1300740456

Zaliczenie

Forma zaliczenia:

Wymagana wiedza z zakresu:

Fizyka, Chemia

Zapisy na zajęcia:    w terminie przewidzianym przez regulamin studiów

Literatura:

Z. Bojarski, H. Habla, M. Surowiec, Materiały do nauki krystalografii, różne wydania S. Prowans, Struktura stopów, PWN, 2000

L.A. Dobrzański, Metaloznawstwo z podstawami nauki o materiałach, WNT, 1996

Nazwa przedmiotu: Współczesne Metody Badań Materiałów I

Forma zajęć:    wykład, semestr 1

Liczba godzin:    15

Opis przedmiotu:

-    podstawy teoretyczne i zastosowanie analizy funcji RDF (funkcji radialnego rozkładu gęstości atomowej) do opisu budowy materiałów amorficznych. Określanie promieni i liczb koordynacyjnych dla poszczególnych sfer. Określanie parametru uporządkowania bliskiego zasięgu.

-    podstawy teoretyczne i zastosowanie metody Rietvelda do udokładniania struktury materiałów mikro i nanokrystalicznych. Możliwości i ograniczenia metody Rietvelda - określanie parametrów komórki elementarnej, położenia atomów w sieci, wielkości krystalitów, uprzywilejowanej orientacji kryształów, ilościowa analiza strukturalna.

-    X’Pert Plus - uproszczona analiza Rietvelda. - Rentgenowska ilościowa analiza fazowa

-    Graphics & Identify - Rentgenowska jakościowa analiza fazowa

-    WinGixa - możliwości analizy materiałów cienkowarstwowych (do 1000 A). Określanie grubości, szorstkości i gęstości cienkich warstw.

-    Metoda SKP (stałego kąta padania) jako uzupełnienie analizy materiałów cienkowarstwowych jednorodnych i niejednorodnych (układów wielowarstwowych)

Cele: Zapoznanie studentów z zagadnieniami dotyczącymi współczesnych metod badań materiałów.

Forma zaliczenia:    Zaliczenie

Wymagana wiedza: dyfrakcja promieni rentgenowskich, krystalografia, podstawowe zagadnienia dotyczące rentgenowskiej analizy strukturalnej

Zalecana wiedza:    student powinien wykazywać zainteresowanie nowoczesnymi metodami

badań

Zapisy na zajęcia:

Literatura:

Y.    Waseda - The structure of non-crystalline materials, Mc Graw-Hill, New York 1979 R.A. Young - The Rietveld method, Oxford’s University Press, Oxford 1993

Z.    Bojarski, E. Łągiewka - Rentgenowska analiza strukturalna, Skrypty Uniwersytetu Śląskiego nr 50, Katowice 1995

4