Obraz12

Obraz12



f


Politechnika Lubelska


Katedra Automatyki i Metrologii

Obecnie znormalizowanym jest aparat Epsteina 25 cm [1]. Uzwojenie pierwotne i wtórne składają się z czterech cewek po 175 zwojów łączonych szeregowo (rys.l), a więc przekładnia zwojowa Z|/z2 = 700/700. Każda z czterech cewek uzwojenia pierwotnego (zewnętrznego) zawiera 175 zwojów z dwóch miedzianych drutów połączonych równolegle, każdy o przekroju 1,8 mm2, nawiniętych jedna na drugą w trzech warstwach, na uzwojeniu wtórnym. Każda z czterech cewek uzwojenia wtórnego (wewnętrznego) zawiera 175 zwojów pojedynczego drutu miedzianego o przekroju 0,8 mm2 nawiniętego w jednej warstwie. Próbka jest tworzona z pasków 3 cm x 28 cm, które układa się kolejno w korpusach cewek na podwójną zakładkę tak, aby końce sąsiednich pasków zachodziły na siebie (rys.2). Średnia długość obwodu magnetycznego w tak utworzonym czworoboku wynosi 4 x 25 cm, stąd nazwa aparatu Epsteina 25 cm.

Rys.2. Łączenie blach na podwójną zakładkę w narożach aparatu Epsteina 25 cm


Masa całkowitą próbki wynosi ok. 2 kg, przy czym liczba pasków w każdej cewce powinna być jednakowa, aby przekrój próbki i indukcja magnetyczna były stałe w całym obwodzie magnetycznym. Paski mogą być dłuższe (do 32 cm), ale każdy bok wewnętrznego kwadratu otworzonego przez paski próbki powinien mieć długość 220 mm. Paski powinny być cięte w połowie równolegle i w połowie prostopadle do kierunku walcowania arkusza blachy, paski wycięte w tym samym kierunku należy umieścić w przeciwległych ramionach aparatu. Wszystkie paski powinny mieć jednakowe wymiary (szerokość 30 mm ±0,2 mm i długość 280 mm -s- 320 mm ± 0,5 mm). Po wycięciu paski nie mogą być poddawane żadnej dodatkowej obróbce mechanicznej.

2.3, Pomiar strat magnetycznych aparatem Epsteina

Pracę aparatu Epsteina można analizować za pomocą schematu zastępczego transformatora (rys.3). Jest to schemat czwómika typu T, w którym L\ i R\ reprezentują indukcyjność rozproszenia i rezystancję uzwojenia pierwotnego, a i2 i Ri odpowiednio indukcyjność rozproszenia i rezystancję uzwojenia wtórnego.

Rys.3. Schemat zastępczy aparatu Epsteina


u,

Gałąź magnesowania posiada indukcyjność LM. Poszukiwane straty magnetyczne w żelazie Pye reprezentowane są przez rezystancję RFe. Zatem aby je zmierzyć, należy doprowadzić do watomierza prąd jałowy /0 oraz napięcie indukowane £2- Obie te wielkości są dostępne bezpośrednio wtedy, gdy zaciski wtórne są rozwarte, t.j. R0bc=<* oraz h=0. Wtedy:

strona 3 z 21


Ćw. 17. Wyznaczanie stratności magnetycznej ...


Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Obraz15 Politechnika Lubelska Katedra Automatyki i Metrologii2.4. Wyznaczanie stratności magnetyczn
Obraz17 Politechnika Lubelska Katedra Automatyki i Metrologii rozproszenia. Budowa kompensatora jes
Obraz10 Politechnika Lubelska Katedra Automatyki i MetrologiiĆWICZENIE NR 17WYZNACZANIE STRATNOŚCI
Obraz11 Politechnika Lubelska Katedra Automatyki i Metrologii Politechnika Lubelska Katedra Automat
Obraz11 Politechnika Lubelska Katedra Automatyki i Metrologii Rys. 10. Zasada pomiaru wartości maks
Obraz14 Politechnika Lubelska Katedra Automatyki i Metrologii aparatem Epsteina w tym samym układzi
Obraz15 t t Politechnika Lubelska Katedra Automatyki i Metrologii -jeśli sprawdzenie wypadło pomyśl
Obraz16 Politechnika Lubelska Katedra Automatyki i Metrologii 5.2.2. Ustawić na generatorze częstot
Obraz17 Politechnika Lubelska Katedra Automatyki i Metrologii -wyznaczanie dynamicznej krzywej magn
Obraz13 { { Politechnika Lubelska Katedra Automatyki i Metrologii (3a) E-, = Ł/, . (3b) Należy
Obraz14 Politechnika Lubelska Katedra Automatyki i Metrologii Warunek (3b) nie jest ściśle spełnion
Obraz16 Politechnika Lubelska Katedra Automatyki i Metrologii Wartość maksymalną indukcji magnetycz
Obraz18 Politechnika Lubelska Katedra Automatyki i Metrologii P    - P + pf 1,1 1 1
Obraz19 Politechnika Lubelska Katedra Automatyki i Metrologii Wykres zależności (20) jest więc lini
Obraz10 Politechnika Lubelska Katedra Automatyki i Metrologii dynamicznej krzywej magnesowania Bmax
Obraz12 Politechnika Lubelska Katedra Automatyki i Metrologii Politechnika Lubelska Katedra Automat
Obraz13 Politechnika Lubelska Katedra Automatyki i Metrologii4. Opis stanowiska pomiarowego4.1.
Obraz18 f Politechnika Lubelska Katedra Automatyki i Metrologii Uwaga: dla obydwu wartości indukcji
Obraz19 Politechnika Lubelska Katedra Automatyki i Metrologii Politechnika Lubelska Katedra Automat

więcej podobnych podstron