Pytania egzaminacyjne z terminu zerowego, z dnia 21.01.2008 roku, godz. 18.00-20.00


Rząd I

1. Na wybranym przez siebie

przykładzie omów parametry opisujące właściwości dynamiczne

przetworników I rzędu i metody ich poprawy.

2.

Omów metody wykorzystywane do pomiaru małych przemieszczeń.

3. Omów budo

wę i parametry charakteryzujące przetworniki ultradźwiękowe.

4.

Właściwości tensometrów metalowych, ich ograniczenia pomiarowe i układy pomiarowe.
Z

miennoprądowy mostek tensometryczny – uzasadnić zastosowanie takiej konstrukcji.

5.

Wymień metody pomiarów temperatury w przedziałe 0-100

o

C. Porównaj

dokładność

zaproponowanych metod.

Rząd II

1. Na wybranym przez siebie

przykładzie omów parametry opisujące właściwości dynamiczne

przetworników II

rzędu.

2. Omów metody

pomiaru przepływu.

3. Omów

metody wykorzystywane do pomiaru dużych odległości.

4.

Właściwości tensometrów półprzewodnikowych, ich ograniczenia pomiarowe i układy
pomiarowe.

Przetworniki ciśnienia, ich konstrukcja i uzasadnienie konfiguracji zastosowanych

tensometrów.

5.

Wymień metody pomiarów optycznych temperatury, porównaj właściwości metod i
przedyskutuj zagadnienie dokładności takich pomiarów.