3545336561

Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej. Wydział Elektroniki PWroc., 2004], s. 665-668,

4 rys., bibliogr. 7 poz.

RP K06/2004/I-160

116.    Wysoczański Gerard, Polak Adam, Mroczka Janusz: System komputerowy do pomiaru właściwości układu oddechowego techniką wymuszonych oscylacji wysokoczęstotliwościowych. W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii. KM. Materiały kongresowe, Wrocław, 6-9.09.2004. T. 2 / pod red. Janusza Mroczki. [Wrocław : Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej. Wydział Elektroniki PWroc., 2004], s. 619-622, 3 rys., bibliogr. 9 poz.

RP K06/2004/I-159

117.    Wysoczański Dariusz, Polak Adam, Mroczka Janusz: System komputerowy do pomiaru właściwości układu oddechowego techniką wymuszonych oscylacji niskoczęstotliwościowych.

W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii. KM. Materiały kongresowe, Wrocław, 6-9.09.2004. T. 2 / pod red. Janusza Mroczki. [Wrocław : Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej. Wydział Elektroniki PWroc., 2004], s. 611-614, 2 rys., bibliogr. 14 poz.

RP K06/2004/I-157

118.    Polak Adam, Mroczka Janusz, Pukacz Artur*: Rekurencyjne algorytmy estymacji parametrów układu oddechowego w czasie sztucznej wentylacji. W: Metrologia w procesie poznania.

Kongres Metrologii. KM. Materiały kongresowe, Wrocław, 6-9.09.2004. T. 2 / pod red. Janusza Mroczki. [Wrocław : Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej. Wydział Elektroniki PWroc., 2004], s. 607-610, 6 rys., bibliogr. 11 poz.

RP K06/2004/I-156

119.    Polak Adam, Mroczka Janusz: Model symulacyjny sztucznej wentylacji pacjenta. W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii. KM. Materiały kongresowe, Wrocław, 6-9.09.2004. T. 2 / pod red. Janusza Mroczki. [Wrocław : Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej. Wydział Elektroniki PWroc., 2004], s. 603-606, 5 rys., bibliogr. 12 poz.

RP K06/2004/I-155

120.    Kondraciuk Marcin, Mroczka Janusz: Sposób wyznaczenia rozkładu wielkości cząstek w metodzie turbidymetryczno-sedymentacyjnej. W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii. KM. Materiały kongresowe, Wrocław, 6-9.09.2004. T. 2 / pod red. Janusza Mroczki. [Wrocław : Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej. Wydział Elektroniki PWroc., 2004], s. 599-602,4 rys., bibliogr. 7 poz.

RP K06/2004/I-154

121.    Jabłoński Ireneusz, Mroczka Janusz: Analiza metrologiczna techniki przerywanego przepływu w badaniach właściwości układu oddechowego. W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii. KM. Materiały kongresowe, Wrocław, 6-9.09.2004. T. 2 / pod red. Janusza Mroczki. [Wrocław : Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej. Wydział Elektroniki PWroc., 2004], s. 595-598,4 rys., bibliogr. 18 poz.

RP K06/2004/I-153

122.    Borkowski Józef S, Mroczka Janusz: Wagowa estymacja zmiennych w czasie parametrów układu RC w dziedzinie częstotliwości dla pobudzeń okresowych. W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii. KM. Materiały kongresowe, Wrocław, 6-9.09.2004. T. 2 / pod red. Janusza Mroczki. [Wrocław : Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej. Wydział Elektroniki PWroc., 2004]. s. 591-594, 2 rys., bibliogr. 2 poz.

RP K06/2004/I-152