POŁCIA I HX D£F1H>CJ£
,wc o podwy»xoncj wytrzymałości) o . „ -Ikrododalk"®* (stale nlskostopo ^ ^ zWięks/x>ncj zawartość. Mn
- n„wa ,.»l. •• nule; »*£#* J*J„ ,* , jednego luh k.Maw n^cp,,,,, vth
(do IM ora/ malej ^ du*. wytrzymało* ■ m«k, temper.,,,,,,
pierwiastków: Nb. Ti. ' • A * . ^ rozdrobnieniu /iama.
przejścia w stan kruchy u/v^U^krn uwierający poniżej 2* C. stosowany
Staliwo - techniczny stop /r *^ plastycznie)-
u suuue odlanym (n.e obrob,on> r ^ komórkę elementarną (dłu-
Stale skdowr (a. b. c, ». A y ^ ki|(6w między krawędziami).
gości krawędzi komórki . wam- sję y pr/CSyconego roztworu bardzo
Starzenie - proces polegajmy na y rfwnomiemie rozmieszczonych cząstek drobnych, o dnie) gęstości i w J f )CSl nazywane samorzutnym. jczdi fazy lub faz metastablmych. * sztucznym, jeżeli jest realizowane zachodzi w temperaturze otoczenia.
w cząsteczce polimeru
miedzy mmi charaktery*)**"? dla danego |nh ......
(w skali atomowej), mikrostruktura (w skali mikroskopowej).
Struktura eutekryezna - mikrostruktura dwufazowa tworząca się podczas krzep-męcia cieczy o składzie eutektycznym.
Struktura krystaliczna regularna przestrzennie centrowana (Rł C, A2) - struktura krystaliczna, której komórka elementarna jest sześcianem, a położenia atomowe znajdują się w środku i w narożach komórki.
Struktura krystaliczna regularna ściennie centrowana (RSC, Al) - struktura
krystaliczna, której komórką elementarną jest sześcian, a atomy zajmują położenia na narożach i w środku ścian sześcianu.
Struktura typu Na Cl - struktura krystaliczna o sieci RSC związku MX. w której liczba koordynacyjna wynosi 6. a na punkt sieciowy przypada jeden kation i jeden anion.
Struktura usieciowana - struktura cząsteczkowa z wiązaniami pierwotnymi w trzech wymiarach.
Strumień dyfuzji U) - liczba atomów przemieszczających się przez jednostkową powierzchnię w jednostce czasu.
Substytucyjny roztwór stały - roztwór stały, w którym rozpuszczone atomy zajmują w strukturze krystalicznej rozpuszczalnika położenia atomowe.
System poślizgu - płaszczyzna poślizgu i leżący na niej kierunek poślizgu.
Szereg napięciowy metali - uszeregowanie metali ze względu na standardowe potencjały elektrochemiczne.
s/klo-amorf,c/nc ciało
dalekiego /^ięgu'k°V,anłc pr“j4cta w 'lsm «»«*>•" *Ale
S/>bkość dryfu - śrcdn)a Sku.nMomiaM me nu» uporządkowana
“■ - - -» —~
Techniczne stopy żelaza 7. v%vuK*łmcnarni ma&netycznymi
pierwiastki utawtaj** wy^T *»•» wę*m *
pierwiastki, których usuwam,; < Wadn,t' IWV«« - Mn Si. M, ortu
opłacalne (zanieczyszczenia - s p "u“ n“ *** ekonomicznie
diaclcktrykami. - a materiały ferromagnetyczne stają sK
Temperatura cutektoidalna - temperatura równowagi termodynamicznej m,cd*v roztworem ulegającym przem.anie eutektcdalnej, produkt™, )Cg„ pr ™ *'
Temperatura eu.ek.yczna - temperatura równowag, termodynamiczne, m,Z cecz^ o składzie eutektycznym i produktam, przemiany etuektyeznei
Temperatura homologtczna - stosunek aktualnej temperatury mat'er,alu do ,eeo temperatury topnienia, wyrażonych w skali bezwzględnej.
Temperatura przejścia w stan kruchy (TPSK) - temperatura rozdzielająca zakres pękania ctągltwego od znajdującego się w niskiej temperaturze zakresu pękania kruchego.
Temperatura rekrystalizacji - temperatura, w której po odkształceniu plastycznym na zimno nastąpi całkowita rekrystalizacja materiału w ciągu jednej godzjny.
Temperatura zeszklenia (temperatura przejścia w stan szklisty) - temperatura, powyżej której materiał jest przechłodzoną cieczą, a poniżej - sztywnym szklistym ciałem stałym.
Tranzystor - przyrząd półprzewodnikowy trójclektrodowy umożliwiający wzmacnianie mocy sygnałów optycznych.
Twardość - miara odporności materiału na penetrację lub zarysowanie przez tw ardy, ostry przedmiot; istnieje wiele ogólnie stosowanych metod pomiaru twardości, np. Brinella, Rockwella. Vickersa.
Tworzywo szklano-ceramieznc (dewitryfikat) - formowany w stanie szklistym materiał ceramiczny, w którym przez obróbkę cieplną doprowadza się do M krystalizacji ok. 90% objętości tworzywa w postaci bardzo drobnych ziam
Udarność
(0,1 r-1 pm). . . .
ii - odporność na działanie trójosiowych naprężeń dynamicznych, miarą
udamośct jest wartość energii koniecznej do zniszczenia próbkr obciążonej udarowo.
587