lOCOWm’ ■oCVWJri 5KWB- ;50Wo' »Yf'n>»
i 35.3 rnVWcm2
o AMD - promieniowanie poza afrnosferą ziemską
o AM1 - obszar podzwrotnikowy optymalne warunki prorrtieniowariia 100 mW/cm2
o AM2 - słońce znajduje się pod kątem 60 stopni 72-75 m¥V/fcm2
o rodzaj materiału z którego wykonane,
o szerokość przerwy energetycznej półprzewodnika,
c niezgodność charakterystyki emisyjnej promieniowania słonecznego z charakterystyką absorpcyjną fotoogniwa,
o czułość wdmowa fotoogniwa (dla różnych źródeł świata otrzymujemy różną sprawność nsrwetprzy tym samyrn natężeniu oświetieriia te),
o konslrukcja fotoogniwa,
o straty wywołane odbiciem promieniowania od zewnętrznej powierzchni zewnętrznej ogniwa.
o opór omowy obwodu ogniwa.
o cień elektrod na powierzchni ogniwa,
o spadek sprawności w skutek nieoptymalnej temperatury (zbyt wysokiej lub zbyt niskiej)
14
- fotoogniwa z krzemu rnonokrystaiicznego (c-Si)
- fotoogniwa z krzemu multikrystalicznego (m-Si)
- cienkowarsWwe ogniwa z krzemu amorficznego (a-Si)
- cienkowarstwowe ogniwa ze związków półprzewodnikowych
- setenekindawo miedziowy (CIS)
- tellurek kadmu (CdTe)
- fotoogniwa z arsenku galu (GbAs)
- fotowottaiczne ogniwa barwnikowe
- elastyczne ogniwa słoneczne
Si02 | ||
J3L | ||
Krzem hutniczy |
chlorowanie, destylacja, redukcja wodorem | |
Krzem polikrystaliczny (oSi) "j > . .................................. y | |
£ |
przetapianie metodą Czochralsfciego |
Krzem monokry staIiczny(m-Si)
Domieszkowanie F i B
15
# <y
Fotoogniwo z krzemu rnonokrystaiicznego (c-Si)
P 3 n el fotowoltai czny zkizemu mon okrysia l i czn e ąc
•Sprawność pojedynczych ogniw fotcwoltaicznych z krzemu rnonokrystaiicznego zawiera się w granicach od 15 % do 18 %,
• gęstość prądu zwarcia Jk około 35,5 mA'cm2,
• napięcie obwodu otwartego Voc około 0,641 V,
■ natomiast współczynnik wypełnienia FF** 0,822,
• grubość ogniwa 0,2-s- 0,3 mm.
Fotoogniwo z krzemu polikrystalicznego (m-Si)
■Sprawność krzemu poiikrystaiicznego jest około 20 % mniejsza od wydajności krzemowych ognkwmonokrystalicznych, z czego 8 % wynika ze zmniejszenia się gęstości prądu zwarcia spowodowanego granicami ziam, 8 % pochodzi z redukcir Jsc związanej ze skróceniem się drogi dyfuzji nośnitów mniejszościowych wewnątrz ziam, a 4 % ze zmniejszenia się napięcia obwodu otwartego Voe.
■Sprawność typowych paneii fotowoltaicznych z krzemu polikrystalicznego zawiera się w przedziale (12-14)%,
17
is