123218

METODA BESSLEA

Znane ze szkoły średniej równanie soczewki cienkiej l/f«l/x+l/y gdzie: f-og mskowa.    X-

odległość

przedmiotowa. y-odległość obrazowa, nie może być podstawą    do

dokładnego pomiaru ogniskowej, ponieważ praktyce pkt x i y mierzy się nie od środka optycznego soczewki, lecz od punktów

wierzchołkowych. Wynikające stąd błędy    eliminuje

metoda    B es seta.

Opiera się ona na założeniu że jeśli x+y»d>4f, inaczej mówiąc.    jeśli

odległość przedmiotu od ekranu(d) jest większa od czterech ogniskowych badanej soczewki, to istnieją dwa takie położenia soczewki na odcinku d przy których na ekranie powstają ostre    obrazy

przedmiotu (powiększony    i

pomniejszony).

PKT KARDYNALNE

Zalicza się do nich dwa pkt główne H i H^f, dwa pkt węzłowe W i W' oraz dwa ogniska. Pkt główne stanowią przecięcia j>łaszczyzn głównych osią    optyczną

natomiast węzłowe spełniaj następujący warinek:    jeśli

kierunek promienia padającego pod pewnym kątem do osi    optycznej

przechodzi przez pkt węzłowy

przedmiotowy. to promień załamany przechodzi przez pkt węzłowy obrazowy i jest nachylony pod tym samym kątem do osi optycznej. Znajomość tych pkt pozwala    na

konstruowanie obrazów w sposób analogiczny    do

stosowanego    w

przypadku soczewki cienkiej.

WARUNEK ABBEGO

Z teorii Abbego odnoszącej się do powstania obrazów w mikroskopie, wynika, że obraz podobny do przedmiotu (powstanie tylko wtedy, gdy do obiektywu wejdą wiązki    ugięte

przynajmniej pod kątem

odpowiadającym widmu I rzędu

Jeżeli oglądamy przez mikroskop np.delikatne blisko siebie lezące rysy 1.2.3    siatki

dyfrakcyjnej (S). to światło    (I)

prześwietlające przedmiot i padające prostopadle ugnie się na brzegach rys, jak w    siatce

dyfrakcyjnej. Do obiektywu (O) poza wiązką biegnąca wchodzi również ugięta pod kątem y wiązka pierwszego rzędu. Odpowiednie promienie

przechodzące wprost (ciągła linia) i ugięte (linia kreskowa) przejdą    przez

soczewkę i skupiając się w ogniskach (F) pobiegną dalej, by przy    spotkaniu

promieni przechodzących wprost i ugiętych, wychodzących z tego samego    pkt

przedmiotu w wyniku interferencji dać obraz (1*,    2'.    3')

Jeżeli na ekranie odległość brzegów rysy wynosi, czyli dwu    bliskich

rozróżnialnych szczegółów,    to

odległość    ich

obrazów jest równa a.    RODZAJE

MIKROSKOPÓW

świetlne.

elektronowe.    z

kontrastem fazowym, interferencyjno-połaryzacyjne WYZNACZANIE APRETURY NUMERYCZNEJ MIKROSKOPU pomiar apretury nunerycznej obiektywy jest oparty na wzorze n sinp =A przy założeniu, że między obiektywem i preparatem znajdiąe się powietrze (n«l). W tym przypadku apretura nizneryczna mikroskopu zależy od kąta rozwartości stożka promieni wchodzących od obserwowanego punktu przedmiotu do obiektywu.

Oglądając wyraźny obraz wybranego szczegółu na górnej płytce pomiarowej grubości    h,

stwierdzić można, ze sytuacji    tej

odpowiada    kąt

rozwartości stożka promieni padających do obiektywu równy 2p. Kąt ten można wyznaczyć. znając promień    (m)

podstawy stożka. Aby    dokonać

pomiaru    tej

wielkości. należy zdjąć okular oraz płytkę pomiarową, a następnie obliczyć liczbę milimetrów skali, mieszczących się w polu widzenia. Relacje pomiędzy kątem aperturowym i pozostałymi wielkościami ustala się na podstawie związku

trygonometrycznego tgp= m/2 /h =m/2h ABBE RACJE UKŁADU OPTYCZNEGO abberracja chromatyczna położenia    i

powiększenia- są spowodowane dyspersją. czyli

zależnością współczynnika załamania    od

częstotliwości.

Abberracja sferyczna- powoduje, ze im większy jest otwór, przez który wpadają promienie tym większa jest plamka; odległość As'    między

ogniskiem

trzyosiowym    a

ogniskiem dla h ma* jest jej miarą.

Astygmatyzm- jest aberracją

pozaosiową, rosnąca z kątem u; im bardziej skośna wiązka, tym większa różnica zdolności skupiającej między przekrojem południkowym a równoleżnikowym. Pierwszy    jest

wyznaczony przez płaszczyznę południkową zawierająca oś wiązki i oś optyczną, a drugi przez płaszczyzna równoleżnikową prostopadłą    do

poprzedniej zawierającą oś wiązki światła. Krzywizna pola-    obraz

płaszczyzny jest powierzchnią krzywą Dystorsja- sprawia, ze powiększenie P iścładu zmienia się pod    kątem

u,wówczas obraz siatki kwadratowej ma kształt poduszki przy rosnącym P wraz ze wzrostem u lub beleczki przy malejącym P.