1
Test egzaminacyjny 25.01.2008
Test egzaminacyjny 25.01.2008
1.
Przetworniki parametryczne, urządzenia
w których
A.
wielkość mierzona nieelektryczna powoduje zmianę (np.
rezystancji, pojemności, indukcyjności, natężenia prądu,
napięcia, częstotliwości)
B.
wielkość mierzona nieelektryczna nie powoduje zmianę
(np. rezystancji, pojemności, indukcyjności, natężenia
prądu, napięcia, częstotliwości)
C.
nie następuje wytwarzanie energii elektrycznej
D.
występuje wytwarzanie energii elektrycznej
2
Test egzaminacyjny 25.01.2008
Test egzaminacyjny 25.01.2008
2
.
Przetworniki generacyjne, urządzenia w
których
A.
wielkość mierzona nieelektryczna powoduje
zmianę (np. rezystancji, pojemności, indukcyjności,
natężenia prądu, napięcia, częstotliwości)
B.
wielkość mierzona nieelektryczna nie powoduje
zmianę (np. rezystancji, pojemności, indukcyjności,
natężenia prądu, napięcia, częstotliwości)
C.
nie następuje wytwarzanie energii elektrycznej
D.
występuje wytwarzanie energii elektrycznej
3
Test egzaminacyjny 25.01.2008
Test egzaminacyjny 25.01.2008
3.
Przetworniki parametryczne, to
A.
Czujniki rezystancyjne
B.
Czujniki magnetosprężyste
C.
Czujniki piezoelektryczne
D.
Czujniki pojemnościowe
4
Test egzaminacyjny 25.01.2008
Test egzaminacyjny 25.01.2008
4.
Przetworniki generacyjne, to
A.
Czujniki rezystancyjne
B.
Czujniki fotoelektryczne
C.
Czujniki piezoelektryczne
D.
Czujniki pojemnościowe
5
Test egzaminacyjny 25.01.2008
Test egzaminacyjny 25.01.2008
5.
Przetworniki pojemnościowe, to
A.
Czujniki o zmiennej powierzchni czynnej elektrod
B.
Czujniki o zmiennej odległości
d
między elektrodami
C.
Czujniki dynamiczne
D.
Mikrofony pojemnościowe
6
Test egzaminacyjny 25.01.2008
Test egzaminacyjny 25.01.2008
6.
Pirometry , to
A.
Czujniki o zmiennej powierzchni czynnej elektrod
B.
Czujniki do pomiaru temperatury wewnątrz ciała
człowieka
C.
Czujniki do pomiaru temperatury bezstykowo
D.
Przyrządy do pomiaru efektów pirotechnicznych
7
Test egzaminacyjny 25.01.2008
Test egzaminacyjny 25.01.2008
7.
Do pomiaru momentu zginającego stosujemy
A.
Tensometrów oporowych
B.
Tensometrów piezoelektrycznych
C.
Tachogeneratorów
D.
Tensometrów indukcyjnych
8
Test egzaminacyjny 25.01.2008
Test egzaminacyjny 25.01.2008
8.
Do pomiaru prędkości obrotowej stosujemy
A.
Tensometry oporowe
B.
Tachogeneratory
C.
Stroboskopy
D.
Prądnice stałoprądowe
9
Test egzaminacyjny 25.01.2008
Test egzaminacyjny 25.01.2008
9.
Sygnał dyskretny argumentu ciągłego to:
x ( t)
t
x ( t)
t
t
1
t
2
t
3
t
4
t
5
t
6
t
7
x ( t)
1
2
3
4
t
1
2
3
4
x ( t)
t
t
1
t
2
t
3
t
4
t
5
t
6
t
7
A
B
C
D
10
Test egzaminacyjny 25.01.2008
Test egzaminacyjny 25.01.2008
10.
Transformacja sygnału z dziedziny czasowej do częstotliwościowej
jest opisana zależnością:
A
dt
e
t
g
f
G
ft
j
2
)
(
)
(
dt
e
t
g
f
G
t
j
2
)
(
)
(
B
dt
e
t
g
f
G
ft
j
T
T
2
)
(
)
(
C
dt
e
t
g
f
G
t
j
T
T
2
)
(
)
(
D
11
Test egzaminacyjny 25.01.2008
Test egzaminacyjny 25.01.2008
11.
Analizatory oktawowe to:
A.
Przyrządy do analizy zapylenia
B.
Przyrządy do analizy dźwięku
C.
Analizatory o stałej szerokości pasma
D.
Analizatory o stałoprocentowej szerokości pasma
12
Test egzaminacyjny 25.01.2008
Test egzaminacyjny 25.01.2008
12.
Do pomiaru drgań stosujemy:
A.
sejsmografy
B.
akcelerometry
C.
sonometry
D.
Przetworniki piezoelektryczne z masą sejsmiczną
13
Test egzaminacyjny 25.01.2008
Test egzaminacyjny 25.01.2008
13.
Tensometry , to
A.
Przetworniki o zmiennej powierzchni czynnej elektrod
B.
Przetworniki do pomiaru odkształceń
C.
Przyrządy do pomiaru częstotliwości
D.
Przyrządy do pomiaru zawartości harmonicznych
14
Test egzaminacyjny 25.01.2008
Test egzaminacyjny 25.01.2008
14.
Sygnał analogowy, to
A.
gdy jego wartość zdefiniowana w każdej chwili
czasu,
B.
gdy jego amplituda jest ciągła i zdefiniowana w
pewnych wybranych punktach (chwilach
czasu),
C.
gdy czas jest ciągły a jego wartość przyjmuje
pewne określone wartości,
D.
gdy jest zdefiniowany w pewnych punktach,
jego wartość przyjmuje pewne określone
wartości
15
Test egzaminacyjny 25.01.2008
Test egzaminacyjny 25.01.2008
15.
Sygnał cyfrowy, to
A
gdy jest zdefiniowany w pewnych punktach,
jego wartość przyjmuje pewne określone
wartości
B
jego amplituda jest zdefiniowana w pewnych
wybranych punktach (chwilach czasu), ma
dowolną wartość
C
gdy czas jest ciągły a jego wartość przyjmuje
pewne określone wartości,
D
gdy ma dwa argumenty
16
Test egzaminacyjny 25.01.2008
Test egzaminacyjny 25.01.2008
16.
Czułość mikrofonu wyrażana jest w:
A.
dB/m/s2
B.
mV/Pa
C.
V/m
D.
dB/V/Pa
17
Test egzaminacyjny 25.01.2008
Test egzaminacyjny 25.01.2008
17.
Czułość akcelerometru wyrażana jest
w:
A.
mV/g
B.
mA/g
C.
dB/V/ms-2
D.
mW/ms-2
18
Test egzaminacyjny 25.01.2008
Test egzaminacyjny 25.01.2008
18.
Sygnał na wyjściu
piezoelektrycznego
przetwornika drgań jest proporcjonalny
do :
A.
Przemieszczenia drgań
B.
Prędkości drgań
C.
Przyspieszenia drgań
D.
Częstotliwości sygnału
drgań
19
Test egzaminacyjny 25.01.2008
Test egzaminacyjny 25.01.2008
19.
Górny zakres mierzonych ciśnień
akustycznych pojemnościowego
mikrofonu pomiarowego
A.
Maleje ze wzrostem średnicy mikrofonu
B.
Nie zależy od średnicy mikrofonu
C.
Rośnie ze wzrostem średnicy mikrofonu
D.
Maleje wraz ze wzrostem czułości
mikrofon
20
Test egzaminacyjny 25.01.2008
Test egzaminacyjny 25.01.2008
20.
Zakres pracy przetwornika
piezoelektrycznego z masą sejsmiczną
obejmuje zakres
A.
Od częstotliwości ok. 30 % powyżej rezonansu
przetwornika
B.
Do ok. 30 % częstotliwości rezonansowej przetwornika
C.
W zakresie ± 30 % częstotliwości rezonansowej
przetwornika
D.
W górę od ok. 30 % poniżej częstotliwości rezonansowej
przetwornika
21
Test egzaminacyjny 25.01.2008
Test egzaminacyjny 25.01.2008
21.
W którym przypadku uzyskuje się najwęższe
pasmo przenoszenia częstotliwości?
A.
Przy mocowaniu akcelerometrów za pomocą wosku
B.
Przy mocowaniu akcelerometrów za pomocą magnesu
C.
Przy mocowaniu akcelerometrów za pomocą śruby
D.
Przy mocowaniu akcelerometrów za pomocą cementu