8504862594

Ćwiczenie 9

Temat ćwiczenia: Badanie właściwości karty pomiarowej, obsługa karty

Celem ćwiczenia jest zapoznanie z obsługą karty pomiarowej oraz wykonanie kilku testów programem przygotowanym w ćwiczeniu nr 2.

Przygotowanie do ćwiczenia

Należy zapoznać się z:

obsługą kart pomiarowych w LabView przy pomocy sterowników DAQmx, analizując działanie programów znajdujących się w katalogu C:\Program Files\National Instruments\LabVIEW 7.1\examples\DAQmx\Analog InYMeasure Voltage.llb\Acq&Graph Voltage-Int Clk.vi paletami

•    DAQmx - Data Acquisition z palety NI Measurements

•    Array

•    Structures

Przygotowanie stanowiska

•    Komputer z kartą pomiarową NI 6221

•    Generator sygnału sinusoidalnego

Przebieg ćwiczenia

Do programu przygotowanego w ćwiczeniu 8 dopisać program obsługujący kartę pomiarową.

Kartę pomiarową skonfigurować tak, aby

•    kanałami wejściowymi były kanały 1 i 2

•    napięciem odniesienia kanałów wejściowych (typu pojedynczego) powinna być wejściowa masa analogowa AIGND (RSE)

•    akwizycja przebiegała w trybie ciągłym aż do zakończenia zadania

•    do generowania sygnału próbkującego wykorzystać wewnętrzny generator.

Program należy przygotować tak, aby po jego uruchomieniu akwizycja rozpoczęła się z domyślnymi parametrami (częstotliwość próbkowania 1000 Hz, ilość próbek 1000), przy czym zmiana tych parametrów powinna być możliwa w dowolnej chwili. Zmiana panelu z Pomiar na Analiza powinna zakończyć akwizycję, natomiast zmiana z Analiza na Pomiar powinna automatycznie rozpocząć akwizycję danych.

Przeprowadzić następujące testy

d)    dobrać prawidłową częstotliwość próbkowania i sprawdzić jakie wyniki otrzymuje się z FFT przy nieprawidłowo dobranej częstotliwości próbkowania,

e)    przeprowadzić pomiary ze stałą częstotliwością próbkowania dla różnych częstotliwości sygnału mierzonego,

f)    przeprowadzić pomiary dla jednej częstotliwości sygnału pomiarowego z różnymi częstotliwościami próbkowania.

Programowanie Systemów Kontrolno Pomiarowych - LabYiew