3545336565

Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej. Wydział Elektroniki PWroc., 2004], s. 399-402, 4 rys., bibliogr. 5 poz.

RP K06/2004/I-136

139.    Janiczek Janusz: Komparatorowy przetwornik analogowo-cyfrowy dla mikrokontrolerów rodziny MSP430. W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii. KM. Materiały kongresowe, Wrocław, 6-9.09.2004. T. 2 / pod red. Janusza Mroczki. [Wrocław : Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej. Wydział Elektroniki PWroc., 2004]. s. 395-398, 4 rys., bibliogr. 5 poz.

RP K06/2004/I-135

140.    Świerczyński Zbigniew: Wykorzystanie algorytmów FFT i IFFT na procesorach DSP rodziny ADSP-218x firmy Analog Devices. W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii. KM. Materiały kongresowe, Wrocław, 6-9.09.2004. T. 1 / pod red. Janusza Mroczki. [Wrocław : Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej. Wydział Elektroniki PWroc., 2004]. s. 337-340,

4 rys., bibliogr. 4 poz.

RP K06/2004/I-134

141.    Rubaszewski Igor, Polak Adam, Mroczka Janusz: Nieparametryczne odtwarzanie sygnałów pomiarowych z wykorzystaniem sztucznych sieci neuronowych. W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii. KM. Materiały kongresowe, Wrocław, 6-9.09.2004. T. 1 / pod red. Janusza Mroczki. [Wrocław : Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej. Wydział Elektroniki PWroc., 2004]. s. 325-328, 5 rys., bibliogr. 3 poz.

RP K06/2004/I-133

142.    Muciek Andrzej: A method for precision RMS measurements of periodic signals using intergrative samples. W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii. KM. Materiały kongresowe, Wrocław, 6-9.09.2004. T. 1 / pod red. Janusza Mroczki. [Wrocław : Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej. Wydział Elektroniki PWroc., 2004], s. 309-312, bibliogr. 3 poz.

RP K06/2004/I-132

143.    Gronczyński Jarosław: Stabilność rekursywnych struktur filtrów o skończonej odpowiedzi impulsowej. W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii. KM. Materiały kongresowe, Wrocław, 6-9.09.2004. T. 1 / pod red. Janusza Mroczki. [Wrocław : Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej. Wydział Elektroniki PWroc., 2004]. s. 301-304, 4 rys., bibliogr. 2 poz.

RP K06/2004/I-131

144.    Janiczek Janusz: Układ do pomiaru masy. W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii. KM. Materiały kongresowe, Wrocław, 6-9.09.2004. T. 1 / pod red. Janusza Mroczki. [Wrocław : Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej. Wydział Elektroniki PWroc., 2004]. s. 279-282, 1 rys., bibliogr. 4 poz.

RP K06/2004/I-130

145.    Janiczek Janusz: Miernik przepływu i objętości. W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii. KM. Materiały kongresowe, Wrocław, 6-9.09.2004. T. 1 / pod red. Janusza Mroczki. [Wrocław : Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej. Wydział Elektroniki PWroc., 2004]. s. 275-278, 2 rys., bibliogr. 8 poz.

RP K06/2004/I-129