95 (45)

13. Wyznaczanie rozkładu natężenia pola mikrofalowego... 95

Rys. 13.1. Rozkład natężeń interferencji przy dwóch szczelinach

zaburzenie falowe. Różnica dróg między sąsiednimi paskami wynosi Axsina, stąd różnica faz A<p pomiędzy falami pochodzącymi z sąsiednich pasków

Axsina.    (13.12)

A

Zatem w punkcie C (rys. 17.4 w rozdziale 17) dodaje się W wektorów pól elektrycznych o tej samej amplitudzie, tej samej częstotliwości i tej samej różnicy faz Aq> między kolejnymi wektorami. Szukamy zatem zaburzenia wypadkowego dla różnych punktów C, określonych dla różnych kątów a, a tym samym dla różnych A(p. W przypadku dyfrakcji na jednej szczelinie, gdy szczelinę podzielimy na nieskończenie wiele małych pasków o szerokości dx, łuk strzałek będzie łukiem okręgu o promieniu R (rys. 13.2.) Długość łuku wynosi E_m, czyli jest równa amplitudzie w środku obrazu dyfrakcyjnego (linia prosta strzałek). Z rysunku wynika, że

(13.13)

E_a = 2i?sin— " 2

W mierze łukowej <p = E_m IR, stąd R = E_m !<p, a więc po podstawieniu otrzymamy:

(13.14)

E _m . (p —^sin^ ę/2    2

gdzie $9 jest różnicą faz dla promieni wychodzących z krańców szczeliny.

Pamiętając, że natężenie I fali jest proporcjonalne do kwadratu amplitudy E², obliczamy natężenie promieniowania dla dyfrakcji na pojedynczej szczelinie: