7921506444

7921506444



Porównanie wyników pomiarów. Regulacja zgrubna i dokładna. Wyznaczanie charakterystyki u = f(R) przy I = const.

Pomiar}’ w obwodach prądu stałego: Zestawienie układów złożonych z kilku rezystorów połączonych: szeregowo, równolegle i w sposób mieszany. Badanie wpływu napięcia na natężenie prądu. Pomiar spadków napięć i rozpływu prądów w badanych układach oraz porównanie wyników pomiarów z wartościami obliczonymi. Lokalizacja uszkodzonych rezystorów na podstawie wyników pomiarów.

Badanie wpływu parametrów mierników na wyniki pomiarów: Pomiary prostych obwodów prądu stałego i przemiennego za pomocą mierników o różnej rezystancji wewnętrznej. Szacowanie wartości wielkości mierzonych. Pomiar wartości szczytowej, skutecznej i średniej. Porównanie wyników pomiarów.

Pomiary rezystancji: Metodą techniczną, za pomocą omomierza i mostkami RLC. Porównanie wyników pomiarów. Oszacowanie wyników pomiaru.

Pomiary pojemności: Pomiary pojemności kondensatorów połączonych równolegle, szeregowo i w sposób mieszany metodą techniczną, miernikami pojemności, mostkami RLC. Porównanie wyników pomiarów. Oszacowanie wyników pomiaru. Wyznaczenie impedancji i reaktancji układów kondensatorów połączonych szeregowo i równolegle. Lokalizacja uszkodzonych kondensatorów na podstawie wyników pomiarów.

Pomiary indukcyjności: Pomiary metodą techniczną, multimetrem i mostkami RLC. Zbadanie wpływu prądu, rdzenia i szczeliny na indukcyjność cewki. Określanie początkowi końców uzwojeń cewek. Wpływ nasycenia się rdzenia (składową stalą) na indukcyjność dławika. Oszacowanie wyników pomiaru.

Obsługa oscyloskopu: Zapoznanie się z rozmieszczeniem elementów regulacyjnych na płycie czołowej. Przygotowanie oscyloskopu do pracy. Obserwacja i pomiary napięcia stałego oraz przebiegów o różnych kształtach (pokaz).

Podstawowe pomiary oscyloskopem: Pomiary wartości szczytowej, okresu, częstotliwości oraz przesunięcia fazowego. Pomiary podstawowych parametrów przebiegów impulsowych. Wykorzystanie sond napięciowych. Pomiary charakterystyk prądowo-napięciowych.

Badanie szeregowego obwodu z elementami RL i RC: Zestawienie układu pomiarowego zawierającego rezystory z kondensatorami oraz rezystory z cewkami. Wyznaczanie impedancji i reaktancji układu elementów RL i RC połączonych szeregowo. Pomiary spadków napięć na elementach R i L oraz R i C; pomiary prądu. Badanie równoległego obwodu z elementami RL i RC: Zestawienie układu pomiarowego zawierającego zestawy rezystorów z cewkami oraz rezystory z kondensatorami. Wyznaczanie impedancji i reaktancji układu elementów RL i RC połączonych równolegle. Pomiary prądów płynących przez elementy R i L oraz R i C jak również spadku napięcia na tych elementach.

Badanie szeregowego obwodu RLC:    Zestawienie układu pomiarowego

zawierającego elementy R, L i C połączone szeregowo. Badanie obwodów przy stałej, a następnie zmiennej częstotliwości zasilania. Wyznaczanie rezonansu szeregowego. Pomiary spadków napięć na elementach R,L i C oraz pomiary prądów w funkcji częstotliwości, sporządzanie wykresów wskazowych napięć i trójkąta impedancji. Badanie równoległego obwodu z elementami RLC: Zestawienie układu i dokonanie pomiarów w obwodach z równolegle połączonymi elementami RLC. Badanie obwodu przy stałej i zmiennej częstotliwości napięcia zasilania. Wyznaczenie rezonansu



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:

impulsowych, badanie wpływu napięcia polaryzującego na pojemność diod, porównanie wyników pomiarów z
1.3. Cecha statystyczna, jej rodzaje i pomiar minalnej oraz dodatkowo - wyznaczać charakterystyki po
10819099v5949133470197E9095146 n A(W> (P«l Zestawienie wyników pomiarów poszczególnych urządzeń o
Bez nazwyT 102 Dlatego też nie można porównywać wyników pomiarów twardości materiału uzyskanych w dw
970976F0229580728846V6633423 n 4*pki>. Na podttawir nattąpających wyników pomiarów (uramriru 10.
•    Wyznacz charakterystyczne punkty dla każdej z drużyn oraz odczytaj dokładne
IMG09 (5) Analiza wyników pomiarów o różnej dokładności -    Kilka wyników pomiaru t
IMG?69 (2) 1.5. Liczbowa prezentacja wyników pomiaru Liczbami dokładnymi mogą być wyrażane tylko te
Laboratorium Elektroniki cz I 8 132 Rys. 6.17. Układ pomiarowy do wyznaczania charakterystyk staty

więcej podobnych podstron