METODYKA OPRACOWYWANIA WYNIKÓW POMIAROWYCH, MET0DYKA-spr., POLITECHNIKA RADOMSKA


POLITECHNIKA RADOMSKA

Im. Kazimierza Pułaskiego

WYDZIAŁ TRANSPORTU

LABORATORIUM

MIERNICTWA

Data:

Wykonał:

Grupa:

Zespół:

Rok akademicki:

Temat:

Metodyka opracowywania wyników pomiarowych.

Nr ćwiczenia:

Ocena i podpis prowadzącego:

1. Cel ćwiczenia:

Celem ćwiczenia jest wykorzystanie komputera z przetwornikami A/C i C/A do badania charakterystyk diod półprzewodnikowych.

2. Schemat połączeń stanowiska do badania charakterystyk elementów półprzewodnikowych:

0x01 graphic

3. Schemat badanego przez nas układu:

0x01 graphic

4. Tabela pomiarowa:

Lp.

UC/A

UA/C

UD

DUD

ID

dID

Uwagi:

[V]

[V]

[V]

[%]

[A]

[%]

1

-10

-2,49

-7,51

0,290803

-0,009222222

0,20081

2

-9,5

-2,52

-6,98

0,291044

-0,009333333

0,19842

3

-9

-2,119

-6,881

0,331516

-0,007848148

0,235966

4

-8,5

-1,626

-6,874

0,406327

-0,006022222

0,307508

5

-8

-1,143

-6,857

0,539945

-0,004233333

0,437448

6

-7,5

-0,649

-6,851

0,877083

-0,002403704

0,770418

7

-7

-0,171

-6,829

3,035405

-0,000633333

2,923977

8

-6,5

-0,01

-6,49

50,11692

-0,000037037

50

9

-6

-0,01

-5,99

50,12333

-0,000037037

50

10

-5,5

-0,01

-5,49

50,13091

-0,000037037

50

11

-5

-0,01

-4,99

50,14

-0,000037037

50

12

-4,5

-0,01

-4,49

50,15111

-0,000037037

50

13

-4

-0,005

-3,995

100,165

-0,000018519

100

14

-3,5

-0,01

-3,49

50,18286

-0,000037037

50

15

-3

-0,01

-2,99

50,20667

-0,000037037

50

16

-2,5

-0,01

-2,49

50,24

-0,000037037

50

17

-2

-0,005

-1,995

100,29

-0,000018519

100

18

-1,5

-0,005

-1,495

100,3733

-0,000018519

100

19

-1

-0,01

-0,99

50,54

-0,000037037

50

20

-0,5

-0,005

-0,495

101,04

-0,000018519

100

21

0

-0,01

0,01

-

-0,000037037

50

22

0,5

-0,005

0,505

101,04

-0,000018519

100

23

1

0,283

0,717

2,306784

0,001048148

1,766785

24

1,5

0,752

0,748

1,038227

0,002785185

0,664896

25

2

1,23

0,77

0,696504

0,004555556

0,406507

26

2,5

1,714

0,786

0,531715

0,006348148

0,29172

27

3

2,202

0,798

0,433733

0,008155556

0,227072

28

3,5

2,686

0,814

0,369008

0,009948148

0,186158

29

4

3,179

0,821

0,322282

0,011774074

0,157291

30

4,5

3,662

0,838

0,287649

0,013562963

0,136547

31

5

4,15

0,85

0,260482

0,01537037

0,120493

32

5,5

4,644

0,856

0,238575

0,0172

0,107679

33

6

5,127

0,873

0,220856

0,018988889

0,097537

34

6,5

5,62

0,88

0,205891

0,020814815

0,088983

35

7

6,108

0,892

0,193288

0,022622222

0,081877

36

7,5

6,606

0,894

0,182355

0,024466667

0,075707

37

8

7,095

0,905

0,172972

0,026277778

0,070492

38

8,5

7,583

0,917

0,16476

0,028085185

0,065958

39

9

8,071

0,929

0,157506

0,029892593

0,061972

40

9,5

8,564

0,936

0,151016

0,031718519

0,058407

41

10

-2,52

12,52

0,288413

-0,009333333

0,19842

5. Przykładowe obliczenia:

0x01 graphic
[V]

0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic

6. Charakterystyka przejściowa badanej diod

0x01 graphic

7. Wnioski:

Celem ćwiczenia było zbadanie charakterystyki przejściowej diody i wyliczenie błędów pomiaru. Do tego celu użyliśmy stanowiska z przetwornikami analogowo-cyfrowym i cyfrowo-analogowym, sterowanego komputerem. Dzięki temu pomiary miały charakter automatyczny i wymagały jedynie ustawienia parametrów badanego układu w programie sterującym.

Obliczając błędy pomiarowe, musiałem wziąć pod uwagę błędy wnoszone przez przyrządy pomiarowe - dwunastobitowe przetworniki A/C i C/A. Najmniejsza rozróżniana przez taki przetwornik wartość to ΔU=20V/212=5 mV (ΔU to iloraz zakresu pomiarowego przetwornika i ilość rozróżnianych przez niego stanów). Jest to błąd kwantyzacji. Drugim błędem wprowadzanym przez przetworniki A/C i C/A jest błąd nieliniowości. Jest on zwykle podawany przez producenta przetwornika. W tym przypadku wyniósł on 0,02%. Zakładamy, że rezystancja wyjściowa przetwornika C/A jest pomijalnie mała, a rezystancja wejściowa przetwornika A/C jest nieskończenie duża - nie bierzemy więc poprawek na te wielkości. W układzie pomiarowym znajduje się także rezystor R o klasie 0,2%.

Obliczenia błędów oparłem o metodę różniczki zupełnej. Pozwala ona na określenie błędu wielkości mierzonych pośrednio, opisanych nawet skomplikowanymi zależnościami matematycznymi. Po znalezieniu odpowiednich pochodnych i wyliczeniu błędów okazało się, że największe błędy występują blisko zera przetworników A/C i C/A. Wynika to z faktu, że wtedy błąd kwantyzacji przetwornika jest tego samego rzędu, co zmierzona wartość. Zauważyłem także, że nie można wyliczyć błędów dla UC/A = 0, ponieważ UC/A jest w mianowniku wzoru.

Podobnie jak w przypadku przyrządów analogowych, odczytów z mierników cyfrowych należy dokonywać w górnej części zakresu pomiarowego. Wtedy pomiar obarczony będzie najmniejszym błędem. Ponadto, należy używać przetworników o jak największej rozdzielczości i najmniejszej nieliniowości, dzięki czemu pomiary będą dokładniejsze.

Dla diody Zenera 6,8 V. Mierzony był spadek napięcia na rezystorze szeregowym. Dioda w stosunku do poprzednich pomiarów zachowywała się bardzo podobnie, lecz tutaj zauważamy dużo lepszą stabilizację napięcia wstecznego (ok. 6,8 V).

Błąd pomiaru ΔUD był najmniejszy dla największych bezwzględnych wartości napięcia wyjściowego przetwornika C/A. Gdy wartość ta zbliżała się do zera błąd ten gwałtownie rósł.

Natomiast błędy ΔID przyjmowały wartości bardzo małe z tendencją wzrostu w miarę zwiększania się napięcia wyjściowego przetwornika C/A.

1

1



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
METODYKA OPRACOWYWANIA WYNIKÓW POMIAROWYCH, METPOM Radzio, POLITECHNIKA RADOMSKA
METODYKA OPRACOWYWANIA WYNIKÓW POMIAROWYCH, MET0DY s G, POLITECHNIKA RADOMSKA
Metrologia-lab-Metodyka opracowań wyników pomiarowych, METPOM S, POLITECHNIKA RADOMSKA
Metrologia-lab-Metodyka opracowań wyników pomiarowych, Metodyka opracowań wyników pomiarowychspr, PO
B Kamys Statystyczne metody opracowania wyników pomiarów
Metrologia-lab-Metodyka opracowań wyników pomiarowych, Metodyka, RADOM
B Kamys Statystyczne metody opracowania wyników pomiarów
Metrologia-lab-Pomiary Parametrów Drgań Mechanicznych, Drgania mechaniczne SPR, POLITECHNIKA RADOMSK
Metrologia-lab-Pomiary Indukcyjności i Pojemności, Mostki SPR, POLITECHNIKA RADOMSKA
Metrologia-lab-Pomiar Częstotliwości, Częstotliwość SPR, POLITECHNIKA RADOMSKA
ćwiczenie 2 Statystyczne opracowanie wyników pomiarów, ZiIP Politechnika Poznańska, Podstawy Metrolo
Metrologia-lab-Pomiar Prędkości Obrotowej, Prędkość obrotowa SPR, POLITECHNIKA RADOMSKA
Analiza błędów Statystyczne opracowanie wyników pomiarów
Opracowanie wyników pomiaru
Opracowanie wyników pomiarowych - błędy, bledy, Gęstość jest cechą substancji określającą masę jedno
Metrologia-lab-Pomiary Kompensacyjne, POMKOM 1, POLITECHNIKA RADOMSKA
BADANIE LICZNIKA INDUKCYJNEGO 1FAZOWEGO, licznik-radzio.spr, POLITECHNIKA RADOMSKA
Metrologia-lab-Pomiary Oscyloskopowe, OSCYL P, POLITECHNIKA RADOMSKA

więcej podobnych podstron