96 (43)

96 Piotr Ziobrowski

sin — _2.

£

2 ;

(13.15)

gdzie l_m jest natężeniem fali w środku obrazu dyfrakcyjnego.

Rys. 13.2. Konstrukcja graficzna strzałek fazowych służąca do obliczenia wypadkowej amplitudy pola mikrofalowego w przypadku dyfrakcji

Ponieważ różnica dróg dla promieni wychodzących z krańców szczeliny wynosi asma(a szerokość szczeliny), na podstawie równania (13.12) otrzymamy:

⁽¹³¹⁶⁾ 1

Zatem zależność natężenia promieniowania od kąta a dla dyfrakcji na pojedynczej szczelinie

\²

■smar

/„=/■

(13.17)

X

sina

Wyrażenie na natężenie przyjmuje wartość minimalną dla (p/2 = mu, m = ± 1, ±2, ±3,...,

(13.18)

a więc gdy jest spełniony warunek:

a sin a = mX_t m = ±l, ±2,±3,... (minimum).    (13.19)

Obliczmy teraz względne natężenie kolejnych maksimów dyfrakcyjnych. Maksima leżą w środku pomiędzy minimami, a więc w punktach, dla których