metrologia sprawka, AGH


AGH

Imię i nazwisko: Anna Stasiów

Rok szkolny 2008/09

Wydział: EiP

Automatyka i pomiar wielkości fizykochemicznych

Temat ćwiczenia:

Własności dynamiczne przetworników pierwszego rzędu

Rok studiów drugi

Semestr IV

Data wykonania ćwiczenia:

27.02.2009

Data zaliczenia sprawozdania:

Nr ćwiczenia:

2

Cel ćwiczenia

Celem ćwiczenia jest poznanie własności dynamicznych przetworników pierwszego rzędu w dziedzinie czasu i częstotliwości oraz wyznaczanie podstawowych parametrów tych przetworników na drodze pomiarowej. W ćwiczeniu będzie badany człon elektryczny RC, który jest analogią przetwornika pierwszego rzędu.

  1. Wyznaczanie odpowiedzi skokowej.

Przykładowy wykres odpowiedzi skokowej:

0x01 graphic

R= 9,8 kΩ

C= 50nF

T= R*C = 9,8 kΩ * 50nF= 4,9μs - wartość którą otrzymaliśmy z obliczeń

Wartość otrzymana z wykresu uzyskanego na laboratorium T= 5 μs

  1. Wpływ wartości skokowej na przebieg odpowiedzi skokowej.

f = [kHz]

U1 [V]

U2 = [V]

S = 1wolt

G(f) [-]

LmG(f) [Db]

T [s]

fg [kHz]

12.16

5

3.7

0.74

0.74

-2.615

10

0.016

22.64

5

3.14

0.63

0.628

-4.040

5

0.032

33.57

5

2.5

0.5

0.5

-6.020

5

0.032

41.71

5

1.9

0.38

0.38

-8.404

5

0.032

52.22

5

1.4

0.28

0.28

-11.057

5

0.032

71.62

5

0.9

0.18

0.18

-14.894

2

0.080

103.2

5

0.3

0.06

0.06

-24.437

2

0.080

3.Wyznaczanie charakterystyk częstotliwościowych: amplitudowej i fazowej.

Wyznaczanie charakterystyk amplitudowo-częstotliwościowych

0x01 graphic

0x01 graphic

Wartość fg umieściliśmy w tabeli w punkcie 2

Wyznaczanie charakterystyk fazowo-częstotliwościowych

f = [kHz]

Yo [mm]

Ym [mm]

φ[o]

0.397

0.15

4.8

-0.03

0.536

0.2

4.75

-0.04

1.088

0.35

4.7

-0.07

4.294

1.15

4.6

-0.25

8.021

1.3

3.6

-0.37

16.356

1.5

2.5

-0.64

19.432

1.75

2.3

-0.86

23.012

1.85

2.1

-1.08

32.923

1.9

2

-1.25

46.245

1.95

2

-1.35

0x01 graphic

0x08 graphic

Wykresy charakterystyk idealnych zaczerpnięte ze skryptu pt.

„Podstawy metrologii technicznej” prof. nadzw. Józefa Bednarczyka



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
5 sprawko, AGH IMIR Mechanika i budowa maszyn, II ROK, Metrologia Tyka Haduch, fwdmetrologiaparti
Pomiary chropowatości powierzchni - sprawko 3, Uczelnia, Metrologia, Sprawka i Projekty
Pomiary średnic i odległości otworów z zastosowaniem metod numerycznych - sprawko 4, Uczelnia, Metro
metrologia sprawko
pnom sprawko, AGH Imir materiały mix, Studia
Interferencyjne pomiary długości i kąta - sprawko 1, Uczelnia, Metrologia, Sprawka i Projekty
Statystyczna kontrola jakości geometrycznej wyrobów - sprawko 1, Uczelnia, Metrologia, Sprawka i Pro
cw1, Semestr II, Podstawy metrologii, Sprawka
Podstawy doboru przyrządów pomiarowych - sprawko 1, Uczelnia, Metrologia, Sprawka i Projekty
sprawko(1), AGH, MGR GiGG, Ochrona i rekultywacja terenów górniczych, tematy
cw6 metrologia Sprawko cw 6
metrologia sprawka, laborka #1
Projektowanie i nadzorowanie sprawdzianów - sprawko 1, Uczelnia, Metrologia, Sprawka i Projekty
pnom sprawko (1), AGH Imir materiały mix, Studia
spalanie sprawko, AGH
Interferencyjne pomiary długości i kąta - sprawko 2, Uczelnia, Metrologia, Sprawka i Projekty
Metrologia - sprawko, Politechnika Poznańska (ETI), Semestr I i II, Metrologia
Laboratorium Metrologii Elektrycznej18, AGH IMIR Mechanika i budowa maszyn, II ROK, Metrologia Ty
Interferencyjne pomiary długości i kąta - sprawko 4, Uczelnia, Metrologia, Sprawka i Projekty

więcej podobnych podstron