POLITECHNIKA RADOMSKA Im. Kazimierza Pułaskiego WYDZIAŁ TRANSPORTU |
LABORATORIUM MIERNICTWA |
Data:
|
||||
Wykonał: |
|
Grupa: |
|
Zespół: |
|
Rok akademicki:
|
Temat: |
Metodyka opracowywania wyników pomiarowych.
|
Nr ćwiczenia: I I
|
Ocena i podpis prowadzącego:
|
1. Cel ćwiczenia:
Celem ćwiczenia jest wykorzystanie komputera z przetwornikami A/C i C/A do badania charakterystyk diod półprzewodnikowych.
2. Schemat połączeń stanowiska do badania charakterystyk elementów półprzewodnikowych:
3. Schemat badanego przez nas układu:
4. Tabela pomiarowa:
Lp. |
UC/A |
UA/C |
UD |
dUD |
ID |
dID |
Uwagi: |
|
[V] |
[V] |
[V] |
[%] |
[mA] |
[%] |
|
1 |
-5,0 |
-2.539 |
-2,461 |
0,337 |
-12,695 |
0,00110 |
|
2 |
-4,8 |
-2,368 |
-2,432 |
0,355 |
-11,840 |
0,00117 |
|
3 |
-4,6 |
-2,197 |
-2,403 |
0,376 |
-10,985 |
0,00125 |
|
4 |
-4,4 |
-2,026 |
-2,374 |
0,400 |
-10,130 |
0,00134 |
|
5 |
-4,2 |
-1,860 |
-2,340 |
0,428 |
-9,300 |
0,00145 |
|
6 |
-4,0 |
-1,694 |
-2,306 |
0,460 |
-8,470 |
0,00158 |
|
7 |
-3,8 |
-1,528 |
-2,272 |
0,499 |
-7,640 |
0,00174 |
|
8 |
-3,6 |
-1,367 |
-2,233 |
0,545 |
-6,835 |
0,00194 |
|
9 |
-3,4 |
-1,206 |
-2,194 |
0,602 |
-6,030 |
0,00218 |
|
10 |
-3,2 |
-1,050 |
-2,150 |
0,672 |
-5,250 |
0,00249 |
|
11 |
-3,0 |
-0,903 |
-2,097 |
0,760 |
-4,515 |
0,00287 |
|
12 |
-2,8 |
-0,757 |
-2,043 |
0,879 |
-3,785 |
0,00341 |
|
13 |
-2,6 |
-0,620 |
-1,980 |
1,039 |
-3,100 |
0,00414 |
|
14 |
-2,4 |
-0,493 |
-1,907 |
1,263 |
-2,465 |
0,00517 |
|
15 |
-2,2 |
-0,371 |
-1,829 |
1,615 |
-1,855 |
0,00684 |
|
16 |
-2,0 |
-0,269 |
-1,731 |
2,149 |
-1,345 |
0,00940 |
|
17 |
-1,8 |
-0,181 |
-1,619 |
3,080 |
-0,905 |
0,01391 |
|
18 |
-1,6 |
-0,112 |
-1,488 |
4,817 |
-0,560 |
0,02242 |
|
19 |
-1,4 |
-0,068 |
-1,332 |
7,750 |
-0,340 |
0,03687 |
|
20 |
-1,2 |
-0,039 |
-1,161 |
13,277 |
-0,195 |
0,06420 |
|
21 |
-1,0 |
-0,024 |
-0,976 |
21,373 |
-0,120 |
0,10427 |
|
22 |
-0,8 |
-0,015 |
-0,785 |
33,998 |
-0,075 |
0,16677 |
|
23 |
-0,6 |
-0,010 |
-0,590 |
50,873 |
-0,050 |
0,25010 |
|
24 |
-0,4 |
-0,010 |
-0,390 |
51,290 |
-0,050 |
0,25010 |
|
25 |
-0,2 |
-0,010 |
-0,190 |
52,540 |
-0,050 |
0,25010 |
|
26 |
0,0 |
-0,010 |
0,010 |
∞ |
-0,050 |
0,25010 |
Dzielenie przez zero |
27 |
0,2 |
-0,005 |
0,205 |
102,540 |
-0,025 |
0,50010 |
|
28 |
0,4 |
0,005 |
0,395 |
101,290 |
0,025 |
0,50010 |
|
29 |
0,6 |
0,059 |
0,541 |
9,348 |
0,295 |
0,04247 |
|
30 |
0,8 |
0,186 |
0,614 |
3,353 |
0,930 |
0,01354 |
|
31 |
1,0 |
0,361 |
0,639 |
1,925 |
1,805 |
0,00703 |
|
32 |
1,2 |
0,542 |
0,658 |
1,379 |
2,710 |
0,00472 |
|
33 |
1,4 |
0,732 |
0,668 |
1,080 |
3,660 |
0,00352 |
|
34 |
1,6 |
0,923 |
0,677 |
0,894 |
4,615 |
0,00281 |
|
35 |
1,8 |
1,118 |
0,682 |
0,765 |
5,590 |
0,00234 |
|
36 |
2,0 |
1,313 |
0,687 |
0,671 |
6,565 |
0,00201 |
|
37 |
2,2 |
1,509 |
0,691 |
0,599 |
7,545 |
0,00176 |
|
38 |
2,4 |
1,704 |
0,696 |
0,542 |
8,520 |
0,00158 |
|
39 |
2,6 |
1,899 |
0,701 |
0,496 |
9,495 |
0,00143 |
|
40 |
2,8 |
2,100 |
0,700 |
0,457 |
10,500 |
0,00130 |
|
41 |
3,0 |
2,295 |
0,705 |
0,425 |
11,475 |
0,00120 |
|
42 |
3,2 |
2,495 |
0,705 |
0,397 |
12,475 |
0,00111 |
|
43 |
3,4 |
2,695 |
0,705 |
0,373 |
13,475 |
0,00104 |
|
44 |
3,6 |
2,891 |
0,709 |
0,352 |
14,455 |
0,00098 |
|
45 |
3,8 |
3,091 |
0,709 |
0,333 |
15,455 |
0,00092 |
|
46 |
4,0 |
3,286 |
0,714 |
0,317 |
16,430 |
0,00088 |
|
47 |
4,2 |
3,486 |
0,714 |
0,302 |
17,430 |
0,00083 |
|
48 |
4,4 |
3,682 |
0,718 |
0,289 |
18,410 |
0,00080 |
|
49 |
4,6 |
3,882 |
0,718 |
0,277 |
19,410 |
0,00076 |
|
50 |
4,8 |
4,082 |
0,718 |
0,267 |
20,410 |
0,00073 |
|
51 |
5,0 |
4,277 |
0,723 |
0,257 |
21,385 |
0,00071 |
|
5. Przykładowe obliczenia:
[V]
6. Charakterystyka przejściowa badanej diody:
7. Wnioski:
Celem ćwiczenia było zbadanie charakterystyki przejściowej diody i wyliczenie błędów pomiaru. Do tego celu użyłem stanowiska z przetwornikami analogowo-cyfrowym i cyfrowo-analogowym, sterowanego komputerem. Dzięki temu pomiary miały charakter automatyczny i wymagały jedynie ustawienia parametrów badanego układu w programie sterującym.
Obliczając błędy pomiarowe, musiałem wziąć pod uwagę błędy wnoszone przez przyrządy pomiarowe - dwunastobitowe przetworniki A/C i C/A. Najmniejsza rozróżniana przez taki przetwornik wartość to ΔU=20V/212=5 mV (ΔU to iloraz zakresu pomiarowego przetwornika i ilość rozróżnianych przez niego stanów). Jest to błąd kwantyzacji. Drugim błędem wprowadzanym przez przetworniki A/C i C/A jest błąd nieliniowości. Jest on zwykle podawany przez producenta przetwornika. W tym przypadku wyniósł on 0,02%. Zakładamy, że rezystancja wyjściowa przetwornika C/A jest pomijalnie mała, a rezystancja wejściowa przetwornika A/C jest nieskończenie duża - nie bierzemy więc poprawek na te wielkości. W układzie pomiarowym znajduje się także rezystor R o klasie 0,2%.
Obliczenia błędów oparłem o metodę różniczki zupełnej. Pozwala ona na określenie błędu wielkości mierzonych pośrednio, opisanych nawet skomplikowanymi zależnościami matematycznymi. Po znalezieniu odpowiednich pochodnych i wyliczeniu błędów okazało się, że największe błędy występują blisko zera przetworników A/C i C/A i przekraczają 100%. Wynika to z faktu, że wtedy błąd kwantyzacji przetwornika jest tego samego rzędu, co zmierzona wartość. Zauważyłem także, że nie można wyliczyć błędów dla UC/A = 0, ponieważ UC/A jest w mianowniku wzoru.
Podobnie jak w przypadku przyrządów analogowych, odczytów z mierników cyfrowych należy dokonywać w górnej części zakresu pomiarowego. Wtedy pomiar obarczony będzie najmniejszym błędem. Ponadto, należy używać przetworników o jak największej rozdzielczości i najmniejszej nieliniowości, dzięki czemu pomiary będą dokładniejsze.
Charakterystyka diody Zenera uzyskana na podstawie wyników z tabeli pomiarowej nie odbiega od wydruku. Możemy na niej zaobserwować, że dioda ta nie jest elementem idealnym: napięcie stabilizowane dość silnie zależy od prądu płynącego przez diodę, zwłaszcza przy niskich prądach. Dzięki dużej ilości pomiarów możemy zobaczyć łagodne przegięcia charakterystyki diody przy napięciach około -2,2V w kierunku zaporowym i 0,65V w kierunku przewodzenia.
1
1