badanie5

badanie5



Rys. 6-4. Układ do pomiaru pojemności międzyelektrodowych metodą dzielenia napięć


kondensator Cr muszą mieć pojemności dostatecznie duże, a to pociąga za sobą konieczność stosowania źródła napięcia drgań o dużej mocy. Wymaga to również stosowania woltomierza lampowego VL2 o dużej czułości. Oprócz tego składowa czynna oporności wejściowej tego woltomierza musi być co najmniej 100-krotnie większa niż oporność pojemnościowa wszystkich pojemności między punktami B i Z.

Przy zachowaniu wszystkich tych warunków spadek napięcia, mierzony woltomierzem VL,, rozłoży się na CA i C„odwrotnie proporcjonalnie do tych pojemności. Odczytując wartości 17, i 172 i znając pojemność kondensatora wzorcowego, możemy znaleźć szukaną pojemność ze wzoru:

U3

Cn " t7, -U2

gdzie:

U, — v'skazania woltomierza lampowego VL,,

U2 — wskazania woltomierza lampowego VLZ.

W praktyce możliwy jest pomiar na kilku zakresach pojemności. W granicach każdego zakresu wielkości C„.z i U, pozostają bez zmian, co pozwala na wyskalowanie woltomierza VL2 bezpośrednio w jednostkach pojemności.

Podstawowa zaleta metody dzielnika napięcia leży w tym, iż odpada konieczność stosowania zmiennego kondensatora wzorcowego. Jednak konieczność użycia bardzo czułego woltomierza lampowego do pomiarów napięć rzędu miliwolta na kondensatorze wzorcowym znacznie komplikuje urządzenie.

Odmianą układu do pomiarów pojemności międzyelektrodo-wych za pomocą dzielnika napięcia jest układ, który zaproponował J. Junosza. Układ ten znalazł szerokie zastosowanie w przemyśle lampowym. W tym układzie (rys. 6-5) napięcie

75


Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
badanie0 Rys. 2-3. Układ do pomiaru napięcia żarzenia przyjęty został warunkowo za równy zeru. W st
78832 skrypt120 Rys. 6.13. Układ do pomiaru rezystywności dielektryków metodą kompensacyjną: R„ - op
badanie3 6.3. METODA PORÓWNAWCZA Zasada pomiaru pojemności międzyelektrodowych metodą porównawczą p
9 Rys.9. Układ do pomiaru przemieszczeń liniowych w osi maszyny 5.2. Pomiary: A. Rozrzut położeń i l
skany006 Rys. 1.6. Układ do pomiarów charakterystyki //; io (ao) diody w kierunku zaporowym Przedmio
skany043 Anar: ;100 mA Rys.5.3. Układ do pomiarów charakterystyki iy. /,.(//«) diod stabilizacyjnych
• Schematy pomiarowe Rys. 7. Układ do pomiaru charakterystyk diod w kierunku przewodzenia a) dioda
Schematy pomiarowe Rys. 8.Układ do pomiaru statycznych charakterystyk tranzystora potowego złączoweg
/ Rys. 9. Układ do pomiaru charakterystyk diody elektroluminescencyjnej w kierunku przewodzenia (poł
4. Pomiar charakterystyki hiegu jałow ego. A Rys.l. Układ do pomiaru charakterystyk biegu
ScanImage11 2. Przebieg ćwiczenia2.1 Układ połączeń do pomiarów Rys 6    Układ do pom
badanie9 W niektórych układach do pomiaru nachylenia przemiany metodą częstotliwości zerowej, w cel
Badania materiałów dielektrycznych Rys.12.3. Schematy układów do pomiarów rezystancji skrośnej R me
badanie1 8.3. POMIAR PARAMETRÓW METODĄ DWÓCH ODCZYTAĆ Najprostszy układ do pomiarów parametrów Stat
DSCF6658 272 + + Rys. 105. Układ służący do badania charak- Rys. 106. Układ do pomiaru potencjału ha

więcej podobnych podstron