8504862593

Ćwiczenie 8

Temat ćwiczenia: Badanie właściwości karty pomiarowej - program analizujący

Celem ćwiczenia jest przygotowanie programu umożliwiającego badanie właściwości kart pomiarowych, a w szczególności badanie wpływu niejednoczesnego próbkowania w dwóch różnych kanałach pomiarowych.

Wykorzystujemy w tym celu instrument wirtualny o nazwie „Karta_sim” symulujący generator sygnału, dostarczając próbek takich jak z karty pomiarowej z układem próbkująco-pamiętającym, oraz bez tego układu.

Przygotowanie do ćwiczenia

Należy zapoznać się z zasadami tworzenia wykresów oraz paletami funkcji:

•    Structures

•    String

•    Array

•    File I/O

Przebieg ćwiczenia

1.    Przygotować program, który zrealizuje następujące funkcje

a)    wykreśli na jednym wykresie przebiegi sygnałów pomiarowych z dwóch kanałów

b)    obliczy szybką transformatę Fouriera ( FFT ) i przedstawi ją na wykresie

c)    wyznaczy częstotliwość badanego przebiegu na podstawie danych z transformaty FFT

d)    wyznaczy fazy początkowe przebiegów oraz przesunięcie fazowe pomiędzy przebiegami

e)    zgromadzi wyniki kolejnych obliczeń (program powinien gromadzić następujące wyniki: Częstotliwość sygnałów dla kanału 1 i 2 ( fsl, fs2 ) amplitudy tych sygnałów (Asi, As2 ), fazy początkowe( Fsl, Fs2), przesunięcie fazowe ( dF ) i częstotliwość próbkowania (fp)).

f)    przedstawi na wykresie przesunięcie fazowe w funkcji częstotliwości sygnału ( fs ) oraz częstotliwości próbkowania (fp)

g)    zapisze zgromadzone wyniki do pliku w postaci kolumn (każda kolumna powinna być opisana)

h)    określi parametry funkcji dF=f(fp), dF=f(fs)

i)    umożliwi odczyt z pliku wcześniej zapisanych wyników, przedstawi je na wykresach, pozwoli na określenie parametrów tych funkcji

2.    Przeprowadzić następujące testy

a)    dobrać prawidłową częstotliwość próbkowania i sprawdzić jakie wyniki otrzymuje się z FFT przy nieprawidłowo dobranej częstotliwości próbkowania,

b)    przeprowadzić pomiary ze stałą częstotliwością próbkowania dla różnych częstotliwości sygnału mierzonego,

c)    przeprowadzić pomiary dla jednej częstotliwości sygnału pomiarowego z różnymi częstotliwościami próbkowania.

Programowanie Systemów Kontrolno Pomiarowych - LabYiew