56040 m pluta mikroskopia optyczna005

w stosunku do wektora d. Natomiast zrównanie długości tych wektorów może nastup-w wyniku zmniejszenia natężenia światła bezpośredniego, reprezentowanego przez wektory b, i b_:. Praktycznie uzyskuje się to przez wprowadzenie do źrenicy wyjściowej obiektywu Ob (rys. 8.1) płytki fazowej Ph, która nic tylko zmienia fazę światła bezpośredniego S„ o y = +90” lub - 90\ lecz również zmniejsza (np. przez pochłanianie) jego natężenie Przypuśćmy, że płytka fazowa Ph zmniejsza natężenie Światła bezpośredniego A-kroime Wówczas amplituda tego światła, czyli długość w t >r \ b, lub b», zmniejsza się w stosunku 1 :| N. Uwzględniając tę zależność, wzory (8.4) i • S) nrzyjmą postać:

K - -2ęV/V' dlt    o - +90“,    (8 6)

K=+2ę>^ dla    w -90',    (87)

Dokładne wyprowadzenie tych zależności można zn. źć w t óążeC [5J.

Płytka fazowa Ph (rys. 8.1) zmieniająca fazę y itła bezpośredniego Ą względem dyfrakcyjnego Sj o +90° nosi nazwę ćwierćfalowej ' -ki fazowej dodatniej. Podobnie, płytka fazowa zmieniająca fazę światła bezpośrednie względem dyfrakcyjnego o -^r*o' nosi nazwę ewierćfulowejpiyikifazowej ujemnej. Przyir>V; nik „ćwierćfałowa” wyn i ila-ł, że zmianie fazy o ± 90° odpow iada różnica drogi optycznej równa i ż/4.

Dotychczas zakładaliśmy, że przedmiot fazowy B (rys. 8.1) wywołuje małe pr/i-Nuni_v..ic fazowe </' fali świetlnej (|y-|    90°). Jeśli zrezygnuje się z tego założenia i dopuści się wszytlkic

możliwe wartości rp w przedziale pełnego kąta fazowego 0 - +3ó0^c, to zależność kontr.otu K od (p nic jest liniowa, lecz przypomina w pewnym stopniu przebieg '• nkcu sinusoid -.Ino; Dla ćwierćfalowych płytek fazowych, dodatniej Ph’' i ujemnej Ph . nic pochl c .h światła, wspomniana zależność jest pokazana na rys. 8.4. Jak w;dać, zarówno dodatnia jak i ujemna płytka fazowa daje dodatni jak i ujemny \ itrast obserwowanych przednim-lów fazowych, zależnie od wywoływanego przez nie pr. unięciu fazowego </ fali świellnrf Śledząc za przesunięciem fazowym ę od 0 do ±360”, widzimy, że różnica I, L mię d/jr natężeniem światła od Ha pola widzenia mikroskopu i brązu obserwowanego przedmiotu

■43H