POLITECHNIKA KRAKOWSKA im. T. Kościuszki
Wydział Mechaniczny
Instytut Technologii Maszyn i Automatyzacji Produkcji
M6
Kierunek studiów: Zarządzanie i Inżynieria Produkcji
Specjalność : Informatyka w Systemach Zarządzania Produkcją
STUDIA NIESTACJONARNE
PRACA DYPLOMOWA
INŻYNIERSKA
Analiza metod statystycznych w walidacji metod
i systemów pomiarowych.
Kolasa Marcin
Suwaj Sebastian
Promotor:
dr inż. Marek Kowalski
Kraków, rok akad. 2007/2008
1
Składamy serdeczne podziękowania
Panu dr inż. Markowi Kowalskiemu
za pomoc i opiekę przy wykonaniu
niniejszej pracy.
2
KARTA PRACY DYPLOMOWEJ
POLITECHNIKA KRAKOWSKA
WYDZIAŁ MECHANICZNY
INSTYTUT TECHNOLOGII MASZYN I
AUTOMATYZACJI PRODUKCJI
Zakład/Katedra :
Inżynierii procesów produkcyjnych
Nr pracy:
Autor pracy: Suwaj Sebastian
Promotor
dr inż. Marek Kowalski
Temat: Analiza metod statystycznych w walidacji metod i systemów pomiarowych.
…………………. …………………………….
Podpis promotora
Kierownika specjalności
Uzgodniona ocena pracy:
……………………………………………………………………..
…………………. ………………….. ………………………....
Podpis promotora
Podpis recenzenta
Dyrektora Instytutu
ds. Dydaktyki
3
KARTA PRACY DYPLOMOWEJ
POLITECHNIKA KRAKOWSKA
WYDZIAŁ MECHANICZNY
INSTYTUT TECHNOLOGII MASZYN I
AUTOMATYZACJI PRODUKCJI
Zakład/Katedra :
Inżynierii procesów produkcyjnych
Nr pracy:
Autor pracy: Kolasa Marcin
Promotor
dr inż. Marek Kowalski
Temat: Analiza metod statystycznych w walidacji metod i systemów pomiarowych.
……………………………
………………………….........
Podpis promotora
Kierownika specjalności
Uzgodniona ocena pracy:
……………………………………………………………………..
...................................
....................................
........................................
Podpis promotora
Podpis recenzenta
Dyrektora Instytutu
ds. Dydaktyki
4
Rozgraniczenie zakresu merytorycznego prac
współautorskich
Temat pracy dyplomowej:
Analiza metod statystycznych w walidacji metod i
systemów pomiarowych.
Zakres tematyczny (zagadnienia)
Rozdział
Autor
1.Cel i zakres pracy
1.
Suwaj Sebastian
2.Wprowadzenie
2.
(2.1,2.2)
Suwaj Sebastian
3.Klasyfikacja i opis metod
pomiarowych
3.
(3.1,3.2)
Suwaj Sebastian
4.Walidacja metody pomiarowej
4.
(4.1,4.2,4.3,4.4,4.5
4.6,4.7)
Suwaj Sebastian
5.Przydatność środków kontrolnych
5.
(5.1,5.2,5.3,5.4)
Suwaj Sebastian
6. Wnioski
7
Suwaj Sebastian
.........................
podpis promotora
5
Rozgraniczenie zakresu merytorycznego prac
współautorskich
Temat pracy dyplomowej:
Analiza metod statystycznych w walidacji metod i
systemów pomiarowych.
Zakres tematyczny (zagadnienia)
Rozdział
Autor
1.Cel i zakres pracy
1.
Kolasa Marcin
2.Wprowadzenie
2.
(2.3)
Kolasa Marcin
3.Klasyfikacja i opis metod
pomiarowych
3.
(3.3,3.4)
Kolasa Marcin
4.Walidacja metody pomiarowej
4.
(4.8,4.9,4.10,4.11
4.12)
Kolasa Marcin
5.Przydatność środków kontrolnych
5.
(5.5,5.6,5.7)
Kolasa Marcin
6.Analiza zdolności systemu
6
(6.1)
Kolasa Marcin
7. Wnioski
7
Kolasa Marcin
............................................
podpis promotora
6
SPIS TREŚCI:
1.CEL I ZAKRES PRACY………………………………………………………………. 9
2.WPROWADZENIE……………………………………………………………………10
2.1 Zastosowanie metod statystycznych..............................................................................10
2.2 SPC jako zasada ciągłego doskonalenia jakości………………………………………11
2.3 Fazy kwalifikacji procesów............................................................................................15
3. KLASYFIKACJA I OPIS METOD POMIAROWYCH……………………………18
3.1 Podział metod pomiarowych…………………………………………………………..18
3.2 Cechy metod pomiarowych...........................................................................................21
3.3 Sterowanie systemem pomiarowym…………………………………………………...23
3.4 Cykl doskonalenia systemu pomiarowego…………………………………………….27
4. WALIDACJA METODY POMIAROWEJ………………………………………... 30
4.1 Podstawowe pojęcia………………………………………………………………….. 30
4.2 Pojęcie walidacji………………………………………………………………………31
4.3 Walidacja metod pomiarowych i badawczych……………………………………….. 31
4.4 Walidacja nowej metody............................................................................................... 32
4.5 Badanie równorzędności metod pomiarowych............................................................. 36
4.6 Zastosowanie testu „f”………………………………………………………………...37
4.7 Zastosowanie testu „t”………………………………………………………………...37
4.8 Metoda Placketta-Burmana…………………………………………………………... 38
4.9 Powtarzalność i odtwarzalność………………………………………………………..40
4.10 Badania przyrządu do pomiaru………………………………………………………47
4.11 Charakteryzacja przyrządu do pomiaru……………………………………………...50
4.12 Przykładowa walidacja(instrukcja) przyrządu pomiarowego………………………..53
5. PRZYDATNOŚĆ ŚRODKÓW KONTROLNYCH……………………………….. 56
5.1 Przydatność środków kontrolnych…………………………………………………… 56
5.2 Badania zdolności środków kontrolnych……………………………………………...67
5.3 Narzędzia do sterowania systemem pomiarowym- karty kontrolne…………………..79
5.4 Karty kontrolne dla danych zmiennych……………………………………………….85
5.5 Karta średnich i rozstępów…………………………………………………………… 87
5.6 Wyliczanie granic kontrolnych………………………………………………………..97
5.7 Interpretacja dla zdolności systemu pomiarowego…………………………………..100
7
6. ANALIZA ZDOLNOŚCI SYSTEMU…………………..…………………………..131
6.1 Analiza zdolności systemu momentu wkręcania……………………..........................131
7 .PODSUMOWANIE I WNIOSKI...............................................................................138
8. LITERATURA………………………………………………………………………140
8
CEL I ZAKRES PRACY
Cel pracy: Analiza metod statystycznych w walidacji metod systemów
pomiarowych czyli dokładny opis i charakteryzacja metod pomiarowych opartych na
badaniach statystycznych stosowanych w procesie walidacji metod pomiarowych oraz
systemów pomiarowych dla oceny stopnia ich przydatności merytorycznej i warunkach
produkcyjnych.
Zakres pracy dotyczy metod, środków i systemów pomiarowych wykorzystywanych w
metrologii długości i w badaniach twardości.
9
2. WPROWADZENIE
2.1 Zastosowanie metod statystycznych.
Od początku lat 70, kiedy metody statystycznego sterowania procesami (SPC =
Statistica Process Control ) produkcji = zostały odkryte w uprzemysłowionych krajach
zachodu, trwa ciągła dyskusja na temat sensu i bezsensu użycia SPC. Wynikiem tej
dyskusji jest potwierdzone przez rzeczywistość i doświadczenie przekonanie, że
inteligentne zastosowanie metody statystycznej regulacji procesów odegrają ważną rolę w
dalszym rozwoju produkcji przemysłowej. Nowoczesne przedsiębiorstwo nie może
zrezygnować z uzyskanego dzięki wykorzystaniu SPC doskonaleniu jakości swoich
produktów. Do konsekwentnego zastosowania SPC w przyszłości zmusi przedsiębiorstwa
także wzmożona konkurencja. Korzyści uzyskane w ten sposób przez przedsiębiorstwa
pozwolą na umocnienie ich pozycji rynkowej. W ciągu tak długiego okresu nie udało się
ustalić jednolitego dla wszystkich użytkowników i systematycznego sposobu użytkowania
SPC. Potrzeba dalszych działań istnieje zwłaszcza w kwestii ustalenia obowiązującej dla
całego przemysłu metody określania wskaźników jakości i zdolności. Gdyby, dzięki
ujednoliceniu metod postępowania udało się przemawiać tym samym językiem w całym
przemyśle, byłby to wielki skok w kierunku podwyższania jakości produktów. Narzędzia
doskonalenia jakości można podzielić na dwie kategorie. Pierwsza kategoria obejmuje
nadzór i ulepszanie bieżącej produkcji seryjnej. Należy do niej także SPC. Tę grupę
narzędzi zapewnienia jakości nazywa się narzędziami online. Drugą kategorię tworzy
między innymi cała dziedzina metod eksperymentalnych. Narzędzia te mają na celu
zdobycie ważnych informacji o jakości produktów już w fazie konstrukcji i służą analizie
statystycznej szeregów pomiarowych. Narzędzia te nazywane są narzędziami offline.
Ważną rolę jako narzędzia zapewnienia jakości w metodyce eksperymentalnej spełniają
techniki Shainina i Taguchiego. Analizy statystyczne i eksperymenty wykonane tymi
technikami pozwalają na rozpoznanie ryzyka jakościowego już w bardzo wczesnej fazie
planowania, a także przy względnie niskim nakładzie pracy. Poprzez ukierunkowane
stosowanie środków statystycznych można zapobiec pojawianiu się wad i problemów
jakościowych w późniejszej fazie produkcji seryjnej. Należy mieć nadzieję, że metoda
SPC, która opiera się na aktualnej propozycji norm ISO, bardzo szybko przejęta zostanie
przez przemysł jak metoda standardowa. Oznaczało by to znaczne ułatwienie pozwalające
10
na stosowanie jednakowych metod kontroli jakości przez wszystkich odbiorców i
producentów.
2.2 SPC jako zasada ciągłego doskonalenia jakości.
Pierwotne rozumienie definicji jakości jako utrzymania w granicach tolerancji nie
stwarza zbytniej zachęty do doskonalenia jakości produktów. Dopóki parametry
produktów utrzymują się w przewidzianych konstrukcyjnie granicach tolerancji nikt nie
będzie na bazie tej teorii myślał o ulepszeniach w procesie produkcyjnym. Uczestnicy
procesu produkcji muszą jednak wszyscy wnieść wkład w doskonalenie jakości. Tylko tak
można wykorzystując technicznie możliwe i ekonomicznie uzasadnione metody
produkcyjne produkować wyroby posiadające oczekiwane docelowo własności z możliwie
małym statystycznie rozrzutem ich parametrów. Konieczność takiego sposobu podejścia
wynika z wymagań klientów domagających się coraz dobitniej produktów wysokiej
wartości. Gotowość do realizacji tych życzeń, czyli dążenie do uzyskania jak najlepszych
produktów, musi zaznaczyć się w sposobie myślenia i zrozumieniu problemu jakości
przez wszystkich mających swój wkład w proces produkcji.
Podany poniżej eksperyment myślowy daje jaśniejszy obraz omawianych współzależności
i podkreśla konieczność postępowania według zasady ciągłego doskonalenia jakości w
każdym nowoczesnym i uwrażliwionym na problem jakości przedsiębiorstwie. Najpierw
rozpatrzymy pierwotne wyobrażenie o jakości. Wszystkie produkty znajdujące się
wewnątrz granic tolerancji określane są tutaj jako równie dobre.
Rys1. Ocena według schematu: dobry - zły
Nie rozróżnia się tutaj między produktami, których wartości rzeczywiste leżą
dokładnie w środku przedziału tolerancji i takimi, których wartości leżą wewnątrz, ale już
przy granicach przedziału. Zgodnie z pierwotną definicją wszystkie takie wyroby uważane
są za jednakowo dobre. Z punktu widzenia użytkownika decyzja ta jest jak najbardziej
11
wątpliwa. Porównując wyrób o parametrach tuż poza granicą tolerancji z wyrobem jeszcze
wewnątrz tej granicy trudno jest zrozumieć, dlaczego z punktu widzenia zastosowań jeden
wyrób miałby bez ograniczeń nadawać się do użytku a drugi należy zaszeregować jako
całkowicie nieprzydatny. Oba te wyroby różnią się tylko minimalnie swoimi wartościami
rzeczywistymi i z pewnością nie mogą tak bardzo odbiegać w swojej użyteczności od
zamierzeń, jak o tym usiłuje przekonać konwencjonalny sposób myślenia.
Dla uzyskania dokładniejszego obrazu problemu jakości potrzebne jest stworzenie modelu
jakości, który lepiej opisywałby ograniczenie jakościowe spowodowane odchyłkami od
wartości docelowej. Modelem idealnym opisu takiej sytuacji jest model funkcji strat.
Szczególnie ważne dla zrozumienia tego modelu jest stwierdzenie, że strata czyli
ograniczenie jakości rozkłada się na cały zakres parametru produktu.
Taguchi opisał te straty bardzo trafnie jako straty dla społeczeństwa a wyrażając przez to
konieczność uwzględnienia w modelu możliwie wszystkich czynników , które maja wpływ
na jakość produktu. Według jego modelu jakości strata stanowi wielkość ciągłą, której
minimum odpowiada tzw. wartości docelowej. Wartość docelowa jest parametrem
zależnym od przeznaczenia wyrobu a jego wartość optymalna odpowiada oczekiwaniu
klientów. Przy poprawnym planowaniu i realizacji produkcji wartość docelowa odpowiada
wartości oczekiwanej albo nominalnej ze specyfikacji produktu. Im bardziej wyrób lub
jego cecha odbiega od zadanej wartości docelowej, tym większa jest strata spowodowana
taką odchyłką.
Rys 2. Funkcja strat Taguchiego
W omawianym modelu zależność ta ma kształt paraboli, której minimum odpowiada
wartości docelowej. Na podstawie tego modelu można stwierdzić naocznie jak ważne jest
12
ukierunkowanie produkcji na wartość docelową i ograniczenie w ten sposób strat do
minimum. Po nałożeniu funkcji strat na krzywą rozkładu nominalnego można się
natychmiast przekonać naocznie, że proces o nominalnym rozkładzie wartości cech
produkowanych elementów wykazuje znacznie mniejsze straty niż proces w którym
przewidziane granice specyfikacji wypełnione są tylko przez rozkład prostokątny.
Rys 3. Straty w zależności od wyśrodkowania i rozrzutu procesu
Rozwijając ten model dalej pokazać można w jaki sposób produkcja rozrzutu wynosi
zmniejszenie strat. Widać też, jak ważne staje się nie tylko zwrócenie uwagi na rozrzut
procesu, ale i dążenie do uzyskania wartości średniej jako docelowej nawet wtedy, gdy
rozrzut zajmuje tylko niewielką część przedziału tolerancji. Dyskusji podlegać może z
pewnością problem, czy omawiane tutaj wyobrażenia opisują dokładnie produkcję i
obowiązują bez ograniczeń dla każdego procesu produkcyjnego. Ważne jest w tym miejscu
jednak tylko i jedynie zrozumienie, że myślenie i działanie skoncentrowane zaledwie na
utrzymaniu w granicach specyfikacji nigdy nie spełni wymagań dążenia do ciągłej
poprawy jakości
Rys 4. Mały rozrzut, minimalne straty.
13
Zmiana wyobrażeń o jakości prowadzi do konieczności zmiany sposobu postępowania
zarówno w produkcji jak i w sposobie wykorzystania urządzeń produkcyjnych. By
przetrwać w sytuacji ostrej konkurencji konieczne jest dzisiaj spełnienie daleko idących
oczekiwań klientów i dostarczenie towarów o optymalnej jakości. Nie wystarczy już
oferować wyrobów wykorzystujących cały przedział dopuszczalnej tolerancji.
Rys 5. Straty w wyniku zmiany wyśrodkowania procesu
Pracownicy związani z produkcją muszą w pełni wykorzystywać wszystkie możliwości
ukierunkowania procesu produkcyjnego na uzyskiwanie wartości docelowej (nominalnej).
Jednocześnie dążyć należy do utrzymania rozrzutu procesu na minimalnym poziomie i
ciągłej redukcji tego rozrzutu jednak z zachowaniem wymagań rachunku ekonomicznego.
Ważne jest zrozumienie, że traktowanie jakości na zasadzie: „tolerancja należy do
produkcji” nie jest zgodne z dzisiejszym rozumowanie problemu uzyskiwania i
doskonalenia jakości.
Rys 6. Wykorzystanie całego przedziału tolerancji.
14
W zrozumieniu jakości musi wszystkich użytkowników procesu produkcji obowiązywać
zasada: Tylko ciągłe dążenie do utrzymania wartości docelowej zapewnia wysoki stopień
zadowolenia klienta.
Rys 7. Wykorzystanie tolerancji ukierunkowane na wartość docelową
Z rysunków wynika bardzo wyraźnie, że proces wykorzystujący w trakcie produkcji cały
przedział tolerancji dostarcza gorszej jakości ni z proces, który produkuje w oparciu o
zasadę ukierunkowania na wartość docelową.
2.3 Fazy kwalifikacji procesów.
Rodzaj użytych metod statystycznych i sposób interpretacji wyników zależą od
fazy kwalifikacji maszyn i procesów produkcyjnych. Zasadniczo rozróżnia się następujące
fazy analizy kwalifikacyjnej:
- podczas kupna i oddawania do użytku urządzeń produkcyjnych
-przed rozpoczęciem produkcji seryjnej
-po rozpoczęciu produkcji seryjnej
Odbiór maszyn produkcyjnych oparty jest na badaniu zdolności krótkoterminowej i
możliwy jest tylko wtedy, gdy podczas badania uda się ocenić wyłącznie samą maszynę.
Jeśli sytuacja taka nie występuje do odbioru maszyny wykorzystać należy tymczasową
zdolność procesu.
15
Ocena maszyn i procesów produkcyjnych opiera się na danych zebranych przy użyciu
systemu pomiarowego. Przed każdą analizą udowodniona musi być najpierw zdolność
urządzenia pomiarowego. Wadliwe lub nieodpowiednie środki pomiarowe dostarczają
wartości nie odpowiadających rzeczywistemu zachowaniu urządzenia czy procesu.
Prowadzi do ocen z konieczności nie poprawnych.
Celem wstępnej kwalifikacji systemów i następnie ciągłego nadzorowania procesów
produkcyjnych jest:
- wykazanie ich zasadniczej zdolności
- kwalifikacja procesów produkcyjnych
- rozpoznanie istotnych zmian w bieżącej produkcji.
Kwalifikacja wstępna systemu i ocena procesu przed rozpoczęciem produkcji seryjnej
są przedsięwzięciami jednorazowymi. Procedury te nazwane są też badaniem zdolności
maszyn albo badaniem zdolności procesu produkcyjnego. Działanie to podejmowane jest
często offline. W tym celu wykonuje się pewną liczbę produktów następnie mierzonych i
badanych zgodnie z przyjętymi wcześniej zasadami. Ze względu na wymagania
porównywalności i powtarzalności wyników ważne jest by analizy danych dokonywane
były zawsze według tych samych zasad postępowania.
Uzyskane wyniki porównuje się z kryterium odbioru. Jeśli maszyny, urządzenia i procesy
ocenione są jako zdolne tzn. nadające się do wykorzystania, należy stwierdzić czy systemy
te nie podlegają istotnym zmianom w czasie użytkowania. W tym celu z produkcji
pobierane są próby losowe wykonywanych elementów a wyniki ich pomiarów badane
zgodnie z wymaganiami SPC przy użyciu techniki kart kontroli jakości.
Pomiary wyświetlane są online i analizowane zgodnie z zasadami statystyki.
Odchylenia muszą być ukazane w formie łatwej do zrozumienia dla użytkownika wraz z
propozycjami ewentualnych reakcji i kroków zaradczych. System taki musi stanowić
pomoc dla użytkownika i ingerować możliwie mało lub wcale w jego środowisko pracy.
System sterowania procesem może być opisany jako system ze sprzężeniem zwrotnym.
Statystyczne Sterowanie Procesem (SPC) jest jednym z typów systemu ze sprzężeniem
zwrotnym. Istnieją także inne takie systemy, które nie są jednak systemami statystycznymi.
Dla omówienia tego systemu ważne są jego następujące cztery elementy:
Proces - Przez proces rozumie się całą kombinację dostawców, wytwórców, ludzi,
wyposażenia, materiałów wejściowych, metod i środowiska, które współpracują razem dla
wytworzenia wyjścia, i klientów, którzy używają wyjścia. Całkowita wydajność procesu
zależy od porozumiewania się dostawcy z klientem, od sposobu w jaki proces został
16
zaprojektowany i wdrożony, oraz od tego, jak on działa i jak jest zarządzany. Pozostała
część systemu sterowania procesem jest użyteczna tylko wtedy, gdy przyczynia się albo do
utrzymania poziomu doskonałości, lub poprawiania całkowitych osiągów procesu.
Informacja o wydajności (osiągach) - Wiele informacji o aktualnych osiągach procesu
można wyczytać przez badanie wyjścia procesu. Jednak najbardziej pomocna informacja o
osiągach procesu pochodzi ze zrozumienia samego procesu i jego wewnętrznej
zmienności. Charakterystyki procesu (takie jak temperatury, czasy cyklu, szybkości
podawania, nieobecność, obrót, opóźnienia, lub liczba przerw) powinny być
najważniejszymi punktami skupienia naszych wysiłków. Musimy ustalić pożądane
wartości docelowe tych charakterystyk, które wpływają na najbardziej produktywne
funkcjonowanie procesu, a potem monitorować, jak blisko lub jak daleko jesteśmy od tych
docelowych wartości. Jeżeli informacje te są zebrane i zinterpretowane we właściwy
sposób, mogą one pokazać, czy proces działa w sposób zwykły (normalny), czy
odbiegający od zwykłego. Wtedy mogą być podjęte stosowne działania, gdy takie są
potrzebne, dla skorygowania procesu lub właśnie wytworzonego wyjścia. Jeżeli działanie
jest wymagane, musi być przeprowadzone we właściwym czasie i musi być właściwe, w
przeciwnym razie wysiłki przy zbieraniu informacji staną się bezużyteczne.
Oddziaływanie na proces - Oddziaływanie na proces często jest najbardziej ekonomiczne,
gdy podjęte jest w celu zapobiegania, aby ważne charakterystyki nie odchylały się zbyt
daleko od wartości docelowych. Utrzymuje to stabilność i zmienność wyjścia procesu w
zakresie dopuszczalnych granic. Działanie takie może się składać ze zmian w operacjach
lub bardziej podstawowych elementach procesu. Wydruki działań powinny być
monitorowane i powinny być podejmowane dalsze analizy i działania, jeśli są tylko
konieczne. Oddziaływanie na wyjściu - działanie na wyjściu jest najmniej ekonomiczne
gdy jest ono ograniczone do wykrywania i korygowania wyrobów będących poza
specyfikacjami, bez ukierunkowania się na zasadnicze problemy procesu.
17
3. KLASYFIKACJA I OPIS METOD POMIAROWYCH
3.1 Podział metod pomiarowych.
Metoda Pomiarowa
bezpośrednia
Sposób postępowania
Podstawowa
(bezwzględna)
pośrednia
złożona
Porównawcza
(względna)
Bezpośredniego
porównania
różnicowa
wychyleniowa
Efekt mierzenia
Przez
podstawienie
Przez
przedstawienie
koincydencyjna
Zerowa
Rys 8. Podział metod pomiarowych.
Pomiar – czynności doświadczalne mające na celu wyznaczenie wartości wielkości.
Zasada pomiaru – zjawisko fizyczne stanowiące podstawę pomiaru
•
zjawisko termoelektryczne wykorzystywane do pomiaru temperatury,
•
równowaga pary sił w wagach równoramiennych,
•
spadek ciśnienia wykorzystywany do pomiaru natężenia przepływu.
Sposób pomiaru – kolejności niezbędnych do wykonania pomiaru.
Czynności pomiarowe mogą zawierać obliczenia niezbędne do wyznaczenia wartości
wielkości mierzonej.
Metoda pomiarowa – sposób porównywania zastosowany w pomiarach.
•
Podstawowa metoda pomiarowa,
•
Porównawcza metoda pomiarowa,
•
Zerowa metoda pomiarowa,
18
Metoda pomiarowa bezpośrednia – metoda pomiarowa, dzięki której wartość wielkości
mierzonej otrzymuje się bezpośrednio, bez potrzeby wykonywania dodatkowych obliczeń
opartych zależności funkcyjnej wielkości mierzonej od innych wielkości.
•
Pomiar masy na wadze z podzielnią albo na wadze równoramiennej,
•
Pomiar długości za pomocą przymiaru kreskowego lub końcowego.
Metoda pomiarowa pośrednia – metoda pomiarowa, dzięki której wartości mierzonej
wielkości otrzymuje się pośrednio z pomiarów bezpośrednich innych wielkości
związanych odpowiednio z wielkością mierzoną.
•
Pomiar gęstości ciała na podstawie pomiarów jego masy i jego objętości,
•
Pomiar oporu właściwego przewodnika na podstawie pomiarów jego oporu
elektrycznego, jego długości i pola jego przekroju.
Metoda pomiarowa złożona – metoda polega na bezpośrednim wyznaczeniu wartości
pewnej ilości wielkości albo na pośrednim wyznaczeniu wartości tych wielkości
grupowych w różnych kombinacjach, co wymaga rozwiązań odpowiednich układów
równań.
•
Pomiar masy poszczególnych odważników kompletu, gdy znana jest masa jednego
z nich i gdy są znane wyniki porównań mas różnych możliwych kombinacji
odważników.
Metoda pomiarowa podstawowa – metoda pomiarowa oparta na pomiarach wielkości
podstawowych wchodząca do definicji wielkości.
•
Pomiar wartości ciśnienia za pomocą manometru obciążnikowo tłokowego opiera
się na definicji ciśnienia jako stosunku siły normalnej do pola przekroju, na które
działa ta siła;
•
Pomiar przyspieszenia siły ciężkości opiera się na pomiarze drogi przebytej
określonym czasie przez ciało spadające swobodnie;
•
Pomiar wartości ciśnienia za pomocą manometru U – rurkowego wyprowadza się
najpierw z pomiarów gęstości, przyspieszenia siły ciężkości i długości; pomiar
dwóch pierwszych sprowadza się do pomiarów wielkości podstawowych:
długości, masy i czasu.
Metoda pomiarowa porównawcza – metoda pomiarowa oparta na porównaniu wartości
wielkości mierzonej z inną wartością tej samej wielkości lub też ze znaną wartością innej
wielkości jako funkcji wielkości mierzonej.
19
Metoda pomiarowa bezpośredniego porównania – metoda pomiarowa porównawcza
polegająca na porównywaniu całkowitej wartości wielkości mierzonej z wartością znaną
tej samej wielkości, która w postaci wzorca wchodzi bezpośrednio do pomiaru
•
Pomiar długości za pomocą przymiaru z podziałkom,
•
Pomiar objętości ciecz za pomocą pojemnika,
•
Pomiar masy za pomocą wagi przez zrównoważenie mierzonej masy ciała,
odpowiednią sumą mas odważników .
Metoda pomiarowa przez podstawienie – metoda pomiarowa bezpośredniego porównania
polegająca na zastąpieniu wartości wielkości mierzonej wartością znaną tej samej
wielkości, wybraną w ten sposób, aby skutki wywołane przez te dwie wartości były takie
same.
•
Wyznaczanie masy za pomocą wagi i odważników metodą podstawieniową Bordy.
Metoda pomiarowa przez przestawienie – metoda pomiarowa bezpośredniego porównania
polegająca na zrównoważeniu wartości wielkości mierzonej najpierw ze znaną wartością A
tej wielkości, następnie na podstawieniu wielkości mierzonej na miejsce A i ponownym
zrównoważeniu jej ze znaną wartością B tej samej wielkości. Jeżeli pozycja wskazówki
pokazującej równowagę jest jednakowa obu przypadkach to wartości wielkości mierzonej
jest równa √AB
•
Wyznaczenie masy za pomocą wagi i odważników kontrolnych.
Metoda pomiarowa różnicowa – metoda pomiarowa porównawcza oparta na porównaniu
wartości wielkości mierzonej z niewiele różniącą się od niej znaną wartością tej samej
wielkości i pomiarze różnicy tych wartości.
•
Porównanie dwóch długości za pomocą komparatora,
•
Porównanie dwóch napięć elektrycznych za pomocą woltomierza różnicowego.
Metoda pomiarowa zerowa – metoda różnicowa polegająca na sprowadzeniu od zera
różnicy między wartościami wielkości mierzonej a wartością znaną tej samej wielkości z
nią porównywaną.
•
Wyznaczenie masy za pomocą wagi końcowe i początkowe równowagi są takie
same,
•
Wyznaczenie napięcia elektrycznego za pomocą kompensatora,
•
Pomiar oporności elektrycznej za pomocą mostka Wheatstone’a i wskaźnika zera.
20
Metoda pomiarowa koincydencyjna – metoda różnicowa polegająca na wyznaczeniu przez
obserwację Koincydencji pewnych wskazów lub sygnałów małej różnicy między wartością
wielkości mierzonej i z nią porównywanej wartości znanej tej samej wielkości.
•
Pomiar czasu przy obserwacji koincydencji wzorcowych sygnałów czasu z
sygnałami porównywanego zera,
•
Pomiar długości przedmiotu za pomocą suwmiarki z noniuszem.
Metoda pomiarowa wychyleniowa – metoda pomiarowa porównawcza polegająca na
określeniu wartości wielkości mierzonej przez wychylenie urządzenia wskazującego.
•
Pomiar ciśnienia za pomocą manometru ze wskazówką,
•
Pomiar napięcia elektrycznego za pomocą woltomierza z plamka świetlną,
•
Pomiar masy za pomocą wagi uchylnej.
3.2 Cechy metod pomiarowych.
Pod pojęciem statystyki należy rozumieć metody pozyskiwania, gromadzenia
porządkowania i analizy danych obserwacyjnych tak, aby na podstawie zdobytego
materiału móc podjąć praktyczne decyzje w produkcji.
Produkowany element charakteryzuje się najczęściej wieloma cechami. Zwykle mówi się
nie o elementach, wyrobach, częściach, wzorcach i tym podobnych lecz o nośnikach cech.
Ich przejawem nazywa się wynik obserwacji danych cech. Przejawem cech mierzalnych są
wartości pomiarowe, przejawy cech zliczanych nazywa się wartościami numeracyjnymi.
Cechy o ciągłym rozkładzie wartości.
Podczas obserwacji cechy te dostarczają wyników pomiarowych. Umieszczone na osi
liczbowej wartości pomiarów zająć mogą każdy dowolny punkt tej osi. Dla przykładu:
-wiek osoby
-miesięczne koszty produkcji.
Cechy o dyskretnym rozkładzie wartości:
Wyniki ich obserwacji są liczbami całkowitymi. Miedzy dwoma sąsiednimi liczbami na
wartości żadna inna obserwacja nie jest możliwa. Dla przykładu:
-liczba braków w próbie
-liczba zakłóceń produkcji
-liczba części produkowanych w ciąga godziny.
21
Cechy porządkowe:
O cechach tych mówimy gdy obserwacja nośnika cechy dostarcza wyników dających
umieścić się na skali porządkowej. Dla przykładu:
- wydajność: niewystarczająca, wystarczająca, dobra, nadzwyczajna.
Cechy znamionowe:
Mówimy o nich kiedy uzyskiwanym wartościom cechy nie można przypisać żadnego
znaczenia porządkującego. Wynik obserwacji cechy umieścić można tylko na skali
nominalnej. Kategorie nie podlegają żadnej hierarchii. Można przyjąć dowolne
uporządkowanie wartości. Dla przykładu
- płeć: żeński/męski
- aktywność: aktywny/nieaktywny.
Celem analizy prób statystycznych jest uogólnienie obserwowanego zachowania
interesującej nas cechy na stanowiącą podstawę tej analizy populacje generalną.
Prowadzi to do wykorzystania różnego typu rozkładów statystycznych, które albo:
- jako rozkłady prawdopodobieństwa opisują populację z której pochodzą wartości
obserwowane
albo
- jako rozkłady parametryczne znajdują zastosowanie przy obliczaniu wskaźników
statystycznych jak przedziały przypadkowości rozrzutu albo przedziały ufności, bądź w
testach statystycznych.
Zależnie od typu wartości cech wyrobu rozkładu prawdopodobieństwa dzielą się na:
- dyskretne
- rozkład hipogeometryczny
- rozkład dwumianowy
- rozkład Poissona
- ciągłe
- rozkład normalny
- rozkład Weibulla
- rozkład Rayleigh
- rozkład normalny zwinięty
- funkcja Pearsona
- transformacja Johnsona
- rozkład mieszany.
Do rozkładów parametrycznych należą:
22
- rozkład normalny
- rozkład Studenta
- rozkład Snedecora
3.3 Sterowanie systemem pomiarowym.
Celem sterowania systemem pomiarowym jest podejmowanie optymalnych
ekonomicznie decyzji dotyczących działań wpływających na proces. Oznacza to
zrównoważenie konsekwencji podejmowania działania, gdy jest ono zbędne (nadmierne
sterowanie lub "wtrącanie się") w przeciwieństwie do nie podjęcia działania, gdy jest ono
niezbędne (niewystarczające sterowanie). Z niebezpieczeństwami tymi trzeba jednak
umieć sobie radzić w kontekście wcześniej wspomnianych dwóch źródeł zmienności -
przyczyn specjalnych i zwykłych .
Mówi się, że proces działa w stanie sterowania statystycznego, gdy jedynymi źródłami
zmienności są zwykle przyczyny. Jedną z funkcji systemu sterowania procesem jest wtedy
zapewnienie sygnałów statystycznych, gdy obecne są specjalne przyczyny zmienności, i
aby zapobiegać dawaniu fałszywych sygnałów, gdy takie przyczyny nie występują.
Umożliwia to podejmowanie prawidłowego działania (działań) w odniesieniu do tych
specjalnych przyczyn (albo usunięcia ich, albo, gdy są korzystne, wprowadzenia ich jako
stałego sposobu postępowania).
Przy omawianiu zdolności procesu, rozważyć trzeba dwa nieco kontrastujące ze sobą
zagadnienia:
Zdolność procesu jest ustalana zmiennością pochodzącą od zwykłych przyczyn. Ogólnie
przedstawia ona najlepsze osiągi (tj. minimalny rozrzut) samego procesu, jak pokazano
podczas funkcjonowania procesu w stanie sterowania statystycznego, w czasie gdy dane
były zbierane, niezależnie od tego, gdzie mogą być granice specyfikacji w stosunku do
położenia i/lub rozrzutu procesu.
Klienci jednak, wewnętrzni lub zewnętrzni, zazwyczaj są zainteresowani ogólnym
wynikiem procesu, i tym, jak się on ma w odniesieniu do ich wymagań (określonych jako
specyfikacje), niezależnie od zmienności procesu.
Ogólnie, odkąd system pomiarowy sterowany może być opisany przy pomocy
przewidywalnego rozkładu, z tego rozkładu można oszacować proporcje części
mieszczących się w granicach specyfikacji. Tak długo, jak proces jest w stanie sterowania
statystycznego i nie ulegnie zmianie jego położenie, rozrzut lub kształt, będzie on wciąż
wytwarzał części mieszczące się w specyfikacji w tym samym rozkładzie. Jeżeli rozrzut
23
procesu jest nie do przyjęcia, strategia ta umożliwia wytworzenie minimalnej liczby sztuk
części nie mieszczących się w specyfikacji. Od działania na system mającego na celu
ograniczenie zmienności pochodzącej od zwykłych przyczyn jest zazwyczaj wymagane
poprawienie zdolności procesu (i jego wyjścia) celem konsekwentnego spełnienia
specyfikacji. W skrócie: proces najpierw musi być doprowadzony do stanu sterowania
statystycznego poprzez wykrywanie specjalnych przyczyn zmienności i przeprowadzanie
związanych z nimi działań. Wtedy jego osiągi są przewidywalne, a jego zdolność do
spełnienia oczekiwań klienta może być oceniona. Jest to podstawą do ciągłego
doskonalenia.
Każdy proces podlega klasyfikacji opartej na zdolności i sterowaniu. Proces może być
zakwalifikowany do jednego z 4 przypadków, jak podano to w tablicy poniżej:
KONTROLA
SPEŁNIENIE WYMAGAŃ
JEST POD KONTROLĄ
NIE JEST POD KONTROLĄ
AKCEPTOWALNE
PRZYPADEK 1
PRZYPADEK 3
NIEAKCEPTOWALNE
PRZYPADEK 2
PRZYPADEK 4
Proces musi znajdować się w stanie sterowania statystycznego, a właściwa zmienność
(zdolność) musi być mniejsza, niż tolerancja wynikająca z dokumentacji, aby proces mógł
być zaakceptowany. Idealną sytuacją jest mieć proces jak w Przypadku 1, gdzie proces jest
w stanie sterowania statystycznego, a jego zdolność do spełnienia wymagań jest możliwa
do zaakceptowania. W Przypadku 2 proces jest w stanie sterowania statystycznego, ale
posiada nadmierną zmienność spowodowaną zwykłymi przyczynami, która musi zostać
zredukowana. W Przypadku 3 proces spełnia wymagania w sposób akceptowalny, ale nie
jest w stanie sterowania; należy wykryć specjalne przyczyny zmienności i muszą być w
stosunku do nich podjęte odpowiednie działania. W Przypadku 4 proces ani nie jest w
stanie sterowania, ani nie jest możliwy akceptacji; muszą być zredukowane zarówno
zwykle, jak i specjalne przyczyny zmienności.
W niektórych okolicznościach kupujący może zezwolić producentowi na prowadzenie
procesu, nawet jeżeli jest to proces z Przypadku 3. Okoliczności te mogą dotyczyć
następujących sytuacji:
•
Klient nie jest wrażliwy na zmienność w zakresie specyfikacji .
24
•
Nakłady ekonomiczne związane z działaniami dotyczącymi specjalnej przyczyny
przekraczają korzyści dla któregoś lub wszystkich klientów. Specjalne przyczyny
dopuszczalne pod wpływem czynników ekonomicznych mogą obejmować zużycie
narzędzi, przeszlifowanie narzędzi, zmiany cykliczne (sezonowe) itp.
•
Przyczyna specjalna została zidentyfikowana i udokumentowana jako konsekwentna i
przewidywalna.
W tych sytuacjach kupujący może wymagać, aby:
•
Proces był dojrzały, tj. proces przeszedł kilka cykli ciągłego doskonalenia.
•
Dla specjalnych przyczyn, które mają zostać dopuszczone, pokazano, że występują w
sposób konsekwentny przez określony i znany okres czasu.
•
Funkcjonuje plan kontroli procesu, który zapewnia zgodność całego wyjścia ze
specyfikacją procesu i zabezpiecza przed innymi specjalnymi przyczynami lub
niekonsekwencjami w dopuszczonej specjalnej przyczynie.
Zasadą przyjętą w przemyśle samochodowym jest liczenie zdolności tylko po
zademonstrowaniu, że proces jest w stanie sterowania statystycznego. Zdolność jest
stosowana jako podstawa dla przewidywania, jak proces będzie przebiegał przy użyciu
danych statystycznych pobranych z procesu. Prognozowanie w oparciu o dane z procesu,
który nie jest stabilny i powtarzalny w czasie ma małą wartość. Przyczyny specjalne są
odpowiedzialne za zmiany kształtu, rozrzutu lub położenia rozkładu procesu, i dlatego
mogą niespodziewanie unieważnić przewidywania co do zdolności procesu. Różne
wskaźniki i zależności dla zdolności oparte są, między innymi, na wymaganiu, aby dane
stosowane do ich obliczania były zbierane z procesów, które są w stanie sterowania
statystycznego.
Wskaźniki zdolności mogą być podzielone na dwie kategorie: krótkoterminowe i
długoterminowe. Krótkoterminowe rozważania dotyczące zdolności są oparte o pomiary
zebrane z jednego przebiegu operacji. Dane są analizowane przy użyciu karty kontrolnej,
aby zapewnić, że proces jest w stanie sterowania statystycznego. Jeżeli nie znaleziono
żadnych przyczyn specjalnych, można wyliczyć wskaźnik krótkoterminowy. Jeżeli proces
nie jest w stanie sterowania, wymagane będą działania dotyczące przyczyn specjalnych.
Ten typ badań jest stosowany dla weryfikacji początkowych sztuk wytwarzanych przez
proces do zatwierdzenia przez klienta. Innym zastosowaniem, czasami nazywanym
badaniem zdolności maszyny, jest weryfikacja, czy nowy lub zmodyfikowany proces
przebiega aktualnie w zakresie parametrów technicznych.
25
Gdy stwierdzono, że system jest stabilny i zdolny do spełnienia wymagań w krótkim
okresie, w następnej kolejności przeprowadzany jest inny rodzaj badań. Rozważania
zdolności długoterminowej obejmują pomiary, które są zbierane na przestrzeni dłuższego
okresu czasu. Dane powinny być zbierane przez wystarczająco długi czas, i w taki sposób,
aby objęły wszystkie spodziewane źródła zmienności. Wiele z tych źródeł zmienności nie
może być zaobserwowana w badaniach krótkoterminowych. Gdy zbierze się wystarczającą
ilość danych, są one nanoszone na kartę kontrolną, i, jeżeli nie zostaną znalezione żadne
specjalne przyczyny, mogą zostać wyliczone długoterminowe wskaźniki zdolności i
osiągów. Jednym z zastosowań tych badań jest opisanie możliwości spełniania wymagań
klienta na przestrzeni długich okresów czasu, z uwzględnieniem wielu możliwych źródeł
zmienności - tj. określić ilościowo osiągi procesu.
Opracowano szereg różnych wskaźników ponieważ nie można zastosować w sposób
uniwersalny pojedynczego wskaźnika do wszystkich procesów, oraz żaden dany proces nie
może być w pełni opisany przy użyciu jednego wskaźnika. Na przykład, zaleca się
używanie wskaźników tj. C
p
i C
pk
, aby były one połączone z technikami graficznymi dla
lepszego zrozumienia zależności między szacowanym rozkładem i granicami specyfikacji.
W pewnym sensie sprowadza się to do porównania (i próby dopasowania) „głosu z
procesu” do „głosu klienta”.
Wszystkie wskaźniki mają słabości i mogą wprowadzać w błąd. Wszelkie wnioski
wyciągnięte z wyliczonych wskaźników powinny być kierowane przez odpowiednią
interpretację danych, z których te wskaźniki są wyliczone.
Zakłady samochodowe mają zestaw wymagań dla zdolności procesu. W zakresie
odpowiedzialności czytelnika leży skomunikowanie się ze swoim klientem i określenie,
jakich wskaźników ma używać. W niektórych przypadkach najlepszym wyjściem może
być nie stosowanie jakichkolwiek wskaźników. Ważne jest zapamiętanie, że większość
wskaźników zdolności zawiera we wzorze specyfikację dla wyrobu. Jeżeli specyfikacja
jest nieodpowiednia, lub nie jest oparta na wymaganiach kupującego, można stracić dużą
ilość czasu i wysiłku próbując zmusić proces do osiągnięcia zdolności.
26
1. ANALIZOWANIE
Co może iść źle?
jak proces powinien działać?
Jak przebiega proces?
Osiąganie stanu sterowania statycznego
Określanie zdolności.
Rys 9. Stadia i cykle systemu pomiarowego .
3.4 Cykl doskonalenia systemu pomiarowego i sterowanie systemem.
Przy stosowaniu koncepcji ciągłego doskonalenia systemu pomiarowego istnieje
trzyetapowy cykl, który może być użyteczny . Każdy proces podlegający doskonaleniu
może być umieszczony w którymś miejscu tego cyklu.
Podstawowe rozumienie systemu pomiarowego jest rzeczą konieczną przy rozważaniu
udoskonalenia procesu. Pomiędzy pytaniami, na które trzeba sobie odpowiedzieć dla
lepszego rozumienia procesu, są następujące:
27
2. UTRZYMANIE
Monitorowanie osiągów systemu pomiarowego
wykrywanie specjalnych przyczyn
zmienności i działanie
ukierunkowane. na
nie
PLANOWANIE
DZIAŁANIE
OKREŚLENIE DZIAŁAŃ DLA
OSIĄGNIĘCIA
PLANOWANEGO STANU
PLANOWANIE
DZIAŁANIE
PLANOWANIE
DZIAŁANIE
OKREŚLENIE DZIAŁAŃ DLA
OSIĄGNIĘCIA
PLANOWANEGO STANU
OKREŚLENIE
DZIAŁAŃ DLA
OSIĄGNIĘCIA
PLANOWANEGO
STANU
OCENA STANU PO
DZIAŁANIU
OCENA STANU PO
DZIAŁANIU
3. ULEPSZANIE SYSTEMU
zmienianie procesu dla lepszego rozumienia zwykłych
przyczyn zmienności
regulowanie zmienności od zwykłych przyczyn.
•
Co system powinien robić?
•
Co może pójść źle?
- Co może się zmieniać w tym systemie?
- Co już wiemy o tej zmienności tego systemu pomiarowego?
- Które parametry są najbardziej czułe na zmienność?
•
Co system robi?
- Czy system pomiarowy ten wytwarza odpady lub wyjście które wymaga
przerabiania?
- Czy system ten wytwarza wyjście, które jest w stanie sterowania statystycznego?
- Czy system jest wydolny?
- Czy jest wiarygodny (pewny)?
Można użyć wielu technik dla uzyskania lepszego zrozumienia systemu pomiarowego,
takich, jak spotkania grup, konsultacje z osobami, które rozwijają lub obsługują system
pomiarowy („eksperci w danej sprawie”), poprzez przegląd historii procesu lub budowy
Analizy Potencjalnych Wad i ich Skutków (FMEA). Karty kontrolne opisane w tym
podręczniku są potężnym narzędziem, które powinno być używane. Te proste metody
statystyczne pomagają w odróżnieniu zwykłych i specjalnych przyczyn zmienności.
Specjalne przyczyny zmienności muszą być przypisane do źródła pochodzenia. Gdy
osiągnięto stan sterowania statystycznego, może już być wyliczony wskaźnik zdolności,
aby wykorzystać go przy ocenianiu bieżącego poziomu procesu w odniesieniu do
zdolności długoterminowej.
Gdy już osiągnięto lepsze rozumienie systemu pomiarowego, musi być utrzymywany na
odpowiednim poziomie zdolności. Osiągi systemu pomiarowego muszą być
monitorowane, aby możliwe było podejmowane efektywnych środków mających na celu
zapobieganie niepożądanym zmianom. Pożądane zmiany także muszą być zrozumiane i
zinstytucjonalizowane. Ponownie proste metody statystyczne, wyjaśnione w tym
podręczniku mogą wam pomóc. Opracowywanie i stosowanie kart kontrolnych oraz
innych narzędzi pozwoli na skuteczne monitorowanie procesu. Gdy użyte narzędzie
sygnalizuje, że system pomiarowy uległ zmianie, mogą być podjęte szybkie i skuteczne
środki dla wyizolowania przyczyny (przyczyn), oraz odpowiednie działania w stosunku do
niej (do nich).
Zbyt łatwe jest zatrzymanie się na drugim etapie cyklu. Ważne jest uświadomienie sobie,
że istnieje granica zasobów w każdym przedsiębiorstwie. Niektóre, być może liczne
28
procesy, powinny pozostać na takim etapie. Jednakże niepowodzenie w przejściu do
następnego etapu w cyklu może spowodować istotne osłabienie konkurencyjności.
Osiągnięcie „klasy światowej” wymaga stałych i planowych wysiłków dla przesunięcia się
do następnego etapu cyklu doskonalenia systemu pomiarowego.
Do tego miejsca, wysiłek był ukierunkowany na stabilizację systemu pomiarowego i jego
utrzymanie. Jednak, dla niektórych p, klient będzie czuły nawet na zmienności w granicach
specyfikacji technicznych. W takich przypadkach nie będzie można zdać sobie sprawy ze
znaczenia ciągłego doskonalenia, dopóki zmienność nie zostanie zredukowana. W tym
miejscu mogą być użyteczne dodatkowe narzędzia dla analizy zdolności systemu,
włączając w to bardziej zaawansowane metody statystyczne, takie, jak planowanie
eksperymentów oraz zaawansowane karty kontrolne. Załącznik H podaje kilka pomocnych
odnośników przeznaczonych do dalszych studiów. Doskonalenie systemu pomiarowego
poprzez redukowanie zmienności zazwyczaj obejmuje celowe wprowadzenie zmian i
mierzenie ich efektów. Celem tego działania jest lepsze zrozumienie, tak, aby zwykłe
przyczyny zmienności mogły być w dalszym ciągu redukowane. Celem tej redukcji jest
poprawiona jakość przy niższym koszcie. Gdy zostały ustalone nowe parametry procesu,
cykl wraca z powrotem do fazy analizowanie systemu pomiarowego.
Gdy tylko zmiany zostały zrobione, stabilność systemu pomiarowego wymaga ponownego
potwierdzenia. .
29
4. WALIDACJA METOD POMIAROWYCH
4.1 Podstawowe pojęcia.
Pomiar:
Zbiór operacji mających na celu wyznaczenie wartości wielkości.
Wielkość (mierzalna):
Cecha zjawiska, ciała lub substancji, która można wyróżnić jakościowo
i wyznaczyć ilościowo.
Wielkość mierzona:
Wielkość określona, stanowiąca przedmiot pomiaru.
Wartość wielkości:
Wyrażenie ilościowe wielkości określonej na ogół w postaci iloczynu
liczby i jednostki miary.
Wartość prawdziwa wielkości:
Wartość rzeczywista; wartość zgodna z definicja wielkości określonej;
wartość, jaka uzyskałoby się jako wynik bezbłędnego pomiaru.
Zasada pomiaru:
Naukowa podstawa pomiaru, np. zjawisko termoelektryczne wykorzystane
do pomiaru temperatury.
Metoda pomiaru:
Logiczny ciąg wykonywanych podczas pomiaru operacji, opisanych
w sposób ogólny (technika pomiaru).
Procedura pomiarowa:
Zbiór operacji opisanych w sposób szczegółowy i realizowanych podczas
wykonywania pomiarów zgodnie z dana metoda (sposób wykonania
pomiaru
Wynik pomiaru:
Wartość przypisana wielkości mierzonej, uzyskana droga pomiaru.
Wartość zaobserwowana:
Wartość właściwości otrzymana w wyniku pojedynczej obserwacji.
30
4.2 Pojecie walidacja.
Walidacja jest potwierdzeniem, przez zbadanie i przedstawienie obiektywnego
dowodu, ze zostały spełnione wymagania dotyczące konkretnie zamierzonego
zastosowania (EN ISO 8402).
Walidacja metody jest to proces ustalania charakterystyki sprawności działania
(charakterystyki roboczej) i ograniczeń metody oraz identyfikacji czynników, które mogą
zmienić te charakterystykę i w jakim zakresie tych zmian. Walidacja metody to proces
sprawdzania, czy metoda jest przydatna do określonych celów, tj. czy można ja zastosować
do rozwiązania określonego problemu (opracowanie metody do określonego
zastosowania). Walidacja to potwierdzenie przez przedstawienie dowodu obiektywnego, ze
zostały spełnione wyspecyfikowane wymagania; proces walidacji może się składać z
następujących działań: wykonanie obliczeń alternatywnych, porównanie nowej
specyfikacji projektu z podobna, podejmowanie badan i prezentacji, przeglądanie
dokumentów przed ich wydaniem (norma PN-EN ISO 9000).
Walidacja jest procesem oceny wyrobów lub metod dla zapewnienia ich zgodności ze
stawianymi im wymaganiami. Wstępnymi warunkami spełnienia tych wymagań są
prawidłowo działającej odpowiednio udokumentowane przyrządy pomiarowe (sprzęt i
oprogramowanie), komputer oraz atestowane metody analityczne. Po wyborze urządzeń i
konkretnej metody oraz stwierdzeniu, że są po walidacji, poddaje się je, przed i po miedzy
analizami próbek, badaniu przystawalności systemu. Ostatecznym celem procesu walidacji
metody jest dostarczenie dowodu, że umożliwia ona niezawodnie i w sposób odtwarzalny
realizacje czynności, jakie ma na celu.
4.3 Walidacja metod pomiarowych i badawczych.
Ogólne czynniki wpływające na niepewność pomiaru można podzielić na trzy grupy
-czynniki techniczne związane z wyposażeniem pomiarowym, metodami pomiaru, jakością
próbek
-czynniki ludzkie
-czynniki środowiskowe.
Czynniki techniczne są ściśle związane z charakterystykami konstrukcyjnymi i
funkcjonalnymi wyposażenia pomiarowego, a także z samym obiektem badań.
Wpływ tych czynników można zminimalizować m.in. przez dokładne zdefiniowanie
wyposażenia pomiarowego wykorzystywanego w danej metodzie pomiarowej,
31
ustanowienie procedur nadzorowania wyposażenia zapewnienie spójności pomiarowej z
wzorcami wyższego rzędu.
Czynniki ludzkie są ściśle związane z kompetencjami personelu lab. określanymi przez
wykształcenie, szkolenie w miejscu pracy zdobyte doświadczenie.
Czynniki środowiskowe dotyczą głównie warunków otoczenia w jakich przeprowadzone
są badania .
Wpływ tych czynników powinien być uwzględniony w stosowanych metodach
pomiarowych.
Sposób postępowania podczas walidacji metody pomiarowej pomiarowej jest uzależniony
od tego czy jest to
-nowa metoda
-metoda stosowana winnych laboratoriach
-modyfikacja stosowanej metody
-metoda standardowa
Start
Sprecyzowanie
wymagań
Specyfikacja
metody pomiarowej
Specyfikacja sposobów
oceny niepewności
Tworzenie niepewnosci
Czy spełnione
wymagania
Metoda
zwalidowana
Tak
Nie
Rys.10. Procedura walidacji metod pomiarowych.
4.4 Walidacja nowej metody
Głównym celem walidacji metody pomiarowej jest wykazanie że uzyskane wyniki
obarczone są niepewnością nie większą od wymaganej przez klienta.
32
Proces walidacji jest w tym przypadku ściśle powiązany za procedurą doboru lub
opracowania nowej metody .
Dobór metody do wymagań klienta.
start
Przeprowadzić
walidację metody
Opracować nową
metodę
Czy walidacja dała
pozytywny wynik
Wykonać badania
Sprawdzić spełnienie
wymagań
koniec
Wybrać istniejącą meto
dę lub opracować nową
Wykonanie badań
nie jest możliwe
Czy klient zgadza się
na zmianę wymagań
Czy możliwe jest
opracowanie nowej
metody
Nie
Tak
Nie
Tak
Tak
Nie
Rys.11. Dobór metody do wymagań klienta.
Proces walidacji można podzielić na następujące etapy:
-planowanie walidacji
-ustalenie wymagań
-weryfikacja projektu
-zaplanowanie testów
-wykonanie testów
-ocena wyników.
W przypadku tworzenia nowej metody wymagania te powinny być tworzone z przyszłym
użytkownikiem ponieważ wtedy można najlepiej określić jej funkcjonalność.
33
Specyfikacja
wymagań klienta
Kwalifikacja
działania
Specyfikacja
funkcjonalna
Kwalifikacja
operacyjna
Specyfikacja projektowa
aparatury badawczej
Kwalifikacja instalacji
aparatury
Wdrażanie metody
Rys.12. Schemat „modelu V” walidacji.
Każdemu etapowi tworzenia metody przypisane są odpowiednie etapy kwalifikacji
ze względu na błędy jakie za sobą niesie wykonywanie tej samej metody w innych
warunkach środowiskowych. Dzięki temu można mieć większe zaufanie do tego że
tworzona metoda będzie spełniała podstawowe jej wymagania.
Specyfikacja wymagań powinna zawierać metody oraz opisywać oczekiwania jakie
powinna spełniać metoda i jej oprogramowanie. Tworząc plan walidacja w szczególności
opracowując testy do sprawdzenia przyszłej metody, należy tak je skonstruować aby w
możliwie wyczerpujący sposób można było sprawdzić poprawność jej działania.
Specyfikacja funkcjonalna powinna szczegółowo opisywać funkcje metody.
Ma ona odniesienie do etapu wdrażania metody obejmującego kwalifikację operacyjną
oraz testowanie wszystkich krytycznych funkcji metody . Powinna być ona tworzona jak
poprzednia przy współpracy z przyszłym użytkownikiem.
Specyfikacja projektowa powinna zdefiniować metodę w taki sposób, aby było możliwe jej
opracowanie. Podczas walidacji metody pomiarowej należy zwrócić szczególna uwagę na
ocenę powtarzalności i odtwarzalności wybranej metody.
W celu wyznaczenia odtwarzalności metody pomiarowej należy dokonać jej sprawdzenia
w rożnych warunkach, którą można uzyskać badając metodę w różnych laboratoriach.
34
Walidacja powinna rozpocząć się od etapu planowania. W planie walidacji powinny
znaleźć odzwierciedlenie następujące elementy:
-precyzyjne określenie odpowiedzialności wraz z przypisaniem jej do poszczególnych
osób prowadzących walidację
-wykaz dokumentów definiujących metodę i jej przeznaczenie
-relacje metody z innymi elementami
-wykaz parametrów kontrolnych wraz ze wskazaniem parametrów krytycznych.
Ważnym krokiem wstępnym w procesie planowania walidacji jest określenie złożoności
metody. Zespół walidacyjny powinien podczas kwalifikacji wstępnej dokonać sprawdzenia
dostępności wszystkich niezbędnych dokumentów takich jak specyfikacja wymagań,
niezbędne procedury testowe oraz wzory protokołów i raportów.
35
Specyfikacja wymagań
Specyfikacja funkcjonalna
Plan walidacji
Przegląd specyfikacji
Przegląd projektu
Specyfikacja
Projekt
Specyfikacja projektowa
Specyfikacja niezbędnego
Sprzętu pomiarowego
Specyfikacja oprogramowania
Tworzenie metody
Tworzenie oprogramowania
Integracja metody z oprogramowaniem
Opracowanie
Opracowanie metody
I przegląd kodu
Kontrola u dostawcy
Kwalifikacja instalacyjna
Kwalifikacja działania
Raport z walidacji
Testowanie modułów metody
Test integracyjny oprogramowania
Test wyposażenia pomiarowego
Testy wstępne
Wdrożenia metody
Instalacja oprogramowania
Instalacja wyposażenia
Integracja oprogramowania
a
Wdrażanie
Testy przyjęcia systemu
Testy przyjęcia
Raport ostateczny z walidacji
Raport
Praca ciągła
Utrzymanie i kontrola bieżąca
Działanie
Rys.13 Powiązanie działań walidacyjnych z poszczególnymi fazami realizacji.
4.5 Badanie równorzędności metod pomiarowych.
Testy istotności pozwalają na porównanie w sposób obiektywny dwóch zbiorów
wyników pochodzących z dwóch metod oraz na stwierdzenie, czy obydwa badania zbiory
należą do tej samej populacji. Stosując testy sprawdza się, czy występują istotne różnice
odchyleń standartowych s
1
oraz s
2
charakterystycznych dla zbiorów uzyskanych z serii 1
oraz z serii 2 i czy istotne statystycznie są różnice średnich
x
x
oraz
2
1
dla obu serii wyników.
36
Negatywne wyniki sprawdzania hipotezy
X
x
x
=
=
2
1
oznaczają, że różnica średnich
jest istotna i że obie serie wyników nie należą do tej samej populacji charakteryzującej się
wartością średnią
X
.
4.6 Zastosowanie testu „F”
Test F – test istotności różnicy precyzji, cechujących obydwie porównywane
metody, polega na porównaniu rozrzutu wyników uzyskanych dwiema metodami w dwóch
seriach pomiarowych 1 oraz 2. Porównywane są dwie wartości odchyleń standartowych s
1
i s
2
dla określenia, czy obydwu badanym seriom można przypisać ten sam rozkład
normalny.
Test F może zatem nam odpowiedzieć na pytanie czy obydwie badane metody, z których
pochodzą dwie serie wyników, są równorzędnie precyzyjne i czy byłoby dozwolone
połączenie wyników pochodzących z obydwu serii w jeden duży zbiór.
Należy sprawdzić hipotezę o równości wariacji w dwóch zbiorach wyników
s
1
2
=s
2
2
=s
2
wyznaczając wartość ilorazu
s
s
F
2
2
2
1
=
dla
ν
ν
2
1
=
(1)
przy takim ustawieniu porównywanych wariacji aby wartość F była zawsze większa od
jedności. Hipoteza jest spełniona, gdy wartość F obliczona jest mniejsza od wartości F
kry
np. na poziomie ufności P=95%. Wartość krytyczna F
kryt
wskazuje, przy jakiej wartości
różnicy wariacji hipoteza przestaje być spełniona.
4.7 Zastosowanie testu „t”
Test t ma na celu zbadanie istotności różnicy wartości średnich dwóch
niezależnych grup wyników i jest badaniem spełnienia hipotezy zerowej H
o
że
x
x
2
1
=
.
Jeśli dane są dwie różne wartości średnie
x
x
oraz
2
1
obliczone dla dwóch serii licząc
odpowiednie N
1
oraz N
2
wyników, sprawdzić, należy czy różnica wartości średnich
37
x
x
2
1
−
jest istotna statystycznie. Proces porównania rozpoczyna się od obliczenia
złożonego odchylenia standardowego s
c
wyrażonego wzorem
(
) (
)
(
)
2
1
1
2
1
2
2
2
1
2
1
−
+
−
+
−
=
N
N
N
s
N
s
s
c
(2)
gdzie s
1
oraz s
2
- odchylenie standardowe serii pomiarowych 1 oraz 2, N
1
oraz N
2
–
liczebność wyników pomiarów wykonywanych w seriach pomiarowych 1 oraz 2 . Różnica
wartości średnich
x
x
2
1
−
wyników uzyskanych w niezależnych seriach pomiarowych
ma rozkład t wyrażony wzorem
N
N
s
x
x
c
t
2
1
2
1
1
1
+
−
=
(3)
Wartość t obliczona jest porównywana z wartością krytyczną t
kryt
którą odczytuje się z
tablic dla poziomu ufności P i dla liczby stopni swobody v obliczonej ze wzoru:
V=N
1
+N
2
-2
jeżeli t<t
kryt
to można przyjąć, że różnica między wartościami średnimi z obydwu metod
nie jest istotna statystycznie, co jest równoznaczne potwierdzeniu poprawności metody.
4.8 Metoda Placketta- Burmana
Testy odporności metod badawczych na czynniki zewnętrzne zostały opracowane
przez Placketta i Burmana . Zasadą tego testu jest założenie, że tzw. główne efekty brane
pod uwagę pochodzą od zmiennych, które są niezależne od efektów innych zmiennych, tak
jakby nie istniały sprzężone ich oddziaływanie.
Plan eksperymentu P-B obejmuje siedem czynników (A-G) zmienianych kolejno w ośmiu
eksperymentach. Każda kolumna planu eksperymentu zawiera równą liczbę znaków (+) (-)
Znaki (+) dla danego czynnika oznacza, że pomiar został wykonany, gdy dany czynnik
38
został podniesiony na wyższy poziom. Znak (-) wskazuje, że wartość czynnika została
obniżona. Wszystkim siedmiu czynnikom nadawano określone wartości przed
wykonaniem każdego z siedmiu pomiarów. Założono, że w trakcie ósmego pomiaru
czynniki są na niskim poziomie i zmiany ich będą przypadkowe.
Rys.14. Plan eksperymentu P-B sprawdzającego odporność metody analitycznej na
zakłócenia .
Eksperyment jest tak skonstruowany że zmiany każdego czterech czynników A(+)
oraz A(-) są skojarzone z czterema przypadkami zmian B(+) oraz B(-) drugiego czynnika.
Jeśli efekt A jest ortogonalny z efektem B to nie powinno to wynikać ze zmiany efektu B.
Tak więc ortogonalność głównych efektów oraz zniekształceń estymacji przez interakcje
stanowią największe problemy testów tego rodzaju.
Opracowanie wyników eksperymentu obejmuje :
- obliczenie wartości każdego z efektów, które stanowią średnią wartość pomiarów
wykonywanych przy wzroście czynnika minus średnia z pomiarów wykonywanych przy
jego spadku. Dla wyników podanych w tablicy powyżej obliczona ze wzoru:
( )
( )
( )
( )
[
]
∑
∑
∑
∑
−
−
+
=
−
−
+
=
B
A
N
N
B
N
A
efektA
2
2
2
(4)
wartość efektu A jest następująca:
pom.
A
B
C
D
E
F
G
testu
1
+
+
+
-
+
-
-
1,1
2
-
+
+
+
-
+
-
6,3
3
-
-
+
+
+
-
+
1,2
4
+
-
-
+
+
+
-
0,8
5
-
+
-
-
+
+
+
6
6
+
-
+
-
-
+
+
0,9
7
+
+
-
+
-
-
+
1,1
8
-
-
-
-
-
-
-
1,4
39
(
) (
)
[
]
75
,
2
4
,
1
0
,
6
2
,
1
3
,
6
1
,
1
9
,
0
8
,
0
1
,
1
8
2
−
=
+
+
+
−
+
+
+
=
efektA
- obliczenie wartości odchylenia standardowego dla dowolnego efektu, np. efektu A
N
s
efektu
s
2
=
(5)
gdzie N- liczba pomiarów , s- odchylenie standardowe pojedynczych pomiarów
- obliczenie wartości t dla wykonania testu t który powinien rozstrzygnąć, czy dany
czynnik np.A, powoduje statystycznie znaczącą różnicę mierzonej wartości
N
s
efektA
śr
efektA
śr
t
s
efektA
śr
2
2
.
.
.
=
=
(6)
Procedury obliczania wartości odchylenia standardowego pojedynczych pomiarów s są
różne :
- można je liczyć jako odchylenie standardowe wewnątrzlaboratoryjne
- można wyznaczyć jego wartość przeprowadzając eksperyment p-B dwa razy w kolejnych
dniach.
4.9 Powtarzalność i odtwarzalność.
Jedną podstawowych zasad doboru sprzętu pomiarowego jest określenie jego
niepewności w stosunku do szerokości pola tolerancji kontrolowanej wielkości. Ponadto na
niepewność kontrolowanej wielkości poza niepewnością samego przyrządu mają wpływ
dodatkowe zakłócenia procesu pomiarowego;
-umiejętności operatorów wykonujących pomiary
-zmieniające się czynniki zewnętrzne
Dlatego też niepewność pomiaru danym przyrządem jest związana z powtarzalnością i
odtwarzalnością.
Na wariancję pomiaru przyrządem pomiarowym składa się wariancja wywołana
powtarzalnością i wariancja wywołana odtwarzalnością.
δ
2
przyrz
=
δ
2
powt
+
δ
2
odtw (7)
W celu zobrazowania wpływu operatora na niepewność pomiaru przedstawiamy przykład
przedstawiający przykład pomiaru grubości 5 elementów przez 2 operatorów z
40
wykorzystaniem czujnika o rozdzielczości 0.01mm. Każdy element był mierzony 3-krotnie
przez jednego i drugiego operatora. Wyniki przedstawiamy w tabelach i graficznie.
Przedstawiony na wykresach rozstęp dotyczy wyników pomiarów uzyskanych przez
danego operatora podczas pomiaru elementów obrazuje on powtarzalność przyrządu
którego miernikiem może być rozstęp:
{ }
{ }
(
)
0
min
max
0
0
1
0
1
0
0
0
1
0
∑
∑
∑
=
=
=
−
=
=
N
R
R
N
n
kn
n
kn
n
X
X
(8)
gdzie
O-liczba operatorów
X
kn
–k-ty wynik pomiaru n-tego elementu
R
UCL
D
4
=
(9)
gdzie D
4
stała zależna od ilości wartości K (K- liczba wyników pomiaru tego samego
elementu) których wyznaczono wartości pojedynczego rozstępu
Operator 1
Orerator2
Element 1
2
3
4
5
Element
1
2
3
4
Próba
Próba
1
8,17 8,2
8,17
8,14
8,16
1
8,16
8,16
8,16
8,16
2
8,16 8,16
8,16
8,12
8,19
2
8,19
8,16
8,15
8,12
3
8,16 8,18
8,16
8,12
8,2
3
8,2
8,2
8,16
8,12
Średnia 8,163 8,18
8,163
8,127 8,183
Średnia
8,183 8,173
8,157 8,133
Rozstęp 0,01 0,04
0,01
0,02
0,04
Rozstęp
0,04
0,04
0,01
0,04
41
Rys.15. Karta kontrolna R rozstępu powtarzalności przyrządu.
0,00
0,03
0,04
0,01
0,02
0,05
0,06
0,07
1
2
3
4
5
Operator1
UCL
0,00
0,03
0,04
0,01
0,02
0,05
0,06
0,07
1
2
3
4
5
Operator2
UCL
42
Współczynnik A2 i D4 służące do wyznaczania granic kontrolnych.
Liczba pom. w podgrupie
A2
D4
2
1,88
3,267
3
1,023
2,575
4
0,729
2,282
5
0,577
2,115
6
0,483
2,004
7
0,419
1,924
8
0,373
1,864
9
0,337
1,816
10
0,308
1,777
11
0,285
1,744
12
0,266
1,716
13
0,249
1,692
14
0,235
1,671
Estymator odchylenia standardowego powtarzalności można wyznaczyć z zależności.
d
R
powt
*
2
=
δ
(10)
d
*
2
-stała zależna od liczby wartości m, na podstawie których wyznaczono wartości
poszczególnych rozstępów oraz liczbę rozstępów g z których wyznaczono rozstęp średni
w naszym przykładzie m=K g=NO
N liczba elementów O liczba operatorów
43
Wartość współczynnika d
2
*
= f(m,g)
m
G
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
1
1,41
1,91
2,24
2,48
2,67
2,83
2,96
3,08
3,18
3,27
2
1,28
1,81
2,15
2,4
2,6
2,77
2,91
3,02
3,13
3,22
3
1,23
1,77
2,12
2,38
2,58
2,75
2,89
3,01
3,11
3,21
4
1,21
1,75
2,11
2,37
2,57
2,74
2,88
3
3,1
3,2
5
1,19
1,74
2,1
2,36
2,56
2,73
2,87
2,99
3,1
3,19
6
1,18
1,73
2,09
2,35
2,56
2,73
2,87
2,99
3,1
3,19
7
1,17
1,72
2,09
2,35
2,55
2,72
2,87
2,99
3,1
3,19
8
1,17
1,72
2,08
2,35
2,55
2,72
2,87
2,98
3,09
3,19
9
1,16
1,72
2,08
2,34
2,55
2,72
2,86
2,98
3,09
318
10
1,16
1,72
2,08
2,34
2,55
2,72
2,86
2,98
3,09
3,18
11
1,16
1,71
2,08
2,34
2,55
2,72
2,86
2,98
3,09
3,18
12
1,15
1,71
2,07
2,34
2,55
2,72
2,85
2,98
3,09
3,18
13
1,15
1,71
2,07
2,34
2,55
2,71
2,85
2,98
3,09
3,18
14
1,15
1,71
2,07
2,34
2,54
2,71
2,85
2,98
3,08
3,18
15
1,15
1,71
2,07
2,34
2,54
2,71
2,85
2,98
3,08
3,18
>15
1,123
1,693
2,059
2,326
2,534 2,704
2,847
2,97
3,078 3,173
Pozostaje pytanie w jaki sposób wpływy operatora na dokonywane pomiary a zatem
odtwarzalność. Można posłużyć się różnicą między max wartością średnią spośród
wartości średnich wyznaczonych z wszystkich pomiarów zrealizowanych przez danego
operatora a wartością minimalną
−
=
∑
∑
−
=
N
N
N
n
o
n
N
n
o
n
o
x
x
R
1
1
min
max
(11)
Wówczas estymator odchylenia standardowego można wyznaczyć z zależności
d
R
o
odtw
*
2
=
δ
(12)
Do wyznaczania odtwarzalności użyliśmy wartości które są obarczone niepewnościami
związanymi z powtarzalnością przyrządu pomiarowego należy skorygować estymator
niepewności odtwarzalności
( ) ( )
NK
odtw
odtw
odtw
2
2
*
δ
δ
δ
−
=
(13)
44
Według QS9000 wyznaczany przedział niepewności odpowiada 99% wiec błąd związany
z powtarzalnością EV i odtwarzalnością AV oraz błąd sumaryczny R&R wynoszą :
EV=5,15
δ
*
powt
AV=5,15
δ
*
odtw
(14)
( ) ( )
2
*
2
*
15
,
5
&
δ
δ
odtw
powt
R
R
+
=
(15)
Pozostaje do wyznaczenia przedział zmienności kontrolowanego parametru który wynosi:
KO
X
k
o
o
k
n
X
∑ ∑
=
,
(16)
Stąd można wyznaczyć estymator odchylenia standardowego produkcji:
{ }
{ }
d
n
n
prod
X
X
*
2
min
max
−
=
δ
(17)
Ostatecznie estymator produkcji wyniesie:
PV=5,15
δ
prod
Rozrzut całkowity TV określony jest jako:
2
2
&
PV
R
R
TV
+
=
(18)
W celu zobrazowania czy badanym urządzeniom pomiarowym o powtarzalności EV
można dokonać pomiaru produktywnych elementów, posłużymy się kartą Shewharta dla
wartości średnich poszczególnych operatorów.
45
Rys.16. Karty kontrolne X
SR
dla poszczególnych operatorów.
Dolną granicę LCL górną granicę UCL wyznaczamy z zależności:
R
A
X
UCL
2
+
=
,
R
A
X
LCL
2
−
=
(19)
11
2
3
4
5
8,12
8,14
8,16
8,18
8,20
UCL
LCL
operator1
11
2
3
4
5
8,12
8,14
8,16
8,18
8,20
UCL
LCL
Operator2
46
Pokazują nam one w których powinien się znaleźć wynik. Jeśli mniej niż 50% znajdzie się
poza granicami wówczas przyrząd jest dobry.
Według wytycznych QS9000 przyjmuje się kryteria:
- R&R/TV<=10% - przyrząd nadaje się do dalszej eksploatacji
- 10%<R&R/TV<=30% - przyrząd nadaje się do kontroli parametrów drugorzędnych
- R&R/TV>30% - przyrząd nie nadaje się do pracy
4.10 Badanie przyrządu do pomiaru.
Błąd odtwarzalności przyrządu pomiarowego przedstawiony powyżej może w
znacznym stopniu przekroczyć odtwarzalność rzeczywistą ze względu na błędy dlatego w
tym przypadku pomiaru dokonamy w taki sposób, aby było możliwe wyznaczenie wartości
min i max kontrolowanego elementu. W przypadku pomiaru elementu walcowego z
wyrażanym błędem kołowości należy poszukać przekroju o wymiarze najmniejszym x
min i największym x max.
W oznaczeniu wymiaru przyjęto :
k=1 +K - kolejne pomiary tego samego elementu realizowane przez tego samego
operatora (K=2 lub 3)
n = 1 + N - kolejne numery mierzonego elementu najczęściej N=5
o = 1 + O - operatorzy (O = 2 lub 3 )
Dla każdego elementu i każdego operatora należy wyznaczyć rozstępy wyniki pomiaru
zarówno dla przekroju min jak i max:
(
)
(
)
max
max
max
min
max
X
X
R
kno
kno
no
−
=
(20)
(
)
(
)
min
min
min
min
max
X
X
R
kno
kno
no
−
=
(21)
A następnie rozstęp średni:
47
ON
R
o
o
n
no
n
no
R
R
2
min
max
∑
∑ ∑
∑
+
=
(22)
Określając wymiar średni każdego elementu zmierzonego przez danego operatora:
K
k
n
kno
k
kno
no
X
X
X
2
max
min
∑ ∑
∑
+
=
(23)
Można obliczyć wymiar średni wszystkich elementów zmierzonych przez operatora:
N
n
no
o
X
X
∑
=
(24)
oraz rozstęp wartości średnich uzyskanych przez operatora:
( ) ( )
X
X
R
o
o
o
min
max
−
=
(25)
Dysponując rozstępem R
o
wartości średnich dla różnych operatorów, można wyznaczyć
błąd z powtarzalnością EV i odtwarzalnością AV oraz błąd sumaryczny R&R.
W celu określenia odchylenia standardowego produkcji należy wyznaczyć wymiar średni
każdego elementu:
O
o
no
n
X
X
∑
=
(26)
a następnie estymator odchylenia standardowego produkcji:
{ } { }
d
X
X
n
n
prod
*
2
min
max
−
=
δ
(27)
48
Pozostaje do wyznaczenia rozrzut wartości zmienności wartości zmienności błędów
kontrolowanych elementów. W tym celu należy obliczyć błąd kształtu dla każdej
wyznaczonej średnicy, każdego elementu zmierzonego przez poszczególnego operatora:
min
max
X
X
kno
kno
kno
−
=
∆
(28)
Następnie rozstęp uzyskany przez każdego z operatorów podczas wyznaczania wartości
błędów kształtu dla poszczególnych elementów:
{ } { }
∆
∆
−
=
kno
kno
no
R
min
max
(29)
Ponadto należy wyznaczyć średni błąd kształtu dla każdego z elementów:
KO
o
k
kno
n
∑ ∑ ∆
∆
=
(30)
a także średni błąd kształtu dla całej badanej populacji:
N
n
∆
=
∆
(31)
oraz rozstęp średni błędów kształtu:
49
{ } { }
∆
∆
−
=
∆
n
n
R
min
max
(32)
Estymator rozstępu błędów kształtu WIV można wyznaczyć z zależności:
WIV=
2
15
,
5
2
*
2
2
*
2
OK
NOd
R
d
R
n
o
no
−
+
∆
∑ ∑
∆
(33)
Rozrzut całkowity TV w stosunku do którego wyznaczane są procentowe udziały
poszczególnych składowych (EV, AV i R&R) określony jest jako:
2
2
2
&
WIV
PV
R
R
TV
+
+
=
(34)
Podobnie jak w poprzednim przypadku jako miernik zdolności jakościowej urządzenia
pomiarowego w wytycznych QS9000 przyjęto stosunek błędów powtarzalności
odtwarzalności R&R do rozrzutu globalnego TV przyjmując poniższe kryteria:
R&R/TV
≤
- nadaje się do dalszej eksploatacji
10%<R&R/TV
≤
30% - przyrząd nadaje się do kontroli parametrów drugorzędnych
R&R/TV>30% - przyrząd nie nadaje się do dalszej eksploatacji.
4.11 Charakteryzacja metrologiczna przyrządu pomiarowego.
Zakres pomiarowy narzędzia pomiarowego - zakres wartości wielkości mierzonej
(albo innych wielkości wyznaczających wielkość mierzoną), dla których narzędzie
pomiarowe może być stosowane z błędem nie przekraczającym dopuszczalnych granic,
bez szkody dla wytrzymałości trwałości narzędzia i bez naruszenia warunków
bezpieczeństwa. Wyróżnia się dolną i górną granicę zakresu pomiarowego. Zastrzeżenie co
do wytrzymałości i zachowania warunków bezpieczeństwa dotyczy sygnałów
pomiarowych, które są nośnikami energii. Na przykład nie można mierzyć ciśnienia rzędu
dziesiątek mega paskali manometrem przeznaczonym do pomiaru ciśnienie rzędu
50
kilkudziesięciu paskali. Przyrządy działający w oparciu o sygnał elektryczny najczęściej są
wielozakresowe. Wówczas jako zakres przyrządu traktuje się zakres największy.
Zakres wskazań narzędzia pomiarowego - zakres wartości wielkości mierzonej, które
mogą być odczytywane na podzielni narzędzia pomiarowego. Często zakres wskazań
pokrywa się z zakresem pomiarowym, ale nie zawsze. Na przykład transametr o zakresie
pomiarowym 0 ÷ 25 mm, ma zakres wskazań ±80 µm.
Wartość działki elementarnej (w
e
) - wartość wielkości mierzonej odpowiadająca zmianie
wskazania o jedną działkę elementarną. Potocznie - całkowicie błędnie - mówi się, że jest
to dokładność narzędzia pomiarowego. Wartość działki elementarnej nie jest ani błędem
narzędzia pomiarowego ani tym bardziej jego dokładnością. Dla urządzeń wskazujących
cyfrowych jest to jednostka wartości z ostatniej (prawej) pozycji wyświetlacza. Na
przykład gdy wskazanie ma postać 20,456mm - wartość działki elementarnej wynosi 0,001
mm.
Długość działki elementarnej (l
e
) - odległość między dwoma sąsiednimi wskazami
mierzona wzdłuż linii podstawowej podziałki. Dla podziałek prostoliniowych jest to
wprost odległość między osiami sąsiednich wskazów. Dla podziałek hakowych, linię
podstawową wyznaczają wewnętrzne końce kresek, lub środki najkrótszych kresek.
Długość działki elementarnej decyduje o wyrazistości podziałki.
- Czułość narzędzia pomiarowego - pochodna wskazania względem wartości
wielkości mierzonej, dla danej jej wartości:
dN
dW
k
=
(35)
gdzie:
W – wskazanie przyrządu pomiarowego,
N – wielkość zmierzona
Czułość może też być wyrażona stosunkiem przyrostu wskazania do przyrostu:
N
W
k
∆
∆
=
(36)
gdzie:
51
∆W – przyrost wskazania przyrządu pomiarowego,
∆N – przyrost wielkości zmierzonej.
Jeśli wartość działki elementarnej i długość działki elementarnej są dla danego
przyrządu stałe, wówczas czułość będzie równa stosunkowi długości działki elementarnej -
l
e
, do wartości działki elementarnej - w
e
. Czułość jest wyrażana jako stosunek jednostki
długości do jednostki wielkości mierzonej (np. mm/V)
W przypadku, gdy wskazanie i wielkość mierzona są tego samego rodzaju czułość jest
przełożeniem.
Poprawność wskazań narzędzia pomiarowego - zdolność do dawania wskazań równych
poprawnym wartościom wielkości mierzonej. Poprawność jest cechą charakteryzującą
narzędzie pomiarowe pod względem jego błędów systematycznych, a więc możliwych do
wyeliminowania z wyniku pomiaru. Miarą poprawności jest błąd poprawności - suma
algebraiczna (wypadkowa) błędów systematycznych, obarczających wskazania narzędzia
pomiarowego w określonych warunkach użytkowania.
Wierność wskazań narzędzia pomiarowego - zdolność do dawania wskazań zgodnych ze
sobą dla tej samej wartości wielkości mierzonej, przy jednoczesnym pominięciu błędów
systematycznych. Rozrzut wskazań narzędzia pomiarowego określa zmienność wyników
w serii pomiarów tej samej wartości wielkości mierzonej. Rozrzut wskazań może być
wyrażony ilościowo przez odchylenie średnie kwadratowe (standardowe) lub zakres
rozrzutu wskazania narzędzia pomiarowego - obszar zmienności wskazań narzędzia
pomiarowego wyrażony różnicą między największym x
max
i najmniejszym x
min
spośród
wskazań w danej serii pomiarów, odpowiadających tej samej wartości wielkości
mierzonej:
min
max X
X
W
−
=
(37)
- Błąd wierności - jeden ze wskaźników rozrzutu wskazań narzędzia pomiarowego
-najczęściej - średni błąd kwadratowy wierności wskazań. Błędy graniczne wierności -
błędy graniczne pojedynczego pomiaru wartości wielkości mierzonej wykonanego w
określonych warunkach użytkowania, z pominięciem błędów poprawności narzędzia
pomiarowego. Błędy graniczne oblicza się zwykle jako iloczyn średniego błędu
kwadratowego wierności współczynnika t:
e
1
=+t
s
e
2
=+t
s
52
W przypadku rozkładu normalnego błędów oraz dostatecznie dużej liczby pomiarów
przyjmuje się na ogół t = 3, co odpowiada prawdopodobieństwu P = 99,73%, że w serii
pomiarów nie będą przekroczone błędy graniczne wierności, dla P = 95% - t = 1,96, a dla
P = 99% - t = 2,58. W metrologii prawnej wyznacza się błędy graniczne wierności
narzędzia pomiarowego jako różnicę algebraiczną największego x
max
i najmniejszego x
min
wskazania przyrządu i dla uproszczenia przyjmuje się, że błędy graniczne wierności są
równe i wynoszą ±0,5 (x
max
– x
min
)
- Stałość narzędzia pomiarowego - zdolność narzędzia pomiarowego do
zachowywania niezmiennych cech metrologicznych w czasie.
- Odwracalność narzędzia pomiarowego - zdolność narzędzia pomiarowego do
dawania tego samego wskazania, gdy tę samą wartość wielkości mierzonej osiąga się
raz przez zwiększanie wartości wielkości mierzonej od wartości mniejszej, drugi raz
przez jej zmniejszanie od wartości większej. Miarą zwrotności jest histereza pomiarowa
- błąd odwracalności charakteryzujący się różnicą wskazań narzędzia pomiarowego,
gdy tę samą wartość wielkości mierzonej osiąga się raz przy zwiększaniu wartości
wielkości mierzonej, drugi raz - przy jej zmniejszaniu.
- Pobudliwość narzędzia pomiarowego - właściwość charakteryzująca zdolność
narzędzia pomiarowego do reagowania na małe zmiany wielkości mierzonej. Próg
pobudliwości to najmniejsza zmiana wartości wielkości mierzonej, która wywołuje
dostrzegalną zmianę wskazania narzędzia pomiarowego.
- Dokładność narzędzia pomiarowego - właściwość charakteryzująca zdolność
narzędzia pomiarowego do wskazywania wartości bliskich rzeczywistej wartości wielkości
mierzonej. Błąd dokładności - wypadkowa wartość błędów narzędzia pomiarowego w
określonych warunkach użytkowania, zawierająca błędy poprawności i błędy wierności
wskazań
- Klasa dokładności - zbiór właściwości metrologicznych, umownie oznaczonych
wartością dopuszczalnego błędu podstawowego W przypadku przyrządów analogowych,
wskazówkowych, klasa dokładności charakteryzuje wartość graniczną niedokładności
wskazań wyrażoną w procentach wartości umownej Wartością umowną jest najczęściej
górna granica zakresu pomiarowego, ale może nią być też wartość wskazana, zakres
wskazań, długość podziałki. Informacje o rodzaju wartości umownej podane są na
przyrządzie w formie odpowiedniego symbolu.
0.5 -przyrząd kl.0.5 dla którego wartością umowną jest zakres pomiarowy.
53
4.12 Przykładowa walidacja przyrządu pomiarowego.
Instrukcja sprawdzania przyrządów suwmiarkowych
Przebieg sprawdzenia
Zakres sprawdzenia przyrządu suwmiarkowego obejmuje:
- oględziny zewnętrzne
-sprawdzenie charakterystyk metrologicznych
Podczas oględzin zewnętrznych należy sprawdzić :
-poprawność oznaczeń
-wyrazistość kres i cyfr na podziałkach i suwaka
- działanie suwaka
-czy część przyrządu suwmiarkowego nie wykazują właściwości magnetycznych
-czy powierzchnie przyrządu suwmiarkowego nie mają wad utrudniających prawidłowe
jego użytkowanie.
Sprawdzenie charakterystyk metrologicznych obejmuje:
-sprawdzenie płaskości i prostoliniowości powierzchni pomiarowych
-płaskość powierzchni sprawdza się za pomocą liniału krawędzi
-szerokość szczeliny świetlnej ocenia się wzrokowo
-szczeliny wzorcowe otrzymuje się przywierając do płaskiej płytki interferencyjnej płytki
wzorcowe
-prostoliniowość szczęk krawędziowych oraz tworzących powierzchni pomiarowych
walcowych suwmiarki sprawdza się za pomocą płytki wzorcowej o dł. minimalnej 12mm.,
jeśli dł. sprawdzanych powierzchni nie przekracza 30mm., obserwując szczelinę świetlną
-nierównoległość dolnej powierzchni płaskiej szczęki suwaka wysokościomierza oraz
rysika można sprawdzić za pomocą czujnika z działką elementarną o wartości 1 m
µ
-pomiary należy wykonywać co najmniej trzech punktach równomiernie rozłożonych w
całym zakresie pomiarowym.
Wyznaczenie błędów wskazań:
-suwmiarka :
-błędy suwmiarki należy wyznaczyć przy pomiarach zewnętrznych, wewnętrznych i
głębokości
-sprawdzenie dokonuje się w co najmniej trzech punktach w przybliżeniu równomiernie
rozłożonych w całym zakresie pomiarowym suwmiarki
54
- do wyznaczania błędów wskazań stosuje się płytki wzorcowe kl. 2
- błędy wskazań suwmiarki przy pomiarach zewnętrznych wyznacza się dokonując
pomiaru stosu płytek wzorcowych w dwóch położeniach a i b przy unieruchomionym i
zwolnionym suwaku jeżeli taka możliwość występuje:
-błędem wskazania suwmiarki w danym punkcie pomiarowym jest większa różnica
między wskazaniem suwmiarki a wymiarem stosu płytek wzorcowych dla położenia a i b
-błędem wskazania suwmiarki jest największa z uzyskanych różnic dla wszystkich
punktów pomiarowych.
Błędy wskazań suwmiarki przy pomiarach głębokości należy wyznaczyć za pomocą
płytek wzorcowych w dwóch punktach zakresu pomiarowego.
Dokumentowanie wyniku sprawdzenia:
Wynik sprawdzenia należy zapisać w protokole.
Protokół sprawdzenia suwmiarki :
1. Nazwa i numer identyfikacyjny przyrządu : suwmiarka jednostronna o zakresie
pomiarowym 140mm., z noniuszem 0,1mm.,
2. Nr. Zgłoszenia:20/2000
3. zgłaszający : Fabryka Urządzeń Mechanicznych
Sprawdzenie stanu ogólnego:
Nie budzi zastrzeżeń
Sprawdzenie odchylenia od wymiaru nominalnego łącznej szerokości szczęk
płaskowalcowych:
-przekrój osiowy +0,02
-przekroje katowe względem przekroju osiowego :+0.02mm.,
Sprawdzenie odchylenia od płaskości i prostoliniowości powierzchni pomiarowych:
- powierzchnie płaski
- przekrój osiowy 0,006mm.,/100mm.,
- przekroje przekątne : 0,006mm.,/100mm.,
-szczęki krawędziowe oraz tworzące powierzchni pomiarowych walcowych:
0,004mm.,/100mm.
Sprawdzenie odchylenia od równoległości powierzchni pomiarowych płaskich
0,01mm., 0,008mm., 0,009mm.,
55
5.PRZYDATNOŚĆ ŚRODKÓW KONTROLNYCH.
5.1 Przydatność środków kontrolnych.
Odbiór maszyny i urządzeń produkcyjnych ,ocena i nadzorowanie procesów i
wyrobów dokonywane są w przypadku cech ilościowych na podstawie wartości
pomiarowych uzyskanych z pomiarów produkowanego elementu albo z parametrów
procesu. Do tego celu używane są standardowe przyrządy pomiarowe bądź też
odpowiednio przystosowane systemy pomiarowe i specjalne czujniki. Decydujące
znaczenie dla poprawności wnioskowania na podstawie danych pomiarowych ma
wykazanie, że użyte tu wartości zebrane zostały z wystarczającą dokładnością w
odniesieniu do tolerancji cechy lub procesu. W przeszłości kontrola przyrządu
pomiarowego dokonywana była głównie w oparciu o zawarte w normach wymagania
minimalne albo kontrole podawanych przez producenta parametrów urządzenia. Sposób
postępowania w przypadku regularnych kwalifikacji i stawianie w nich wymagania wobec
56
maksymalnego rozrzutu wskazań, powtarzalności, itp. definiowane są indywidualnie dla
każdego systemu pomiarowego. Badany jest przy tym w ogólności tylko sam przyrząd w
idealnych warunkach: w laboratorium pomiarowym, przez wyszkolony personel, na
wyidealizowanych wzorcach i standaryzowanymi urządzeniami. Droga postępowania i
sposób kontroli opisane są przykładowo w wytycznych VDI/VDE/DGQ-2618 w formie
instrukcji. Norma taka wymagana jest by móc sprawdzić podawane przez producenta dane
dla nowych przyrządów. Przy regularnych kontrolach i nadzorowaniu środków
kontrolnych metoda ta używana jest natomiast w celu stwierdzenia zmian i wad w samych
urządzeniach.
Ustalona w taki sposób dokładność nie mówi jednak nic o zachowaniu przyrządu w
warunkach rzeczywistych, a w szczególności w sytuacji:
● Pomiarów na stanowisku produkcyjnym
● Pomiarów przez wielu użytkowników
● Przyrządu pomiarowego w systemie pomiarowym
● Pomiarów na rzeczywistych obrabianych elementach
● Zmiennych warunków otoczenia
● Łańcuchów pomiarowych.
Opisaną wyżej metodą można więc dokonać co najwyżej teoretycznej oceny zasadniczej
zdolności przyrządu pomiarowego przy zadanej z góry wielkości tolerancji. By jednak w
sytuacji występowania wymienionych wpływów zewnętrznych móc w warunkach
rzeczywistych stwierdzić czy dokładność lub rozrzut przyrządu wystarczają do pewnego
nadzorowania procesu o być może bardzo małym rozrzucie parametrów, konieczne są inne
procedury i inne sposoby podejścia.
Według zasady Neper Ending Improvement procesy należy rozpatrywać możliwe
niezależnie od tolerancji i mające na celu ciągłe zmniejszenie ich rozrzutu. Wymagania te
oznaczają wzrost dokładności i zmniejszenie rozrzutu systemów pomiarowych. W
przeciwnym wypadku już w trakcie pomiarów następuje klasowanie rejestrowanych
wartości i wyniki stają się mało przydatne do analizy statystycznej.
Wszystkie systemy i przyrządy pomiarowe wskazują jednak określony poziom błędów i
niedokładności pomiarowych. Ważna jest dlatego wiedza o wartości rozrzutu pomiarów
spowodowanego przez nie tak, aby niedokładność te móc utrzymać w rozsądnych i
odpowiednich dla danego rodzaju pomiarów granicach.
W wyniku błędów pomiarowych nigdy nie otrzymamy dokładnie prawdziwej wartości,
dlatego próbujemy zbliżyć się do wartości rzeczywistej na ile to jest możliwe wybierając
57
wartości najbardziej rozsądną, jaka daje się wywnioskować z wartości pomiarowych.
Chcemy przy tym oczywiście uwzględnić mający miejsce rozrzut przypadkowy pomiarów
równocześnie jednak nie zapominając o nieprzypadkowym rozrzucie wyników
pomiarowych.
By określić wielkość rozrzutu pomiarów konieczne jest przeprowadzenie badania
zdolności systemów i przyrządów pomiarowych lub krótko: badań zdolności środków
kontrolnych, często nazywane też badaniem przydatności wzorców pomiarowych.
Pojęcia system pomiarowy nie należy rozumieć tylko jako przyrząd pomiarowy ale jako
sumę wszystkich składników oprzyrządowanie oraz wpływów na proces pomiarowy.
Rys.17. Definicja systemu pomiarowego.
Przykładowo niektóre przyczyny błędów pomiarowych:
● Błędy kształtu i położenia:
własności powierzchni
deformacja obrabianych obiektów
● Błędy w wyniku kolejności i sposobu dokonywania pomiarów:
niedotrzymanie zasady Abbe’go
sposób nastawienia przyrządu
uwzględnienie zasad naprowadzenia przyrządów
58
uwzględnienie ciężaru własnego
kierunek ruchu przyrządu
sposób podejmowania próbek
●Błędy spowodowane przez wzorzec i przyrządy pomiarowe:
błędy samych wzorców pomiarowych
powtarzalności wyników pomiarowych
obszar nie czułości przyrządów
nacisk pomiarowy
spłaszczenie
błędy zerowania przyrządów
nieodpowiednie przyrządy pomiarowe
nieliniowości wskazań
zużycie
●Wpływy otoczenia:
wahanie temperatury
ciśnienie i względna wilgotności powietrza
czystość
pole magnetyczne
drgania
●Personel:
błędy odczytu np. paralaksa
zdolności oceny sytuacji
wyczucie podczas kontroli
sposób mocowania elementów
Przyczyny te powodują w sumie, że uzyskany wynik pomiaru odbiega od wartości
rzeczywistej.
Oznacza to łącznie, że wartość rzeczywista może tak naprawdę leżeć powyżej lub poniżej
wartości pokazanej przez system pomiarowy. Przedział ten zwany jest niepewnością
pomiarów. Porównując wyniki pomiarowe z granicami specyfikacji uzyskuje się w ten
sposób trzy przedziały:
- Przedział zgodności
Przedział specyfikacji pomieszczony o niepewność pomiarów u
- Przedział braku zgodności :
Obszar poza przedziałem specyfikacji poszerzony o nie pewność u
59
- Przedział nieokreślony:
Obszary w pobliżu granic specyfikacji, w których przy uwzględnieniu niepewności
pomiarów nie można wykazać zgodności ani braku zgodności.
Rys.18.
Niepewność
pomiarów
na brzegach
przedziału
specyfikacji.
Nie każdy
system i nie każdy proces kontrolny nadają się do rejestracji i prezentacji pomiarów
wartości cech wyrobów lub procesów z małą tylko niepewnością oraz wystarczającą
dokładnością i precyzją. Granice możliwości wyznaczane są przez rozdzielczość
przyrządów oraz wpływy systematyczne przypadkowe. Znaczenie takich wpływów dla
procesu kontroli określić można w wielu przypadkach tylko przez zbadanie zdolności
systemu pomiarowego bądź samego procesu kontroli. Zrezygnować z wykazania
przydatności środków i procesów kontrolnych można zasadniczo wtedy, gdy wywołana
przez proces kontrolny niedokładność pomiarów jest mała w porównaniu z rozrzutem
kontrolnej cechy.
60
Rys.19. Rozrzut przyrządu pomiarowego
Poniższy rysunek pokazuje w jaki sposób błędy i rozrzuty pomiarów w wyniku użycia
niewłaściwych metod pomiarowych zmieniają obraz idealnego procesu.
61
Rys.20. Skutki niedokładności przyrządów pomiarowych.
Błędy systematyczne są to błędy stałe co do znaku i wartości podczas pomiarów danego
parametru w tych samych warunkach pomiarowych, np. ten sam przyrząd pomiarowy, to
samo stanowisko kontrolne, takie same warunki otoczenia, itp., albo zmieniające się w
sposób regularny wraz ze zmianą tych warunków.
Przyczyny błędów systematycznych mogą być znane lub nie. Przyczyną błędów
systematycznych jest przede wszystkim niedoskonałość przyrządów pomiarowych, metod
kontrolnych i badanego przedmiotu oraz wpływy otoczenia.
62
Wyznaczone metodą obliczania lub pomiarów mierzalne błędy systematyczne wykorzystać
można do skorygowania wyników pomiarowych. Bez uwzględnienia mierzalnych błędów
systematycznych otrzymywane wyniki pomiarowe są błędne.
Niemierzalne błędy systematyczne są to błędy systematyczne, które nie dadzą się określić
w prosty sposób, mogą jednak często zostać oszacowane. Błędy te mają zawsze określony
znak ( + albo -). Znak ten nie jest jednak znany, dlatego dające się oszacować, ale nie
dające się zmierzyć błędy systematyczne traktowane są jak błędy przypadkowe. Wchodzą
one ze znakiem ± do obliczeń niepewności pomiarów. Błędy przypadkowe wywołane są
przez nie dające się określić zmiany fizykalne przyrządów pomiarowych, badanych
produktów, środowiska oraz przez wpływ mierzącego personelu. Błędy tego rodzaju mają
w tych samych warunkach nie zawsze te same wartości. Nie dają się one określić
jednostkowo, wprowadzają niepewność do wyników pomiarowych i w ten sposób
stanowią część składową niepewności pomiarowej.
Niepewność pomiarów u - wynikiem serii pomiarów jest wartość średnia skorygowana o
znane błędy systematyczne oraz związany z nią przedział w którym prawdopodobnie leży
prawdziwa wartość mierzonej wielkości. Różnica między górną granicą przedziału i
skorygowaną wartością średnią bądź różnicą między nią a dolną granica podziału
oznaczana jest jako niepewność.
Całkowita szerokość przedziału w którym prawdopodobnie leży prawdziwa wartość
mierzonej wielkości – stanowiąca różnicę między górną i dolną granicą przedziału – nie
może być nazywana niepewnością pomiarów.
Niepewność u pomiarów składa się z dwu składników. Jeden składnik stanowią błędy
przypadkowe u
p,
drugim składnikiem są nieznane błędy systematyczne u
s.
Istnieją dwie metody obliczania niepewności u pomiarów z obu składników:
1.
us
up
u
+
=
(38)
2.
2
s
2
p
u
u
u
+
=
(39)
63
Pierwsza metoda jest najprostsza i mniej narażona na ryzyko niedoceniania składników
niepewności pomiarów. Polecana jest zawsze wtedy, gdy oba składniki znacznie się
między sobą różnią. W innych przypadkach należy stosować metodę drugą.
Jeśli nie można oszacować nieznanych błędów systematycznych, jako niepewności
pomiarów podawane jest u
p.
Ponieważ łatwo ustalić dają się tylko błędy przypadkowe użytkownika, dokładne
określenie niepewności pomiarów nie jest na ogół możliwe. Jako wytyczną dla dobrych
przyrządów pomiarowych przyjmuje się możliwy błąd o 1 działkę elementarną.
Suwmiarka o noniuszu 1/10mm miałby więc błąd około 0,1mm , czujnik o wartości działki
elementarnej 1µm błąd ok. 1µm, a mikrometr cyfrowy o skoku wyświetlania 1µm błąd
ok.2µm.
Dokładniejsze dane dla poszczególnych przyrządów pomiarowych zawarte są w normach
DIN. Są to najczęściej wartości zbliżone do górnej granicy. Przyrządy są na ogół lepsze niż
wymagania normy. W przeciwieństwie do tego informacje producentów SA często zbyt
optymistyczne jeśli nie SA oparte na odpowiedniej normie.
Sprawdzanie przyrządów pomiarowych w rodzaju suwmiarek, mikrometrów, itp. jest
często możliwe przy użyciu płytek wzorcowych. Czujniki mikronowe dają się w taki
sposób sprawdzić jedynie w niewielu punktach, wymagają więc specjalnych urządzeń
kontrolnych. Sprawdzenia szablonów dokonać można często przy pomocy wzorców
końcowych lub sprawdzianów szczękowych i odpowiednich przyrządów pomiarowych.
Normy DIN zawierają przepisy i procedury kontrolne dzięki którym istnieje możliwość
skontrowania danych podawanych przez producenta oraz możliwość sprawdzenia i
nadzorowania zasadniczej zdolności standardowych systemów pomiarowych.
64
Tabela.21. Dopuszczalna niepewność pomiarów standardowych przyrządów
pomiarowych.
By ustalić zakres odchyleń przyrządów dla wybranych punktów z całego zakresu
pomiarowego wyniki wskazań porównuje się z wartościami rzeczywistymi. Różnice
przedstawione zostają na wykresie zakresu pomiarowego. odchylenia wskazań otrzymuje
się z różnicy między największą i najmniejszą z uzyskiwanych wartości. Jeśli
uwzględniany ma być przy tym nieczułości zwrotnej, pomiary wykonać należy w obu
kierunkach zakresu.
65
Przykłady:
1. Rozrzut wskaźnika fmax mikrometru
Rys.22. rozrzut wskazań mikrometrów.
2. Rozrzut wskaźnika i zakresu nieczułości zwrotnej czujnika mikronowego
Rys.23. Rozrzut wskaźnika Fe i fcałk oraz nieczułości zwrotnej fz czujników
mikronowych.
Badanie zdolności systemu pomiarowego przeprowadzać należy w warunkach
rzeczywistych.
Warunki rzeczywiste oznaczają w tym przypadku, że badania wykonywane są w miejscu
przyszłego stosowania przyrządu pomiarowego. Późniejsi użytkownicy sami rejestrują
przy tym dane wymagania do wykazania zdolności w warunkach jak najbardziej
66
zbliżonych przyjąć można, że przeprowadzony dowód zdolności swoją ważność w
przyszłych zastosowanych.
Spełnienie takich warunków uzyskanie następujących korzyści:
• możliwe jest porównanie urządzeń pomiarowych,
• potwierdzona jest przydatność urządzenia pomiarowego w produkcji,
• możliwy staje się ciągły nadzór nad urządzenia pomiarowego,
• potwierdzona zostaje zdolność funkcjonalna przyrządu pomiarowego,
• możliwe jest potwierdzenie poprawności wyników pomiarowych,
• uwzględniony zostaje wpływ użytkowników i miejsc użytkowania urządzeń,
• analiza odchyłek pomiarów może dawać wskazówki co do przyczyn błędów.
Badanie zdolności umożliwia porównywania przyrządów pomiarowych między sobą. W
ten sposób stworzona zostaje podstawa akceptacji lub odrzucenia nowego systemu
pomiarowego.
Niekwalifikowana metoda pomiarowa nie może być z zasady stosowana. Zadaniem
kwalifikacji jest kontrolowanie przestrzegania zasad w których skład wchodzą normy,
dyrektywy, dane producenta, itp. oraz zapewnienie sprzężenia ich z normami narodowymi
i międzynarodowymi. Dowód zdolności wykazuje przydatność metody kontrolnej do
wykonania określonych zadań w miejscu ich rzeczywistego zastosowania. Jednocześnie
ustalane jest powiązanie między produkowanymi elementami i metodami pomiarowymi.
Dzięki temu możliwe staje się prześledzenie powstawania wyników z odwołaniem do
metody pomiarowej. Może mieć to szczególnie duże znaczenie w przypadku
odpowiedzialności za wyrób.
Rys.24. Walidacje i dowód zdolności.
67
5.2 Badania zdolności środków kontrolnych.
Rozróżnia się następujące procedury kontrolne:
- procedura 1 – niepewność pomiarów u oraz wskaźniki zdolności C
g
i C
gk
- procedura 2 – powtarzalność, odtwarzalność i rozrzut całkowity
- procedura 3 – powtarzalność i rozrzut całkowity
Wskazówka dotycząca procedury 3
Rysunek poniżej pokazuje zakresy zastosowań wymienionych metod. Procedura 1
wykorzystywana jest głównie przez konstruktorów i producentów przyrządów
pomiarowych. Przy jej użyciu wykazać można zasadniczą przydatność i zdolność do
osiągnięcia zamierzonego celu. Dopiero po pozytywnym zakończeniu takich badań
możliwa jest ocena w rzeczywistych zastosowaniach zgodnie z procedurą 2 lub 3. Sposób
postępowania, metoda obliczeniowa i wymagania minimalne wobec wskaźników powinny
być integralną częścią każdej umowy dostawczej.
68
Rys.25. Schemat procedur walidacji i ich współzależność.
W zastosowaniu i użytkowaniu systemu pomiarowego niesłychanie ważne jest
wykazanie że uzyskana raz kwalifikacja albo zdolność utrzymane są przez cały okres
użytkowania. W oparciu o kontrole stabilności stwierdzić można czy system nadaje się
jeszcze do rzeczywistych zastosowań. Okresy kontrolne należy ustalać przy tym w
zależności od rodzaju zadania. Pierwsze kontrole należy przeprowadzać w krótszych
odstępach czasu. Po zebraniu wystarczającej ilości praktycznego doświadczenia okresy
miedzy kontrolami można odpowiednio wydłużyć. W każdym wypadku konieczne jest
przeszkolenie personelu ze wszelkie w systemie pomiarowym pociągnąć mogą za sobą
nieprzewidywalne konsekwencje. W takich przypadkach powinna być przeprowadzana
kontrola stabilności.
69
Dalsze kryteria rozróżniania metod obliczania wskaźników to:
- obliczanie rozstępu odchylenia standardowego albo analiza wariacji
- poziom ufności 99% albo 99.73%
- analizowana wielkość kontrolna; tolerancja, rozrzut procesu lub wyrobu
- wymagania minimalne dla wskaźników oceny przydatności
- z kompensacją albo bez kompensacji rozrzutu przyrządu pomiarowego
- z uwzględnienie albo bez uwzględnienia wewnętrznego rozrzutu wyrobu.
Procedury analityczne róznią się miedzy sobą tym, że miara rozrzutu uzyskanych wartości
szacowania jest bądź przez rozstępy metodą analizę wariacji albo przez odchylenie
standardowe. Znaleziona w ten sposób wielkość porównana jest następnie z tolerancją
cechy T, rozrzutem procesu albo rozrzutem wyrobu.
Rys.26 Metody analizy.
Która z metod zostanie wykorzystana zależy w pierwszej linii od samej firmy.
Niezależnie od metody badania zdolności przed wyborem procedury i urządzenia
pomiarowego należy ustalić pewne ogólne zasady postępowania:
70
- zdefiniować badane cechy
-przyjąć procedurę pomiarową
- określić zakres pomiarowy przyrządu
- ustalić wymaganą rozdzielczość przyrządu
- uwzględnić maksymalną prędkość dokonywania pomiaru
- uwzględnić dokładność przyrządu
- oszacować wpływy otoczenia w miejscu ustawienia maszyny
- potwierdzić przydatność metody dla miejsca użytkownika.
W pierwszej procedurze u producenta lub w miejscu użytkowania badany jest przy
pomocy wzorca zależny od urządzenia rozrzutu systemu pomiarowego. Wyznaczane są
przy tym wskaźniki zdolności C
g
i C
gk
. Badanie to zawiera dwie wielkości
charakterystyczne: dokładność i powtarzalność.
Celem procedury 1 jest potwierdzenie podawanych przez producenta danych w
szczególności dla nowych urządzeń albo po ich modyfikacji.
Najpierw wybieramy jest odpowiedni wzorzec pomiarowy. Jako wartość nominalną
wzorca wybiera się wielkość leżącą blisko środka przedziału tolerancji. Wykonane zostać
powinno 50 a co najmniej 25 pomiarów wzorca przy czym po każdym pomiarze wzorzec
musi być odkładany na bok. Wyniki pomiarowe zebrane i przedstawione zostają w formie
tabelarycznej i graficznej.
Przygotowanie:
- Wzorzec lub standard powinien być podczas całego procesu pomiarowego zwrócony
zawsze w tym samym kierunku.
- Jeśli jest to tylko możliwe, badania przeprowadzone być musi w otoczeniu zbliżonym do
normalnych warunków produkcyjnych.
Realizacja:
- Wybrany wzorzec mierzony jest 50-krotnie. Po każdym pomiarze wzorzec musi być
wyjęty z urządzenia pomiarowego. Wyniki pomiarów przedstawić należy tabelarycznie i
graficznie.
- Wyznaczona zostaje średnia i odchylenie standardowe z pomiarów.
- Przy pomocy wzorów obliczone zostają wskaźniki zdolności C
g
i C
gk
przyrządu
pomiarowego.
71
Rys.27 Schemat blokowy procedury 1.
72
Rys.28 Obliczanie wskaźników zdolności.
73
Na bazie tolerancji Na bazie rozrzutu procesu
(
)
g
g
s
DGS
GGS
C
⋅
−
⋅
=
6
2
,
0
(40)
(
)
g
ocesu
g
ocesu
g
S
s
C
Pr
Pr
15
,
0
6
6
15
,
0
σ
σ
⋅
=
⋅
⋅
⋅
=
(41)
dla
m
g
X
X
>
:
(
)
g
g
m
gk
s
X
T
X
C
⋅
−
⋅
+
=
3
1
,
0
(42)
(
)
g
X
X
C
g
ocecu
m
gk
⋅
−
⋅
⋅
⋅
+
=
3
6
15
,
0
5
,
0
Pr
σ
(43)
(
)
g
g
ocesu
m
s
X
X
⋅
−
⋅
+
=
3
45
,
0
Pr
σ
dla
m
g
X
X
<
:
(
)
g
m
g
gk
s
T
X
X
C
⋅
⋅
+
−
=
3
1
,
0
(44)
(
)
g
ocesu
m
g
gk
s
X
X
C
⋅
⋅
−
−
=
3
45
,
0
Pr
σ
(45)
gdzie
m
X
oznacza rzeczywistą wartości wzorca,
g
X
jest średnią arytmetyczną, a
g
s
oznacza odchylenie standardowe z wyników pomiarowych:
∑
=
⋅
=
n
i
i
g
x
n
X
1
1
(46) oraz
(
)
∑
−
−
−
=
n
n
g
i
g
X
X
n
S
1
2
1
1
(47)
Analiza wykorzystaniem tolerancji i analizy z wykorzystaniem rozrzutu procesu dalej taki
sam wynik jeśli spełniony jest warunek T=
ocecu
Pr
6
σ
⋅
. Rozróżnianie między
m
g
X
X
>
i
m
g
X
X
<
możne zostać zaniedbanie w obliczeniach
gk
C
w przypadku zastosowania
następującego wzoru:
g
m
g
gk
s
X
X
T
C
⋅
−
−
⋅
=
3
1
,
0
(48)
Gdzie
m
g
X
X
−
= wartości bezwzględna różnicy
g
X
i
m
X
(Wynik jest zawsze dodatni)
m
X
= prawdziwa wielkości wzorcowa
T = GGS – DGS Przedział tolerancji cech
W metodzie tej „dokładności”
m
g
X
X
−
odejmowana jest od tolerancji cechy. Innym
sposobem podejścia może być poszerzenie rozrzutu przyrządu o tę wielkość. Wzór dla
tego przypadku wygląda następująco:
Założenie od obowiązujących norm zakładowych lub czasu obowiązywania instrukcji jako
wielkość odniesienia brane jest n% tolerancji cechy albo 6 lub8 krotność rozrzutu procesu.
Podobnie tez wymagania minimalne dla wskaźników zdolności C
g
i C
gk
mogą się różnić
miedzy sobą
74
Rys.29. Stosunek s
g
do C
g
dla tolerancji jako wielkość odniesienia.
Obliczenia procedurą 1 na bazie rozstępu R nie prowadzą do pozytywnych wyników
ponieważ mierzone wartości pomiarowe różnią się w ogólności miedzy sobą tylko
nieistotnie.
Ocena na bazie wytycznych CNOMO.
Analiza na bazie norm CNOMO „Dopuszczanie zdolności funkcjonalnej urządzeń
pomiarowych” łączy w sobie procedury 1 i 2. Badanie systemu pomiarowego następuje
tutaj w trzech fazach:
Faza przygotowawcza:
- faza 1- w laboratorium z legalizowanym wzorem
- faza 2- w laboratorium z produkowanymi częściami
Odbiór u producenta/ w zakładzie:
- faza 3- w laboratorium dla każdego wyrobu
Ustalanie wskaźników:
W kolejnych fazach wyznaczane są następujące wskaźniki:
Faza 1: Powtarzalność urządzenia pomiarowego dla wzorca
75
Wzorzec mierzony jest pięciokrotnie i z wyników wyliczane są wskaźniki:
Średnia
e
y
Wariacja
e
V
Niepewność
e
e
V
I
2
=
Faza 2: Powtarzalność urządzenia pomiarowego dla obrabianej części. Obrabiana część
mierzona jest pięciokrotnie a z danych wyznaczane są:
Średnia
r
y
Wariacja
r
V
Niepewność
r
r
V
I
2
=
Faza 3: Co najmniej 5 wyrobów jest pięciokrotnie(y
ij
). Te same elementy mierzone są
ponownie w laboratorium pomiarów precyzyjnych (x
i
). po n – krotnych pomiarach
laboratoryjnych dla każdego wyrobu jest średnia i jednocześnie niepewność pomiarów
laboratoryjnych podzielona jest przez pierwiastek n. Następnie dla różnic (y
ij
-x
i
)
wyznaczana jest średnia x i wariacji V
g
:
I
g
= niepewność urządzenia pomiarowego
(
)
e
g
V
V
x
+
+
=
2
(49)
Niepewność pomiarowa z laboratorium pomiarów – albo rozdzielczość urządzenia
pomiarowego –I
g
oraz wyliczony wskaźników zdolności CMC = T/( 2*I
g
) spełniać muszą
wymagania zawarte w tabeli.
76
Rys.30. Granice zdolności urządzeń pomiarowych.
Przykład zastosowania CNOMO.
Rys.31 formularz CNOMO
Nie wszystkie przyrządy pomiarowe dają się zbadać opisanymi metodami. Brak jest
poprawnych metod oceny jakościowych systemów pomiarowych jak np. sprawdziany
trzpieniowe czy wzorce funkcyjne. Oceny systemów pomiarowych w których cechy
wyrobu dają się co prawda mierzyć ale w rzeczywistości nie dają się powtórzyć, np.
przyrządy kontrolujące twardości, przyrządy do analizy powierzchni, itp. nie jest w ten
sposób możliwa.
W przypadku przyrządów do badania twardości procedury kontrolne wykorzystać można
tylko porównawczych jako podstawa odbioru nowych urządzeń. Metody te mogą jednak
77
być też użyte do porównania istniejących urządzeń w celu oceny i ilustracji ich aktualnej
stabilności i zdolności. Wymienione systemy i przyrządy pomiarowe badane być muszą
zgodnie z obowiązującymi normami i wytycznymi takimi jak ISO, DIN wytyczne
producenta itp. Każdy przypadek powinien być przy tym analizowany oddzielnie tak by
móc zdecydować czy badane zdolności systemu lub przyrządu pomiarowego powinno być
mimo to przeprowadzone. Z doświadczenia wiadomo, że dla wąskich granic tolerancji
bądź analogicznych wskaźników dla innych cech wykonalność techniczna badania
zdolności systemów i przyrządów pomiarowych natrafia w praktyce na granice
możliwości. Może to oznaczać że wynik analizy staje się nie do przyjęcia. W takim
przypadku zastosować można procedurę 1 bez analizy statystycznej.
Typowe pytania o zdolność środków kontrolnych.
Uzyskanie dowodu zdolności jest z reguły bardzo czasochłonne i szczególnie przy dużej
liczbie systemów pomiarowych, trudne do przeprowadzenia w całości. Dlatego w praktyce
pojawiają się często pytania:
- dlaczego należy przeprowadzać dowody zdolności ?
- jak dokonać oceny nowego systemu pomiarowego?
- jak dokonać oceny podobnych systemów pomiarowych?
- czy przyrządy pomiarowe można połaczyć w grupy?
- jak często należy przeprowadzać dowód zdolności?
- czy przeprowadzać dowody zdolności systemów standardowych?
- czy możliwy jest dowód zdolności dla kontroli niszczących?
- jakie obowiązują kryteria odbioru?
- które kryteria odbioru nie muszą być spełnione?
- czy wytyczne danego klienta odbiorcy muszą być w pełni dotrzymywane?
- jak reagować w przypadku systemów pomiarowych?
Dowody zdolności wymagane są zasadniczo dla wszystkich cech krytycznych z
obowiązkiem dokumentacji. Ważne jest to w szczególności przy wąskich granicach
specyfikacji. Przy nowych systemach często brak jest odpowiednich procedur
pomiarowych albo wielkości odniesienia dla ich poprawnej oceny, dlatego producent musi
wypracować odpowiednie metody kontrolne.
Jeżeli różne systemy kontrolne albo ich elementy wykonują te same zadania pomiarowe,
należy na przykładzie wykazać porównywalność poszczególnych systemów. Do tego celu
wykorzystujemy procedurę 2. jeden pracownik obsługuje różne systemy pomiarowe, jeśli
rozrzut całkowity systemów pomiarowych jest wystarczająco mały można przyjąć
78
założenie że do wykonania zadania pomiarowego wybrać można dowolny przyrząd z
odpowiedniej grupy.
Czystość przeprowadzania dowodów zdolności zależy od wyników badania i stabilności
systemu pomiarowego. Częstsze kontrole są wymagane gdy wynik dowodu zdolności leży
blisko albo wychodzi poza granicą zdolności.
Dowód przydatności standardowych przyrządów pomiarowych można zaniedbać jeżeli
oczekiwania niepewności pomiarów jest wystarczająco mała w stosunku do tolerancji
cechy.
Zdolność innych standardowych przyrządów do wykonania pomiarów stwierdzić można
metodą kontroli indywidualnych albo pomiarów porównawczych.
W przypadku kontroli niszczących dowód zdolności jest z reguły niemożliwy. Gdy brak
jest wzorów ref. nie można zastosować procedury 1. procedurę 2 można zastosować tylko
wtedy, gdy założyć można jednorodność materiału tak, że możliwe jest powtarzanie
pomiarów na oryginalnych wyrobach.
Kryteria odbioru zawarte są w wytycznych zakładowych. Z reguły znaleźć można tam
uwagę, że do przyjęcia są też inne metody i wartości graniczne jeżeli klient je akceptuje.
Stąd też należy ustalić indywidualne procedury wspólnie z klientem.
Wyżej wspomniana wzmianka pozwala przedsiębiorstwu na stworzenie własnych
wytycznych dla procedur oceniających systemy pomiarowe oraz ich realizacje na
standardowych zasadach. Dostawca obsługujący wielu odbiorców nie może choćby z
przyczyn ekonomicznych stosować różnorodnych procedur kontrolnych.
Gdy brak jest odpowiednich systemów pomiarowych można w celu podtrzymania
produkcji podjąć następujące środki tymczasowe zanim znalezione zostanie rozwiązanie
długofalowe.
79
Rys.32. Schemat powiązań składników procesem produkcyjnym które powinny być
wspomagane metodami statystycznymi.
5.3 Narzędzia do sterowania systemem pomiarowym – karty kontrolne.
Karty kontrolne jakości umożliwiają wizualizację wyśrodkowania i rozrzutu systemu.
Ocena tych parametrów wymaga analizy przebiegów czasowych wskaźników
statystycznych takich jak liczba jednostek niezgodnych, liczba niezgodności na jednostkę,
wartości pomiarowe, wartości średnie, mediany, odchylenia standardowe i rozstępy oraz
porównania ich z liniami granicznymi. Na bazie takich porównań dokonać można oceny
jakości czyli stabilności procesów produkcji. Doskonalenie procesu z użyciem kart
kontrolnych jest procedurą iteracyjną, powtarzającą podstawowe fazy zbierania,
kontrolowania i analizowania . Najpierw, według planu, są pobierane dane następnie dane
te są wykorzystywane do wyliczenia granic kontrolnych, które są podstawą do
80
interpretowania danych do sterowania statystycznego; kiedy system pomitrowy jest w
stanie sterowania statystycznego, może zostać zinterpretowany dla określenia jego
zdolności. Dla oddziaływania na ulepszanie w sterowaniu i zdolności, zidentyfikowane
muszą być specjalne i zwykłe przyczyny zmienności, a proces odpowiednio
zmodyfikowany; następnie cykl zaczyna się od nowa, gdy większa liczba danych zostanie
zebrana, zinterpretowana i użyta jako podstawa do działania.
1. Zbieranie: Dane dla badanych charakterystyk, są zbierane i przekształcane w postać,
która może być naniesiona na kartę kontrolną. Danymi tymi mogą być zmierzone
wartości wymiarów sztuki obrobionej mechanicznie, liczba skaz na zwoju z winylu,
czasy przejazdu wózka szynowego, liczba pomyłek w księgowaniu itd.
2. Kontrola: Próbne granice kontrolne są wyliczane w oparciu o te dane. Są one
narysowane na karcie jako wskazówki do analizy. Granice kontrolne nie są liniami
granicznymi specyfikacji lub celami, ale są oparte na naturalnej zmienności procesu i
planie pobierania próbek.
3. Analiza i doskonalenie: Po tym jak ustalono wszystkie specjalne przyczyny i system
przebiega w stanie sterowania statystycznego, prowadzi się dalej kartę kontrolną jako
narzędzie do monitorowania. Można także wyliczyć zdolność systemu pomiarowego.
Jeżeli zmienność spowodowana zwykłymi przyczynami jest zbyt duża, nie może
wytwarzać wyjścia, które w sposób konsekwentny spełnia wymagania klienta. Proces
jako taki musi być przebadany, oraz, zazwyczaj, musi być podjęte działanie
kierownictwa mające na celu ulepszenie systemu.
Często stwierdza się, że chociaż system został ukierunkowany na pożądaną wartość w
czasie jego początkowego ustawienia, aktualne położenie procesu (
X
) może nie spełniać
tej wartości. Dla tych procesów, gdzie aktualne położenie odchyla się od pożądanego, a
możliwość przeniesienia tego systemu pomiarowego jest ekonomicznie możliwa, należy
rozważyć możliwość dostosowania go tak, aby bardziej przystawał do wartości pożądanej.
Zakłada się tu, że to dostosowanie nie wpłynie na zmienność procesu. Może to nie zawsze
pozostawać do końca prawdziwe, ale przyczyny wszelkiego możliwego zwiększenia się
zmienności procesu po jego ponownym ustawieniu na cel powinny być zrozumiane i
ocenione w odniesieniu do zadowolenia kupującego, jak i czynników ekonomicznych.
Długoterminowe osiągi muszą być analizowane w sposób ciągły. Jest to najłatwiejsze do
wykonania przez okresowe i systematyczne przeglądanie bieżących kart kontrolnych. Przy
tej okazji zazwyczaj będzie ujawniane pojawianie się nowych specjalnych przyczyn.
Wykrycie niektórych, gdy są tylko zrozumiałe, będzie korzystne przy redukowaniu ogólnej
81
zmienności procesu. Inne, szkodliwe dla procesu, będą wymagały zrozumienia, oraz ich
skorygowania lub usunięcia.
Dla procesu, który jest „w stanie sterowania”, wysiłki mające na celu doskonalenie często
będą się koncentrowały na redukowaniu zwykłych przyczyn zmienności w procesie.
Redukowanie tej zmienności będzie wpływało na „zacieśnianie się” granic kontrolnych na
karcie kontrolnej, tj. granice te, po ich przeliczeniu, będą leżały bliżej siebie. Wiele osób
nie zaznajomionych z kartami kontrolnymi będzie odbierało to jako „ukaranie” procesu za
jego ulepszenie. Nie zdają sobie oni sprawy z tego, że jeżeli proces jest stabilny i granice
kontrolne są wyliczone w prawidłowy sposób, szansa, że proces będzie dawał wadliwe
wyniki i punkty poza kontrolą jest taka sama, niezależnie od odległości pomiędzy
granicami kontrolnymi .
Jednym z obszarów zasługujących na wspomnienie jest kwestia przeliczenia granic na
karcie kontrolnej. Raz prawidłowo wyliczone, jeżeli nie zachodzą żadne zmiany w
zwykłych przyczynach zmienności procesu, wciąż pozostają jako obowiązujące. Sygnały o
specjalnych przyczynach zmienności nie wymagają przeliczenia granic kontrolnych. Dla
długookresowych analiz kart kontrolnych najlepszym rozwiązaniem jest przeliczanie
granic kontrolnych tak rzadko, jak to tyko jest możliwe, ale w sposób podyktowany przez
system.
82
KARTY KONTROLNE
órna granica kontrolna
Linia centralna
Dolna granica kontrolna
Te trzy fazy są powtarzane dla ciągłego doskonalenia systemu:
1. Zbieranie:
•
Zbierz dane i nanieś na wykres
2. Kontrola:
•
Wylicz próbne linie kontrolne z danych z systemu
•
Zdefiniuj specjalne przyczyny zmienności i podejmij w odniesieniu do nich odpowiednie
83
Dla ciągłego doskonalenia procesu należy powtórzyć te trzy fazy. Należy zebrać
odpowiednio większą liczbę danych, jak będzie to wymagane; pracować nad
redukowaniem zmienności procesu przez trzymanie biegu procesu w stanie sterowania
statystycznego; oraz kontynuować analizowanie zmienności procesu.
KORZYŚCI Z KART KONTROLNYCH
Właściwie użyte karty kontrolne mogą:
•
Być używane przez operatorów w celu bieżącej kontroli procesu
•
Pomagać procesowi przebiegać w sposób konsekwentny, przewidywalny, ze
względu na jakość i na koszt
•
Pozwala procesowi na osiągnięcie:
- Wyższej jakości
- Niższego kosztu jednostki
- Wyższej efektywnej zdolności
•
Zapewnia powszechny język do omawiania wydajności procesu
•
Zapewnia odróżnienie specjalnych przyczyn zmienności od zwykłych, co może
stanowić wskazówki dla działań lokalnych lub działań na system
84
Rys.33 . Dane Zmienne - Rezultaty z Mierzenia Pośredniego tub Końcowego .
KARTY kontrolne odnoszące się do systemu pomiarowego
Metoda pomiarów musi dawać dokładne i precyzyjne wyniki w czasie
85
Ludzie
Wyposażenie
Środowisko
Materiał
y
Metody
Mierzone jest wyjście
•
Jednostka miary (mm, kg,
itp.)
•
początek (0 mm, 32
°
F,
itp.)
1 2 3 4
Przykłady wyjścia
Przykłady kart kontrolnych
•
Średnica zewnętrzna wału (mm)
•
Odległość otworu od powierzchni odniesienia
(mm)
•
Oporność obwodu (omów)
•
Czas przejazdu wagonu (godzin)
•
Czas opracowania zmian technicznych (godzin)
X
dla Średniej z Pomiarów
Karta R dla rozstępów
w Pomiarach
Nieprecyzyjne
Precyzyjne
Niedokładne
Dokładne*
5.4 Karta kontrolna dla danych zmiennych.
Karty kontrolne dla danych zmiennych są potężnymi narzędziami, które mogą być
zastosowane, gdy są dostępne pomiary z systemu pomiarowego. Przykładami mogą być
średnica łożysk, siła zamykająca drzwi, lub czas na przejrzenie dokumentów. Karty dla
zmiennych - a szczególnie ich najbardziej powszechna postać, karty
X
(X bar) i R -
przedstawiają typowe zastosowanie kart kontrolnych dla sterowania systemem
pomiarowym.
Karty Kontrolne dla zmiennych są szczególnie użyteczne z kilku powodów:
1.
Większość procesów i ich wyjść ma charakterystyki, które są mierzalne, więc
potencjalna możliwość stosowania kart jest szeroka.
2.
Ilościowa wartość (np. „średnica ma 16,45 mm”) zawiera o wiele więcej informacji niż
proste stwierdzenie tak - nie (np. „średnica jest w granicach specyfikacji”).
3.
Chociaż uzyskanie pojedynczych informacji o zmierzonej wartości zazwyczaj jest
bardziej kosztowne niż uzyskanie pojedynczej informacji typu przechodzi / nie
przechodzi, to mniej sztuk trzeba sprawdzić dla uzyskania większej ilości informacji o
procesie, tak więc w niektórych przypadkach całkowity koszt pomiarów może być
niższy.
4.
Z uwagi na to, że przed podjęciem odpowiednich decyzji trzeba sprawdzać mniej sztuk,
odstęp czasu pomiędzy wytworzeniem części i działaniami korygującymi często może
zostać skrócony.
5.
Przy danych zmiennych, osiągi procesu mogą być analizowane, a ulepszenia mogą być
ustalane pod względem ich wartości, nawet jeżeli wszystkie wyniki jednostkowe
znajdują się w granicach specyfikacji; jest to ważne przy osiąganiu niekończącego się
doskonalenia.
Karty dla zmiennych mogą wyjaśnić dane z systemu zarówno w odniesieniu do ich
rozrzutu (zmienność od sztuki do sztuki), jak i położenia (średniej dla systemu). Z tego
powodu karty kontrolne dla zmiennych zawsze powinny być przygotowywane i
analizowane w parach - jedna karta dla położenia, a druga dla rozrzutu. Najczęściej
używanymi parami są karty x i R.
X
jest średnią wartością w małych podgrupach - miarą
położenia; R jest rozstępem wartości w każdej podgrupie (najwyższa minus najniższa) -
miarą rozrzutu.
86
PRZYGOTOWANIE DO STOSOWANIA KART KONTROLNYCH
•
Ustal środowisko odpowiednie dla działania
•
Zdefiniuj system
•
Określ charakterystyki, na których będziesz przeprowadzał operacje
Rozważania dotyczące:
- Potrzeb klienta
- Obszarów obecnych i potencjalnych problemów
- Korelacji między charakterystykami
•
Określ system pomiarowy
•
Zminimalizuj zbędną zmienność .
87
5.5 Karta średnich i rozstępu (
X
I R)
Zanim będzie można używać kart
X
i R, musi być wykonanych kilka kroków:
•
Ustal środowisko odpowiednie dla działania. Każda metoda statystyczna zawiedzie,
jeżeli kierownictwo nie przygotuje odpowiedniego środowiska. Należy usunąć obawy w
obrębie organizacji, które powstrzymują ludzi od bycia szczerymi. Kierownictwo musi
zapewnić zasoby dla uczestnictwa w działaniach doskonalących i wspierania ich.
•
Zdefiniuj system. System musi być rozumiany w odniesieniu do jego związków z
innymi operacjami i użytkownikami, zarówno w górę, jak i w dół łańcucha
produkcyjnego, oraz w odniesieniu do elementów systemu pomiarowego (ludzi,
wyposażenia, materiałów, metod i środowiska), które oddziałują na niego na każdym
etapie. Techniki takie, jak wykres przyczynowo - skutkowy oraz wykres przebiegu
procesu pomagają w tym, aby uwidocznić te zależności, oraz umożliwić zebranie
doświadczenia tych ludzi, którzy rozumieją różne aspekty systemu.
•
Określ charakterystyki, które mają być nanoszone na kartę. Działania analityczne
powinny koncentrować się na tych charakterystykach, które z największym
prawdopodobieństwem przyniosą największe korzyści w doskonaleniu procesu
(zastosowanie zasady Pareto). Właściwe są tu następujące rozważania:
−
Potrzeby kupującego: Obejmują one zarówno każdy kolejny system, który używa
tego wyrobu lub usługi jako wejścia, jak i końcowego użytkownika.
Komunikowanie potrzeb klienta obu typów do punktu w systemie, gdzie może
mieć miejsce udoskonalenie, wymaga pracy grupowej i zrozumienia.
−
Bieżące i potencjalne obszary problemów: Należy rozważyć występowanie
odpadów lub nienajlepszych osiągów (np. złomu, przerabiania, nadmiernych
ilości godzin nadliczbowych, nie osiągniętych celów) oraz obszarów ryzyka (np.
nadchodzące zmiany projektu wyrobu lub usługi, lub któregoś z elementów
systemu). Są to okazje do doskonalenia, które wymagają zastosowania we
wszystkich służbach zaangażowanych w prowadzenie przedsiębiorstwa.
−
Korelacja między charakterystykami: Dla skutecznego i efektywnego
analizowania należy korzystać z zależności pomiędzy charakterystykami. Na
przykład, jeżeli rozpatrywana charakterystyka jest trudna do zmierzenia (np.
objętość), należy śledzić związaną z nią charakterystykę, która jest łatwiejsza do
zmierzenia (np. masa). Również, jeżeli kilka indywidualnych charakterystyk
przedmiotu ma tendencję do zmieniania się razem, może być wystarczające
88
nanoszenie na kartę tylko jednej z nich. Uwaga: Korelacje statystyczne
niekoniecznie oznaczają zależności przyczynowo - .skutkowe między zmiennymi.
Przy braku wiedzy o istniejącym procesie, może być konieczny zaplanowany
eksperyment, mający na celu sprawdzenie takich zależności i ich znaczenia.
−
Określ system pomiarowy. Charakterystyka musi być zdefiniowana operacyjnie,
tak, aby wyniki (wnioski) mogły być zakomunikowane wszystkim, których to
dotyczy, w sposób, który ma to samo znaczenie zarówno dzisiaj, jak i wczoraj.
Obejmuje to określenie, jaka informacja ma być zgromadzona, gdzie, jak i przy
jakich warunkach. Samo wyposażanie pomiarowe musi być przewidywalne,
zarówno co do dokładności, jak i precyzji - okresowa kalibracja nie jest
wystarczająca. Zdefiniowanie charakterystyki będzie miało wpływ na karty
kontrolnej, jaki będzie stosowany, karta danych zmiennych, taka, jak karta
X
i
R, lub karta dla danych atrybutowych,
−
Zminimalizować zbędną zmienność. Zbędne zewnętrzne przyczyny zmienności
powinny zostać zredukowane przed rozpoczęciem badań. Oznacza to po prostu
obserwowanie, czy system działa w sposób zamierzony, albo może oznaczać
przeprowadzenie sterowanego badania z użyciem materiałów wejściowych o
znanych parametrach, stałe ustawienia kontrolne itd. Celem jest zapobiegnięcie
oczywistym problemom, które mogą i powinny być skorygowane nawet bez
używania kart kontrolnych; obejmuje to nadmierne regulowania systemu i
nadmierne sterowanie. We wszystkich przypadkach, należy prowadzić
sprawozdanie (dziennik) notując wszystkie stosowne zdarzenia takie, jak zmiana
narzędzi, nowe partie surowców itd. Pomoże to następnych analizach systemu.
89
Rys.34. karty X i R
IN
S
T
RU
K
C
J
E
DO
D
Z
IA
Ł
A
Ń
1
.
N
IE
W
P
R
O
W
A
D
Z
A
J
D
O
P
R
O
C
E
S
U
Z
B
Ę
D
N
Y
C
H
,
N
IE
K
O
N
IE
CZ
N
Y
C
H
Z
M
IA
N
2
.
N
O
T
UJ
W
S
Z
Y
S
T
K
IE
Z
M
IA
N
Y
W
E
L
E
M
E
N
T
A
C
H
P
R
O
C
E
S
U
(L
U
DZ
IE
,
W
Y
P
O
S
A
Ż
E
N
IE
,
M
A
T
E
RI
A
Ł
,
M
E
T
O
DY
,
Ś
R
O
D
O
W
IS
K
O
L
U
B
S
Y
S
T
E
M
P
O
M
IA
R
O
W
Y
)
Z
T
Y
Ł
U
T
E
G
O
DR
U
K
U
90
D
Z
I A
Ł
A
N
I
E
C
O
D
O
S
PE
C
JA
L
N
Y
C
H
P
R
Z
Y
C
Z
Y
N
ja
ki
kol
w
ie
k punkt
poz
a
gra
ni
ca
m
i kont
rol
nym
i
prz
ebi
eg 7 punkt
ów
w
sz
ys
tki
ch pona
d l
ub
poni
że
j l
ini
i c
ent
ra
lne
j
prz
ebi
eg 7 punkt
ów
w
sz
ys
tki
ch w
górę
lub
w
dół
ka
żdy oc
zyw
is
ty i
nny
ni
ż l
os
ow
y ukł
ad
P
R
O
C
E
S
M
U
S
I B
Y
Ć
W
S
T
A
N
IE
S
T
E
R
O
W
A
N
IA
Z
A
N
IM
M
O
Ż
E
B
Y
Ć
O
K
R
E
Ś
L
O
N
A
Z
D
O
L
N
O
ŚĆ
W
IE
L
K
O
Ś
Ć
P
O
D
G
R
U
P
Y
K
rok
A
.1.
D
o
rozpoczęci
a:
R
O
Z
S
T
Ę
P
Y
(K
A
R
T
A
A
)
Ś
R
E
D
N
IE
(K
A
R
T
A
X
)
S
Z
C
Z
E
L
IN
A
,
WY
M
IA
R
"
A
"
*
D
la
pr
ób
m
ni
ej
szych
od
7
ni
e
m
a
dol
nej
gr
ani
cy
kont
rol
nej
S
u
m
a
il
oś
ć
odc
zyt
.
R
=
na
jw
yż
sz
a
-
na
jni
żs
za
Karty X i R, jako para, są opracowywane na podstawie pomiarów pewnych charakterystyk
wyjścia z procesu. Dane te są podawane w raportach w małych podgrupach o stałej
wielkości, zazwyczaj obejmujących od 2 do 5 kolejnych sztuk, z okresowo pobieranymi
podgrupami (np. co 15 minut, dwa razy na zmianę roboczą itd.). Plan zbierania danych
musi być opracowany i stosowany jako podstawa dla zbierania, zapisywania i nanoszenia
danych na kartę.
Wybierz wielkość, częstość i liczbę podgrup
a)
Wielkość podgrup - Pierwszym kluczowym krokiem przy sporządzaniu kart
kontrolnych dla zmiennych jest ustalenie „racjonalnych podgrup” - będą one ustalały
efektywność i skuteczność karty kontrolnej, która je wykorzystuje.
Podgrupy powinny być wybierane tak, aby możliwość zmienności pomiędzy
jednostkami w obrębie podgrupy była mała. Jeżeli zmienność w podgrupie
reprezentuje zmienność od sztuki - do sztuki w bardzo krótkim przedziale czasu,
wtedy każda nienormalna zmienność pomiędzy podgrupami będzie mogła
odzwierciedlać zmiany w procesie, które powinny być zbadane, dla podjęcia
stosownych działań.
Dla początkowego badania systemu, podgrupy typowo mogą składać się z 4 do 5
kolejno wytwarzanych sztuk reprezentujących tylko jedno narzędzie, głowicę,
wykrój matrycy itd. Zamysłem jest, aby wszystkie sztuki w każdej podgrupie były
wytwarzane w bardzo podobnych warunkach produkcyjnych i w bardzo krótkim
przedziale czasu, bez występowania żadnej innej systematycznej zależności od
siebie; stąd zmienność w każdej podgrupie będzie przede wszystkim odzwierciedlała
zwykłe przyczyny. Jeżeli warunki te nie są spełnione, wynikająca z nich karta
kontrolna może nie pokazywać w sposób efektywny przyczyn specjalnych, lub może
wskazywać nietypowe wzory (konfiguracje) opisane w punktach C.1.a i C.4.c w tym
Rozdziale. Wielkości próbek muszą pozostać takie same w każdej podgrupie.
b)
Częstość podgrup - Celem jest wykrycie zmian w procesie z upływem czasu.
Podgrupy powinny być zbierane odpowiednio często, we właściwych porach, tak,
aby mogły odzwierciedlać potencjalne możliwości dla zmian. Takie potencjalne
przyczyny zmian mogą być spowodowane różnicami w czasie dniówki lub zmianą
operatora, tendencją do rozgrzewania się, partiami materiału itp.
W czasie początkowego badania procesu, podgrupy często są zbierane kolejno lub w
krótkich odstępach czasu, dla wykrycia, czy proces może się zmienić, aby pokazać
inną niestabilność w krótkich przedziałach czasu. Gdy tylko proces wykaże
91
stabilność (lub gdy zostaną zrobione udoskonalenia w procesie), okres czasu
pomiędzy podgrupami może zostać wydłużony. Częstość podgrup dla bieżącego
monitorowania produkcji może wynosić dwa razy na zmianę, co godzinę, lub z inną
dogodną częstotliwością.
c)
Liczba Podgrup - Liczba podgrup powinna spełniać dwa kryteria. Z punktu widzenia
procesu należy zebrać wystarczającą liczbę podgrup dla zapewnienia, że główne
źródła zmienności miały okazję do ujawnienia się. Ogólnie 25 lub więcej podgrup
zawierających około 100 lub więcej jednostkowych odczytów dają dobrą stabilność
badania i, gdy proces jest stabilny, dobre oszacowanie jego położenia i rozrzutu.
92
Rys.35. Karty
X
i R - Ustalanie danych.
93
* Dla prób mniejszych od 7 nie ma dolnej granicy kontrolnej
Krok A.3.: dla pierwszych podgrup
Krok A.2.: Pierwsze cztery podgrupy
ROZSTĘPY (Karta R)
Średnie (Karta X)
Karty kontrolne
X
i R zazwyczaj są rysowane tak, że karta
X
jest powyżej karty R,
oraz nad blokiem danych. Wartości
X
i R będą na skalach pionowych, zaś sekwencja
podgrup w czasie będzie na skali poziomej. Wartości danych i nanoszone punkty dla
rozstępu i średnich powinny być umieszczane w pionie.
Blok danych powinien obejmować miejsce dla każdego z pojedynczych odczytów.
Powinien także zawierać miejsce dla sumy odczytów, średniej (
X
), rozstępu (R) i
daty/czasu lub innych oznaczeń identyfikacyjnych dla podgrup.
Wpisz indywidualne wartości i oznaczenie (identyfikację) dla każdej z podgrup.
Wylicz średnią (
X
) i Rozstęp (R) dla każdej podgrupy
Charakterystyki, które mają być nanoszone, są średnimi próby (
X
) i rozstępami próby
(R) dla każdej podgrupy; łącznie odzwierciedlają one odpowiednio ogólną średnią
procesu i jego zmienność.
Dla każdej podgrupy wyliczamy:
X
X
X
... X
n
1
2
n
=
+
+ +
(50)
R = X
X
najwyższy
najniższy
−
(51)
gdzie X
1
, X
2
... są indywidualnymi wartościami w obrębie podgrupy, a n jest wielkością
próbki w podgrupie.
94
Rys.36. Karty Kontrolne
X
i R – „Badania Wstępne”.
Pionowe skale dla dwóch kart przynależą odpowiednio dla zmierzonych wartości
X
i R.
Pomocne mogą być pewne ogólne wskazówki dla ustalenia skal, chociaż w pewnych
okolicznościach być może konieczne będzie ich zmodyfikowanie. Dla karty
X
, różnica
pomiędzy najwyższymi i najniższymi wartościami na skali powinna być przynajmniej 2
razy większa od różnicy pomiędzy najwyższymi i najniższymi średnimi w podgrupach (
X
). Dla karty R, wartości powinny być rozciągnięte od najmniejszej wartości zero, do
wartości górnej, będącej około dwukrotnie większa od największej wartości rozstępu (R)
ustalonemu w czasie początkowego okresu.
95
* Dla prób mniejszych od 7 nie ma dolnej granicy kontrolnej
Krok A.3.: dla pierwszych podgrup
Krok A.4.
ROZSTĘPY (Karta R)
Średnie (Karta X)
Krok A.5.
Jedną z pomocnych wskazówek jest ustalenie takiej podziałki na skali dla karty
rozstępów, aby była dwa razy większa, niż dla karty średnich (np. jeżeli 1 jednostka skali
odpowiada 0,01 cala na karcie dla średnich, 1 jednostka podziałki powinna odpowiadać
0,02 cala na karcie dla rozstępów). Dla typowych wielkości podgrup, granice kontrolne dla
średnich i rozstępów będą miały w przybliżeniu tą samą rozpiętość, jako wizualna pomoc
w analizie.
Nanieś średnie i rozstępy na ich odpowiednie karty. Powinno to być zrobione tak szybko,
jak to możliwe po tym, gdy zadecydowano już o wyskalowaniu kart. Połącz punkty liniami
dla ułatwienia wizualizacji konfiguracji i trendów.
Krótko sprawdź naniesione punkty dla zobaczenia, czy wyglądają prawdopodobnie; jeżeli
któreś punkty są znacznie wyżej lub niżej niż pozostałe, upewnij się, czy wyliczenia i
naniesienie ich są prawidłowe. Upewnij się, czy naniesione punkty dla odpowiadających
sobie
X
i R są w linii pionowej w stosunku do siebie.
Dla umocnienia zasady, że wszystkie karty na stanowiskach roboczych mają naniesione
na nich granice kontrolne, początkowe karty, które nie mają jeszcze wyliczonych granic (z
powodu niewystarczającej liczby danych), powinny być wyraźnie opisane jako „Badanie
Wstępne”. Tak więc te karty „Badania Wstępnego”, czy to użyte do pierwotnego ustalenia
zdolności, czy też badania po doskonaleniu / zmianach procesu, powinny być jedynymi
kartami kontrolnymi dopuszczonymi na stanowiska robocze, które nie mają naniesionych
na nie granic kontrolnych
96
Rys.37. Karty
X
i R – z granicami kontrolnymi.
IN
S
T
R
U
K
C
JE
D
O
D
Z
IA
Ł
A
Ń
1.
N
IE
W
P
R
O
W
A
D
Z
A
J
D
O
P
R
O
C
E
S
U
Z
B
Ę
D
N
Y
C
H
,
N
IE
K
O
N
IE
C
Z
N
Y
C
H
Z
M
IA
N
2.
N
O
T
U
J
W
S
Z
Y
S
T
K
IE
Z
M
IA
N
Y
W
E
LE
M
E
N
T
A
C
H
P
R
O
C
E
S
U
(L
U
D
Z
IE
,
W
Y
P
O
S
A
Ż
E
N
IE
,
M
A
T
E
R
IA
Ł,
M
E
T
O
D
Y
,
Ś
R
O
D
O
W
IS
K
O
LU
B
S
Y
S
T
E
M
P
O
M
IA
R
O
W
Y
)
Z
T
Y
ŁU
T
E
G
O
D
R
U
K
U
97
Krok A.3.: dla pierwszych podgrup
*
D
la
pr
ób
m
ni
ej
szych
od
7
ni
e
m
a
dol
nej
gr
ani
cy
kont
rol
nej
D
Z
I A
Ł
A
N
I
E
C
O
D
O
S
PE
C
JA
L
N
Y
C
H
P
R
Z
Y
C
Z
Y
N
ja
ki
kol
w
ie
k punkt
poz
a
gra
ni
ca
m
i kont
rol
nym
i
prz
ebi
eg 7 punkt
ów
w
sz
ys
tki
ch pona
d l
ub
poni
że
j l
ini
i c
ent
ra
lne
j
prz
ebi
eg 7 punkt
ów
w
sz
ys
tki
ch w
górę
lub
w
dół
ka
żdy oc
zyw
is
ty i
nny
ni
ż l
os
ow
y ukł
ad
W
IE
L
K
O
Ś
Ć
P
O
D
G
R
U
P
Y
P
R
O
C
E
S
M
U
S
I B
Y
Ć
W
S
T
A
N
IE
S
T
E
R
O
W
A
N
IA
Z
A
N
IM
M
O
Ż
E
B
Y
Ć
O
K
R
E
Ś
L
O
N
A
Z
D
O
L
N
O
ŚĆ
5.6 Wyliczanie granic kontrolnych.
Najpierw wylicza się granice kontrolne dla karty rozstępu, a potem dla karty
średnich. Przy wylczaniu granic kontrolnych dla kart danych zmiennych wykorzystywane
są stałe, które pojawiają się jako litery w podanych dalej wzorach. Współczynniki te, które
zmieniają się odpowiednio co do wielkości podgrupy (n), są pokazane w krótkich tabelach
towarzyszących odpowiednim wzorom.
Wylicz średnią rozstępu (
R
) i średnią (
X
)
Dla badanego okresu wylicz:
R
R
R ... R
k
1
2
k
=
+
+ +
(52)
X
X
X
... X
k
1
2
k
=
+
+ +
(53)
gdzie k jest liczbą podgrup, R
1
i
X
1
są rozstępem i średnią dla pierwszej podgrupy, R
2
i
X
2
dla drugiej podgrupy, itd.
Wylicz Granice Kontrolne
Granice kontrolne są wyliczone w celu pokazania zakresu, w jakim będą się zmieniać
średnie i rozstępy w podgrupach, gdy występują tylko zwykłe przyczyny zmienności. Są
one zależne od wielkości podgrup i rozmiaru zmienności wewnątrz podgrup, która ma
odbicie w rozstępach. Wylicz górne i dolne granice kontrolne dla rozstępów i średnich:
UCL
R
= D
4
R
(54)
LCL
R
= D
3
R
(55)
UCL
X
=
X
+
A
2
R
(56)
LCL
X
=
X
-
A
2
R
(57)
gdzie D
4
, D
3
i A
2
są współczynnikami zmieniającymi się z wielkością próbki, których
wartości dla wielkości próbek zmieniają się od 2 do 10, jak to pokazano w poniższej
częściowej tabelce, :
98
n
2
3
4
5
6
7
8
9
10
D
4
D
3
A
2
3,27
*
1,88
2,57
*
1,02
2,28
*
0,73
2,11
*
0,58
2,00
*
0,48
1,92
0,08
0,42
1,86
0,14
0,37
1,82
0,18
0,34
1,78
0,22
0,31
* ( Dla prób o wielkości poniżej 7, wartość LCL
R
powinna być techniczne wartością
ujemną;
w takich przypadkach nie ma dolnej Dranicy kontrolnej; oznacza to, że dla podgrup o
wielkości 6, sześć „identycznych” pomiarów nie będzie nierozsądne)
Wykreśl Granice dla Średnich i Granice Kontrolne na Kartach
Wykreśl linie dla średnich wartości rozstępu (
R
) i średniej procesu (
X
) jako grube
poziome linie, zaś granice kontrolne (UCL
R
, LCL
R
, UCL
X
, LCL
X
) jako przerywane
linie poziome; opisz linie. Podczas fazy początkowej analiz, są one uważane za próbne
granice kontrolne.
99
Rys.38. karta R- punkt poza granicami kontrolnym
100
Krok A.3.: dla pierwszych podgrup
SYSTEM STEROWANY DLA ROZSTĘPÓW
SYSTEM NIESTEROWANY DLA ROZSTĘPÓW
(PUNKTY POZA LINIAMI KONTROLNYMI)
DZIAŁANIE
przy specjalnych
przyczynach
•
jakikolwiek punkt
poza granicami
Krok C: punkt poza granicą kontrolną
5.7 Interpretacja dla zdolności systemu pomiarowego.
Granice kontrolne mogą być interpretowane w następujący sposób: jeżeli
zmienność procesu od sztuki do sztuki i średnia procesu pozostaną stałe na ich obecnym
poziomie (jak oszacowano odpowiednio za pomocą
R
i
X
), to rozstępy (
R
) i średnie (
X
) dla pojedynczych podgrup będą się zmieniać tylko losowo, ale rzadko będą one
wychodzić poza granice kontrolne. Podobnie, nie będzie żadnych szczególnych trendów
lub wzorów (konfiguracji) w danych poza takimi, które mogły by wyniknąć z losowości.
Przedmiotem analizy kart kontrolnych jest identyfikowanie wszelkich oznak, że zmienność
procesu lub średnia dla procesu nie utrzymują się na stałym poziomie - że jedna lub obie są
poza sterowaniem statystycznym - i podjęcie właściwego działania. Karty
R
i
X
są
analizowane oddzielnie, ale porównanie wzorów (konfiguracji) pomiędzy tymi dwoma
kartami może dać czasami dodatkowe spostrzeżenia co do specjalnych przyczyn
oddziałujących na proces.
Ponieważ możliwość zinterpretowania rozstępów dla podgrup lub średnich dla podgrup
zależy od oczekiwanej zmienności typu od sztuki do sztuki, jako pierwsza jest analizowana
karta R. Punkty danych są porównywane z granicami kontrolnymi, w poszukiwaniu
punktów leżących poza granicami kontrolnymi, względnie wyjątkowych wzorów
(konfiguracji) lub trendów.
a.
Pomiary poza granicami kontrolnymi - Obecność jednego lub więcej punktów poza
którąś z granic kontrolnych jest pierwszym sygnałem braku sterowania w tym
punkcie. Ponieważ punkty poza granicą kontrolną mogą pojawiać się bardzo rzadko,
gdy występuje zmienność pochodząca tylko od zwykłych przyczyn, przyjmujemy, że
specjalna przyczyna zaszła dla tej ekstremalnej wartości. Dlatego też wszystkie
punkty poza granicami kontrolnymi są sygnałem do natychmiastowych analiz
operacji w poszukiwaniu przyczyny specjalnej. Oznacz wszelkie punkty danych,
które są poza granicami kontrolnymi dla dalszego badania i działania korygującego
opartego o to, kiedy ta specjalna przyczyna rzeczywiście rozpoczęła swoje działanie.
Punkt powyżej górnej granicy kontrolnej dla rozstępów jest zazwyczaj oznaką
występowania jednego lub większej ilości z następujących czynników:
•
Granica kontrolna lub naniesiony punkt został źle wyliczony lub źle naniesiony.
•
Zwiększyła się zmienność typu od sztuki do sztuki lub rozrzut rozkładu (tj.
pogorszenie się), albo w tym jednym punkcie w czasie, albo jako część trendu.
•
Zmienił się system pomiarowy (np. inny inspektor lub przyrząd).
•
Systemowi pomiarowemu brakuje właściwego rozeznania.
101
Punkt poniżej dolnej granicy kontrolnej (dla prób o wielkości 7 lub większej) jest
zazwyczaj oznaką występowania jednego lub większej ilości z następujących
czynników:
•
Granica kontrolna lub naniesiony punkt są błędne.
•
Rozrzut rozkładu zmniejszył się (tj. polepszył się).
•
Zmienił się system pomiarowy (włączając w to edytowanie lub zmienianie
danych).
Wzory (konfiguracje) lub Trendy w Zakresie Granic Kontrolnych - Obecność
niezwykłych wzorów lub trendów, nawet gdy wszystkie rozstępy znajdują się w
obrębie granic kontrolnych, może być dowodem braku sterowania lub zmiany w
rozkładzie procesu w okresie występowania wzoru lub trendu. Może to dać pierwszy
sygnał ostrzegawczy o niesprzyjających warunkach, które powinny być
skorygowane. Odwrotnie, niektóre wzory lub trendy mogą być korzystne i powinny
być badane pod kątem możliwego stałego doskonalenia procesu. Porównanie
wzorów pomiędzy kartami dla rozstępów i średnich może nasunąć dodatkowe
spostrzeżenia.
102
Rys.39. Karta R – Przebiegi (Rozstępy)
103
Oznacz punkt, który powoduje podjęcie decyzji; może być pomocne przedłużenie linii
odniesienia wstecz do początku przebiegu. Analiza powinna brać pod uwagę przybliżony
czas, w którym okazało się, że rozpoczął się trend, lub zaczęło się przesunięcie systemu.
Przebieg powyżej średniego rozstępu, lub przebieg w górę, oznacza występowanie jednej
lub dwóch z następujących rzeczy:
•
Większy rozrzut w wartościach wyjściowych, który może pochodzić od nieregularnej
przyczyny (jak np. niesprawność wyposażenia lub poluzowanie zamocowań), lub od
przesunięcia się jednego z elementów systemu (np. nowa partia surowca o mniejszej
jednorodności); są to zazwyczaj problemy, które wymagają skorygowania.
•
Zmianą w systemie pomiarowym (np. nowy inspektor lub przyrząd)
Przebieg poniżej średniego rozstępu, lub przebieg w dół oznacza występowanie jednej lub
dwóch z następujących rzeczy:
•
Mniejszy rozrzut w wartościach na wyjściu, co zazwyczaj jest dobrym stanem, który
powinien być zbadany w celu szerszego zastosowania przy doskonaleniu procesu.
•
Zmianę w systemie pomiarowym, która może maskować rzeczywiste zmiany w
osiągach.
104
Rys.40. Karta R – Konfiguracje nieprzypadkowe.
105
Wzory wyraźnie nielosowe - Oprócz obecności punktów poza granicami kontrolnymi
lub długimi przebiegami, w danych mogą pojawić się różne wzory, które dają
wskazówki co do specjalnych przyczyn. Należy zwracać uwagę na to, aby nadmiernie
nie interpretować danych, ponieważ nawet dane losowe (tzn. od zwykłych przyczyn)
mogą czasami sprawiać wrażenie nielosowości (tj. obecności specjalnych przyczyn).
Przykładami konfiguracji wyraźnie nielosowych mogą być oczywiste trendy (nawet,
gdy nie spełniają one w sposób zadawalający przebiegów badań), cykle, ogólny rozkład
punktów danych w obrębie granic kontrolnych, lub nawet zależności pomiędzy
wartościami w obrębie podgrup (np. pierwszy odczyt zawsze może być największy).
Jedno badanie oceniające ogólny rozrzut punktów danych w podgrupie jest opisane
poniżej:
Odległość punktów od
R
: Ogólnie, około 2/3 naniesionych punktów powinno leżeć w
zakresie środkowej jednej trzeciej obszaru pomiędzy granicami kontrolnymi; około 1/3
punktów powinno leżeć w zewnętrznych 2/3 tego obszaru. Jeżeli znacznie więcej niż
2/3 naniesionych punktów leży blisko
R
(dla 25 podgrup jeżeli ponad 90% punktów
jest w środkowej jednej trzeciej obszaru między granicami kontrolnymi), zbadaj jedną
lub więcej z następujących rzeczy:
•
Granice kontrolne lub naniesione punkty zostały źle wyliczone lub źle
naniesione.
•
Proces lub metoda pobierania prób nawarstwiają się; każda podgrupa
systematycznie zawiera pomiary z dwóch lub większej ilości strumieni procesu,
które mają bardzo różne średnie dla procesu (np. jedna sztuka z każdego z
siedmiu wrzecion).*
•
Dane były edytowane (podgrupy z rozstępami, które odchylały się mocno od
średniej zostały zmienione lub usunięte).
Jeżeli znacznie mniej niż 2/3 naniesionych punktów leży blisko
R
(dla 25 podgrup
jeżeli 40% punktów lub mniej jest w środkowej jednej trzeciej), zbadaj jedną lub obie z
następujących rzeczy:
•
Granice kontrolne lub naniesione punkty zostały źle wyliczone lub źle
naniesione.
•
Proces lub metoda pomiarowa powodują, że kolejne podgrupy zawierają
pomiary z dwóch lub większej ilości strumieni procesu, które mają bardzo
różniącą się zmienność.
106
Dla każdej wzmianki o specjalnej przyczynie w danych dla rozstępu przeprowadź analizę
operacji systemu celem ustalenia przyczyny i dla poprawy zrozumienia systemu. Sama
karta kontrolna powinna być użytecznym narzędziem przy analizie problemu, sugerując,
kiedy ten stan się rozpoczął, i jak długo trwał. Jednakże zauważ, że nie wszystkie specjalne
przyczyny są negatywne, że niektóre przyczyny specjalne mogą prowadzić do
pozytywnego wpływu na doskonalenie systemu pod względem zmniejszonej zmienności
rozstępu - te specjalne przyczyny powinny być ocenione dla ewentualnego wprowadzenia
ich do procesu, gdy jest to właściwe.
Ważna jest terminowość w analizie problemów, zarówno pod względem minimalizacji
niezgodności na wyjściu, oraz pod względem posiadania świeżych informacji dla
diagnozowania. Na przykład, pojawienie się pojedynczego punktu poza granicą kontrolną
jest powodem rozpoczęcia niezwłocznej analizy procesu. Dziennik także może być
pomocnym źródłem informacji dla identyfikowania specjalnych przyczyn zmienności.
Należy podkreślić, że rozwiązywanie problemów jest często najtrudniejszym, oraz
pochłaniającym najwięcej czasu krokiem. Wejście statystyczne z karty kontrolnej może
być odpowiednim punktem wyjścia, ale pomocne mogą być także inne metody, takie jak
wykres Pareto, wykres przyczynowo - skutkowy lub inne analizy graficzne . Ostatecznie
jednak, wyjaśnienie zachowania się leży w samym procesie oraz ludziach, którzy są w
niego zaangażowani. Sumienność, cierpliwość, wnikliwość i zrozumienie będą konieczne
dla rozwijania działań, które w sposób wymierny polepszą osiągi.
W czasie przeprowadzania wstępnego badania systemu, lub przy powtórnym ocenianiu
zdolności systemu, należy przeliczyć granice kontrolne dla wykluczenia efektów
pochodzących z tych okresów, gdy proces był poza sterowaniem, a dla których przyczyny
wpływające na proces zostały w całkowicie zidentyfikowane i usunięte, lub jako korzystne
wprowadzone do stałego stosowania. Wyklucz wszystkie podgrupy, na które oddziaływały
specjalne przyczyny, a które zostały zidentyfikowane i usunięte lub wprowadzone do
stosowania, a następnie przelicz ponownie i nanieś nowe linie dla średniego rozstępu (
R
)
i granice kontrolne. Potwierdź, że wszystkie punkty rozstępu pokazują, że są w stanie
sterowania, gdy porówna się je z nowymi granicami kontrolnymi, powtarzając, gdy to
konieczne, sekwencję identyfikacji / korygowania / przeliczania.
Jeżeli jakiekolwiek podgrupy zostały usunięte z karty R z powodu zidentyfikowania
specjalnych przyczyn, powinny również być usunięte z karty
X
. Zmodyfikowane
wartości
R
i
X
powinny być użyte do ponownego przeliczenia próbnych granic
kontrolnych dla średnich,
X
±
A
2
R
.
107
Wyłączanie podgrup reprezentujących niestabilne warunki nie jest tylko „odrzucaniem
złych danych”. Raczej, przez wyłączenie punktów, na które oddziaływały znane przyczyny
specjalne, mamy lepszą ocenę drugorzędnego (background) poziomu dla zmienności,
spowodowanej zwykłymi przyczynami. To z kolei, daje najbardziej odpowiednią podstawę
dla granic kontrolnych stosowanych do wykrywania w przyszłości występowania
specjalnych przyczyn zmienności. Przypomina się jednak, że proces musi być zmieniony
tak, aby przyczyny specjalne nie pojawiły się ponownie (gdy są niepożądane) jako część
procesu.
108
Rys.41. Karty
X
- punkty poza granicami kontrolnymi.
109
Jeżeli rozstępy są pod sterowaniem statystycznym, - zmienność w obrębie podgrup - jest
uznawany za stabilny. Średnie mogą być więc analizowane dla zobaczenia, czy położenie
systemu zmienia się w czasie. Ponieważ granice kontrolne dla X z kreską są oparte na
wielkości zmienności w rozstępach, to jeżeli średnie są pod sterowaniem statystycznym,
ich zmiana położenia jest związana z wielkością zmienności obserwowanej dla rozstępów -
zmienności systemu pochodzącej od zwykłych przyczyn. Jeżeli średnie nie są pod
sterowaniem, pewne specjalne przyczyny zmienności powodują, że położenie procesu jest
niestabilne.
Punkty poza granicami kontrolnymi - Obecność jednego lub więcej punktów poza którąś z
granic kontrolnych jest pierwszą oznaką obecności specjalnej przyczyny w tym punkcie.
Jest to sygnał dla podjęcia niezwłocznej analizy operacji. Oznacz takie punkty na wykresie
Punkt poza którąś z granic kontrolnych ogólnie jest oznaką jednego lub większej ilości
z następujących czynników:
granica kontrolna lub naniesiony punkt są błędne.
proces przesunął się, albo w tym jednym punkcie w czasie (możliwe, że jako wyizolowany
incydent), lub jako część trendu.
zmienił się system pomiarowy (np. inny przyrząd lub inspektor).
110
Rys.42. Karty
X
- przebiegi.
111
Wzory lub Trendy Pomiędzy Granicami Kontrolnymi - Obecność nietypowych wzorów
lub trendów może świadczyć o braku sterowania w okresie występowania tego wzoru lub
trendu. Pomocne może być porównanie wzorów pomiędzy kartami rozstępów i średnich.
Przebiegi - każda z następujących rzeczy jest sygnałem, że proces przesuwa się, lub że
rozpoczął się trend:
•
7 punktów z rzędu po jednej stronie średniej.
•
7 punktów z rzędu, które konsekwentnie rosną, lub konsekwentnie maleją.
Oznacz punkt, który powoduje podjęcie decyzji; może być pomocne przedłużenie linii
odniesienia wstecz do początku przebiegu. Analiza powinna brać pod uwagę przybliżony
czas, w którym okazało się, że rozpoczął się trend, lub zaczęło się przesunięcie systemu.
Przebieg będący w odniesieniu do średniej z procesu ogólnie jest sygnałem jednego z
następujących:
•
Średnia zmieniła się - i wciąż może się zmieniać.
•
Zmienił się system pomiarowy (przesunięcie, odchylenie (bias), czułość itd.).
112
Rys.43. Karta
X
- Konfiguracje nieprzypadkowe.
113
Wzory wyraźnie nielosowe - Inne wyraźne wzory mogą również wskazywać obecność
specjalnych przyczyn zmienności, chociaż należy zwracać uwagę na to, aby nadmiernie
nie interpretować danych. Pomiędzy tymi wzorami są trendy, cykle i nietypowe rozrzuty
punktów pomiędzy granicami kontrolnymi, oraz zależności pomiędzy wartościami w
obrębie podgrup. Jedno z badań dla nietypowego rozrzutu jest podane poniżej:
Odległość punktów od średniej : Ogólnie, około 2/3 naniesionych punktów powinno leżeć
w zakresie środkowej jednej trzeciej pomiędzy granicami kontrolnymi; około 1/3 punktów
będzie leżało w zewnętrznych dwóch trzecich obszaru; około 1/20 punktów będzie leżało
stosunkowo blisko granic kontrolnych (w zewnętrznej jednej trzeciej obszaru). Także,
istnieje prawdopodobieństwo, że około 1/150 może leżeć poza granicami kontrolnymi, ale
ciągle będzie stanowić część stabilnego systemu będącego w stanie sterowania, tj. tylko
około 99,73% punktów będzie leżało w zakresie pomiędzy granicami kontrolnymi.
Jeżeli znacznie więcej niż 2/3 punktów leży blisko średniej procesu (z 25 podgrup jeżeli
więcej niż 90% jest w zakresie środkowej jednej trzeciej obszaru granic kontrolnych),
zbadaj jeden lub więcej z następujących elementów:
•
Granice kontrolne lub naniesione punkty zostały źle wyliczone, źle naniesione, lub źle
przeliczone ponownie.
•
System lub metoda pobierania prób powoduje, że kolejne podgrupy zawierają pomiary
z dwóch lub większej ilości bardzo różnych strumieni systemu (może to być wynik
nadmiernej regulacji procesu, którym da się sterować, gdy zmiany w procesie są
wykonywane w odpowiedzi na losowe wahania danych z systemu).
Jeżeli występuje kilka strumieni systemu, powinny one być osobno identyfikowane i
śledzone.
114
Rys. 44. Karty
X
i R - przeliczanie granic kontrolnych.
Dla każdego punktu wskazującego na stan poza sterowaniem w danych dla średnich,
przeprowadź analizę operacji procesu, aby ustalić powód specjalnej przyczyny; skoryguj
115
ten stan i zabezpiecz się przed jego powtórzeniem się. Użyj karty danych jako pomocy,
gdzie taki warunek się rozpoczął i jak długo trwał. Terminowość w analizowaniu jest
ważna, zarówno dla diagnozowania, jak i dla zminimalizowania niezgodności na wyjściu.
Ponownie, uważaj na to, że nie wszystkie specjalne przyczyny muszą być niepożądane.
Mogą tu być pomocne takie techniki rozwiązywania problemów jak analiza Pareto, oraz
analiza przyczynowo - skutkowa .
Przy przeprowadzaniu początkowego badania systemu lub przy ponownej ocenie zdolności
procesu, wyklucz wszelkie punkty będące poza sterowaniem, dla których specjalne
przyczyny zostały znalezione i usunięte; przelicz ponownie i nanieś średnią procesu i
granice kontrolne. Potwierdź, że wszystkie punkty danych wskazują, że są w stanie
sterowania po przyrównaniu ich do nowych granic, powtarzając, gdy to konieczne,
sekwencję identyfikacji / korygowania / przeliczania.
Powyższe rozważania były przeznaczone dla funkcjonalnego wprowadzenia do analizy
kart kontrolnych. Jednakże są i inne rozważania, które mogą być użyteczne dla
analizującego. Jedną z najważniejszych rzeczy do zapamiętania jest to, że nawet przy
procesie, który jest w stanie sterowania statystycznego, wraz z przeglądaniem większej
liczby danych, stała szansa znalezienia fałszywych sygnałów o specjalnych przyczynach w
którejś z pojedynczych podgrup zamienia się na rosnące prawdopodobieństwo znalezienia
fałszywych sygnałów gdzieś na wykresie (wykresach).
Podczas, gdy rozsądnym jest zbadanie wszystkich zasygnalizowanych przypadków jako
możliwych dowodów istnienia specjalnych przyczyn, należy zwrócić uwagę, że mogą one
być spowodowane przez system, i że może nie istnieć ukryty za nimi żaden lokalny
problem procesu. Jeżeli nie znaleziono wyraźnego dowodu wystąpienia specjalnej
przyczyny, każde działanie „korygujące” będzie najprawdopodobniej prowadziło do
zwiększenia, niż do zmniejszenia, całkowitej zmienności w wyjściu z systemu
pomiarowego.
116
Rys.45 Karty – rozszerzone granice.
117
Jeżeli dane początkowe w sposób konsekwentny utrzymują się w próbnych granicach
kontrolnych, przedłuż te granice, aby objąć nimi przyszłe okresy. Może tu być potrzebne
ustawienie procesu na cel, jeżeli środek procesu jest poza celami systemu. Granice te będą
także używane dla bieżącego monitorowania procesu, gdzie operator lub lokalny nadzór
reagują odpowiednio na sygnały o warunkach poza sterowaniem, albo na karcie
X
, albo
na karcie
R
, oraz niezwłoczne podejmują właściwe działania.
Zmiana w wielkości prób podgrupy będzie wpływała na oczekiwany średni rozstęp i na
granice kontrolne, równocześnie dla rozstępów i średnich. Sytuacja ta mogła by się
wydarzyć, na przykład, gdy podjęto decyzję o pobieraniu małych prób z większą
częstotliwością, tak aby szybciej wykrywać duże przesunięcia procesu, bez zwiększania
ogólnej liczby próbek pobieranych w ciągu dnia. Aby dostosować linie centralne i granice
kontrolne do nowej wielkości podgrupy, należy podjąć następujące kroki:
Oszacować średnie odchylenie standardowe procesu (oszacowanie jest oznaczane jako
σ
-
„sigma z daszkiem”). Stosując istniejącą wielkość podgrupy oblicz:
/
σ =
R d
2
(58)
Gdzie
R
jest średnią dla rozstępów z podgrup (dla okresów z rozstępami w stanie
sterowania), a d
2
jest stałą, zmieniającą się wraz z wielkością podgrupy, jak to pokazano w
częściowej tablicy poniżej:
n
2
3
4
5
6
7
8
9
10
d
2
1,13
1,69
2,06
2,33
2,53
2,70
2,85
2,97
3,08
Używając współczynników wziętych z tabel dla d
2
, D
3
, D
4
i A
2
opartych o nową wielkość
podgrupy, wylicz nowy rozstęp i granice kontrolne:
R
nowe
=
σ
d
2
(59)
UCL
R
= D
4
R
nowe
(60)
LCL
R
= D
3
R
nowe
(61)
UCL
X
=
X
+ A
2
R
nowe
(62)
LCL
X
=
X
- A
2
R
nowe
(63)
118
Nanieś te nowe granice kontrolne na wykres, jako podstawę dla bieżącego sterowania
systemem.
Tak długo, jak system pozostaje w stanie sterowania zarówno dla średnich, jak i dla
rozstępów, bieżące granice mogą zostać przedłużone na dodatkowe okresy. Jednak jeżeli
wystąpi oznaka, że średnia procesu lub rozstęp zmieniły się (w dowolnym kierunku),
przyczyna tego powinna być ustalona, i, jeżeli zmiana jest uzasadniona, granice kontrolne
powinny być ponownie przeliczone, w oparciu o bieżące osiągi.
„Doskonały stan sterowania nie jest nigdy osiągalny w procesie produkcyjnym. Celem kart
kontrolnych procesu nie jest perfekcja, ale rozsądny i ekonomiczny stan sterowania.
Dlatego też, dla celów praktycznych, proces w stanie sterowania to nie taki, gdzie na
karcie nigdy nie wychodzi poza sterowanie. Gdyby zapis na karcie nigdy nie wychodził
poza stan sterowania, poważnie byśmy się zastanawiali, czy ta operacja powinna być
nanoszona na kartę. Dla celów produkcyjnych za sterowany proces będzie się uważać taki,
w którym tylko niewielki procent punktów będzie znajdował się poza sterowaniem, i gdzie
po wystąpieniu punktów poza sterowaniem będzie przeprowadzane odpowiednie
działanie.”
119
SYSTEM ZDOLNY DO SPEŁNIENIA WYMAGAŃ (POTENCJALNIE CAŁE
WYJŚCIE JEST W GRANICACH SPECYFIKACJI) Z RÓŻNIĄCYMI SIĘ
POZIOMAMI ZMIENNOŚCI
LSL – dolna granica specyfikacji
USL – górna granica specyfikacji
SYSTEM ZDOLNY DO SPEŁNIANIA SPECYFIKACJI (WYJŚCIE JEST
WYTWARZANE POZA JEDNĄ LUB OBYDWOMA GRANICAMI SPECYFIKACJI)
ODCHYLENIE STANDARDOWE I ZAKRES (DLA DANEJ WIELKOŚCI PRÓBY. IM
WIĘKSZY JEST ŚREDNI ROZSTĘP R, TYM WIĘKSZE JEST ODCHYLENIE
STANDARDOWE)
Rys.46. Spełnieni wymagań w systemach zdolności
120
Z PRZYKŁADU (SZACOWANIE ODCHYLENIA STANDARDOWEGO ZE
ŚREDNIEGO ROZSTĘPU)
R
=
.169
n
=
5
d2
=
2.33
=
R/d2 = .169/2.33 = .725
X
=
.738
LSL
=
.500
USL =
.900
Rys. 47. Zmienność systemu w odniesieniu do granic specyfikacji.
121
Oczywiście, są różne poziomy lub stopnie sterowania statystycznego. Używana
definicja sterowania może zawierać się między zwykłymi punktami nieprzystającymi
(punktami poza granicami kontrolnymi), poprzez przebiegi, trendy lub nawarstwienia,
aż do pełnej analizy strefy. Gdy używana definicja sterowania rozwija się aż do pełnej
analizy strefy, prawdopodobieństwo wykrycia braku sterowania rośnie (na przykład,
proces bez punktów poza granicami może wykazać brak sterowania przez oczywisty
przebieg utrzymujący się ciągle pomiędzy granicami kontrolnymi). Z tego powodu,
używana definicja sterowania powinna być konsekwentna z twoją możliwością
wykrywania tego w punkcie sterowania, i powinna pozostać taka sama w ciągu jednego
przedziału czasu, w obrębie jednego procesu. Niektórzy dostawcy mogą nie być zdolni
do zastosowania pełniejszej definicji sterowania na poziomie produkcyjnym na bazie
czasu rzeczywistego z uwagi na niedojrzałe stadia szkolenia operatorów lub braku
„unaukowienia” zdolności operatorów. Zdolność do stwierdzenia braku sterowania w
punkcie sterowania i w czasie rzeczywistym jest korzyścią płynącą z kart kontrolnych.
Nadmierna interpretacja danych jest niebezpieczeństwem w utrzymaniu prawdziwego
stanu sterowania ekonomicznego.
5.6 Interpretacja dla zdolności systemu.
Dla kontynuowania przykładu , interpretacja dla zdolności procesu może być
omówiona, przy następujących założeniach:
•
System jest statystycznie stabilny.
•
Pojedyncze pomiary z procesu odpowiadają rozkładowi normalnemu.
•
Specyfikacje inżynierskie lub inne, dokładnie reprezentują potrzeby klienta.
•
Zaprojektowana wartość celowa jest w środku zakresu specyfikacji.
•
Zmienność pomiarów jest stosunkowo mała.
Po ustaleniu, że system jest w stanie sterowania statystycznego, pozostaje ciągle pytanie,
czy system jest zdolny do spełniania potrzeb klienta. Dla zrozumienia i doskonalenia
zdolności systemu pomiarowego, musi nastąpić istotna zmiana w sposobie myślenia:
zdolność odzwierciedla zmienność spowodowaną zwykłymi przyczynami i działanie
kierownictwa na system jest prawie zawsze wymagane, dla polepszenia zdolności
122
Ocenianie zdolności procesu zaczyna się po tym, gdy problemy dotyczące sterowania,
ujawnione zarówno na katach X jak i R zostały rozwiązane (specjalne przyczyny
zidentyfikowane, przeanalizowane, skorygowane i zabezpieczone przed ich powtórzenie
się); a bieżące karty kontrolne odzwierciedlają proces który jest w stanie sterowania
statystycznego najlepiej dla 25 lub więcej podgrup. Ogólnie, rozkład wyjścia procesu jest
porównywany ze specyfikacjami inżynierskimi dla stwierdzenia, czy specyfikacje te mogą
być spełnione w sposób trwały.
Jest wiele technik dla oceniania zdolności systemu, który jest w sterowaniu statystycznym.
Pewną oceną jest to, czy wyjście z procesu ma dzwonowy rozkład normalny. Jeżeli nie jest
widocznym czy rozkład jest normalny, badanie czy jest on normalny należy wykonać
przez przeglądnięcie histogramu, naniesienie go na arkusz rozkładu normalnego, lub
stosując dokładniejsze metody. Jeżeli nienormalność rozkładu jest domniemana lub
potwierdzona, należy zastosować bardziej elastyczne metody, takie jak przekształcenie
danych dla jego „znormalizowania”, skomputeryzowane dopasowanie krzywych lub
analizę graficzną. Jeżeli kształt rozkładu jest normalny, może być zastosowana technika,
która jest opisana poniżej. Obejmuje ona proste wyliczenia oparte o dane z kart
kontrolnych, Średnia procesu
X
jest używana jako miara położenia procesu. Jako miara
rozrzutu stosowane jest odchylenie standardowe, szacowane z prostego wzoru
obejmującego średni rozstęp R.
123
124
Z przykładu:
X
= .738
σ
ˆ
= .0725
USL= .900
SLS= .500
•
Kiedy proces ma dwustronne tolerancje:
23
.
2
0725
.
162
.
0725
.
738
.
900
.
ˆ
=
=
−
=
−
=
σ
X
USL
Z
USL
28
.
3
0725
.
238
.
0725
.
500
.
738
.
ˆ
=
=
−
=
−
=
σ
LSL
X
Z
LSL
Z
min
= 2.23
Proporcje przypadków poza specyfikacją będą:
USL
Z
P
=.0129 (dane z tabeli znajdującej się w Załączniku F)
LSL
Z
P
=.0005 (dane z tabeli znajdującej się w Załączniku F)
P
całk
= .0134 (około 1,3%)
Wskaźnik zdolności będzie :
74
.
3
23
.
2
3
min
≅
=
=
Z
C
pk
(=minimum z CPU lub CPL)
UWAGA: Tylko dla celów porównawczych są użyte inne wskaźniki (patrz str.80)
C
P
= .92, P
P
= .88, CPU = .74, CPL = 1.06, i P
pk
= .71, liczone w następujący sposób:
92
.
)
0725
(.
6
5
.
9
.
ˆ
6
2
/
=
−
=
−
=
d
R
p
LSL
USL
C
σ
X
∑
=
=
−
=
=
−
=
−
=
80
1
2
0759
.
79
)
738
.
(
ˆ
,
88
.
)
0759
(.
6
5
.
9
.
ˆ
6
i
i
S
p
x
gdzie
LSL
USL
P
σ
σ
74
.
)
0725
(.
3
738
.
900
.
ˆ
3
2
/
=
−
=
−
=
d
R
X
USL
CPU
σ
09
.
1
)
0725
(.
3
500
.
738
.
ˆ
3
2
/
=
−
=
−
=
d
R
LSL
X
CPL
σ
71
.
3
0759
.
/
162
.
3
ˆ
/
)
738
.
900
(.
=
=
−
=
σ
pk
P
Stosunki zdolności wynoszą: CR = 1.09, PR = 1.14, wyliczone w następujący sposób:
09
.
1
5
.
9
.
)
0725
(.
6
ˆ
6
/
1
2
/
=
−
=
−
=
=
LSL
USL
C
CR
d
R
p
σ
14
.
1
5
.
9
.
)
0759
(.
6
ˆ
6
/
1
=
−
=
−
=
=
LSL
USL
P
PR
S
p
σ
•
Jeżeli ten proces może być wyregulowany do środka specyfikacji, proporcja części
leżących poza jedną lub obiema granicami specyfikacji może być zredukowana
nawet bez zmiany
σ
ˆ
. Np. jeżeli potwierdzi się kartami kontrolnymi że
n
n-1
Wyliczanie odchylenia standardowego systemu.
Ponieważ zmienność systemu między podgrupami znajduje swoje odzwierciedlenie w
rozstępach tych podgrup, oszacowanie standardowego odchylenia procesu
σ
ˆ
(sigma z
daszkiem) może opierać się na średnim rozstępie
R
.
σ
=
d
R /
2
=
σ
d
R /
2
gdzie
R
jest średnim rozstępem dla podgrupy (dla czasu gdy rozstępy są w sterowaniu), a
d
2
jest wartością stałą zależną od wielkości próby.
n
2
3
4
5
6
7
8
9
10
d
2
1.13
1.69
2.06
2.33
2.53
2.70
2.85
2.97
3.08
Oszacowanie standardowego odchylenia systemu(
σ
d
R /
2
) może być przydatne przy
ocenianiu zdolności procesu tak długo jak i rozstępy i średnie są w sterowaniu
statystycznym.
Zdolność może być przedstawiona jako odległość średniej od granicy specyfikacji w jedno
ostkach odchylenia standardowego, Z. Przy rysowaniu wykresu, który będzie przedstawiał
krzywą rozkładu, pomocne będą wartości
X
,
2
/
ˆ
d
R
σ
, granice specyfikacji i wartość Z.
•
Dla tolerancji jednostronnej wylicz:
2
/
ˆ
d
R
X
USL
Z
σ
−
=
lub
2
/
ˆ
d
R
LSL
X
Z
σ
−
=
, które jest
odpowiednie
gdzie SL = granica specyfikacji,
X
= zmierzona średnia procesu i
2
/
ˆ
d
R
σ
= oszacowane
odchylenie standardowe procesu.
•
Dla tolerancji dwustronnych, wyliczamy:
2
/
ˆ
d
R
USL
X
USL
Z
σ
−
=
2
/
ˆ
d
R
LSL
LSL
X
Z
σ
−
=
(64)
Z
min
= Minimum Z
USL
lub Z
LSL
gdzie USL, LSL = górne lub dolne granice specyfikacji; ujemna wartość Z pokazuje, że
średnia znajduje się poza specyfikacją.
125
Wartości Z wraz z tabelą standardowego rozkładu normalnego mogą być użyte do
oszacowania proporcji wyjścia, które będzie poza którąś specyfikacją (przybliżona
wartość, przy założeniu, że proces znajduje się w sterowaniu statystycznym i ma normalny
rozkład).
•
Dla tolerancji jednostronnej. Jednostki i liczby dziesiętne znajdują się po lewej stronie
a liczby setne na górze. Liczby znajdujące się na przecięciu kolumny i rzędu to p
Z
,
proporcje znajdujące się poza specyfikacją. Na przykład dla Z = 1.56 przecięcie się
rzędu 1.5 i kolumny x.x6 daje p
Z
=.0594, lub około 6%.
126
Rys.48. Przebieg zdolności systemu.
127
Z przykładu:
Jeżeli wymaganie co do zdolności, wyrażone poprzez Z min, było Z min > 4, wtedy bieżąca zdolność wyrażanie przez Z min będzie nie do przyjęcia
gdyż Z min = 2.23 i około 1,3% wyjścia jest poza specyfikacją; nawet jeżeli proces mógłby być wycentrowany, Z min = 2.76. Musi być podjęte
działanie.
•
dla poprawienia aktualnej zdolności procesu (cel długoterminowy), zredukowana musi być zmienność od zwykłych przyczyn; będzie to
mierzone jako mniejsze
σ
.
Aktualna średnia procesu X jest używana do wyliczania zakresu koniecznego dla Z min = 4 odnoszącego się do istniejącej specyfikacji:
USL – X
X - LSL
σ
nowe = ------------------
lub
σ
nowe = ------------------
Z min nowe
Z min nowe
Zależnie od tego, która granica specyfikacji jest bliżej średniej procesu. Jako, że tutaj
bliżej jest USL:
0,900 – 0,738
0,162
σ
nowe = ----------------------- = --------------- = 0,0405
4
4
oznacza to, że muszą być podjęte działania dla ograniczenia odchylenia standardowego procesu z 0,0725 do 0,0405, co oznacza poprawienie o około
44%.
Jeżeli zostanie potwierdzone przy pomocy kart kontrolnych, że proces został wycentrowany i X nowe = 0,700, zakres procesu niezbędny dla Z min =
4(X + 4
σ
), oparty na istniejących specyfikacjach, będzie wynosić:
USL – X nowa
0,900 – 0,700 0,200
σ
nowe = ------------------------ = ----------------------- = -------------- = 0,0500
Z min nowe
4
4
•
Dla tolerancji dwustronnej wylicz osobno proporcje znajdujące się poza górną i dolną
granicą specyfikacji. Na przykład, jeżeli Z
USL
= 2.21 i Z
LSL
= -2.58, całkowita ilość poza
specyfikacją wynosi
0158
.
0
022
.
0
0136
.
0
=
+
=
+
LSL
USL
Z
Z
P
P
, lub około 1,6%.
Wartość Z
min
może także być przekształcona we wskaźnik zdolności, C
pk
, zidentyfikowany
jako:
=
=
3
min
Z
C
pk
minimum z CPU
−
2
/
ˆ
3
.
d
R
X
USL
tj
σ
lub CPL
−
2
/
ˆ
3
.,
d
R
LSL
X
tj
σ
gdzie USL i LSL są górną i dolną granicą specyfikacji inżynieryjnych,
X
jest średnią z
procesu i
σ
ˆ
jest odchyleniem standardowym procesu, wyliczonym przy zastosowaniu
wzoru
2
d
R
.
Proces z Z
min
= 3 będzie miał wskaźnik zdolności C
pk
= 1.00. Jeżeli Z
min
= 4, proces będzie
miał
C
pk
= 1.33.
W tym miejscu system został doprowadzony do stanu sterowania statystycznego a jego
wskaźnik zdolności został opisany w postaci Z
min
lub C
pk
. Następnym krokiem jest
ocenianie zdolności procesu z punktu widzenia spełnienia wymagań klienta.
Fundamentalnym celem jest nigdy nie kończące się doskonalenie systemu. Jednakże
priorytety muszą być tak ustalone, aby po ustaleniu, które wymagają najszybszych zmian,
im poświęcić najwięcej uwagi. Jest to decyzja podstawowa i ekonomiczna. Okoliczności
zmieniają się od przypadku do przypadku, zależnie od rodzaju rozpatrywanego systemu
oraz osiągów innych systemów, które także mogą zasługiwać na objęcie ich
natychmiastowymi działaniami doskonalącymi.
Podczas gdy każda decyzja może być rozważana indywidualnie, często pomocnym jest
używanie szerszych wytycznych dla ustalania priorytetów i promowania spójności w
wysiłkach związanych z doskonaleniem. Na przykład, niektóre procedury odwołują się do
wymagań zdolności procesu poprzez granice Z
min
≥
3 lub C
pk
≥
1.00, a dalej ustalają
128
wymagania dotyczące wskaźnika zmienności Z
min
≥
4 lub C
pk
≥
1.33 dla nowych
procesów, oddziałujących na wybrane istotne charakterystyki wyrobu. Wymagania te
mają na celu zapewnienie minimalnego poziomu, który jest spójny dla charakterystyk,
wyrobów i środków wytwarzania. Jednak, dla lepszego zrozumienia i interpretacji C
pk
i
innych miar procesu, odnoszących się do ustalenia wymagań dla pomiarów, prosimy o
zapoznanie się z Rozdziałem 5 tego działu.
Zarówno, w odpowiedzi na nie spełnienie kryterium wskaźnika zdolności jak i dla ciągłej
potrzeby optymalizacji kosztów oraz osiągów jakościowych, ponad poziom wymagań dla
minimalnego wskaźnika zdolności, wymagane działania są takie same:
•
Doskonalenie osiągów systemu przez zredukowanie zmienności, która pochodzi od
zwykłych przyczyn, lub przesunięcie średniej procesu bliżej celu. Zazwyczaj oznacza
to podjęcie działania przez kierownictwo dla doskonalenia systemu.
W tych przypadkach gdzie potrzebne jest szybsze działanie dla spełnienia krótko –
terminowych potrzeb, mogą być zastosowane dwa rozwiązania:
•
Sortuj wyjście i złomuj lub naprawiaj stosownie do potrzeb (w ten sposób zwiększając
koszty i tolerując straty)
•
Zmień specyfikacje dla dostosowania ich do osiągów (nie poprawia to ani systemu, ani
nie zwiększa satysfakcji klienta)
W celu poprawienia zdolności systemmu, musi być poświęcona większa uwaga
redukowaniu zwykłych przyczyn. Działania muszą być ukierunkowane na system, uwaga
powinna być poświęcona tym podstawowym czynnikom , które liczą się w zmienności,
takim jak: maszyny, jednorodność materiałów na wejściu, podstawowe metody według
których działa proces, metody szkolenia lub środowisko pracy. Zazwyczaj, przyczyny te,
związane z systemem, powodujące niewystarczającą jego zdolność, mogą leżeć poza
możliwością skorygowania ich przez operatorów lub bezpośredni dozór. Odwrotnie, mogą
one wymagać interwencji kierownictwa w celu dokonania zasadniczych zmian,
rozdzielenie zasobów oraz przeprowadzeniu działań koordynacyjnych, koniecznych przy
doskonaleniu ogólnych osiągów systemu. Próby skorygowania systemu poprzez lokalne
działania w małym zakresie, nie będą skuteczne.
129
Rozważania dotyczące technik analizy zmienności systemu są ujęte w szeregu odsyłaczy
wyszczególnionych w Załączniku H. Użyteczne mogą tu być podstawowe techniki
rozwiązywania problemów, takie jak analizy Pareto lub przyczynowo – skutkowe .
Jednakże, dla uzyskania istotnego obniżenia zmienności może być konieczne użycie
bardziej zaawansowanych metod analizy procesu, takich jak np. techniki statystyczne czy
też planowanie eksperymentów.
Po przeprowadzeniu systematycznych działań dotyczących procesu, ich efekt powinien
być uwidoczniony na kartach kontrolnych. Karty staną się sposobem służącym do
weryfikacji efektywności działania.
Gdy wdrożone zostaną zmiany , karty kontrolne powinny być uważnie monitorowane. Ten
okres zmian może powodować zakłócenia w operacjach , potencjalnie powodując nowe
problemy w sterowaniu, które mogą zaciemniać efekt zmian w systemie.
Po usunięciu wszelkich niestabilności okresu zmian, należy ocenić nową zdolność procesu
i stosować ją jako podstawę dla nowych granic kontrolnych w przyszłych operacjach.
Zazwyczaj 25 podgrup danych zebranych po wprowadzeniu zmian jest wystarczającą
ilością dla ustalenia nowych granic kontrolnych.
130
ZBIERANIE DANYCH GRUBOŚĆ PODKŁADU (Mils)
WIELKOŚĆ PRÓBY – 10 KOLEJNYCH SZTUK DWA RAZY DZIENNIE
1-11
1
2
1-12
1
2
1-13
1
2
1-14
1
2
1-15
1
2
1-18
1
2
1-19
1
2
1
1.30 1.01 1.22 1.08
.98
1.12
.92
1.04
1.08
1.20
1.25
1.24
1.13
1.08
2
1.10 1.10 1.05 1.12
1.30
1.30
1.10
1.14
.92
1.13
.91
1.34
1.16
1.31
3
1.20 1.15 .93
1.11
1.31
1.01
1.13
1.18
1.14
1.19
.96
1.40
1.12
1.12
4
1.25 .97
1.08 1.28
1.12
1.20
1.02
1.12
1.20
1.16
1.04
1.26
1.22
1.18
5
1.05 1.25 1.15 1.00
1.08
1.11
.93
1.00
1.02
1.03
.93
1.13
1.12
1.15
6
.95
1.12 1.27 .95
1.10
.93
1.17
1.02
1.04
1.25
1.08
1.15
1.07
1.17
7
1.10 1.10 .95
1.15
1.15
1.02
1.24
1.05
.94
1.20
1.29
1.08
1.04
.98
8
1.16 .90
1.11 1.14
1.35
1.25
.98
1.34
1.05
1.24
1.42
1.02
1.28
1.05
9
1.37 1.04 1.12 1.28
1.12
1.05
1.34
1.12
1.12
1.10
1.10
1.05
1.12
1.00
10
.98
1.08 1.10 1.31
1.26
1.10
1.12
1.05
1.06
1.03
1.00
1.18
1.10
1.26
x
1.15 1.07 1.10 1.14
1.18
1.11
1.10
1.11
1.06
1.15
1.10
1.19
1.14
1.13
S
.136 .098 .106 .120
.121
.115
.136
.101
.086
.079
.170
.125
.070
.107
1-20
1-21
1-22
1
2
1
2
1
2
1
1.08 1.14 1.06 1.14
1.07
1.13
2
1.26 1.02 1.12 1.22
1.05
.90
3
1.13 1.14 .98
1.18
.97
1.12
4
.94
.94
1.12 1.27
1.05
1.04
5
1.30 1.30 1.20 1.17
1.16
1.40
6
1.15 1.08 1.02 1.26
1.02
1.12
7
1.07 .94
1.19 1.15
1.02
1.15
8
1.02 1.12 1.03 1.07
1.14
1.01
9
1.22 1.15 1.02 1.02
1.07
1.30
10
1.18 1.36 1.09 1.36
1.00
1.14
x
1.14 1.12 1.08 1.18
1.06
1.13
S
.111 .137 .074 .099
.059
.141
Rys.49. zbieranie danych.
6. ANALIZA ZDOLNOŚCI SYSTEMU
131
6.1 Analiza zdolności systemu momentu wkręcania.
Rys.50. Wygląd wkrętarki typu Mona
Rys.51. Rura aluminiowa z zaworkiem
132
Rys.52. Wkręcanie zaworka na wkrętarce typu Mona
Rys.53. Wkręcanie zaworka.
133
Rys.54. Wyrób gotowy.
134
Rys. 55 Karta kontrolna
135
Rys. 56 Karta kontrolna
136
Rys. 57 Karta kontrolna
137
Rys. 58 Karta kontrolna
138
7. PODSUMOWANIE I WNIOSKI.
* Prawidłowe nadzorowanie procesu produkcyjnego wymaga zastosowania
zwalidowanych metod i przyrządów systemów pomiarowych. Jeśli proces produkcji jest
poddany obserwacji za pomocą pewnego narzędzia pomiarowego, wówczas wyniki
pomiaru przedstawiają nie tylko wartości wyrobu powstałe podczas produkcji. Każdy
pojedynczy wynik pomiaru pochodzi bowiem z nałożenia rzeczywistej wartości
właściwości i zmienności działania narzędzia pomiarowego. A więc zaobserwowany
rozrzut pochodzi z nałożenia nieznanego rozrzutu rzeczywistego procesu oraz znanego
rozrzutu procesu pomiarowego.
* Żeby ocenić prawidłowość produkcji musimy zminimalizować ryzyko niewłaściwego
postępowania przy pomiarach miedzy innymi musimy zadbać o dokładność tych pomiarów
a to wymaga miedzy innymi walidacji stosowanych metod przyrządów pomiarowych.
* Niepewność pomiaru może mieć ujemny wpływ na przebieg oceny procesu produkcji
stwierdzająca, że narzędzie pomiarowe o niepewności zakresie 10%-20% tolerancji nadaje
się do zastosowania, nie może być użyta do oceny i sterowania procesem produkcji
metodami statycznymi.
* Poprawność wniosków z wyników zastosowania testów „t” i „f” zależy od tego że
rozkłady wyników pomiarów podlegają rozkładowi normalnemu w przeciwnym razie
wnioskowanie będzie obarczone dużym ryzykiem błędu z tego względu poleca się przed
walidacją wspomnianymi testami dokonać oceny co do normalności badanego rozkładu.
* Częstość przeprowadzania dowodów zdolności zależy od wyników badania i stabilności
systemu pomiarowego. Częste kontrole są wymagane gdy wynik dowodu leży blisko albo
wychodzi poza granice zdolności.
* Dowód przydatności przyrządów pomiarowych można zaniedbać jeżeli oczekiwania
niepewności pomiarów jest wystarczająco mała w stosunku do tolerancji cechy.
* Istniejące normy nie zawierają informacji w jaki sposób przeprowadzać proces walidacji.
Jednak dotychczasowa praktyka wskazuje ze stosowania odpowiednich metod
statystycznych jest uzasadniona. Z uwagi na fakt, że w praktyce do przeprowadzania
walidacji wykorzystać można niepełną informacje o wynikach pomiarów (ograniczona
liczba pomiarów, niepewność pomiarowa, niedokładność wzorca itp.)jest to podejście w
pełni uzasadnione.
* Z przeprowadzonej analizy wynika, że nie istnieje jedna uniwersalna metoda. Każde
nadanie walidacyjne pomiaru powinno być rozważane z uwzględnieniem jego
139
indywidualnego charakteru. Z reguły należy wybrać kilka równoległych testów
statystycznych.
* Nawet stosunkowo proste metody, układy lub systemy pomiarowe wymagają
specjalnego podejścia przy walidowaniu bowiem należy analizować poszczególne
składniki systemu np. metodą PN-EN14253-2
* Dość rozpowszechniona metoda R&R jest dosyć praktycznym narzędziem walidacji ale
wymagają w praktyce wspomagania komputerowego( z uwagi na dużą liczbę obliczeń ).
Wymaga ona ponadto pewnej wiedzy dla zinterpretowania otrzymanych wyników.
Nie nadaje się ona do zastosowania dla metody opartej o alternatywną ocenę właściwości.
140
8. LITERATURA
[1]. Dietrich E. , Schulze A. „Metody satystyczne w kwalifikacji środków
pomiarowych maszyn i procesów produkcyjnych” Notika System Czerwiec2005r.
[2]. Arendarski J., Gliwa-Gliwiński J., Jabłoński Z., Ratajczyk E., Tomasik J.,
Żebrowska-Łucyk S. „Sprawdzanie przyrządów do pomiaru długości i kąta” pod
redakcją Jana Tomasika. Oficyna Wydawnicza Poliechniki Warszawskiej
Warszawa 2003.
[3]. Praca zbiorowa „Ocena i kontrola jakości wyników pomiarów analitycznych” pod
redakcją Konieczki P., i Namieśnika J..
[4]. Norma ISO 5725-6: 1994(E)
[5]. „ Statystyczne sterowanie procesem SPC” wydana przez „Chrysler Corporation,
Ford Motor Company, General Motors Company ”
[6]. PN-ENV ISO 14253-2 “Część druga. Szacowanie niepewności pomiaru GPS przy
wzorcowaniu sprzętu pomiarowego kontroli wyrobów PKN Warszawa 2006”;
[7]. Polska norma PN-EN ISO/IEC 17025
[8]. Piotrowski J. , Kostyrka K. „Wzorcowanie aparatury pomiarowej”
141