75987104

75987104



M. Ronkowski, M. Kamiński, G. Kostro, M. Michna 5

| prędkość obrotowa    n0 =..................[obr/min]

Po zakończeniu stanu dynamicznego zwarcia udarowego należy zanotować wartości ustalone:

napięcie twornika

Uas =........

.........[V] (wartość fazowa!)

prąd twornika

/as

........[Al

prąd wzbudzenia

Ifd =........

........[Al

prędkość obrotowa

n =........

.........fobr/minl

Zanotować wykaz wielkości mierzonych, numery kanałów i dane użytych przetworników LEM

Wielkość mierzona

Nr kanału (Channel)

Przetwornik

LEM

Współczynnik transformacji LEM’a

Uas

Chan

Chan

ifd

Chan

n

Chan

Rys. 2, rys. 3 i rys.4 przedstawiają przykłady zarejestrowanych i odpowiednio opracowanych przebiegów, które są charakterystyczne dla próby zwarcia udarowego maszyny synchronicznej.

Stała prądnicy tachometrycznej:

Uwagi do rys. 2 i rys. 3:

•    Przebiegi zarejestrowano w układzie pomiarowym: komputer PC wyposażony w kartę pomiarową (KP) typu PCI-MIO-16E-4 firmy National Instruments.

•    Przebiegi wykreślono i opracowano za pomocą procesora graficznego PROBE symulatora PSPICE.

•    Zarejestrowane przebiegi czasowe na wyjściu przetworników LEM są odpowiednio przeskalowane, tzn.:

• przebiegi prądów wg relacji:

Wartość liczbowa przebiegu prądowego w [A] = zarejestrowana wartość liczbowa przebiegu prądowego w [V] na wyjściu przetwornika LEM * współczynnik transformacji _przetwornika LEM w [AA/]_

' przebiegi napięciowe wg relacji:

Wartość liczbowa przebiegu napięciowego w [V] = zarejestrowana wartość liczbowa przebiegu napięciowego w [V] na wyjściu przetwornika LEM * współczynnik _transformacji przetwornika LEM w [V/V]_

•    Wartości ustalone i udarowe (maksymalne) wielkości mierzonych należy odnieść do wartości znamionowych maszyny synchronicznej.

•    Na podstawie zarejestrowanych przebiegów, należy określić stałe czasowe stanu nadprzejściowego i przejściowego, a także wartości reaktancji nadprzejściowej i przejściowej w osi poprzecznej i podłużnej.

Np. dla wielkości zarejestrowanej w kanale „1” (Chanl = napięcia fazowe Iwornika) przeskalowanie wykonano za pomocą odpowiednich opcji procesora graficznego PROBE. Opcje te umożliwiają wykonanie wielu operacji, np. mnożenia i/lub dzielenia zmiennej przez wielkość stałą; dodawania lub odejmowania wielkości stałej; całkowania, różniczkowania zmiennej, itp.. Zatem przeskalowanie przebiegu napięcia twornika ma postać:

= (Chan 1*716.65) [V]

gdzie, liczba 716.65 = współczynnik transformacji zastosowanego przetwornika LEM w [V/V],

Error! Nuniber cannol be represented in specified format..doc/2012-10-25



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
12 M. RONKOWSKI, M. KAMIŃSKI, G. KOSTRO, M. MICHNA „ręczne” oszacowanie wartości udarowych i ustalon
10 M. RONKOWSKl, M. KAMIŃSKI, G. KOSTRO, M. MICHNA Uwzględniając iap = eap I(Ra + Ra) oraz eap = Gaf
12 M. RONKOWSKI, M. KAMIŃSKI, G. KOSTRO, M. MICHNA „ręczne” oszacowanie wartości udarowych i ustalon
M. RONKOWSKl, M. KAMIŃSKI, G. KOSTRO, M. MICHNAĆWICZENIE SILNIKI PRĄDU STAŁEGO BADANIE CHARAKTERYSTY
M. RONKOWSKI, M. KAMIŃSKI, G. KOSTRO, M. MICHNA •    załączeniu skokowym stałego
M. RONKOWSKl, M. KAMIŃSKI, C. KOSTRO, M. MICHNA Np. dla wielkości zarejestrowanej w kanale „0” (chan
M. Ronkowski, M. Kamiński, G. Kostro, M. Michna 11 Zakładamy, że MS pracuje samotnie w stanie biegu
M. Ronkowski, M. Kamiński, G. Kostro, M. Michna 13 Os
M. Ronkowski, M. Kamiński, G. Kostro, M. Michna 15 Reaktancja synchroniczna podprzejściowa X"(j
M. Ronkowski, M. Kamiński, G. Kostro, M. Michna 3 Tablica 1. Zakresy pomiarowe karty PCI-MIO-16E-4 f
M. Ronkowski, M. Kamiński, G. Kostro, M. Michnaa) Rys. 3. Przykład zarejestrowanych i odpowiednio op
M. Ronkowski, M. Kamiński, G. Kostro, M. Michna metodą symulacyjną (program PSPICE).5.
12 M. RONKOWSKI, M. KAMIŃSKI, G. KOSTRO, M. MICHNA „ręczne” oszacowanie wartości udarowych i ustalon

więcej podobnych podstron