70
f
Współczynniki określające zależność pomiędzy rezystancją zestyku a jej rozrzutem dla różnych materiałów Q3 J
Materiał |
*r |
kRmax |
“R |
złoto |
0,22 |
0,48 |
1,39 |
pallad |
0,10 |
0,26 |
1,29 |
platyna |
0,10 |
0,26 |
1,32 |
srebro |
0,09 |
1,13 | |
aluminium |
0,70 |
1,50 |
1,00 |
mosiądz |
0,20 |
0,50 |
1,22 |
miedź (wygładzona) |
0,35 |
1,00 |
1,10 |
miedź (nieobrabiana) |
0,60 |
0,80 |
0,19 |
Obliczenia rezystancji zestyku w zależności od siły docisku przeprowadzić wykorzystując zależność [6]:
Rz = (l H°>1875 J F-°-6 ♦(«„ 4 h)f-1 , (7.3)
gdzie:
Rz - rezystancja zestyku,[ii ] ę - rezystywność materiału styków, Q.Q. m ]
^ - współczynnik zawarty w przedziale 0,02-5-1 [10], przy czym dla
styków stosowanych w łącznikach przyjmuje on zwykle wartości od 0,3 do 0,6 [7],
nk - współczynnik zawarty w przedziale od 1*10“^ do 5*10 ^ [8]J,
H - twardość materiału styków w stopniach Brinella, QN/m2],
0w - umowna rezystywność warstwy nalotowej,[ii m2], przy czym dla tlenków można oszacować z wzorów aproksymujących wyników doświadczeń Q9] dla miedzi - C*w = 315*1010 Sn2»68Qilm2]
dla srebra - C?w «= 1,12*108-Sn2'2 [Sita2 ] dla cyny - <5W = 8,85*10“2*Sn1'2 £&m2],
gdzie: Sn - całkowita grubość warstwy nalotowej mierzona w [m], F - siła docisku styków, CN}.
Grubość warstwy tlenkowej na powierzchni metalowej jest uzależniona od temperatury tej powierzchni i czasu utleniania, Z badań R, Holma nika, że wzrost grubości warstwy nalotowej można orientacyjnie ująć zależ-
nośclami: dla Cu20 - Sn -I |
(400 |
8,2- ^f’5 _10 + t«10 1 J f 10 10 |
O], |
dla NiO - Sn .^ |
u |
13,3- ^20)°’5 _ + t-10 ) • 10 8 |
O], |
t - czas w godzinach, T - temperatura, £K],
gdzie'
W miar? wzrostu grubości warstwy przenikanie tlenu staje się coraz bardziej utrudnione. W efekcie grubość warstwy ustala się i osiąga, w tempe-r8turze ok. 300 K, w powietrzu o ciśnieniu normalnym dla styków:
z miedzi z aluminium z wolframu
- (0,5 ... 1,01 • 10'8[m],
poszerzenie zakresu ćwiczenia, np. przez zwiększenie liczby pomiarów (N>>1°)» wymaga zastosowania do opracowania wyników elektronicznej techniki obliczeniowej. W sprawozdaniu wyniki obliczeń zestawić w formie tablicy według wzoru - tablica 7.4.
Tablica 7.4
Wyniki badań
Lp. |
Siła docisku |
Wartość średnia |
Średnie odchylenie kwadratowe soy |
Rezystancja zestyku Rz |
Średnie odchylenie kwadratowe S(RZ) |
F |
(z pomiarów) |
(z pomiarów) |
(wzór) 7.3 |
(wzór) 7.2 | |
[N] |
[“>■&] |
[ m Oj ]] |
[m J |
[ m.0. ] | |
1 2 6 |
LITERATURA
£13Wierny h. : Obliczanie elektrycznych obwodów sterowniczych z uwzględnieniem wymagań niezawodnościowych, Przegląd Elektrotechniki Nr 1V1969, s. 481-486.
J*avcenko V.S., Cchedadze D.M., J a k u s i n
Staticeska niestabilnost perechodnovo soprotivlenia raziemnych kontaktov, Elektriceskie kontakty, Izd. Nauka, Moskva, 1973, r S* 1Z»3-145.
J U r b i g j.: Statistische Untersuchungen des Kontaktwiderstandes, [*a~, Elekt**lsche Kontakte, Akademie-Yerlag, Berlin, 1980, s. 74-86.
Jkopytin F.A.: K voprosu o perechodnych soprotivlenJach elek-triceskich kontaktov rele i kontaktov postoJannovo toka, Materiały Vse-SoJuznovo seminara: Matematiceskie i teoreticeskie problemy v kontak-tn°J technikę. Alma-Ata, 1970, s. 102-109.