Image627

Omawiane testery należą do grupy przyrządów przeznaczonych dla użytkowników układów scalonych. Można wśród nich wyróżnić następujące grupy:

—    testery przeznaczone tylko do badań funkcjonalnych (80A Logic Tester, Swift Digital Tester, tester SM-0007),

—    testery przeznaczone do badań funkcjonalnych, z możliwością kontroli wybranych parametrów statycznych (tester BM-528).

Minitest 01 — przykład rozwiązania przyrządu

W Przemysłowym Instytucie Elektroniki opracowano przyrząd do modelowania i badania układów cyfrowych „Minitest 01” (produkowany w KABiD-ZOPAN jako PTC-1). Przyrząd ten przeznaczony jest dla użytkowników, stosujących w konstrukcjach cyfrowe układy scalone TTL. Należy on do grupy przyrządów przeznaczonych do badań funkcjonalnych cyfrowych układów scalonych TTL oraz do modelowania cyfrowych układów funkcjonalnych.

Podstawowe dane funkcjonalne przyrządu:

—    kontrola funkcjonalna układów scalonych TTL/SSI, MSI w obudowach „dual in linę” (14 lub 16 wyprowadzeń),

—    kontrola poprawności działania układów funkcjonalnych zmontowanych na pakietach (metodą porównania z pakietem wzorcowym lub ze zmodelowa-nym, sprawdzonym układem),

—    modelowanie układów funkcjonalnych (podczas projektowania zespołów funkcjonalnych i bloków cyfrowych — bez potrzeby lutowania elementów).

W wyposażeniu przyrządu znajduje się komplet wtyków programujących, przeznaczonych do automatycznego testowania pojedynczych układów scalonych SSI i MSI oraz próbnik stanów logicznych do szybkiego sprawdzania stanów układów TTL.

Przyrząd ma szereg układów pomocniczych, które w znacznym stopniu ułatwiają jego eksploatację bez użycia przyrządów zewnętrznych. Układy pomocnicze wykorzystywane są głównie przy modelowaniu układów. Są to m.in.:

—    zasilacz stabilizowany 5 V/6 A,

—    generator fali prostokątnej o częstotliwości 1 Hz-3 MHz (częstotliwość nastawiana skokowo),

—    generator pojedynczego impulsu,

—    układ wykrywania impulsu o krótkim czasie trwania,

—    układ różniczkowania opadającego zbocza impulsu,

—    sygnalizacja żarówkowa stanów logicznych 16 niezależnych wejść i wyjść badanego układu,

—    źródło napięć odpowiadających 1 i 0.

Układy logiczne mogą być umieszczone dowolnie:

—    w 10 podstawkach do układów scalonych w obudowach DIL z 14 wyprowadzeniami,

—    w 5 podstawkach do układów scalonych w obudowach DIL z 16 wyprowadzeniami.

Połączenia pomiędzy układami wykonywane są za pomocą giętkich przewodów. Możliwe jest łatwe dołączanie dodatkowo: rezystorów, diod, tranzystorów, kondensatorów itp.