27279 m pluta mikroskopia optyczna009

dielektrycznej), jak również współczynnik załamania n_K, klciwa optycznego Ki, którym ów pierścień jest zaklejony, są przy tym tak dobrane, aby po wst wicniu płytki fazowej dn obiektywu mikroskopowego zostało zagwarantowane odpowiednie przesunięcie fazowo y między sprzężonym obszarem źrenicy wyjściowej obiektywu i obszarem dopełniającym,

Owo przesunięcie fazowe jest określone następującym wzorem:

, /I    2 71

V = 2n^ (n_KI - n_n)h.    18.11)

gdzie .1 « (/»*(-n_rk)h jest różnicą drogi optycznej między pierścieniem Ph (obszarem sprz tonym) i jego otoczeniem (obszarem dopełniającym). Warstwa metaliczna U'M zazw czaj wprowadza pewne nieznaczne przesunięcie fazowe, które się dodaje do przesil ; ięc. fazowego y> określonego wzorem (8.11). To niepożądane dodatkowe przesunięcie fazowe jest zaniedbywane lub ewentualnie kompensowane przez zastosowanie odpowiednio grub-z , lub cieńszej warstwy dielektrycznej WD niż to wynika ze wzoru (8.11). Wykonawstwo płytek fazowych jest dokładniej opisane w książce [5J.

Z vzoru (8.11) wynika, że płytka fazowa jest dodatnia (y 0). jeżeli n_k, > n„ Wówczas .światło bezpośrednie S_b (rys. 8.6) jest pr/yśpies/anc w fazie w stosunku do świniła dyfra :>:;^rjntgo Natomiast płytka fazowa jest ujemna (y < 0). jeśli n_AI n_rs. Wówczas wiatło bezpośrednie S» jest opóźniane w fazie względem światła <lyfrnk< yjnego S,

Prz.es. i: ęcic fazowe y typowych płytek fazowych wynosi i 90 i - 90 i tolerancją do ^ kilku procent), a przepuszczalność r — od 25% do I0 '„.

Mikroskopów przeznaczonych wyłącznic do obserwacji fazo" •kontrastowej nie pro duku • ię, lecz do zwykłych mikroskopów (prześwietleni 'wychł doki zane są tylko ui ;

Rys. 8.8. Standardowe urządzenie fazowo-konti astowc (PZOj 434

■