3582328134

1 Wydział Elektroniki Politechniki Wrocławskiej	Laboratorium Miernictwa elektronicznego
Wykonał:		Prowadzący
Temat ćwiczenia: Pomiar rezystancji		Data oddania ^01:5,1315.10.2009 r.

1) Cel ćwiczenia:

Ćwiczenie to ma na celu nauczenie Nas typowych metoda pomiaru rezystancji elementów liniowych których wartości zaczynają się od pojedynczych omów do megaomów. Nauczymy się ponadto podstawowe źródła błędów występujące w pomiarach.

2) Bezpośrednie pomiary rezystancji elementów omomierzem cyfrowym

Mierzone Elementy układu	Zakres	Rx	Błąd dyskretyzacji	Błąd przetwarzania	ARx	d Błąd dyskretyzacji	d Błąd przetwarzania	<?Rx
R1	1 kQ	0,0636	0,000032	0,01	0,010032	0,0005	0,157	0,1577
R2	1 kQ	0,4415	0,00022	0,01	0,0102	0,00050056	0,0226	0,02315
R3	1 MQ	0,018	0,0000009	1	1,0000009	0,00005	55,555	55,556
R4	10 kC2	2,663	0,0013	0,1	0,1013	0,000499	0,0375	0,038
R5	10 kQ	i 1,879	0,0059	0,1	0,1059	0,000499	0,00841	0,0089
R6	1 MQ	0,0508	0,000025	1	1,000025	0,0005	19,685	19,685
Dioda	lkQ	0,588	0,00029	0,01	0,0103	0,000493	0,017007	0,0175

Przykładowe obliczenia (dla R1) : ARx = ± (0,05%R_X+ 0,l%Rzakresu) =

ARx = ± (0,0005 * 0,0636 + 0,001 * 10) = 0,0000318 + 0,01 = 0,0100318 Błąd dyskretyzacji: 0,05%R_X=0,0005 * 0,0636 = 0,0000318 Błąd przetwarzania: 0,l%Rzakresu=0,001 * 10=+ 0,01

ÓRx = ^^lOO% = JRx

0,0100318

0,0636

100% = 15,72%