Politechnika Wrocławska

Miernictwo elektroniczne 2

Imię i nazwisko: Krystian Kamiński

Nr albumu: 156418

Data: 12.11.2007 r.

Sprawozdanie z ćwiczenia nr 3

Ocena:

Temat: Oscyloskop

 

1.

Cel ćwiczenia: 

Poznanie budowy, zasady działania i budowy oscyloskopu oraz sposobów jego właściwego 
wykorzystania do obserwacji przebiegów czasowych sygnałów elektronicznych. 

2.

Wstęp teoretyczny: 

Podłączyłem z generatora do wejścia CH1 sygnał sinusoidalny o częstotliwości 569 kHz. Ustawiłem 
mnożnik na x10. Włączyłem regulację płynną a skokową ustawiłem tak, aby badany przebieg mieścił 
się na ekranie. Ustawiłem sprzężenie AC. Następnie dokonałem pomiaru amplitudy sygnału A mnożąc 
odczyty na działkach (l

y

) przez ustawioną czułość (k

y

) i dzieląc przez 2. 

U

pp

= l

y

 · k   ‐ napięcie 

l

y

 – ilość działek 

k

y

 – czułość oscyloskopa na osi Y 

A = 

 – amplituda 

T

x

 = k

x

 · l

x

 – okres 

l

x

 – ilość działek 

k

x

 – czułość oscyloskopa na osi X 

3.

Pomiary i wyliczenia 

 

l

y 

= 6 działek 

k

y

=5 [

ł

 

l

x 

= 4,5 działek 

k

x

=2 [

ł

 

f = 569 [kHz] 
U

pp

=30 [V] 

A = 

15 

 

T

x

= 4,5

· 2 /

 = 9 [

] 

f

x

=

·

=111 [kHz] 

 
 

4.

Niepewności pomiarowe: 

Błąd względny: 

∆

∆l

l

∆k

k

 

gdzie ∆

1 

2 

1,5 

, a 

∆

 

 przyjmuję, że jest równe 3% 

czyli  

∆

,

3%

8%. 

 

Niepewności pomiarowe okresu i częstotliwości: 

Błąd względny: 

∆

∆l

l

∆k

k

 

gdzie ∆

1 

2 

1,5 

, a 

∆  

, ż  

  ó

 3%, 

czyli  

∆

∆

,

3%

6,4%. 

 

Uwaga: w protokole w obliczeniach nie uwzględniłem mnożnika x10. 

 

5. Wnioski: 

• Częstotliwość nie zgadza się z wyliczeniami, na pewno został popełniony błąd przy 

odczytywaniu l

x

 i k

x

 

• Oscyloskop jest uniwersalnym przyrządem pomiarowym, stosowanym do obserwacji 

odkształconych przebiegów elektrycznych i pomiaru ich parametrów.  

• Odpowiednio dobrany układ pracy oscyloskopu pozwala mierzyć parametry przebiegu 

odkształconego, zdejmować charakterystyki statyczne i dynamiczne przyrządów 
elektronicznych, mierzyć przesunięcie fazowe, rezystancję dynamiczną i inne.