Lab ME LV 3p

Lab ME LV 3p



POLITECHNIKA LUBELSKA KATEDRA AUTOMATYKI I METROLOGII


POMIARY NAPIĘCIA STAŁEGO I WYZNACZANIE NIEPEWNOŚCI

INFORMACJA O KONFIGURACJI KARTY POMIAROWEJ ( BEZ MOŻLIWOŚCI ZMIANY PARAMETRÓW )

)AQmx Physical Ch

Bnnel

\ Devl/aiO

Fizyczny kanał karty


oprać, dr inż. Eligiusz Pawłowski

Numeric value

input terminal configuration

Maximum value Minimum value

KONIEC

10083

|rse

|10 -10

POMIARÓW

Konfiguracja zacisków wejściowych

Zakres pomiarowy karty


NI PCI-6221 (37-PIN)

Typ karty

NUMER KOLEJNY POMIARU


0    200    400    600    800    999

NUMER POMIARU W SERII


NUMER ŚREDNIEJ Z SERII


Wyniki pojedynczych pomiarów

Seria pomiarów do uśrednienia

5,3 5,2 4) 5,1

"O 3

t 5

£

* 4,9 4,8 4,7

Wyniki uśrednionych pomiarów

wynik pojedynczego pomiaru

5,052576 V


Dane do obliczenia niepewności pomiarowej

zakres pomiarowy

Liczba pomiarów w serii

o

o

<

(od 2 do 1000)

GainError

(błąd wzm.)

r, 1000

^)|75 ppm

współczynnik rozszrzenia

OffsetError

(od l do 5)

(błąd zera)

• ■20 ppm

P

Noise

(szumy)

Wolno / Szybko

M-Vrms

SZYBKO


średnia pojedynczych wyników

4,983003 V

Obliczone niepewności pomiarowe

niepewność typu A

0,0034299735 V błąd graniczny niepewność typu B    przetwornika A/C

0,0003446048 v 0,0005968731 V

y niepewność łączna 0,003447241

niepewność rozszerzona

0,0103417229 V

Dodatkowa analiza statystyczna wyników


liczba serii pomiarów do uśrednienia


numer uśrednionej serii pomiarów


n-liczba uśrednianych pomiarów    pierwiastek z n

11000    J 31,6228

wariancja pojedynczego wyniku 0,0117647179    V2

odchylenie std. pojedynczego wyniku 10,1084652843    V

odchylenie std. średniej - wartość teoretyczna 0,0034590387    V

odchylenie std. średniej - wartość z pomiarów 0,0006530577    V



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
lab ME LV 2p POLITECHNIKA LUBELSKA KATEDRA AUTOMATYKI I METROLOGII POMIARY PARAMETRÓW PRZEBIEGÓW
Obraz10 Politechnika Lubelska Katedra Automatyki i MetrologiiĆWICZENIE NR 17WYZNACZANIE STRATNOŚCI
Obraz11 Politechnika Lubelska Katedra Automatyki i Metrologii Politechnika Lubelska Katedra Automat
Obraz12 f Politechnika Lubelska Katedra Automatyki i Metrologii Obecnie znormalizowanym jest aparat
Obraz17 Politechnika Lubelska Katedra Automatyki i Metrologii rozproszenia. Budowa kompensatora jes
Obraz11 Politechnika Lubelska Katedra Automatyki i Metrologii Rys. 10. Zasada pomiaru wartości maks
Obraz14 Politechnika Lubelska Katedra Automatyki i Metrologii aparatem Epsteina w tym samym układzi
Obraz15 t t Politechnika Lubelska Katedra Automatyki i Metrologii -jeśli sprawdzenie wypadło pomyśl
Obraz16 Politechnika Lubelska Katedra Automatyki i Metrologii 5.2.2. Ustawić na generatorze częstot
Obraz17 Politechnika Lubelska Katedra Automatyki i Metrologii -wyznaczanie dynamicznej krzywej magn
C POLITECHNIKA LUBELSKA KATEDRA AUTOMATYKI I METROLOGIIPOMIARY PARAMETRÓW PRZEBIEGÓW
Obraz13 { { Politechnika Lubelska Katedra Automatyki i Metrologii (3a) E-, = Ł/, . (3b) Należy
Obraz14 Politechnika Lubelska Katedra Automatyki i Metrologii Warunek (3b) nie jest ściśle spełnion
Obraz15 Politechnika Lubelska Katedra Automatyki i Metrologii2.4. Wyznaczanie stratności magnetyczn
Obraz16 Politechnika Lubelska Katedra Automatyki i Metrologii Wartość maksymalną indukcji magnetycz
Obraz18 Politechnika Lubelska Katedra Automatyki i Metrologii P    - P + pf 1,1 1 1
Obraz19 Politechnika Lubelska Katedra Automatyki i Metrologii Wykres zależności (20) jest więc lini
Obraz10 Politechnika Lubelska Katedra Automatyki i Metrologii dynamicznej krzywej magnesowania Bmax

więcej podobnych podstron