736112152402785540215"200423 o

uzyskanych w eksperymencie le/y w pr/rd/talc nnęd/y ^ n ¹. < >N/acować A/7 (Zakładamy. /e N jest lak du/o, ho mo/na stosować CTO do analizy ArednlcJ.)

• \h ystępqp|ce » układach scalonych klasyczne tranzystory dom loszko wsnc /Jotom mam t/w. i7w magazynowania Imlonko r/odu Ino. Producent mn nadzieję, >a pewna zinntnu doprowadziła ilo zmniejszenia c/jihu magazynowania w nowych tranzystorach i chciałby ocenić ró/nico między średnia c/jinu magazynowaniu /i i pr/.y Mniej technologii ora/, ton sam c/mu // jpo /iniNiiio technologii.

W tym celu (Hihrul dwio nic/nle/no próby losowe po 75 tranzystorów ku/da, pierws/n składająca się z tranzystorów produkowanych /.godnie /o stara lochnologiu i droga składająca się z nowych tranzystorów. /, pomiarów czasów muguzynownnin otr/.ymał:

X\- 7 Xns, Tj «* 7.4ns, om/. wurtoAci nleobclątonyoh estymatorów wuriuncji J| « .53 ora/. Tj - . 44. Wyznaczyć pr/cd/inl ulhotłci na poziomic uihoiici I - a « .8 + 0.0Itr dla równicy fii -fii /akłndujitc, te wariancje w obu próbach statystycznie nic równin się istotnie.