objętość tej nowej komórki jest określona wzorem
uL |
wx | ||
V = |
u2 |
v2 |
W2 |
«3 |
W3 |
I w tym przypadku wartość bezwzględna wyznacznika, która musi być liczbą całkowitą, jest wielokrotnością M nowej komórki.
Parametr prostej sieciowej sieci trójwymiarowej jest określony równaniem
|R| = |wa+ab + vvc|
w którym w, v i w oznaczają liczby całkowite, pierwsze względem siebie. Gęstość obsadzenia prostej sieciowej jest równa l/R.
Dwie proste nierównoległe scharakteryzowane równaniami
Rx = iix a
i
R2 = w2a-f^2b-bvt>2c
określają płaszczyznę sieciową. Gęstość węzłów na tej płaszczyźnie i odległość d między wszystkimi równoległymi płaszczyznami tej samej rodziny można wyrazić znacznie dogodniej korzystając z sieci odwrotnej.
I.2.3.I. Definicja
W krystalografii rentgenowskiej korzysta się z innej sieci, zwanej siecią odwrotną. Chodzi tu o pojęcie czysto geometryczne (wprowadzone przez P. P. Ewalda w 1921 r.), które nie ma realnego sensu fizycznego sieci strukturalnej, lecz które pozwala w dogodniejszy sposób rozważać płaszczyzny w kryształach, ich kierunki i odstępy sieciowe. Wychodząc z sieci rzeczywistej (czyli sieci pierwotnej), scharakteryzowanej przez trzy wektory translacji elementarnych a, b, c, można skonstruować fikcyjną sieć punktów, taką, że każdy z jej punktów pozostaje w zależności odwrotnej z siecią pierwotną.
Rys. 1.51. Zależność między wektorami sieci odwrotnej i pierwotnej: c* jest prostopadłe do a i b; b* do a i c i a* do b i c
Oznaczmy wektory określające parametry sieci odwrotnej symbolami a*, b*, c*. Wektory te są powiązane z wektorami a, b i c sieci pierwotnej za pomocą trzech równań wektorowych:
a*
bxc
v
b* =
axb
v
przy czym v oznacza, jak poprzednio, objętość komórki pierwotnej
68