97 (41)

13. Wyznaczanie rozkładu natężenia pola mikrofalowego... 97

13. Wyznaczanie rozkładu natężenia pola mikrofalowego... 97

(13.20)

= (m-t- 1/2)tc, m - ±1, ±2, ±3.

a więc gdy jest spełniony warunek:

a sin a = {m + 1/2)A, m = ±1, ± 2, + 3,... (maksimum). (13.21)

Po podstawieniu do równania (13.17) zależności (13.21) otrzymamy IJI_m = = 0,045; 0,016; 0,008 odpowiednio dla m = 1, 2, 3. Widać, że natężenie kolejnych maksimów bardzo szybko maleje. Na rysunku 13.3 przedstawiono krzywe I_a dla różnych szerokości szczeliny a (w stosunku do długości fali X) w funkcji położenia na ekranie.

A I

10    5    0    5    10    a[°]

Rys. 13,3. Natężenie l_a dla różnych szerokości szczeliny (w stosunku do długości fali A) w funkcji położenia na ekranie (kąta a)

Natężenie fał w zjawisku równoczesnej interferencji i dyfrakcji

W warunkach pomiarowych trudno jest spełnić warunek a«X. Pojedyncza szczelina będzie dawała obraz dyfrakcyjny. Interferencja fal daje wtedy obraz, w którym natężenie prążków nie będzie stałe, ale będzie zależne od obrazu dyfrakcyjnego. Powoduje to zmianę natężenia kolejnych maksimów interferencyjnych.

Natężenie obrazu interferencyjnego dane jest równaniem (13?11 a“nafęzeme fali ugiętej na szczelinie równaniem (13.17). Łączymy oba równania i otrzymujemy wzór na natężenie obrazu jako funkcję kąta ugięcia:

(13.22)