3545336563

RP K06/2004/I-144

Elektroniki PWroc., 2004]. s. 435-438, 3 rys., bibliogr. 4 poz.

131.    Stępień Andrzej F: Blok sterowania nadajników mocy z interfejsem CAN. W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii. KM. Materiały kongresowe, Wrocław, 6-9.09.2004. T. 2/ pod red. Janusza Mroczki. [Wrocław : Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej. Wydział Elektroniki PWroc., 2004]. s. 431-433, 1 tab., bibliogr. 3 poz.

RP K06/2004/I-143

132.    Ozon Tomasz*, Stępień Andrzej F: Kontrolery z interfejsem USB. W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii. KM. Materiały kongresowe, Wrocław, 6-9.09.2004. T. 2 / pod red. Janusza Mroczki. [Wrocław : Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej. Wydział Elektroniki PWroc., 2004]. s. 427-430, bibliogr. 6 poz.

RP K06/2004/I-142

133.    Mazur Jakub*, Stępień Andrzej F, Szczupakowski Marek*: Implementacja standardu CANopen w modułach pomiarowych. W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii. KM. Materiały kongresowe, Wrocław, 6-9.09.2004. T. 2 / pod red. Janusza Mroczki. [Wrocław : Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej. Wydział Elektroniki PWroc., 2004], s. 423-426,

1    rys., bibliogr. 4 poz.

RP K06/2004/I-141

134.    Mazur Jakub*, Stępień Andrzej F, Szczupakowski Marek*: Implementacja standardu CANopen dla C51. W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii. KM. Materiały kongresowe, Wrocław, 6-9.09.2004. T. 2 / pod red. Janusza Mroczki. [Wrocław : Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej. Wydział Elektroniki PWroc., 2004], s. 419-422, bibliogr. 4 poz.

RP K06/2004/I-140

135.    Kaźmierczak Przemysław*, Stępień Andrzej F: Moduł pomiarowy z interfejsem USB. W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii. KM. Materiały kongresowe, Wrocław, 6-9.09.2004. T. 2 / pod red. Janusza Mroczki. [Wrocław : Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej. Wydział Elektroniki PWroc., 2004]. s. 415-418, 1 tab., bibliogr. 6 poz.

RP K06/2004/I-139

136.    Kasprzak Bogdan, Mroczka Janusz, Pękala Janusz: Warstwowa architektura sieciowych systemów pomiarowych. W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii. KM. Materiały kongresowe, Wrocław, 6-9.09.2004. T. 2 / pod red. Janusza Mroczki. [Wrocław : Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej. Wydział Elektroniki PWroc., 2004]. s. 411-414,

2    rys., bibliogr. 5 poz.

RP K06/2004/I-138

137.    Janiczek Janusz: Stanowisko uruchomieniowe dla mikrokontrolerów rodziny MSP430. W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii. KM. Materiały kongresowe, Wrocław, 6-9.09.2004. T. 2 / pod red. Janusza Mroczki. [Wrocław : Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej. Wydział Elektroniki PWroc., 2004], s. 403-406, 2 rys., bibliogr. 8 poz.

RP K06/2004/I-137

138.    Janiczek Janusz: Stanowisko do badania wybranych parametrów przetworników analogowo-cyfrowych. W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii. KM. Materiały kongresowe, Wrocław, 6-9.09.2004. T. 2 / pod red. Janusza Mroczki. [Wrocław : Katedra