POLITECHNIKA RADOMSKA Im. Kazimierza Pułaskiego WYDZIAŁ TRANSPORTU |
LABORATORIUM MIERNICTWA |
Data:
|
||||
Wykonał: |
|
Grupa: |
|
Zespół: |
|
Rok akademicki:
|
Temat: |
Metodyka opracowywania wyników pomiarowych.
|
Nr ćwiczenia:
|
Ocena i podpis prowadzącego:
|
1. Cel ćwiczenia:
Celem ćwiczenia jest wykorzystanie komputera z przetwornikami A/C i C/A do badania charakterystyk diod półprzewodnikowych.
2. Schemat połączeń stanowiska do badania charakterystyk elementów półprzewodnikowych:
3. Schemat badanego przez nas układu:
4. Tabela pomiarowa:
Lp. |
UC/A |
UA/C |
UD |
DUD |
ID |
dID |
Uwagi: |
|
[V] |
[V] |
[V] |
[%] |
[A] |
[%] |
|
1 |
-10 |
-2,49 |
-7,51 |
0,290803 |
-0,009222222 |
0,20081 |
|
2 |
-9,5 |
-2,52 |
-6,98 |
0,291044 |
-0,009333333 |
0,19842 |
|
3 |
-9 |
-2,119 |
-6,881 |
0,331516 |
-0,007848148 |
0,235966 |
|
4 |
-8,5 |
-1,626 |
-6,874 |
0,406327 |
-0,006022222 |
0,307508 |
|
5 |
-8 |
-1,143 |
-6,857 |
0,539945 |
-0,004233333 |
0,437448 |
|
6 |
-7,5 |
-0,649 |
-6,851 |
0,877083 |
-0,002403704 |
0,770418 |
|
7 |
-7 |
-0,171 |
-6,829 |
3,035405 |
-0,000633333 |
2,923977 |
|
8 |
-6,5 |
-0,01 |
-6,49 |
50,11692 |
-0,000037037 |
50 |
|
9 |
-6 |
-0,01 |
-5,99 |
50,12333 |
-0,000037037 |
50 |
|
10 |
-5,5 |
-0,01 |
-5,49 |
50,13091 |
-0,000037037 |
50 |
|
11 |
-5 |
-0,01 |
-4,99 |
50,14 |
-0,000037037 |
50 |
|
12 |
-4,5 |
-0,01 |
-4,49 |
50,15111 |
-0,000037037 |
50 |
|
13 |
-4 |
-0,005 |
-3,995 |
100,165 |
-0,000018519 |
100 |
|
14 |
-3,5 |
-0,01 |
-3,49 |
50,18286 |
-0,000037037 |
50 |
|
15 |
-3 |
-0,01 |
-2,99 |
50,20667 |
-0,000037037 |
50 |
|
16 |
-2,5 |
-0,01 |
-2,49 |
50,24 |
-0,000037037 |
50 |
|
17 |
-2 |
-0,005 |
-1,995 |
100,29 |
-0,000018519 |
100 |
|
18 |
-1,5 |
-0,005 |
-1,495 |
100,3733 |
-0,000018519 |
100 |
|
19 |
-1 |
-0,01 |
-0,99 |
50,54 |
-0,000037037 |
50 |
|
20 |
-0,5 |
-0,005 |
-0,495 |
101,04 |
-0,000018519 |
100 |
|
21 |
0 |
-0,01 |
0,01 |
- |
-0,000037037 |
50 |
|
22 |
0,5 |
-0,005 |
0,505 |
101,04 |
-0,000018519 |
100 |
|
23 |
1 |
0,283 |
0,717 |
2,306784 |
0,001048148 |
1,766785 |
|
24 |
1,5 |
0,752 |
0,748 |
1,038227 |
0,002785185 |
0,664896 |
|
25 |
2 |
1,23 |
0,77 |
0,696504 |
0,004555556 |
0,406507 |
|
26 |
2,5 |
1,714 |
0,786 |
0,531715 |
0,006348148 |
0,29172 |
|
27 |
3 |
2,202 |
0,798 |
0,433733 |
0,008155556 |
0,227072 |
|
28 |
3,5 |
2,686 |
0,814 |
0,369008 |
0,009948148 |
0,186158 |
|
29 |
4 |
3,179 |
0,821 |
0,322282 |
0,011774074 |
0,157291 |
|
30 |
4,5 |
3,662 |
0,838 |
0,287649 |
0,013562963 |
0,136547 |
|
31 |
5 |
4,15 |
0,85 |
0,260482 |
0,01537037 |
0,120493 |
|
32 |
5,5 |
4,644 |
0,856 |
0,238575 |
0,0172 |
0,107679 |
|
33 |
6 |
5,127 |
0,873 |
0,220856 |
0,018988889 |
0,097537 |
|
34 |
6,5 |
5,62 |
0,88 |
0,205891 |
0,020814815 |
0,088983 |
|
35 |
7 |
6,108 |
0,892 |
0,193288 |
0,022622222 |
0,081877 |
|
36 |
7,5 |
6,606 |
0,894 |
0,182355 |
0,024466667 |
0,075707 |
|
37 |
8 |
7,095 |
0,905 |
0,172972 |
0,026277778 |
0,070492 |
|
38 |
8,5 |
7,583 |
0,917 |
0,16476 |
0,028085185 |
0,065958 |
|
39 |
9 |
8,071 |
0,929 |
0,157506 |
0,029892593 |
0,061972 |
|
40 |
9,5 |
8,564 |
0,936 |
0,151016 |
0,031718519 |
0,058407 |
|
41 |
10 |
-2,52 |
12,52 |
0,288413 |
-0,009333333 |
0,19842 |
|
5. Przykładowe obliczenia:
[V]
6. Charakterystyka przejściowa badanej diod
7. Wnioski:
Celem ćwiczenia było zbadanie charakterystyki przejściowej diody i wyliczenie błędów pomiaru. Do tego celu użyliśmy stanowiska z przetwornikami analogowo-cyfrowym i cyfrowo-analogowym, sterowanego komputerem. Dzięki temu pomiary miały charakter automatyczny i wymagały jedynie ustawienia parametrów badanego układu w programie sterującym.
Obliczając błędy pomiarowe, musiałem wziąć pod uwagę błędy wnoszone przez przyrządy pomiarowe - dwunastobitowe przetworniki A/C i C/A. Najmniejsza rozróżniana przez taki przetwornik wartość to ΔU=20V/212=5 mV (ΔU to iloraz zakresu pomiarowego przetwornika i ilość rozróżnianych przez niego stanów). Jest to błąd kwantyzacji. Drugim błędem wprowadzanym przez przetworniki A/C i C/A jest błąd nieliniowości. Jest on zwykle podawany przez producenta przetwornika. W tym przypadku wyniósł on 0,02%. Zakładamy, że rezystancja wyjściowa przetwornika C/A jest pomijalnie mała, a rezystancja wejściowa przetwornika A/C jest nieskończenie duża - nie bierzemy więc poprawek na te wielkości. W układzie pomiarowym znajduje się także rezystor R o klasie 0,2%.
Obliczenia błędów oparłem o metodę różniczki zupełnej. Pozwala ona na określenie błędu wielkości mierzonych pośrednio, opisanych nawet skomplikowanymi zależnościami matematycznymi. Po znalezieniu odpowiednich pochodnych i wyliczeniu błędów okazało się, że największe błędy występują blisko zera przetworników A/C i C/A. Wynika to z faktu, że wtedy błąd kwantyzacji przetwornika jest tego samego rzędu, co zmierzona wartość. Zauważyłem także, że nie można wyliczyć błędów dla UC/A = 0, ponieważ UC/A jest w mianowniku wzoru.
Podobnie jak w przypadku przyrządów analogowych, odczytów z mierników cyfrowych należy dokonywać w górnej części zakresu pomiarowego. Wtedy pomiar obarczony będzie najmniejszym błędem. Ponadto, należy używać przetworników o jak największej rozdzielczości i najmniejszej nieliniowości, dzięki czemu pomiary będą dokładniejsze.
Dla diody Zenera 6,8 V. Mierzony był spadek napięcia na rezystorze szeregowym. Dioda w stosunku do poprzednich pomiarów zachowywała się bardzo podobnie, lecz tutaj zauważamy dużo lepszą stabilizację napięcia wstecznego (ok. 6,8 V).
Błąd pomiaru ΔUD był najmniejszy dla największych bezwzględnych wartości napięcia wyjściowego przetwornika C/A. Gdy wartość ta zbliżała się do zera błąd ten gwałtownie rósł.
Natomiast błędy ΔID przyjmowały wartości bardzo małe z tendencją wzrostu w miarę zwiększania się napięcia wyjściowego przetwornika C/A.
1
1