test Elektro technika

background image

1

Test egzaminacyjny 25.01.2008

Test egzaminacyjny 25.01.2008

1.

Przetworniki parametryczne, urządzenia

w których

A.

wielkość mierzona nieelektryczna powoduje zmianę (np.
rezystancji, pojemności, indukcyjności, natężenia prądu,
napięcia, częstotliwości)

B.

wielkość mierzona nieelektryczna nie powoduje zmianę
(np. rezystancji, pojemności, indukcyjności, natężenia
prądu, napięcia, częstotliwości)

C.

nie następuje wytwarzanie energii elektrycznej

D.

występuje wytwarzanie energii elektrycznej

background image

2

Test egzaminacyjny 25.01.2008

Test egzaminacyjny 25.01.2008

2

.

Przetworniki generacyjne, urządzenia w

których

A.

wielkość mierzona nieelektryczna powoduje

zmianę (np. rezystancji, pojemności, indukcyjności,

natężenia prądu, napięcia, częstotliwości)

B.

wielkość mierzona nieelektryczna nie powoduje

zmianę (np. rezystancji, pojemności, indukcyjności,

natężenia prądu, napięcia, częstotliwości)

C.

nie następuje wytwarzanie energii elektrycznej

D.

występuje wytwarzanie energii elektrycznej

background image

3

Test egzaminacyjny 25.01.2008

Test egzaminacyjny 25.01.2008

3.

Przetworniki parametryczne, to

A.

Czujniki rezystancyjne

B.

Czujniki magnetosprężyste

C.

Czujniki piezoelektryczne

D.

Czujniki pojemnościowe

background image

4

Test egzaminacyjny 25.01.2008

Test egzaminacyjny 25.01.2008

4.

Przetworniki generacyjne, to

A.

Czujniki rezystancyjne

B.

Czujniki fotoelektryczne

C.

Czujniki piezoelektryczne

D.

Czujniki pojemnościowe

background image

5

Test egzaminacyjny 25.01.2008

Test egzaminacyjny 25.01.2008

5.

Przetworniki pojemnościowe, to

A.

Czujniki o zmiennej powierzchni czynnej elektrod

B.

Czujniki o zmiennej odległości

d

między elektrodami

C.

Czujniki dynamiczne

D.

Mikrofony pojemnościowe

background image

6

Test egzaminacyjny 25.01.2008

Test egzaminacyjny 25.01.2008

6.

Pirometry , to

A.

Czujniki o zmiennej powierzchni czynnej elektrod

B.

Czujniki do pomiaru temperatury wewnątrz ciała
człowieka

C.

Czujniki do pomiaru temperatury bezstykowo

D.

Przyrządy do pomiaru efektów pirotechnicznych

background image

7

Test egzaminacyjny 25.01.2008

Test egzaminacyjny 25.01.2008

7.

Do pomiaru momentu zginającego stosujemy

A.

Tensometrów oporowych

B.

Tensometrów piezoelektrycznych

C.

Tachogeneratorów

D.

Tensometrów indukcyjnych

background image

8

Test egzaminacyjny 25.01.2008

Test egzaminacyjny 25.01.2008

8.

Do pomiaru prędkości obrotowej stosujemy

A.

Tensometry oporowe

B.

Tachogeneratory

C.

Stroboskopy

D.

Prądnice stałoprądowe

background image

9

Test egzaminacyjny 25.01.2008

Test egzaminacyjny 25.01.2008

9.

Sygnał dyskretny argumentu ciągłego to:

x ( t)

t

x ( t)

t

t

1

t

2

t

3

t

4

t

5

t

6

t

7

x ( t)

1

2

3

4

t

1

2

3

4

x ( t)

t

t

1

t

2

t

3

t

4

t

5

t

6

t

7

A

B

C

D

background image

10

Test egzaminacyjny 25.01.2008

Test egzaminacyjny 25.01.2008

10.

Transformacja sygnału z dziedziny czasowej do częstotliwościowej

jest opisana zależnością:

A

dt

e

t

g

f

G

ft

j

2

)

(

)

(



dt

e

t

g

f

G

t

j

2

)

(

)

(



B

dt

e

t

g

f

G

ft

j

T

T

2

)

(

)

(

C

dt

e

t

g

f

G

t

j

T

T

2

)

(

)

(

D

background image

11

Test egzaminacyjny 25.01.2008

Test egzaminacyjny 25.01.2008

11.

Analizatory oktawowe to:

A.

Przyrządy do analizy zapylenia

B.

Przyrządy do analizy dźwięku

C.

Analizatory o stałej szerokości pasma

D.

Analizatory o stałoprocentowej szerokości pasma

background image

12

Test egzaminacyjny 25.01.2008

Test egzaminacyjny 25.01.2008

12.

Do pomiaru drgań stosujemy:

A.

sejsmografy

B.

akcelerometry

C.

sonometry

D.

Przetworniki piezoelektryczne z masą sejsmiczną

background image

13

Test egzaminacyjny 25.01.2008

Test egzaminacyjny 25.01.2008

13.

Tensometry , to

A.

Przetworniki o zmiennej powierzchni czynnej elektrod

B.

Przetworniki do pomiaru odkształceń

C.

Przyrządy do pomiaru częstotliwości

D.

Przyrządy do pomiaru zawartości harmonicznych

background image

14

Test egzaminacyjny 25.01.2008

Test egzaminacyjny 25.01.2008

14.

Sygnał analogowy, to

A.

gdy jego wartość zdefiniowana w każdej chwili
czasu,

B.

gdy jego amplituda jest ciągła i zdefiniowana w
pewnych wybranych punktach (chwilach
czasu),

C.

gdy czas jest ciągły a jego wartość przyjmuje
pewne określone wartości,

D.

gdy jest zdefiniowany w pewnych punktach,
jego wartość przyjmuje pewne określone
wartości

background image

15

Test egzaminacyjny 25.01.2008

Test egzaminacyjny 25.01.2008

15.

Sygnał cyfrowy, to

A

gdy jest zdefiniowany w pewnych punktach,

jego wartość przyjmuje pewne określone
wartości

B

jego amplituda jest zdefiniowana w pewnych

wybranych punktach (chwilach czasu), ma
dowolną wartość

C

gdy czas jest ciągły a jego wartość przyjmuje

pewne określone wartości,

D

gdy ma dwa argumenty

background image

16

Test egzaminacyjny 25.01.2008

Test egzaminacyjny 25.01.2008

16.

Czułość mikrofonu wyrażana jest w:

A.

dB/m/s2

B.

mV/Pa

C.

V/m

D.

dB/V/Pa

background image

17

Test egzaminacyjny 25.01.2008

Test egzaminacyjny 25.01.2008

17.

Czułość akcelerometru wyrażana jest

w:

A.

mV/g

B.

mA/g

C.

dB/V/ms-2

D.

mW/ms-2

background image

18

Test egzaminacyjny 25.01.2008

Test egzaminacyjny 25.01.2008

18.

Sygnał na wyjściu

piezoelektrycznego

przetwornika drgań jest proporcjonalny
do :

A.

Przemieszczenia drgań

B.

Prędkości drgań

C.

Przyspieszenia drgań

D.

Częstotliwości sygnału

drgań

background image

19

Test egzaminacyjny 25.01.2008

Test egzaminacyjny 25.01.2008

19.

Górny zakres mierzonych ciśnień

akustycznych pojemnościowego
mikrofonu pomiarowego

A.

Maleje ze wzrostem średnicy mikrofonu

B.

Nie zależy od średnicy mikrofonu

C.

Rośnie ze wzrostem średnicy mikrofonu

D.

Maleje wraz ze wzrostem czułości

mikrofon

background image

20

Test egzaminacyjny 25.01.2008

Test egzaminacyjny 25.01.2008

20.

Zakres pracy przetwornika

piezoelektrycznego z masą sejsmiczną
obejmuje zakres

A.

Od częstotliwości ok. 30 % powyżej rezonansu

przetwornika

B.

Do ok. 30 % częstotliwości rezonansowej przetwornika

C.

W zakresie ± 30 % częstotliwości rezonansowej

przetwornika

D.

W górę od ok. 30 % poniżej częstotliwości rezonansowej

przetwornika

background image

21

Test egzaminacyjny 25.01.2008

Test egzaminacyjny 25.01.2008

21.

W którym przypadku uzyskuje się najwęższe

pasmo przenoszenia częstotliwości?

A.

Przy mocowaniu akcelerometrów za pomocą wosku

B.

Przy mocowaniu akcelerometrów za pomocą magnesu

C.

Przy mocowaniu akcelerometrów za pomocą śruby

D.

Przy mocowaniu akcelerometrów za pomocą cementu


Document Outline


Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Test-Elektronika D, Politechnika Lubelska, Studia, Studia, sem VI, z ksero na wydziale elektrycznym
Jakość energii elektrycznej, 1. TECHNIKA, Elektryka - Elektronika, Elektroenergetyka, Sieci
Test z rysunku technicznego
TEST ELEKTRONIK czerwiec 11
Zagadnienia do egzaminu z Elektroniki i Technik Mikroprocesorowych
milczarski,elektroniczna technika pomiarowa, pomiar kątów
cos o rozladowaniu i ladowaniu kondensatora, elektro-technika
Test z rysunku techniczneg1
test elektryka, Uprawnienia budowlane elektryk, -=Inne materialy=-
Elementy RLC, elektro-technika
PI - test, SGGW Technika Rolnicza i Leśna, PKM
03 Test z zakresu Technika Kierowania Pojazdem (1)
test elektrotechnika , Zadanie 1
Elektroniczne techniki pomiarowe, Badanie mimośrodu limbusa teodolitu względem alidady
Cw2 rysunek elektryczny techniczny
Sprawko2 - Badanie zjawiska ulotu elektrycznego, Politechnika Poznańska, Elektrotechnika, Technika W
Elektroniczna technika pomiarowa -, geodezja, Elektroniczna technika pomiarowa

więcej podobnych podstron