126A, Pracownia fizyczna I


WfiTJ

1.Urszula Jeleń

2.Marcin Sikora

Rok 2

Grupa

2

Zespół:

VII

Pracownia

Fizyczna 2

Temat: Krawędź absorpcji.

Nr ćw.

126

Data wykonania:

03.11.1998

Data oddania:

17.11.1998

Zwrot do poprawy:

Data oddania:

Data zaliczenia:

OCENA:

Wstęp:

Odstęp energetyczny między pasmem przewodnictwa i pasmem walencyjnym nazywamy przerwą energetyczną. Jeżeli na półprzewodnik padają fotony o energii wystarczającej do przeniesienia elektronów z pasma walencyjnego do pasma przewodnictwa, to są one o wiele silniej absorbowane niż fotony o mniejszych energiach. Zatem w widmie absorpcyjnym półprzewodnika lub izolatora daje się wyróżnić w okolicy energii h  równej szerokości przerwy energetycznej Eg odcinek szybkiego wzrostu współczynnika absorpcji, zwany krawędzią absorpcji.

Wartości Eg można z grubsza oszacować na podstawie barwy czystej próbki półprzewodnika. Jeżeli przerwa energetyczna jest mniejsza od 1,6 eV, jak np. w klasycznych półprzewodnikach Ge i Si, to krawędź absorpcji leży w podczerwieni; w świetle widzialnym próbka półprzewodnika jest nieprzezroczysta i wykazuje odblask metaliczny. Dla szerokości przerwy energetycznej zwartej w zakresie energii kwantów światła widzialnego (od 1,6 do 3,1 eV) półprzewodnik uzyskuje zabarwienie od koloru czerwonego przez żółty do zielonego wskutek zaabsorbowania krótkofalowej częstotliwości widma światła białego. Dla Eg>3,1 eV czysty monokryształ półprzewodnika jest przezroczysty.

Absorpcję światła związaną z przejściami z pasma przewodnictwa do pasma walencyjnego nazywamy , dla odróżnienia od innych procesów pochłaniania światła , absorpcją podstawową lub międzypasmową.

W procesie absorpcji obok zasady zachowania energii musi być też spełnione prawo zachowania pseudopędu (lub wektora falowego , gdyż p = h * k ). Ponieważ długość fali świetlnej λ jest rzędu 103 razy większa od wymiarów komórki elementarnej , a więc liczba falowa fotonu 2π/ λ jest pomijalnie mała w porównaniu do liczby falowej elektronów w pasmach (przybierających wartości od zera do około π/ a na granicy strefy Brillouina ).Przejścia związane wyłącznie z absorpcją przez elektron energii i pędu fotonu zachodzą zatem praktycznie bez zmiany wektora falowego elektronu i na wykresie E(k) są reprezentowane przez pionową prostą (rys.1a).Przejścia proste dominują w pobliżu krawędzi absorpcji półprzewodników z tzw. prostą przerwą energetyczną ( Ga As , SnxO1-x ) , w których wierzchołek pasma walencyjnego i dno pasma przewodnictwa występują dla tej samej wartości wektora falowego. Rysunek 1b przedstawia zależność E(k) dla półprzewodników ze skośną przerwą energetyczną ( Si , Ge) ; w pobliżu krawędzi absorpcji dominują przejścia skośne , w których oprócz fotonu jest wykreowany lub zaabsorbowany fonon.

W przejściach miedzypasmowych obowiązują , podobnie jak w atomach swobodnych , określone reguły wyboru. W związku z tym rozróżnia się przejścia dozwolone i wzbronione .

0x08 graphic
0x08 graphic

0x08 graphic

E E

0x08 graphic
0x08 graphic

0x08 graphic
0x08 graphic

0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic

Eg hν hν kf Eg

0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic

0x08 graphic

k k

0x08 graphic
0x08 graphic

W naszym ćwiczeniu krawędź absorpcji będzie wyznaczona dla półprzewodnika , w którym dominują przejścia proste dozwolone.

hν = Eg + h2*k2/2mp + h2*k2/2mn

gdzie mp i mn oznaczają masy elektronów w paśmie walencyjnym i efektywne dziur przewodnictwa.

Dla hν = Eg zachodzi przejście elektronu z wierzchołka pasma walencyjnego na dno pasma przewodnictwa. Ze wzrostem energii kwantu poziom energii stanu początkowego przesuwa się w dół pasma walencyjnego, a poziom energii stanu końcowego w górę pasma przewodnictwa proporcjonalnie do różnicy hν - Eg , wskutek czego proporcjonalnie do (hν - Eg)1/2 rośnie liczba stanów , między którymi może zachodzić przejście . Ostatecznie współczynnik absorpcji α wiąże się z energią kwantów hν następująco :

αhν = A(hν - Eg )1/2 (2)

Dla innych rodzajów przejść (proste , wzbronione ) wartość wykładnika we wzorze (2) jest inna. Analiza zależności α (hν) pozwala określić nie tylko rodzaj przerwy energetycznej (prosta lub skośna ) , ale również jej wartość. Aby można było zmierzyć współczynnik absorpcji , należy posłużyć się cienkimi warstwami półprzewodnika , wytworzonymi za pomocą różnych technik na powierzchni szkła. Wiązka światła o natężeniu I0 częściowo odbija się na granicy powietrze - półprzewodnik , następnie wewnątrz półprzewodnika o grubości d natężenie światła maleje zgodnie z prawem wykładniczym absorpcji (≅e-αd ). Dodatkową stratę natężenia światła powoduje odbicie na granicy półprzewodnik - szkło i szkło - powietrze. Doświtczalnie mierzymy natężenie światła przechodzącego IT do światła padającego I0 zwany transmisją.

It / I0 = T T = ( 1 - R ) e-αd ( 3 )

Gdzie R oznacza wypadkowy współczynnik odbicia.

Zaniedbując zjawisko odbicia ( dla R = 0 ) , z połączenia wzorów ( 2 ) i ( 3 ) otrzymujemy

T = exp [ - A/hν (hν- Eg )1/2 d ]

Po obustronnym zlogarytmowaniu i wykonaniu przekształceń algebraicznych otrzymujemy

( hν ln 1/T )2 = A d ( hν - Eg )

Wykres zależności ( hν ln 1/T )2 w funkcji energii kwantu hν powinien być linią prostą , ktorej przecięcie z osią rzędnych wyznacza wartość przerwy energetycznej.

Gdy absorpcja w cienkiej warstwie staje się mała , większą rolę zaczynają odbywać zaniedbane przez nas odbicia i inne rodzaje absorpcji światła w półprzewodniku ( jak absorpcja związana z występowaniem domieszek ,ekscytonowa ,sieciowa itd. ). Bez szczegółowej analizy tych procesów przerwę energetyczną można wyznaczyć z widma absorpcyjnego z dokładnością rzędu 0,1 eV.

Opracowani wyników:

Poddaliśmy badaniu trzy próbki. Oznaczyliśmy je jako próbka I , II , III .Udało się nam wykonać pomiar zalelności transmisji od długości fali w zakresie 405 nm do 785 nm. Pomiar dokonywaliśmy co 10 nm. Na podstawie pomiarów sporządziliśmy wykres zależności ( h*ν*ln(1/T))2 w funkcji energji kwantów h*ν=h*c/λ dla każdej próbki . Jak wiadomo ze wstępu wartość przerwa energetycznej uzyskujemy przez ekstrapolację prostoliniowej części krzywej doświadczalnej. W tym celu prowadzimy prostą yi = Axi + B metodą najmniejszych kwadratów przez prostoliniową część wykresu ( punkty zaznaczone kółeczkami ), gdzie: yi - odcięte, xi - rzędne i - tego pomiaru.

A = [ N(Σxiyi)-(Σxi)(Σyi) ] / Δ

B = [ (Σxi2)(Σyi)-(Σxi)(Σxiyi) ] / Δ

Δ = N(Σxi2) -(Σxi)2

Niepewność stałych A i B:

σA2 = σy2Σxi2

σB2 = Nσy2

σy2 = Σ(yi-A-Bxi)2

Wartość przerwa energetycznej Eg obliczamy w następujący sposób:

Eg = A/B

Wartość A i B są niezależne więc możemy napisać, że:

(δEg/Eg)2 = (δA/A)2 +(δB/B)2

Obliczone wartości i błędy przerwa energetycznej dla każdej z próbek wynoszą:

Próbka I

Eg = ( 4,08 ± 0,17 ) * 10-19 J = 2,55 ±­ 0,17 eV

Próbka II

Eg = (4,1 ± 0,4 ) * 10-19 J = 2,6 ± 0,3 eV

Próbka III

Eg = (4,4 ± 0,5 ) * 10-19 J = 2,7 ± 0,3 eV

Wnioski:

Udało nam się wyznaczyć przerwę energetyczną badanych materiałów przez pomiar współczynnika absorpcji światła w funkcji długości fali. Pozwala nam to twierdzić, że badane próbki były półprzewodnikami. A także daje nam cenne narzędzie do wyznaczania przerwa energetycznej półprzewodników, w którym dominują przejścia proste dozwolone np. Ga, As, SnxO1-X. Wyznaczone wartości przerw energetycznych zawierają się w przedziale od 1,6 do 3,1 eV .Dla próbki I przerwa energetyczna wynosi 2,5 eV co odpowiada długości fali absorbowanej na krawędzi absorpcji λ=487 nm, dla próbki II 2,6 eV to λ=479 nm i dla próbki III Eg=2,7 eV to λ=455nm. Czyli zabsorgowane fotony zawierały się w zakresie energji kwantów światłą widzialnego (390 nm do 790 nm)

UZUPEŁNIENIE:

Podieliśmy próbę określenia substancji, z których wykonane były badane przez nas próbki. Korzystając z tablic fizyczno - astronomiczych porównując wielkości przerw energetycznych oraz barwy półprzewoników możemy powiedzieć:

1o Próbki I i II, dla których wyniki były bardzo podobne ( patrz wykres na następnej stronie) zostały prawdopodobnie wykonane z tego samego materiału. Niewielkie różnice mogą wynikać z oczywistego zanieczyszczenia próbek innymi pierwiastkami lub z różnicy grubości płytek. Sądzimy, że zostały one wykonane z siarczku kadmu ( CdS ), dla którego Eg=2,53 eV.

2o Niestety nie możemy wysunąć przypuszczenia dotyczącego próbki III. Najbardziej zbliżoną wartość przerwy energetycznej ma bezbarwny tlenek cynku ZnO ( Eg=3,2 eV) ale wartość ta nie mieści się w obliczonych przez nas granicach błędu.

Tablice nie zawierały oczywiście danych dla wszystkich możliwych substancji. Wpływ na nasze wyniki miały ponadto, znajdujące się z pewnością w próbkach domieszki.Dodatkowym utrudnieniem był fakt, że tablice nie zawierały informacji dotyczącej rodzaju przejść dominującym w danym półprzewodniku ( pozwoliłoby to wykluczyć niektóre związki).

0x08 graphic

0x08 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
zaokraglenia, Studia, UWR, 3 semestr, Pracownia fizyczna 1
Analiza spektralna widm (2), Matematyka - Fizyka, Pracownia fizyczna, Analiza spektralna widm
65. WYZNACZANIE OGNISKOWYCH SOCZEWEK, Pracownia fizyczna, Moje przygotowania teoretyczne
II Pracownia Fizyczna
Pracownia Fizyczna I Skrypt
21. WYZNACZANIE WILGOTNOŚCI WZGLĘDNEJ POWIETRZA, Pracownia fizyczna, Moje przygotowania teoretyczne
103, Studia Politechnika Poznańska, Semestr II, I pracownia fizyczna, LABORKI WSZYSTKIE, FIZYKA 2, F
204pl, Politechnika Poznańska ZiIP, II semestr, Fizyka, laborki fiza, wszystkie laboratoria z 1 prac
303 aga303, Studia Politechnika Poznańska, Semestr II, I pracownia fizyczna, LABORKI WSZYSTKIE
badanie własności prostowniczych diody i prostownika selenowego, Matematyka - Fizyka, Pracownia fiz
PRAC1FIZ, ĆW 40, I PRACOWNIA FIZYCZNA
sprawdzone, Fiz 20, ˙I˙ PRACOWNIA FIZYCZNA U.˙.
PRAC1FIZ, LAB60, I PRACOWNIA FIZYCZNA
Or Pracownik fizyczny, Ocena-Ryzyka-DOC
wnoiski 57, I rok, II semestr, pracownia fizyczna I

więcej podobnych podstron