DSC01767

PROTOKÓŁ POMIARÓW	Nrćw. 12	System da mechntro odkszt magnetostr	pomiaru nicznych ałceń ykcyjnych
LABORATORIUM MIERNICTWA WIELKOŚCI ELEKTRYCZNYCH	Imię Nazwisko	Grupa	Zespół
INSTYTUT METROLOGII I SYSTEMÓW POMIAROWYCH Politechniki Warszawskiej	mz. im Data wykonania	Podpis prow.	Ocena

1. System pomiarowy

W ćwiczeniu do pomiaru odkształceń magnetostrykcyjnych wybranych magnetyków zastosowano tensometryczną metodę pomiaru. Zastosowanie tensometrów półprzewodnikowych zapewnia pożądany w przypadku badanych magnetyków wymagany próg czułości układu pomiarowego.

przetwarzanie cyfrowe

Rys. 1. Schemat strukturalny systemu pomiarowego

Schemat strukturalny systemu przedstawiono na rys. 1. Pole magnesujące H działając na badaną próbkę powoduje jej odkształcenie magnetostrykcyjne. Naklejone na próbce tensometry półprzewodnikowe, zmieniają swoje rezystancje pod wpływem tego odkształcenia. Tensometry pracują w układzie niezrównoważonego mostka Wheatstone'a. Napięcie na wyjściu mostka jest proporcjonalne do względnych zmian rezystancji AR/R tensometrów, a więc do odkształcenia magnetostrykcyjnego k badanej próbki. Napięcie wyjściowe z mostka po wzmocnieniu podawane jest poprzez układ koncentratora sygnałowego na wejścia karty pomiarowej. Karta 12 bitowa umieszczona