3582328099

Wydział Elektroniki L 5-^ Politechniki Wrocławskiej	Laboratorium Przyrządów Półprzewodnikowych
Wjkooał Pirosz Paweł Andrzej Pielinski	9	Ćw. nr 3	Prowadzący dr Bober
Badanie właściwości układów cyfrowych CMOS	Data wykonania 99.05.19	Tiafa oddania 99.05.25	Ocena

PROGRAM ĆWICZENIA :

1.    Sprawdzenie poprawności działania układu CMOS

2.    Pomiary charakterystyk statycznych

a)    charakteiystyk wyjściowych U_Ql = f(IcŁ) w stanie „ O¹' na wyjściu

b)    charakterystyk wyjściowych Uoh = f(IaH) w stanie „ 1” na wyjściu

c)    charakterystyk przejściowych U_Q = f(Ui)

3.    Pomiary czasu propagacji bramek CMOS

4.    Pomiary mocy pobieranej ze źródła zasilania w funkcji napięcia zasilania i częstotliwości oraz rodzaju obciążenia bramki elementami RC.

WYKAZ PRZYRZĄDÓW :

•    Zasilacz napięciowy ZLS-3

•    O scyloskop H ewlet Packard

•    Multimetr cyfrowy V560

•    Rejestrator XY

•    Obciążenie aktywne

•    Układ scalony MCY74011

PARAMETRY UKŁADU SCALONEGO CMOS MCY 74011:

Układ MCY 74011 zawiera cztery 2 - wejściowe bramki NAND. Jego 'wyprowadzenia przedstawione są na rysunku 1.

Rys. 1. Struktura układu scalonego MCY 74011

Parametry dopuszczalne:

Napięcie zasilania Udd:    -0,5 - +20 [V]

Napięcie wejściowe Ui:    -0,5 - Udd+0,5 [V]

-1-