7 (1494)

7 (1494)



24 Laboratorium materiałoznawstwa




o

o

1

1

1

1

r

o

o

\

V


Rys. 1.12. Wskaźnikowanie płaszczyzn sieciowych w elementarnych komórkach układu regularnego


Rys. 1.13. Elementarna komórka sieciowa układu heksagonalnego z zaznaczeniem głównych płaszczyzn

wigonulnym występują cztery osie współrzędnych X), X2, X3 i Z. Osie Xi, X2 i X3 livi| w jednej płaszczyźnie i przecinają się w środku układu współrzędnych pod kitlom 120°, zaś oś Z jest do nich prostopadła. Wskaźniki płaszczyzn sieciowych układu heksagonalnego mają więc symbolikę czterocyfrową, np. (1120), (0001), Przykłady oznaczania płaszczyzn w tym układzie podano na rysunku 1,13.

Rys. 1.14. Wskaźnikowanie kierunków krystalograficznych


Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Laboratorium materiałoznawstwa0 Rys. 1.2. Charakterystyki tennometryczne najczęściej stosowanych te
Laboratorium materiałoznawstwa8 Rys. 5*22. Czyste aluminium. Wielkość ziarna po rekrystalizacji w z
5 (1788) 20 Laboratorium materiałoznawstwa Rys. 1.9. Sieć przestrzenna układu trój skośnego W komórk
Materiały pomocnicze do laboratorium z Metrologii elektrycznej i elektronicznej Ip Rys. 12.3a Aby ni
Laboratorium materiałoznawstwa9 58 Rys. 2.12. Struktura stopu ołowiu z antymonem o zawarto- > śo
ceramika6 Laboratorium z nauki o materiałach 5.    Pokrętło zerowania miernika (1) (
Laboratorium Elektroniki cz I 7 170c)    d) Rys. 8.12. Zasada wyznaczania charakter

więcej podobnych podstron