźnie lub przez tolerowanie) pewien określony poziom wychodzących wad jako nieunikniony.

CUSUM Zaawansowana metoda statystyczna, która używa bieżących danych z procesu i wcześniejszych okresów do wykrywania od małych do umiarkowanych przesunięć w średniej lub zmienności procesu. CUSUM występuje dla „skumulowanej sumy” odchyleń od złożonej wartości i przykłada jednakową wagę do danych bieżących i wcześniejszych.

Załącznik G - Słownik (kontynuacja)

Dane atrybutowe Dane ilościowe, które mogą być zliczane do zapisywania i analizy. Przykłady obejmują takie charakterystyki jak, np. obecność wymaganej etykiety, zamontowanie wszelkich wymaganych złączy, brak błędów na sprawozdaniu z wydatków. Innymi przykładami są charakterystyki, które są nierozerwalnie związane z mierzeniem (np. mogą być traktowane jak dane zmienne), ale ich wyniki są zapisywane w sposób prosty - tak / nie; przykładem może tu być: dopuszczalna średnica wału przy sprawdzaniu przechodzi / nie przechodzi, lub obecność jakiś zmian konstrukcyjnych na rysunku. Dane atrybutowe są zazwyczaj zbierane w formie jednostek niezgodnych lub niezgodności, są one analizowane przy użyciu kart kontrolnych p, np, c i u (patrz także dane zmienne).

Dane zmienne Dane ilościowe gdy pomiary są używane do analizy. Przykłady obejmują średnicę łożyska czopu w milimetrach, wysiłek przy zamykaniu drzwi w Niutonach, stężenie elektrolitu w procentach lub moment w elemencie złącznym w Niutono - metrach. Dla danych zmiennych są stosowane karty kontrolne 0x01 graphic
i R, 0x01 graphic
i s, median i wartości jednostkowych , oraz o ruchomym rozstępie (patrz także Dane atrybutowe).

Definiowanie Operacyjne Sposób jasnego komunikowania oczekiwań jakościowych oraz działań operacyjnych; działanie to składa się z (1) kryteriów jakie należy zastosować do obiektu lub grupy, (2) badania obiektu lub grupy, (3) decyzji: tak / nie - obiekt lub grupa spełniają lub nie spełniają kryterium.

Granica Kontrolna Granica (lub granice) na karcie kontrolnej używane jako podstawa do oceniania stabilności procesu. odchylenie poza granicą kontrolną pokazuje, że na proces oddziałują specjalne przyczyny. Granice kontrolne są wyliczane z danych z procesu i nie należy ich mylić ze specyfikacjami inżynieryjnymi.

Jednostka Pojedyncza sztuka lub pojedynczy pomiar charakterystyki, często oznaczony symbolem X.

Karta kontrolna Graficzna prezentacja charakterystyki lub procesu pokazująca zapisane wartości pewnej statystyki zbierane dla tej charakterystyki, linię centralną i jedną lub dwie granice kontrolne. Minimalizuje ona straty ekonomiczne netto z błędów typu I i typu II. Ma ona dwa zasadnicze zastosowania: ocenianie czy proces przebiega w zakresie sterowania statystycznego oraz jako pomoc dla wsparcia w utrzymywaniu sterowania statystycznego.

Karta przebiegu Proste, graficzne przedstawienie charakterystyki lub procesu, pokazujące zarejestrowane wartości którejś statystyki (często wartości jednostek) i linię centralną (często medianę wartości), która może być analizowana dla przebiegów (patrz także karta kontrolna).

Kolejne Jednostki na wyjściu wytwarzane sukcesywnie; podstawa dla wyboru podgrupy próbek.

Kształt Ogólna informacja o konfiguracji utworzonej przez rozkład wartości.

Linia centralna Linia na karcie kontrolnej, która reprezentuje wartość średnią dla sztuk, które się zapisuje.

Losowe pobieranie próbek Proces pobierania sztuk do próby o liczebności n, w taki sposób, że wszystkie kombinacje n sztuk, które są brane pod uwagę mają jednakową szansę być

wybranymi jako próbka.

Losowość Stan, w którym wartości dla jednostek nie są przewidywalne, chociaż mogą pochodzić ze zdefiniowanego rozkładu.

Mediana Środkowa wartość w grupie pomiarów, uporządkowanych od najniższych do najwyższych; jeżeli liczba wartości jest parzysta - ustalenie średniej z dwóch środkowych wartości jest przyjmowane jako mediana. Podgrupa median tworzy podstawę dla prostej karty kontrolnej dla umiejscowienia położenia procesu. mediany są oznaczone wężykiem nad symbolem dla pojedynczych wartości:0x01 graphic
jest medianą podgrupy.

Niezgodne Jednostki Jednostki, które nie spełniają wymagań specyfikacji lub innych norm podczas kontroli czasami nazywane usterkowymi lub wadliwymi. Do analizowania procesów, w których wytwarzane są jednostki niezgodne stosuje się karty kontrolne p i np.

Niezgodność Określony przypadek stanu, który nie spełnia wymagań specyfikacji lub innej normy kontrolnej; czasami nazywany usterką czy wadą. Pojedyncza niezgodna sztuka może mieć potencjał więcej niż jednej niezgodności (np. drzwi mogą nieć szereg wgnieceń, kontrola funkcjonowania gaźnika może ujawnić którąś z liczniejszych potencjalnych usterek). Dla systemu, w którym powstają niezgodności stosuje się karty kontrolne c i u.

Odchylenie standardowe Miara rozrzutu wyjścia z procesu lub rozrzutu statystyki z pobierania próbek z procesu (np. średnie z podgrup) oznaczane grecką literą 0x01 graphic
(sigma) lub literą s. (dla odchylenia standardowego dla próby).

Osiągi procesu Całkowity zakres zmienności procesu (0x01 graphic
).

Podgrupa Jedno lub więcej zdarzeń lub pomiarów użytych do analizy osiągów procesu. zazwyczaj wybiera się racjonalne podgrupy tak, że zmienność reprezentowana w każdej podgrupie jest tak mała jak jest to tylko możliwe (reprezentując zmienność od zwykłych przyczyn) i tak aby wszelkie zmiany w osiągach procesu (tj. specjalne przyczyny) pojawiały się jako różnice pomiędzy podgrupami. Racjonalne grupy są zazwyczaj tworzone dla kolejnych sztuk, chociaż czasami używa próbek losowych.

Podstawowe Metody Statystyczne Wykorzystują teorię zmienności w zastosowaniu do podstawowych technik rozwiązywania problemów i statystycznego sterowania procesem; obejmują konstrukcję kart kontrolnych i ich interpretację (zarówno dla danych zmiennych jak i atrybutowych) oraz ocenę zdolności.

Położenie Ogólny pogląd dotyczący typowych wartości o centralnej tendencji w rozkładzie.

Prewencja Strategia zorganizowana na działania podejmowane w przyszłości, która doskonali jakość i produktywność przez ukierunkowanie analiz i działań na proces jako taki. Prewencja łączy się z filozofią nigdy nie kończącego się doskonalenia (Patrz także wykrywanie).

Proces Kombinacja ludzi, wyposażenia, materiałów, metod i otoczenia, które wytwarza wyjście - określony wyrób lub usługę. Proces może obejmować dowolny aspekt naszego działania (biznesu). Kluczowym narzędziem zarządzania procesem jest statystyczne sterowanie procesem.

Próba W zastosowaniach dla sterowania procesem, synonim z podgrupą; to zastosowanie tego pojęcia jest całkowicie odmienne od zamiaru uzyskania oszacowania przez większą grupę ludzi, sztuk, itd.

Przebieg Kolejna liczba punktów konsekwentnie rosnących lub malejących, względnie znajdujących się powyżej lub poniżej linii centralnej. Może wskazywać na pojawienie się specjalnych przyczyn zmienności.

Przeciętna Średnia wartości w grupie pomiarów.

Załącznik G - Słownik (kontynuacja)

Racjonalna Podgrupa Podgrupa zebrana w taki sposób aby pomiary w każdej podgrupie miały maksymalną szansę być podobne i aby podgrupy miały maksymalną szansę różnić się od siebie. Ten podział na podgrupy zakłada chęć określenia czy zmienność procesu pojawia się czy też nie, w wyniku występowania stałego systemu przypadków losowych.

Rozkład Sposób opisania wyjścia w stabilnym systemie zmienności, w którym jednostkowe wartości nie są do przewidzenia, ale w którym wyjście jako grupa tworzy obraz , który może być opisany poprzez jego położenie, rozrzut i kształt. Położenia powszechnie jest wyrażane jako średnia lub przeciętna względnie przez medianę; rozrzut wyrażany jest jako odchylenie standardowe lub rozstęp dla próby; kształt obejmuje wiele charakterystyk, takich jak symetria i piki, ale są one uogólniane przez użycie zwykłych rozkładów, takich jak: normalny, dwumienny lub Poissona.

Rozkład Dwumienny Nieciągłe prawdopodobieństwo rozkładu da danych atrybutowych, które odnosi się do jednostek zgodnych i niezgodnych i leży u podstaw kart p i np.

Rozkład Normalny Ciągły, symetryczny rozkład częstości o kształcie dzwonu dla danych zmiennych, który jest podstawą dla kart kontrolnych dla zmiennych. Jeżeli pomiary mają rozkład normalny, około 68,26% jednostek leży w zakresie plus / minus jednego odchylenia standardowego od wartości średniej; około 95.44% leży w zakresie plus / minus dwóch odchyleń standardowych od wartości średniej; około 99,73% leży w zakresie plus / minus trzech odchyleń standardowych od wartości średniej. Procesy te są podstawą dla granic kontrolnych (jako, że średnie dla podgrup mają tendencję do rozkładu nawet gdy wejście jako całe nie ma takiego rozkładu) i dla wielu decyzji dotyczących zdolności (gdyż wyjście wielu procesów przemysłowych charakteryzuje się rozkładem normalnym).

Rozkład Poissona Nieciągły rozkład prawdopodobieństwa dla danych atrybutowych, które stosuje się dla niezgodności i który leży u podstawy kart c i u.

Rozrzut Rozpiętość wartości w rozkładzie od najmniejszej do największej (Patrz także rozrzut procesu).

Rozrzut Procesu Zakres w jakim zmienia się rozkład wartości jednostek dla charakterystyk procesu; często wyrażany jako średnia procesu plus / minus pewna liczba odchyleń standardowych (np. 0x01 graphic
)

Rozstęp Różnica między największą i najmniejszą wartością w podgrupie; próbie lub populacji

Rozwiązywanie problemów Proces przechodzenia od symptomów występowania przyczyn (specjalnych lub zwykłych) do działań, które poprawiają osiągi. Pośród podstawowych technik, które mogą być użyte są wykresy Pareto, wykresy przyczyn i skutków oraz techniki statystycznego sterowania procesem.

Ruchomy Rozstęp Różnica między najniższą i najwyższą wartością pomiędzy dwoma lub więcej kolejnymi próbkami taka, że każdy dodatkowy punkt danych jest utrzymywany, rozstęp związany z tym punktem jest wyliczany przez dodanie nowego punktu i usunięcie starszego „chronologicznie” punktu, tak że każde wyliczenie rozstępu ma co najmniej jeden uwzględniony punkt z poprzedniego wyliczenia rozstępu. Zwyczajowo, ruchomy rozstęp jest wykorzystywany w kartach kontrolnych dla pojedynczych przypadków i stosuje dwu - punktowe (kolejne punkty) ruchome rozstępy przez większość czasu.

Sigma (0x01 graphic
) Litera grecka używana do oznaczenia odchylenia standardowego.

Załącznik G - Słownik (kontynuacja)

Specjalna Przyczyna Źródło zmienności, które jest nieciągłe, często nieprzewidywalne, niestałe; czasem nazywane przyczyna przyporządkowaną. Jest sygnalizowane punktem leżącym poza granicami kontrolnymi lub przebiegiem względnie innym nie przypadkowym układem punktów (konfiguracją) w zakresie granic kontrolnych.

Specyfikacja Wymagania inżynieryjne dla oceny możliwości przyjęcia określonej charakterystyki. Nie należy nigdy mylić specyfikacji z granicą kontrolną . W przypadku idealnym specyfikacja jest powiązana bezpośrednio lub jest zgoda z wymaganiami lub oczekiwaniami klienta (wewnętrznego i / lub zewnętrznego).

Stabilność Brak specjalnych przyczyn w zmienności, właściwość mieszczenia się w zakresie sterowania statystycznego.

Stabilny proces Proces, który jest w zakresie sterowania statystycznego.

Statystyka Wartość wyliczona lub oparta na danych dla próby (np. średnia podgrupy lub rozstęp) stosowana dla wyciągania wniosków dotyczących procesu, który wytwarza wyjście, z którego pochodzi próba.

Statystyczne Sterowanie Procesem Użycie technik statystycznych takich jak karty kontrolne, do analizowania procesu lub jego wyjść tak, aby podejmować odpowiednie działania dla osiągnięcia i utrzymania stanu sterownia statystycznego i dla polepszenia zdolności procesu.

Sterowanie Patrz Sterowanie Statystyczne.

Sterowanie Procesem Patrz Statystyczne sterowanie procesem.

Sterowanie Statystyczne Stan opisujący proces , z którego zostały wyeliminowane wszystkie przyczyny specjalne zmienności i pozostały tylko zwykłe przyczyny tj. obserwowana zmienności może być przypisana do stałego systemu zdarzeń przypadkowych ujawniających się na karcie kontrolnej nieobecnością punktów poza liniami kontrolnymi i nieobecnością nie losowych konfiguracji lub trendów w zakresie granic kontrolnych.

Średnia (patrz także przeciętna) Suma wartości podzielona przez liczbę wartości (liczność próbki); oznaczona kreską nad symbolem wartości, które są uśrednione, np. : 0x01 graphic
(X z kreską), jest średnią wartości X w podgrupie; 0x01 graphic
(X z dwoma kreskami) jest średnią dla podgrup; 0x01 graphic
(X z kreską i wężykiem) jest średnią z podgrupy median; 0x01 graphic
jest średnią z podgrupy rozstępów.

Średnia dla Procesu Miara położenia rozkładu mierzonych wartości wybranej charakterystyki procesu, zazwyczaj określana jako ogólna średnia 0x01 graphic
.

Uświadomienie Rozumienie przez osoby wzajemnych związków pomiędzy jakością i produktywnością, ukierunkowanie uwagi na wymóg powiązania zarządzenia i myślenia kategoriami statystyki dla osiągnięcia nigdy nie kończącego się doskonalenia.

Wykres Pareto Proste narzędzie do rozwiązywania problemów , które obejmuje ranking potencjalnych obszarów problemów lub źródeł zmienności według ich wpływu na koszt lub całkowitą zmienność. Zazwyczaj kilka przyczyn wpływa na większość kosztów (lub zmienności) a więc wysiłki w zakresie rozwiązywania problemów są priorytetem, gdy koncentrują się na „kilku istotnych” przyczynach, czasowo ignorując „liczne - błahe”.

Załącznik G - Słownik (kontynuacja)

Wykres Przyczyn I Skutków Proste narzędzie dla osoby lub grupy rozwiązującej problem, które stosuje graficzne opisanie zmiennych elementów procesu dla analizowania potencjalnych źródeł zmienności procesu. nazywany jest także wykresem szkieletu ryby (po jego ukazaniu się) lub wykresem Ishikawy (od jego twórcy).

Wykrywanie Strategia zorientowana na działania, które miały miejsce w przeszłości, która próbuje identyfikować niezgodne sztuki na wyjściu po tym jak zostały wytworzone, a następnie oddzielić je od dobrych sztuk (Patrz także Prewencja).

Zaawansowane metody statystyczne Bardziej wyszukane techniki statystycznej analizy procesu i sterowania niż ujęte w Podstawowych Metodach Statystycznych ; mogą one obejmować bardziej zaawansowane techniki kart kontrolnych, analizy regresji, planowanie eksperymentów, zaawansowane techniki rozwiązywania problemów, itp.

Zdolność Procesu Całkowity zakres zmienności przynależnej do stabilnego procesu (0x01 graphic
)

Przypadek Danych Zmiennych 1) Nieodłączna zdolność procesu jest definiowana jako (0x01 graphic
)

2) Zdolność procesu do spełnienia specyfikacji (tzn. % wyjścia w granicach

specyfikacji ) może być szacowana przez wskaźniki, które biorą pod uwagą centrowanie procesu jak również cały rozrzut (np. Cpk), przy pewnych założeniach. Jednakże, dla tych oszacowań istnieją także bardziej dokładne metody.

Przypadek danych atrybutowych Zdolność procesu zazwyczaj jest definiowana jako średnia proporcja lub stosunek wad lub wadliwości. Z kart kontrolnych, na przykład, zdolności jest definiowana jako 0x01 graphic
lub 0x01 graphic
gdy zdolność odnosi się bezpośrednio do proporcji lub stosunku na wyjściu, który nie spełnia specyfikacji (lub jako 1 - 0x01 graphic
, itp., procent na wyjściu, który spełnia wymagania).

Zmienność Nieuniknione różnice między indywidualnymi wyjściami z procesu; źródła zmienności mogą być łączone w dwie główne klasy: Zwykłe Przyczyny i Specjalne Przyczyny.

Nieodłączna Zmienność Ta zmienność procesu związana tylko ze zwykłymi przyczynami, jest szacowana przy pomocy 0x01 graphic
.

Całkowita zmienność Ta zmienność procesu, związana zarówno ze zwykłymi przyczynami jak i ze specjalnymi przyczynami jest szacowana przy pomocy 0x01 graphic
.

Z kwadratem Zależność z, lub związana z, drugą potęgą matematyczną; dobrym powszechnym przykładem czegoś zmiennego z kwadratem jest parabola.

Zwykła Przyczyna Źródło zmienności, które oddziałuje na wszystkie pojedyncze wartości wyjścia z

procesu, który jest obserwowany; w analizie kart kontrolnych pojawia się jako część losowej zmienności procesu.

Załącznik G - Słownik (kontynuacja)

Symbole użyte w tym podręczniku

A2 Mnożnik dla 0x01 graphic
używany do wyliczenia granic kontrolnych dla średnich, ujęty w tablicach w Załączniku E.

0x01 graphic
Mnożnik dla 0x01 graphic
używany do wyliczenia granic kontrolnych dla median, ujęty w tablicach w Załączniku E.

A3 Mnożnik dla 0x01 graphic
używany do wyliczenia granic kontrolnych dla średnich, ujęty w tablicach w Załączniku E.

B3, B4 Mnożniki dla 0x01 graphic
używane odpowiednio do wyliczenia dolnych i górnych granic kontrolnych dla odchyleń standardowych dla próbek, ujęty w tablicach w Załączniku E.

C Liczba niezgodności w próbie o stałej wielkości n.

0x01 graphic
Średnia liczba niezgodności w próbie o stałej wielkości n.

c4 Dzielnik 0x01 graphic
używany do szacowania odchylenia standardowego procesu, ujęty w tablicach w Załączniku E.

Cp Wskaźnik zdolności dla stabilnego procesu, definiowany jako 0x01 graphic

0x01 graphic
Wskaźnik zdolności stabilnego procesu, definiowany jako minimum CPU lub CPL.

CPL Dolny wskaźnik zdolności, definiowany jako 0x01 graphic

CPU Górny wskaźnik zdolności, definiowany jako 0x01 graphic

CR Stosunek zdolności dla stabilnego procesu, definiowany jako 0x01 graphic

d2 Dzielnik dla 0x01 graphic
używany dla szacowania odchylenia standardowego procesu, ujety w tablicach w Załączniku E.

D3, D4 Mnożniki dla 0x01 graphic
0x01 graphic
używane odpowiednio do wyliczenia dolnych i górnych granic kontrolnych dla odchyleń standardowych dla próbek, ujęty w tablicach w Załączniku E.

E2 Mnożnik dla 0x01 graphic
0x01 graphic
używany do wyliczenia granic kontrolnych dla jednostek, ujęty w tablicach w Załączniku E.

k Liczba podgrup jakich użyto do wyliczenia granic kontrolnych.

LCL Dolna granica kontrolna, 0x01 graphic
, LCLp, itd. Są odpowiednio dolnymi granicami dla średnich, zakresów, proporcji niezgodności, itd.

LSL Dolna granica specyfikacji inżynieryjnej.

MR Ruchomy rozstęp dla serii punktów danych używanych przede wszystkim na kartach dla jednostek.

n Liczba jednostek w podgrupie; wielkość podgrup.

0x01 graphic
Średnia wielkość podgrupy próbek.

np Liczba niezgodnych jednostek w próbie o wielkości n; karta np. jest opisana w Dziale II, Rozdziale 2.

0x01 graphic
Średnia liczba niezgodnych jednostek w próbie o wielkości n.

p Proporcja jednostek niezgodnych w próbie; karta p jest omówiona w Dziale III, Rozdział 1.

0x01 graphic
Średnia proporcja niezgodnych jednostek w serii prób.

Pp Wskaźnik osiągów, zwykle definiowany jako 0x01 graphic

Załącznik G - Słownik (kontynuacja)

PR Stosunek osiągów, zwykle definiowany jako 0x01 graphic

Ppk Wskaźnik osiągów, zwykle definiowany jako 0x01 graphic
lub 0x01 graphic

Pz Proporcja wyjścia punktów poza granice, jak np. poza granice specyfikacji, z jednostka standardowego odchylenia od średniej procesu.

R Rozstęp podgrupy (najwyższa minus najniższa wartość); karta R została omówiona w Dziale II.

0x01 graphic
Średnia rozstępów dla serii podgrup o tej samej wielkości.

0x01 graphic
Średnia z serii średnich rozstępów dla podgrup o tej samej wielkości.

0x01 graphic
Mediana rozstępów dla serii podgrup o tej samej wielkości.

s Standardowe odchylenie próby dla podgrupy; karty s zostały omówione w Dziale II, Rozdział 2.

0x01 graphic
Standardowe odchylenie próby dla serii podgrup, badane przy użyciu wielkości próby.

SL Jednostronna granica specyfikacji inżynieryjnej.

u Liczba nieprawidłowości na jednostkę w próbie, która mogła się składać z więcej niż jednej jednostki; karta u została omówiona w Dziale II, Rozdział 4.

0x01 graphic
Liczba nieprawidłowości na jednostkę w próbie, niekoniecznie tej samej wielkości.

UCL Górna granica kontrolna; 0x01 graphic
, LCLp, itd. Są odpowiednio dolnymi granicami dla średnich, zakresów, proporcji niezgodności, itd.

USL Górna granica specyfikacji inżynieryjnej.

X Wartość indywidualna, na której opierają się inne statystyki podgrupy ; karta dla jednostek została omówiona w Dziale II, Rozdział 4.

0x01 graphic
Średnia wartość w podgrupach; karta 0x01 graphic
została omówiona w Dziale ii, Rozdział 1.

0x01 graphic
Średnia średnich podgrup (mierzona w razie potrzeby przy pomocy wielkości prób); pomiar średniej procesu. Uwaga: w tym podręczniku 0x01 graphic
jest określana jako średnia procesu dla kart jednostek(Dział II, Rozdział 4) nawet jeżeli reprezentuje ona tylko jeden poziom uśredniania (danych punktów jednostkowych), aby uniknąć pomylenia tej wartości z wartością 0x01 graphic
która to wartość zawsze odnosi się do średniej podgrup.

0x01 graphic
Mediana wartości w podgrupie; karta median została omówiona w Dziale II, Rozdział 3 (X z tyldą).

0x01 graphic
Średnia median w podgrupie; mediana szacowana (X z tyldą i kreską)

Załącznik G - Słownik (kontynuacja)

Z Liczba jednostek standardowych dewiacji ze średniej procesu do wartości nas interesującej, takich jak specyfikacje inżynieryjne. Przy pomiarach zdolności używana jest jako, ZUSL - odległość od górnej granicy specyfikacji, ZLSL - odległość od dolnej granicy specyfikacji i Zmin - odległość od najbliższej granicy specyfikacji.

0x01 graphic
(sigma) Standardowe odchylenie rozkładu charakterystyki procesu.

0x01 graphic
Szacowanie standardowego odchylenie charakterystyki procesu.

0x01 graphic
Standardowe odchylenia statystyczne oparte na próbach wyjścia procesu, takich jak standardowe odchylenie rozkładu średnich podgrup (które wynosi 0x01 graphic
), standardowe odchylenie rozkładu rozstępu podgrup, standardowe odchylenie rozkładu proporcji niezgodności, itp.

0x01 graphic
Szacowanie standardowego odchylenia procesu przy użyciu standardowego odchylenia próby jednostek ustalonych powyżej średniej.

0x01 graphic
Szacowanie standardowego odchylenia dla stałego procesu przy użyciu średniego rozstępu podgrup prób dokonywanych w czasie trwania procesu zwykle przy użyciu kart kontrolnych, gdzie współczynnik d2 znajduje się w tabeli w Załączniku E.

ZAŁĄCZNIK I

Wzory Formularzy Kart Kontrolnych

Dostawca / Użytkownik podręcznika SPC

Proces sprzężenia zwrotnego

Zgodnie z polityką ciągłej poprawy, ten podręcznik opisujący statystyczny proces kontroli przemysłowej (SPC) jest przedmiotem corocznego przeglądu / sprawdzenia, który jest przeprowadzany w październiku każdego roku. W celu zapewnienia satysfakcji klienta, coroczne przeglądy pociągają za sobą sprawdzenie nie tylko zmian oczekiwań producentów samochodów z roku na rok, lecz także wysłuchanie opinii użytkowników podręcznika, aby podręcznik stawał się coraz bardziej użyteczny dla użytkowników i w przemyśle samochodowym. W związku z tym prosimy o pisemne wypowiedzi, zarówno za jak i przeciw, dotyczące rozumienia podręcznika, jego bycia „przyjaznym” dla użytkownika, na formularzu zamieszczonym poniżej. Prosimy o wskazanie konkretnych numerów stron, w miejscu gdzie jest to niezbędne. Komentarze prosimy kierować na adres, znajdujący się poniżej:

0x08 graphic
Nazwisko

0x08 graphic
Reprezentuję

Dostawca / Firma / Nazwa działu

0x08 graphic
Adres

0x08 graphic

0x08 graphic

0x08 graphic
Telefon ( )

Prosimy wymienić trzech głównych klientów i ich lokalizację

0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
Klient Lokalizacja Klient Lokalizacja Klient Lokalizacja

0x08 graphic
Komentarze

(dopisać w

0x08 graphic
razie potrzeby

0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
strony)

Komentarze należy

przesłać na adres: C. Q. I. Project Team Coordinator

AIAG Headquarters - Suite 200

26200 Lahser Rd.

Southfield, Mich. 48034.


KARTA KONTROLNA

ARKUSZ REJESTRU DLA PROCESU

KAŻDA ZMIANA LUDZI, MATERIAŁU, ŚRODOWISKA, METOD, MASZYN CZY SYSTEMU

POMIAROWEGO, POWINNA BYĆ ODNOTOWYWANA. ZAPISY TAKIE UŁATWIĄ POWIZIĘCIE

ODPOWIEDNICH DZIAŁAŃ KORYGUJĄCYCH W MOMENCIE GDY JEST TO SYGNALIZOWANE PRZY

POMOCY KARTY KONTROLNEJ.

DATA

CZAS

KOMENTARZE

DATA

CZAS

KOMENTARZE


0x08 graphic

0x08 graphic
Data

Czas

Komentarze

0x08 graphic

KARTA KONROLNA DLA DANYCH ATRYBUTOWYCH

Zakład

p

Numer i nazwa części

Dział

Numer i nazwa działania

0x08 graphic
Śr. - UCL- LCL-

Data kontroli

Przeliczone granice

Średnia wielkość próby:

Częstotliwość:

Próba

(n)

Rozbieżności

Liczba

(np.,c)

Prop.

(p,u)

Dane

(czas)

KAŻDA ZMIANA LUDZI, WYPOSAŻENIA, METODY, ŚRODOWISKA CZY SYSTEMU POMIAROWEGO, POWINNA BYĆ ODNOTOWYWANA. TAKIE ZAPISYWANIE POMAGA PRZY DZIAŁANIACH MAJĄCYCH NA CELU AKCJE KOREKCYJNE LUB POPRAWĘ PROCESU, KIEDY BŁĘDY SĄ SYGNALIZOWANE KARTĄ.

Data

Czas

Komentarze

164

166

169

np

c

p

u

UŻYĆ KART

X - R

TAK

UŻYĆ KARTY X - s

TAK

UŻYĆ KARTY DLA JEDNOSTEK X - MR

Uwaga: te karty przyjmują zastosowany system pomiarowy i są właściwe do tego typu zastosowań.

0x01 graphic

UŻYĆ KARTY u

NIE

TAK

CZY JEST MOŻLIWE OBLICZENIE s DLA KAŻDEJ PODGRUPY?

0x01 graphic

TAK

UŻYĆ KARTY MEDIAN

NIE

0x01 graphic

NIE

0x01 graphic

UŻYĆ KARTY u LUB c

TAK

TAK

UŻYĆ KARTY np LUB p

NIE

UŻYĆ KARTY u

0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic

OKREŚLENIE CHARAKTERYSTYKI DO REJESTRACJI

TAK

NIE

TAK

TAK

NIE

NIE

CZY DANE

SĄ ZMIENNE?

cel w specyfikacji, x1 jest odczytem dla pojedynczej próbki

gdzie

WZORY ATRYBUTOWYCH KART KONTROLNYCH

Jednostki niezgodne

Liczba karta np. karta c

(Wielkość podgrup

musi być jednakowa) 0x01 graphic
0x01 graphic

Proporcja karta p karta u

(Wielkość podgrup

nie musi być jednakowa) 0x01 graphic
0x01 graphic

DZIAŁANIE

Przy specjalnych przyczynach

INSTRUKCJE DZIAŁANIA

1.

2.

3.

4.

5.



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
SPC 01, SPC- Statystyczne Sterowanie Procesem
Statystyka dzienne wyklad15, Metody statystycznego sterowania procesami (SPC)
Statystyczne sterowanie procesami SPC fragment prezentacji
C4 86w8 SPC Statystyczne sterowanie
SPC Statystyczne sterowanie jakością
Statystyczne sterowanie procesem
Statystyczne sterowanie procesem
Statystyczna kontrola procesu SPC przy pomocy kart kontrolnych Shewharta
sterowanie procesami ciaglymi
zad na kolosa2, nauka, PW, sem 6, sterowanie procesami cieplnymi
2. Sterowanie procesami - zadania, pytania egzamin inżynierski AiR ARS
Sprawozdanie L1 (1), Automatyka i Robotyka studia, 3 rok, STEROWANIE PROCESAMI CIĄGŁYMI
07 Fizyka statystycznaid 6862 Nieznany (2)
9 Sterowanie procesem wnioskowania
07 DFC 5 6 Management Review Process Rev 1 1 03
1b 2a sterowanie procesami dyskretna
Sterowanie procesami technologicznymi Piotr Jakóbik Kuba Butor
2003 07 Zasilacz warsztatowy sterowany elektronicznie

więcej podobnych podstron