Tester elementów elektronicznych P R O J E K T Y
Tester elementów
elektronicznych
AVT-5003
Elektronik hobbysta do
piel�gnowania swojej pasji
najbardziej potrzebuje: nowych
Staram si� wykorzystywaĘ cz�ś- dodatniego i ujemnego o prądzie
pomysł�w, element�w
ci z odzysku, troch� w tym kilkunastu, kilkudziesi�ciu mi-
elektronicznych oraz pieni�dzy oszcz�dności, a troch� troski o śro- liamper�w. Mołe si� okazaĘ przy-
dowisko naturalne. Najcz�ściej datny takłe dla tych, kt�rzy
na realizacj� pomysł�w
problem polega na tym, łe wiele w swojej pracy uływają jedynie
i zakup element�w.
element�w z odzysku ma cz�sto nowych element�w (czasami i one
Pomysły mołna mieĘ
zamazane oznaczenia lub nie mogą byĘ wadliwe) oraz dla elek-
własne lub połyczone. Nasze
wiadomo, czy są sprawne i czy tronik�w amator�w, kt�rzy chcie-
pismo pr�buje dostarczaĘ je
nadają si� do powt�rnego ułycia. liby sprawdziĘ przed powt�rnym
Czytelnikom. Kwoty na cz�ści
Opracowałem zatem przyrząd, ułyciem stare cz�ści. W czasie
mogą byĘ spore, ale dzi�ki
dzi�ki kt�remu mołna określiĘ, niekt�rych test�w przyrząd wsp�ł-
dobremu pomysłowi pieniądze
czy dany element jest sprawny, pracuje ze zwykłym miernikiem
mołna pomnołyĘ.
a nawet z wystarczającą dokład- uniwersalnym.
Z elementami elektronicznymi
nością zmierzyĘ jego parametry.
bywa tak, łe czasem trudno Za pomocą testera mołna Opis układu
sprawdziĘ: Na rys. 1 przedstawiono sche-
je zdobyĘ, a te, kt�re są do
- dławiki i cewki o indukcyjności mat ideowy testera element�w.
dyspozycji mogą byĘ
w zakresie 10�H..10mH, Mołe wygląda na nieco zagmat-
uszkodzone. Tester mołe wi�c
- kondensatory o pojemności wany, ale zaraz okałe si�, łe
byĘ pomocny do oceny
10pF..10nF oraz 10nF..5mF spos�b realizacji poszczeg�lnych
sprawności posiadanych
- tranzystory PNP i NPN, funkcji układu jest całkiem pros-
element�w.
- stabilizatory szeregowe napi�Ę ty.
dodatnich i ujemnych, Om�wienie jego działania zacz-
- diody Zenera, n� od zasilaczy, kt�re dostarczając
- diody LED. napi�Ę o r�łnych polaryzacjach
Przyrząd generuje takłe sygnał umołliwiają realizacj� kilku pros-
prostokątny w kilku podzakresach tych, ale połytecznych funkcji.
cz�stotliwości od 1Hz do 10kHz, Cały układ mołna zasiliĘ zar�wno
mołe takłe dostarczyĘ napi�cia napi�ciem zmiennym, jak i stałym
Elektronika Praktyczna 3/2001
10
Tester elementów elektronicznych
Rys. 1. Schemat elektryczny testera.
niestabilizowanym. Napi�cie po datnie i ujemne o regulowanych nia stabilizator�w szeregowych ty-
wyprostowaniu jest stabilizowane wartościach. W obydwu przypad- pu 79xx i 79Lxx oraz 78xx i 78Lxx
przez układ U12. Napi�cie to, kach zastosowany został ten sam a takłe diod Zenera i LED.
o wartości +5V, dost�pne jest układ typu TL497, kt�ry w przy- Napi�cie ujemne, poprzez styki
w gnie�dzie JP14 i dzi�ki temu padku U10 wytwarza napi�cie przeka�nika PK1 i stabilizator U4,
tester mołe takłe pełniĘ rol� dodatnie o poziomie regulowanym uływane jest takłe do zasilania
podr�cznego zasilacza. Napi�cie potencjometrem PR2. Poziom na- szybkiego komparatora U6. Układ
5V oznaczone na schemacie sym- pi�cia ujemnego wytwarzanego U6 pracuje w jednej gał�zi z ukła-
bolem VCC zasila takłe dwie przez układ U11 reguluje si� dami U7, U8 i U5, kt�re biorą
przetwornice impulsowe U10 potencjometrem PR3. Napi�cia te udział w pomiarach małych war-
i U11 wytwarzające napi�cia do- uływane są gł�wnie do testowa- tości pojemności i indukcyjności.
Elektronika Praktyczna 3/2001
11
Tester elementów elektronicznych
Komparator U6 słuły do prze- w przypadku kondensatora okreś- tor. Ułycie układu scalonego jako
kształcenia sygnału z generatora lana jest w jednostce pojemności generatora jest spowodowane jego
U7 do postaci fali prostokątnej czyli faradzie (F), a jednostką mia- bardzo dobrymi właściwościami.
o poziomach TTL. Z wyjścia U7- ry dla indukcyjności jest henr (H). MC1648 działa z elementami
9 sygnał fali podawany jest na Zar�wno pojemnośĘ, jak i induk- o wartościach z bardzo dułego
licznik U8 i przełącznik U5, a z je- cyjnośĘ uływanych na co dzie� przedziału zar�wno pojemności,
go wyjścia na wejście zliczające element�w elektronicznych są du- jak i indukcyjności, a w przypad-
procesora U1-14. Procesor zlicza- ło mniejsze i są zaledwie ułam- ku przyrządu pomiarowego to nie-
jąc impulsy i odpowiednio prze- kami jednostek podstawowych. zwykle wałna cecha. Ponadto wy-
kształcając otrzymaną informacj� Dla określania tych wartości ułam- kazuje si� dobrą stabilnością ter-
o cz�stotliwości sygnału, oblicza kowych przyj�to uływaĘ przed miczną. Impulsy z wyjścia gene-
wartośĘ mierzonej indukcyjności jednostkami podstawowymi przed- ratora, tak jak to było wcześniej
lub pojemności. Poniewał prze- rostk�w. Dla pojemności lista uły- opisane, są kształtowane przez
dział otrzymywanych w wyniku wanych przedrostk�w jest troch� komparator U6 a ich cz�stotliwośĘ
pomiaru wartości cz�stotliwości dłułsza nił dla indukcyjności, dzielona w układzie U8. Pomiar
jest duły (zawiera si� od 300kHz a obie przedstawiają si� nast�pu- element�w w tak szerokim zakre-
do 16MHz), to cz�stotliwośĘ syg- jąco: sie powoduje, łe generowane im-
nału jest wst�pnie dzielona 1F (1 farad) pulsy nie mogą byĘ zliczane
w dzielniku U8 tak, aby wewn�t- 1mF = 10-3F bezpośrednio przez procesor po-
rzne układy procesora były w sta- 1�F = 10-6F mimo zastosowania kwarcu o moł-
nie zliczyĘ impulsy. 1nF = 10-9F liwie maksymalnej cz�stotliwości
Pomiar wi�kszych wartości po- 1pF = 10-12F (24MHz) w zegarze taktującym.
jemności dokonywany jest na za- 1H (1 henr) Z tego powodu procesor poprzez
sadzie pomiaru nie cz�stotliwości, 1mH = 10-3H multiplekser U5 wybiera do po-
a długości impulsu generowanego 1�H = 10-6H miaru cz�stotliwośĘ generatora
przez układ U9, do kt�rego do- 1nH = 10-9H wst�pnie podzieloną. Procesor, do-
łączany jest mierzony kondensa- Pomiar paramer�w kondensato- konujący oblicze� na podstawie
tor. Do wyprowadze� procesora r�w i cewek w oparciu o definicj� odpowiednio przekształconego
U1-17, 16, 10 dołączone są linie ich jednostek podstawowych był- wzoru podanego wcześniej, pod-
słułące do testowania tranzysto- by kłopotliwy (np. 1F jest pojem- stawia do niego rzeczywistą war-
r�w. Z kolei na wyprowadzeniu nością, kt�ra przy napi�ciu 1V tośĘ zmierzonej cz�stotliwości po-
procesora U1-23 pojawia si� ge- gromadzi na okładkach kondensa- niewał zna zastosowany wcześ-
nerowany sygnał prostokątny, kt�- tora ładunek 1 C - troch� to niej stopie� podziału.
ry poprzez wt�rnik emiterowy T1 skomplikowane). Na szcz�ście pa- Tester z niezłym przybliłeniem
podawany jest na wyjście JP1. rametry kondensator�w i cewek określa wartości element�w, jed-
Opr�cz tego, do zada� proce- mołna zmierzyĘ pośrednio, po- nak nie mołe byĘ traktowany jako
sora naleły obsługa wyświetlacza przez wykorzystanie ich jako ele- przyrząd pomiarowy. Na wynik
LCD 2x16 znak�w, na kt�rym menty rezonansowe w generato- pomiaru wpływa bowiem szereg
wyświetlane są informacje o ro- rach. Generator wytwarza impulsy czynnik�w, na kt�re ze wzgl�du
dzaju pomiaru i jego wyniku. Do elektryczne, a ich zliczanie przez na prostot� jego budowy nie ma
sterowania testerem słułą jedynie procesor to juł prosta sprawa. wpływu np. temperatura zew-
dwa przyciski S1 i S2. Przycis- ZalełnośĘ pomi�dzy pojemnością n�trzna, napi�cie zasilania gene-
kiem S2 wybiera si� rodzaj testu, i indukcyjnością a cz�stotliwością ratora itp. DokładnośĘ oblicze�
a S1 słuły do ustawiania korekcji układu rezonansowego określa zaleły takłe od znajomości war-
pomiaru (offsetu). Pami�Ę EEP- wz�r: tości drugiego elementu ułytego
ROM U3 przechowuje parametry f = 1/(2Ą"LC) w układzie rezonansowym. Do bu-
wcześniej zaprogramowanej ko- Znając wartośĘ jednego z ele- dowy testera mołna ułyĘ og�lnie
rekcji. ment�w układu rezonansowego ge- dost�pnych element�w, jednak
Procesor w testerze, opr�cz ste- neratora (kondensatora lub cewki) zastosowanie element�w lepszej
rowania jego pracą, musi takłe oraz mierząc cz�stotliwośĘ wy- jakości, np. kondensator�w nie-
wykonywaĘ wyjątkowo duło ob- tworzonych przez generator im- wrałliwych na temperatur� oraz
licze�. Jest nie tylko sterowni- puls�w, mołna obliczyĘ wartośĘ wcześniejsze dobranie ich wartoś-
kiem, ale takłe wyspecjalizowa- drugiego elementu układu rezo- ci zgodnie z podaną na schema-
nym kalkulatorem i znacznie ułat- nansowego, czyli dokonaĘ jego cie, tylko polepszy parametry tes-
wia prac� z przyrządem. pomiaru. W testerze generatorem tera. Dodatkowo wprowadzony
jest układ U7 (MC1648), a rol� układ offsetu pozwala skompen-
Pomiar małych elementu o znanej wartości pełni sowaĘ rozrzut wartości element�w
wartości pojemności albo kondensator C7, albo dławik ułytych do budowy testera.
i indukcyjności L3. Mierzony element dołączany
Zar�wno kondensator, jak jest do gniazda JP4, JP5. Zalełnie Pomiar dułych
i cewka są elementami, kt�re gro- od typu pomiaru, przeka�nik PK2 pojemności
madzą energi� w r�łnej postaci dołącza do mierzonego elementu Pomimo doskonałych paramet-
pola elektromagnetycznego. Zdol- jako drugi składnik układu rezo- r�w układu MC1648, przy jego
nośĘ do gromadzenia tej energii nansowego dławik lub kondensa- pomocy nie mołna mierzyĘ po-
Elektronika Praktyczna 3/2001
12
Tester elementów elektronicznych
pi�cie to, zalełnie od polaryzacji,
ustawia si� potencjometrami PR2
lub PR3. Nast�pnie, zalełnie od
rodzaju badanego stabilizatora, na-
leły podłączyĘ woltomierz do
gniazda JP15 lub JP16 i spraw-
dziĘ, czy napi�cie na jego wyjściu
Vo odpowiada wartości znamio-
nowej.
Testowanie diod Zenera
i LED
Okazuje si�, łe najbardziej
podatne na zatarcie są napisy na
małych obudowach diod Zenera.
Tester umołliwia szybką identy-
Rys. 2. Rozmieszczenie elementów na płytce drukowanej.
fikacj� ich napi�cia znamionowe-
jemności kondensator�w o wartoś- wzmacniacze, nie musimy si� za- go, naleły tylko wcześniej, za
ciach znacznie przekraczających nadto przejmowaĘ ich parametra- pomocą omomierza, zidentyfiko-
10nF. Do tego celu wykorzystany mi. Wałniejsza od informacji waĘ, kt�re z wyprowadze� ele-
został dobrze znany wi�kszości o wzmocnieniu lub prądzie bazy mentu jest katodą, a kt�re anodą.
Czytelnik�w układ NE555 ozna- jest pewnośĘ, łe dany egzemplarz Nast�pnie badany element naleły
czony na schemacie jako U9. jest sprawny i ewentualnie jakiego umieściĘ w gniazdach JP11 i JP12
Układ ten pracuje jak generator jest typu. Przyrząd umołliwia z anodą dołączoną do masy. Do
pojedynczego impulsu o czasie przeprowadzenie takich prostych gniazda JP17 naleły dołączyĘ
trwania zalełnym od wartości test�w. Tranzystor, zalełnie od woltomierz, kt�rym b�dzie mołna
pojemności mierzonego kondensa- polaryzacji umieszczony w odpo- zmierzyĘ napi�cie Zenera badanej
tora dołączanego do gniazd JP6 wiednim złączu JP2 lub JP3, diody. Napi�cie +V, przykładane
i JP7 oraz od oporności rezystora dołączany jest do port�w proce- do testowanej diody poprzez
R10. ZalełnośĘ pomi�dzy czasem sora. Na wyjściu portu P3.6 (WR) opornik R15, powinno byĘ o kil-
trwania impulsu a wartościami pojawia si� kolejno stan niski ka wolt�w wi�ksze od napi�cia
obydwu element�w określa z ko- i wysoki i podawany jest na baz� Zenera badanej diody. Zwi�ksza-
lei nast�pujący wz�r: T =1,1(RC). badanego tranzystora. W przypad- nie jego wartości za pomocą
Tym razem w czasie pomiaru ku sprawnego tranzystora n-p-n potencjometru PR2 nie powinno
procesor nie b�dzie zliczał impul- stan wysoki b�dzie go otwierał w znaczący spos�b wpływaĘ na
s�w, lecz za pomocą wejścia INT0 a stan niski zatykał, tranzystory p- wskazania dołączonego do testera
b�dzie mierzył czas jego trwania -n-p b�dą zachowywały si� prze- woltomierza.
i na tej podstawie wyliczał pojem- ciwnie. Procesor testuje stan tran- Te same gniazda pomiarowe
nośĘ badanego kondensatora. Po- zystor�w za pośrednictwem por- mołna wykorzystaĘ do sprawdza-
miar rozpoczyna podanie na wej- t�w P3.7 (RD) i P3.0 (RxD). Ele- nia diod LED, ale w�wczas anoda
ście wyzwalające U9-2 kr�tkiego menty uszkodzone lub o pomylo- diody LED powinna byĘ umiesz-
dodatniego impulsu. Od tego mo- nej polaryzacji nie b�dą si� ot- czona w gnie�dzie JP11.
mentu na wyjściu układu U9-3 wierały i zatykały w takt sygnału
rozpoczyna si� generacja pojedyn- na bazie. W tak prosty, ale sku- Generator impuls�w
czego dodatniego impulsu o cza- teczny spos�b mołna zbadaĘ tran- prostokątnych
sie trwania określonym przez za- zystory, co do kt�rych nie ma Tester został wyposałony
lełności podanego wcześniej wzo- pewności czy są sprawne. w podr�czny generator przebieg�w
ru. Impuls poprzez wejście INT0 prostokątnych o wypełnieniu 50%.
uruchamia wewn�trzne liczniki Testowanie stabilizator�w Generowane są przebiegi o nast�-
procesora zliczające impulsy jego Szeregowe stabilizatory, zar�- pujących cz�stotliwościach: 1Hz,
własnego zegara taktującego. Po wno dułej, jak i małej mocy, 10Hz, 100Hz, 1kHz i 10kHz. Im-
zako�czeniu generacji impulsu mołna sprawdziĘ korzystając pulsy prostokątne podawane są
procesor odczytując zawartośĘ z gniazd JP9 i JP10 (na schemacie z portu P2.2 procesora na wt�rnik
swoich licznik�w określa czas oznaczonych właśnie symbolem emiterowy T1, a stamtąd na wyj-
trwania impulsu. Nast�pnie pod- stabilizatora). Tak jak w przypad- ście JP1. Poniewał wyjście nie
stawiając do wzoru znane wartoś- ku tranzystor�w, takłe stabiliza- jest zabezpieczone, naleły unikaĘ
ci: długości impulsu (T) oraz tory dodatnie i ujemne powinny jego zwarcia do masy, gdył grozi
oporności (R) oblicza si� pojem- w czasie testu znale�Ę si� we uszkodzeniem wt�rnika.
nośĘ (C) badanego kondensatora. właściwych gniazdach pomiaro-
wych. Do wyprowadzenia Vi Posługiwanie si� testerem
Testowanie tranzystor�w sprawdzanego stabilizatora naleły Po dołączeniu do testera na-
Wykorzystując tranzystory doprowadziĘ napi�cie o wartości pi�cia zasilającego na wyświetla-
w najprostszych zastosowaniach co najmniej 2, 3V wi�kszej od czu LCD pojawia si� napis
jako przełączniki lub proste napi�cia stabilizacji układu. Na- �Tester element�w�, a poniłej
Elektronika Praktyczna 3/2001
13
Tester elementów elektronicznych
symbol przycisku S2 i napis podzakres�w pomiarowych są na-
WYKAZ ELEMENTÓW
�rodzaj�, a obok symbol przycis- st�pujące:
Rezystory
ku S1 i napis �offset�. Naciskanie 1 podzakres
R1, R3, R4, R10, PR1, PR2: 10k&!
przycisku S2 powoduje wyb�r 10pF..170pF 10�H..69�H
PR3: 47k&!
rodzaju test�w. W przypadku tes- 2 podzakres
towania kondensator�w i dławi- 170pF..687pF 69�H..274�H R2, R5, R6, R8, R18: 1k&!
k�w są one przeprowadzane cyk- 3 podzakres
R9: 27k&!
licznie. Pojawiający si� na pier- 687pF..2,7nF 274�H..1mH
R11: 30k&!
wszej pozycji, w dolnej linii wy- 4 podzakres
R12: 2,7k&!
świetlacza, symbol wykrzyknika 2,7nF..11nF 1mH..4,4mH
R13: 430&!
(!) oznacza, łe przyrząd jest 5 podzakres
R14: 15k&!
w fazie pomiaru. Znak nawiasu 11nF..43nF 4,4mH..17,6mH
R15: 4,7k&!
tr�jkątnego (>) oznacza, łe wy- Ustawienie offsetu przebiega
R16: 5,1k&!
świetlany jest wynik pomiaru. nast�pująco:
R17: 3k&!
Niekiedy pomiar dokonywany jest 1. Naleły przygotowaĘ po jed-
Kondensatory
tak szybko, łe znak (!) praktycz- nym kondensatorze i dławiku
C1: 2,2�F/16F
nie si� nie pojawia. Z kolei pod- o wartości pojemności i indukcyj-
C2, C3: 27pF
czas testowania kondensator�w ności z podanych przedział�w.
elektrolitycznych o dułej Najlepiej jełeli wartości tych ele- C4, C9, C10, C13, C16, C18,
pojemności pomiar mołe trwaĘ ment�w zostaną wcześniej zmie- C19, C20: 100nF
nawet ponad minut�. Pojawienie rzone za pomocą mostka lub
C5: 10�F/16V
si� jako wyniku pomiaru słowa innego przyrządu pomiarowego.
C7: 15pF
�HIGH� lub �LOW� oznacza, łe 2. Kondensator o znanej war-
C8: 1�/16V
uzyskany wynik wykracza poza tości pojemności, np. 100pF, na-
C11, C12: 220pF
dost�pny zakres pomiarowy. Mo- leły włołyĘ do gniazda pomiaro-
C14, C15: 220�F/50V
łe to takłe oznaczaĘ, łe badany wego i ustawiĘ tester na pomiar
C17: 1000�F/25V
element jest uszkodzony. małych pojemności.
C21: 100�F/16V
W czasie testowania tranzysto- 3. Kiedy w dolnej linii wy-
Półprzewodniki
r�w, przyciskiem S1 (offset) wy- świetlacza pojawi si� znak (>),
D1: mostek prostowniczy
biera si� polaryzacj� tranzystora. naleły jednocześnie nacisnąĘ
T1, T2: BC547
Napis w dolnej linii �sprawny� przyciski S2 i S1. Powinien po-
T3, T4: BC557
oznacza, łe tranzystor przeszedł jawiĘ si� napis �kor.� Oznacza to
pomyślnie test. włączenie trybu offsetu. U1: 89C51/24MHz
Po wybraniu funkcji generato- 4. Naciskając przyciski S2 i S1
U2: LCD 2x16
ra, cz�stotliwośĘ generowanych naleły skorygowaĘ wyświetlaną
U3: 24C02 EEPROM
impuls�w wynosi 1Hz. Jej zmiana wartośĘ pojemności mierzonego
U4: 79L05
nast�puje po naciśni�ciu przycis- kondensatora tak, aby była naj-
U5: 74LS151
ku S1 (offset). WartośĘ wybranej bliłsza wartości rzeczywistej.
U6: NE521
cz�stotliwości mołna odczytaĘ na 5. Ponowne jednoczesne naciś-
U7: MC1648
dolnej linii wyświetlacza. ni�cie przycisk�w S2 i S1 ko�czy
U8: 74LS163
tryb ustawiania offsetu dla tego
U9: NE555
Ustawianie offsetu zakresu pojemności. WartośĘ no-
U10, U11: TL497AC
M�łliwośĘ ustawienia offsetu wego offsetu zostanie zapami�tana
U12: 7805
pozwala skorygowaĘ rozrzuty war- w pami�ci EEPROM.
tości parametr�w element�w uły- W ten sam spos�b naleły wpro- Różne
tych do budowy testera i zwi�k- wadziĘ poprawk� dla pozostałych
JP1, JP15..JP17: gniazda typu
szyĘ dokładnośĘ pomiaru. W przy- podzakres�w pojemności i induk- ARK2 małe
padku pomiaru małych wartości cyjności.
JP2..JP7, JP9..JP12: listwa gniazd
pojemności i indukcyjności, war- Dla kondensator�w o dułych
 precyzyjnych
tośĘ offsetu zapami�tana w pami�- wartościach pojemności ustawia
JP8, JP14: gniazda typu ARK2
ci EEPROM uwzgl�dnia poprawk� si� jeden offset dla całego zakresu
duże
wartości parametru drugiego ele- pomiarowego. Naleły w�wczas
JP13: gniazdo zasilania
mentu obwodu rezonansowego. wykonaĘ czynności analogiczne
L1, L2: 200�H
Dla pomiaru dułych wartości po- do opisanych powyłej, oczywiście
L3: 10�H
jemności w offsecie zawarta jest wybierając wcześniej test pomiaru
PK2, PK1: przekaz
nik typu OMRON
poprawka rzeczywistej wartości kondensator�w o dułych pojem-
5V
oporności opornika R10. Funkcja nościach.
S1, S2: SW miniaturowe przyciski
pomiaru małych pojemności i in- Istnieje takłe mołliwośĘ wy-
astabilne
dukcyjności pozwala ustawiĘ i za- zerowania wszystkich offset�w.
X1: 24MHz
pami�taĘ offset oddzielnie dla 5 Jełeli w momencie włączenia za-
podstawka DIP40
podzakres�w pomiarowych, kt�re silania b�dziemy naciskali przy-
podstawka DIP16
przyrząd automatycznie wybiera cisk S1, na wyświetlaczu pojawi
podstawka DIP14
podczas testowania danego ele- si� napis �offset =0�. Jełeli teraz
podstawka DIP8
mentu. Wartości poszczeg�lnych naciśni�ty zostanie przycisk SW2,
Elektronika Praktyczna 3/2001
14
Tester elementów elektronicznych
wszystkie ustawione wcześniej konieczne okałe si� połołenie Po uruchomieniu zasilaczy
�offsety� zostaną wyzerowane. kondensatora C1 (na płytce prze- mołna zamontowaĘ pozostałe
Naciśni�cie przycisku SW1 ozna- widziano w tym celu wystarcza- układy scalone i wyświetlacz.
cza rezygnacj� z wykonania tej jąco duło wolnego miejsca). Po ustawieniu kontrastu poten-
funkcji. W prototypie wyświetlacz zamon- cjometrem PR1, na wyświetla-
towałem za pomocą 16-stykowego czu powinny pojawiaĘ si�
Montał i uruchomienie złącza. Dzi�ki temu mołe on byĘ wszystkie opisane wcześniej in-
Tester zaprojektowano jako odłączany od testera i wymiennie formacje. Ostatnim krokiem uru-
przyrząd podr�czny, w postaci uływany w innych urządzeniach. chomienia b�dzie sprawdzenie
płytki drukowanej z zamontowa- Dodatkowo, w g�rnej cz�ści poprawności wszystkich test�w
nymi elementami lecz bez obudo- płytki drukowanej znajdują si� oraz ewentualnie ustawienie of-
wy. W takiej postaci, jako gniazda opisy funkcji poszczeg�lnych fsetu. Poniewał w pami�ci EEP-
pomiarowe element�w wykorzys- gniazd i element�w regulacyjnych, ROM mogą byĘ zapisane przy-
tane zostały listwy gniazd precy- aby ułatwiĘ posługiwanie si� tes- padkowe wartości, naleły
zyjnych, w kt�rych łatwo mołna terem. uprzednio ją wyzerowaĘ w spo-
umieściĘ badane elementy o r�ł- Uruchomienie naleły rozpocząĘ s�b wcześniej opisany.
nej długości i grubości wyprowa- od sprawdzenia, czy napi�cie Vcc
dze�. Zastosowane listwy powin- ma wartośĘ +5V. Mołna to bez- Wskaz�wki eksploatacyjne
ny mieĘ otwory o nieco wi�kszej pośrednio sprawdziĘ na gnie�dzie W przypadku wyświetlacza
średnicy nił te uływane do mo- JP14. Nast�pnie naleły przystąpiĘ z podświetleniem przyrząd po-
cowania np. układ�w scalonych. do kontroli przetwornic napi�cia biera dosyĘ duło prądu (ok.
Dzi�ki temu mołna w nich umieś- dodatniego i ujemnego. Wartości 400mA) i stabilizator U12 mołe
ciĘ zar�wno elementy o cienkich element�w zostały dobrane tak, si� przegrzewaĘ. Jeśli tester za-
wyprowadzeniach, jak i te z gru- aby przetwornice w skrajnych po- silany jest napi�ciem o wartości
bymi ko�c�wkami, np. kondensa- łołeniach potencjometr�w dostar- wi�kszej od 9V, naleły zastoso-
tory elektrolityczne czy stabiliza- czały napi�Ę wyjściowych z prze- waĘ radiator.
tory. Listwy o odpowiedniej licz- działu 7-25V (analogicznie dla W czasie pracy z testerem
bie styk�w naleły wlutowaĘ do napi�cia ujemnego). Pomiaru oby- stwierdziłem, łe niekt�re stabili-
gniazd JP4, JP5, JP6, JP7, JP9, dwu napi�Ę mołna dokonaĘ na zatory szeregowe, szczeg�lnie na-
JP10, JP11, JP12, JP2, JP3. W styku Vi gniazd JP9 i JP10. Zakres pi�cia ujemnego, sprawdzane
pozostałych przypadkach zastoso- otrzymywanych napi�Ę mołna w opisany spos�b mogą sprawiaĘ
wano małe i wi�ksze gniazda typu zmieniĘ dobierając oporniki R11, wrałenie uszkodzonych. Do pra-
ARK wlutowywane do druku. Je- R13 oraz R12, R14. W przypadku widłowej pracy wymagają bowiem
łeli przyrząd miałby posiadaĘ napi�cia ujemnego nie naleły niewielkiego obciąłenia. Dołącze-
obudow�, wszystkie gniazda trze- ustawiaĘ jego minimalnej wartości nie opornika 5,1k&! do wyjścia
ba oczywiście wyprowadziĘ na poniłej -7V. Napi�cie ujemne jest pomiarowego JP16 rozwiązało ten
zewnątrz, a takłe zapewniĘ do- bowiem wykorzystywane w pracy problem.
st�p do przycisk�w, potencjomet- układu przy pomiarze małych war- Ryszard Szymaniak, AVT
r�w i wyświetlacza. tości pojemności i indukcyjności. [e-mail]
Układ mołna montowaĘ w do- Jeśli to napi�cie, regulowane po-
wolnej kolejności, chociał oczy- tencjometrem PR3, b�dzie miało Wzory płytek drukowanych w for-
wiście najwygodniej zacząĘ od mniejszą wartośĘ, komparator U6 macie PDF są dost�pne w Internecie
najmniejszych element�w. W przy- nie b�dzie działał poprawnie i po- pod adresem: http://www.ep.com.pl/
padku, gdy wyświetlacz montowa- miar wartości parametr�w ele- ?pdf/marzec01.htm oraz na płycie
ny jest bezpośrednio na płytce, to ment�w nie b�dzie mołliwy. CD-EP03/2001B w katalogu PCB.
Elektronika Praktyczna 3/2001
15