background image

 

 

Przetworniki  

Przetworniki  

Cyfra/Analog i 

Cyfra/Analog i 

Analog/Cyfra

Analog/Cyfra

Technika cyfrowa

Technika cyfrowa

Ernest Jamro, Agnieszka Dąbrowska

Ernest Jamro, Agnieszka Dąbrowska

Katedra Elektroniki, AGH

Katedra Elektroniki, AGH

background image

 

 

Kwantowanie

Sygnał kwantowany

Sygnał cyfrowy

N

ref

V

q

2

q – kwant – waga napięciowa 
najmniej znaczącego bitu 
przetwarzania

V

ref

 – napięcie referencyjne (lub 

zakres pomiarowy: V

max

-V

min

)

N- liczba bitów przetwornika

Przykład: 

V

ref

=1V, 

N=10, 

q= 
1/10241mV

background image

 

 

Błąd kwantyzacji

SNR – Signal-to-Noise Ratio – stosunek sygnału do 
szumu

2

2

noise

signal

noise

signal

U

U

P

P

SNR

 

Analog 

Q(x)-po 
kwantyzacji

 

Q

err

(x)-bład kwantyzacji

 

Q/2

 

-Q/2

 

Q/2

 

3Q/2

 

3Q/2

 

3Q

 

Q

 

2Q

 

background image

 

 

Błąd kwantyzacji – c.d.

 

P

err

(x)

 

-Q/2

 

Q/2

 

1/Q

 

12

1

2

2

/

2

/

2

2

Q

de

e

Q

err

Q

Q

Dla przebiegu trójkątnego w pełnym 
zakresie pomiarowym

równomierny rozkład błędu 

kwantyzacji (przebieg 

piłokształtny)

]

[

02

.

6

)

2

log(

20

)

2

log(

10

)

log(

10

2

dB

N

N

SNR

SNR

N

dB

]

[

761

.

1

02

.

6

sin

dB

N

SNR

dB

Sinusoida – pełny zakres pomiarowy: 
wartość skuteczna równa się 

N

N

Q

Q

SNR

2

2

1

sin

2

2

3

12

)

2

2

(

2

2

1

Q

N

]

/

[

2

12

)

2

(

1

)

(

2

2

/

2

2

/

2

2

2

2

/

2

/

2

2

2

2

V

V

Q

du

u

Q

du

u

Q

dt

t

f

U

U

SNR

N

Q

Q

N

Q

Q

noise

Signal

N

N

background image

 

 

Próbkowanie

Próbkowanie

Katedra Elektroniki AGH

Katedra Elektroniki AGH

Przebieg wejściowy

Impulsy próbkujące

Dyskretny przebieg wejściowy

Dyskretny przebieg wejściowy

z pamiętaniem stanów

background image

 

 

Układy próbkująco-pamiętające

Układy próbkująco-pamiętające

Katedra Elektroniki AGH

Katedra Elektroniki AGH

• czas akwizycji – czas pomiędzy 

zamknięciem klucza a ustaleniem 
wartości napięcia wyjściowego 
równej wartości napięcia wejściowego
z zadaną dokładnością (0,2s – 25ns)

• dokładność: 8 – 12 bitów

• maksymalna szybkość narastania:
 

(0,5-900 V/s)

• zwis (spadek napięcia na kondensatorze

pamiętającym w fazie pamiętania): 
1mV/s – 1kV/s

background image

 

 

Zakres pomiarowy (ang. Full 

Scale)

 

y

 

00

 

01

 

10

 

11

 

brak

 

x

 

Zakres  

Zakres pomiarowy = 2

N

Q

Największa reprezentowana wartość: (2

N

-1) 

Q

Przykład:

N=8, V

ref

=1V, V

max

=255/256=0.996V

Uwag na reprezentację liczb: z przesunięciem – 
najczęstsza reprezentacja liczb w przetwornikach 
AC i CA

background image

 

 

Aliasing

Właściwy obraz

Aliasing

Potrzeba stosowania filtru dolnoprzepustowego na 
wejściu przetwornika

background image

 

 

Parametry statyczne 

Parametry statyczne 

przetworników

przetworników

Katedra Elektroniki AGH

Katedra Elektroniki AGH

• Rozdzielczość – stosunek przedziału kwantyzacji Q do pełnego zakresu prze- 

twornika FS, jest równa odwrotności liczby poziomów kwan- 
tyzacji, najczęściej określana liczbą bitów N słowa cyfrowego

• Dokładność przetwornika (bezwzględna lub względna) – największa różnica 

między rzeczywistą a przewidywaną wartością sygnału ana- 
logowego dla danego słowa cyfrowego 

• Błąd przesunięcia (bezwzględny lub względny) – 

różnica między rzeczywistą 
a idealną wartością sy- 
gnału analogowego dla mini- 
malnej wartości cyfrowej

background image

 

 

Parametry statyczne 

Parametry statyczne 

przetworników

przetworników

Katedra Elektroniki AGH

Katedra Elektroniki AGH

• Błąd skalowania (wzmocnienia ang. 
gain error) – 
różnica między przewidywaną i 
ekstrapolowaną wartością rzeczywistą 
sygnału analogowego 

dla pełnego 

zakresu przetwornika

• Nieliniowość całkowa (ang. Integral 
Nonlinearity - INL) – największe 
odchylenie rzeczywistej charakterystyki 
przetwarzania od linii prostej

background image

 

 

Parametry statyczne 

Parametry statyczne 

przetworników

przetworników

Katedra Elektroniki AGH

Katedra Elektroniki AGH

• Nieliniowość 
różniczkowa
 
(ang. Differencial 
Nonlinearity – DNL ) – 
charakteryzuje lokalne 
odchylenia charakterystyki 
od linii prostej

|DNR | < 1 LSB
błąd pominiętych kodów 
(ang. No-missing codes) dla 
A/C lub  przetwornik 
monotoniczny dla C/A

|DNR

|

> 1 LSB

przyrost liczby wejściowej D 
powoduje zmniejszanie 
sygnału wyjściowego 
(niemonotoniczność)

A/C

C/A

background image

 

 

Parametry dynamiczne 

Parametry dynamiczne 

przetworników C/A

przetworników C/A

Katedra Elektroniki AGH

Katedra Elektroniki AGH

• Czas przełączania – czas zmiany napięcia 
wyjściowe-

go przetwornika od wartości 

początkowej do 

90% zakresu zmiany 

napięcia wyjściowego

• Maksymalna częstotliwość przetwarzania – maksymalna liczba 
konwersji na 

sekundę, częstotliwość graniczna = 1/czas konwersji

• Szpilki napięcia (ang. glitch) – szpilki związane z przenikaniem 
przez pojemności 

pasożytnicze cyfrowych sygnałów przełączających klucze 
analogowe

background image

 

 

Czas ustalania i wymagania 

odnośnie wzmacniacza

•Czas ustalania (konwersji) – czas, po którym sygnał wyjściowy ustali 
się z dokładnością  lepszą niż 0,5LSB dla najgorszego przypadku 
zmiany liczby wejściowej (0FS). Wymóg 0.5 LSB często zamienia się 

na wartości procentowe np. 1%, 0,1%.

Co z tego wynika:
Przy założeniu, że wzmacniacz (wz. operacyjny przed przetwornikiem 
A/C lub za przetwornikiem C/A) jest modelowany jako zwykły filtr 
dolnoprzepustowy RC, pasmo przepustowe takiego wzmacniacza musi 
być wielokrotnie większe niż częstotliwość przetwarzania 
przetwornika A/C lub C/A.

N

t

e

2

5

.

0

Rozładowanie 
kondensatora od pełnego 
zakresu do wartości 0.5 
LSB A/C

t= ·(N+1) 

·ln2

 

t

FSR

e

U

t

u

2

background image

 

 

Parametry dynamiczne 

Parametry dynamiczne 

przetworników A/C

przetworników A/C

Katedra Elektroniki AGH

Katedra Elektroniki AGH

• Czas konwersji – czas potrzebny do jednego całkowitego przetworzenia sygnału

analogowego na wartość cyfrową z pełną specyfikowaną dokładnością

• Błąd dynamiczny przetwarzania A/C – równy 
zmianie wartości sygnału wejściowego 
następującej w czasie wykonywania 
konwersji przez przetwornik A/C

U=2fAT

 

U<FS/2

N

 w czasie konwersji T

c

f

max

=(2

N+1 

 T

c

)

-1

background image

 

 

THD + SNR

Total Harmonic Distortion (THD) THD is the ratio of the 
rms sum of the first five harmonic components to the rms 
value of a full-scale input signal and is expressed in decibels. 
Signal-to-Noise Ratio (SNR) SNR is the ratio of the RMS 
value of the actual input signal to the RMS sum of all other 
spectral components below the Nyquist frequency, excluding 
harmonics and dc. The value for SNR is expressed in decibels. 
RMS – Root Mean Square – wartość skuteczna

background image

 

 

Przetwornik z siecią wagową

Przetwornik z siecią wagową

Katedra Elektroniki AGH

Katedra Elektroniki AGH

• wolny (przez 
zastosowanie 
wzmacniacza 
operacyjnego)

• wymagane duże i 
bardzo dokładne 
rezystancje

• klucze analogowe 
przełączają duże 
napięcia

• Duże błędy DNL
Nie stosowany w 
praktyce

background image

 

 

Przetwornik C/A z 

łańcuchem rezystorów 

(ang. Resistor String)

Zalety:

•Wymaga takich samych rezystorów

•Rezystory nie musza być bardzo dokładne

•Małe błędy statyczne

Wady:

Duża liczba użytych elementów 2

N

, dlatego N=8-

12bitów

Przykład: AD5332: Dual 8-Bit DAC

AD5343: Dual 12-Bit DAC

Typ     Max

background image

 

 

Przetwornik z drabinką R-2R

Przetwornik z drabinką R-2R

Katedra Elektroniki AGH

Katedra Elektroniki AGH

• wskazane użycie jak największych 

rezystancji – kompromis
między szybkością działania 
a dokładnością przetwornika

• napięcie na kluczach jest małe

• minimalny wpływ nieliniowości 

kluczy na dokładność 
przetwornika

• wzmacniacz operacyjny ogranicza

szybkość działania

background image

 

 

Przetwornik z drabinką R-

Przetwornik z drabinką R-

2R – 

2R – 

Wytłumaczenie działania

Wytłumaczenie działania

background image

 

 

Impuls Napięcia 

(ang. Glitch Impulse: 

[Vps]) 

Impuls powstaje głównie przy zmianie najstarszego bitu, 
jego przyczyną różna szybkość włączania i wyłączania się 
kluczy np. w przetworniku z drabinką R-2R

 

0111...11 

1000...00 

t

ON

<t

OFF 

t

ON

>t

OFF 

background image

 

 

Przetwornik C/A z pojemnościami 

Przetwornik C/A z pojemnościami 

wagowymi

wagowymi

Katedra Elektroniki AGH

Katedra Elektroniki AGH

• dwie fazy działania przetwornika: I – ładowanie pojemności do napięcia U

ref

II – odpowiednie kondensatory łączone do wejścia wzmacniacza 
operacyjnego 

• szybszy niż przetwornik z siecią wagową, ograniczenie tylko szybkością 

działania kluczy oraz czasem ładowania pojemności

• wada: duży zakres wartości pojemności

• pojemności pasożytnicze – rozdzielczość przetwornika 7 – 8 bitów

background image

 

 

Przetwornik C/A z siecią C-2C

Przetwornik C/A z siecią C-2C

Katedra Elektroniki AGH

Katedra Elektroniki AGH

• dwie fazy działania: I – ładowanie kondensatorów (U

ref

U

ref

/2, U

ref

/4, ...)

II – Kf  zamknięty (rozładowuje C), Ka – złączenie górnych węzłów 
do masy, Kb – dołączenie odpowiednich kondensatorów do WO

background image

 

 

A/C bezpośredniego porównania

A/C bezpośredniego porównania

Katedra Elektroniki AGH

Katedra Elektroniki AGH

Równoległe (flash)

Równoległe (flash)

• najszybsze przetworniki A/C
• ograniczona rozdzielczość (max. 12 bit)
• czas konwersji <1ns dla układów z 

tranzystorami

• częstotliwość: 10MHz-100GHz
• komparatory ograniczają szybkość 

i dokładność przetwarzania

• wzrost poboru mocy (0,1-10W)

R

1

= R/2 

(zero= 
1/2LSB

2.5 LSB

1.5 LSB

0.5 LSB

background image

 

 

A/C bezpośredniego porównania

A/C bezpośredniego porównania

Katedra Elektroniki AGH

Katedra Elektroniki AGH

Szeregowe (ang. pipeline)

Szeregowe (ang. pipeline)

wagowy

z podwajaniem

background image

 

 

A/C bezpośredniego porównania

A/C bezpośredniego porównania

Katedra Elektroniki AGH

Katedra Elektroniki AGH

Szeregowo-równoległe

Szeregowo-równoległe

• 8-16 bitów
• częstotliwość: 0,2-40MHz
• moc strat: 0,04-20W

background image

 

 

A/C Kompensacyjne

A/C Kompensacyjne

(lub

(lub

 sukcesywną aproksymacją

 sukcesywną aproksymacją

, ang. Successive Aproximation 

, ang. Successive Aproximation 

Register (SAR))

Register (SAR))

Katedra Elektroniki AGH

Katedra Elektroniki AGH

Kompensacja równomierna

Kompensacja równomierna

• oparty na zasadzie zliczania impulsów zegara
• długi czas przetwarzania (max. 2

n

t

c

)

• rzadko stosowany 

background image

 

 

Kompensacyjne przetworniki A/C

Kompensacyjne przetworniki A/C

Katedra Elektroniki AGH

Katedra Elektroniki AGH

Kompensacja równomierna - nadążny

Kompensacja równomierna - nadążny

background image

 

 

Kompensacyjne przetworniki A/C

Kompensacyjne przetworniki A/C

Katedra Elektroniki AGH

Katedra Elektroniki AGH

Kompensacja wagowa

Kompensacja wagowa

ang. Successive Aproximation Register (SAR) 

ang. Successive Aproximation Register (SAR) 

• krótki czas przetwarzania (nt

c

)

• duża nieliniowość różniczkowa C/A

• łatwy do realizacji w układach monolitycznych

• rozdzielczość 8-16 bitów

• przetwornik C/A z drabinką R-2R

• 5-10MSPS przy rozdzielczości 10-12bitów

• moc strat: 15mW-1W

background image

 

 

Metody Czasowo-

Częstotliwościowe

Katedra Elektroniki AGH

Katedra Elektroniki AGH

background image

 

 

Metoda czasowa A/C

Metoda czasowa A/C

Katedra Elektroniki AGH

Katedra Elektroniki AGH

Czasowa prosta = Całkowanie pojedyncze

Czasowa prosta = Całkowanie pojedyncze

• niska dokładność (0,1%)

background image

 

 

Metoda czasowa A/C

Metoda czasowa A/C

Katedra Elektroniki AGH

Katedra Elektroniki AGH

Podwójne całkowanie

Podwójne całkowanie

• duża rozdzielczość: 12-26 bitów

• duża dokładność (0,01%)
• duży czas przetwarzania: 20ms-1s (T

1

 

wielokrotność 20ms)

• mała moc strat: 0,6-450mW

background image

 

 

Metoda częstotliwościowa

Metoda częstotliwościowa

Katedra Elektroniki AGH

Katedra Elektroniki AGH

Prosta

Prosta

• napięcie wejściowe zmieniane

na impulsy o częstotliwości 
proporcjonalnej do wartości 
tego napięcia

• mała dokładność (ok.1%)
• rzadko stosowane

background image

 

 

C/A Modulacja Szerokości Impulsu 

C/A Modulacja Szerokości Impulsu 

(ang. Pulse-Width Modulation - 

(ang. Pulse-Width Modulation - 

PWM)

PWM)

Katedra Elektroniki AGH

Katedra Elektroniki AGH

• 

wielkość cyfrowa 

  przetwarzana na ciąg 
  impulsów o stałej amplitudzie 
  i o współczynniku wypełnienia 
  proporcjonalnym do słowa cyfrowego

• relatywnie długi czas konwersji 2

N

/f

clk

• możliwość uzyskania bardzo dużej rozdzielczości

• monotoniczne

• niewielka nieliniowość różniczkowa

•konieczność stosowania dobrego filtru dolnoprzepustowego na 
wyjściu – dlatego przetwornik ten ma głównie znaczenie teoretyczne 
lub też tam gdzie nie trzeba stosować filtru, np. do sterowania 
jasnością diód LED

U

o

 = U

ref 

D/2

N

Przykład:
Częstotliwość przetwornika f

ADC

=1kHz, N=16, f

clk

= 2

16

*1kHz= 

65MHz

background image

 

 

Pulse-Width Modulation - PWM

Pulse-Width Modulation - PWM

background image

 

 

PWM a Sigma-Delta

 

V

in

 

Signa-Delta 

PWM 

D-wejście cyfrowe 

M-licznik modulo M=2

Wypełnienie
V

in

/V

FS

Lub

D/M

background image

 

 

Przetwornik D/A 1-bitowy

przykład obrazu

Oryginał

Nieoptymalne

Optymalne

podobnie jak PWM

Delta-

Sigma

background image

 

 

Delta-Sigma A/C c.d.

http://en.wikipedia
.org/wiki/Sigma_d
elta

background image

 

 

Katedra Elektroniki AGH

Katedra Elektroniki AGH

Delta sigma A/C

Delta sigma A/C

 

-U

IN

 

R

1

 

_

 

+

 

R

2

 

U

R

 

+

 

_

 

D   Q 

 

Clk 

Clk

 

Licznik 

mod (k+1) 

 

Clk 

Clk

 

f

clk

/(k+1)

 

Reset      

  Licznik 

Clk En. 

 
Clk 

Clk

 

k

 

Clk En.  

Rejestr 

Clk

 

Clk

 

Wyjście

 

C

 

1

2

R

U

k

R

U

N

R

IN

background image

 

 

 

Akumulator 

+

 

D

IN

 

 

    Q 

 

Clk 

8

 

+

 

+

 

10

 

10

 

_

 

Q[8]

 

0x000 lub 
0x100

 

A

IN

 

Q

IN

 

Delta sigma C/A

Delta sigma C/A

 

Q

IN 

Clk 

D

IN 

0

 

1

 

2

 

3

 

4

 

5

 

A

IN 

0x00 

   0x40 

6

 

7

 

         0x000 

         0x000 

         0x000 

         0x040 

    0x040 

  0x040 

  0x080 

  0x0C0    0x100 

    0x080      0x0C0      0x100 

  -0x0C0 

Q[8] 

    0x040      0x080      0x0C0      0x100 

8

 

9

 

         0x040 

    0x040      0x080      0x0C0      0x100 

    0x040 

   -0x0C0 

    0x040 

background image

 

 

Delta-Sigma wyższego 

rzędu

2-gi 
rząd

3-rząd

Szumy dla różnych 
częstotliwości

background image

 

 

Nadpróbkowanie

http://en.wikipedia.org/wiki/Oversamplin
g

Możliwe jest uzyskanie większej rozdzielczości bitowej poprzez 
nadpróbkowanie (próbkowanie z większą częstotliwością niż 
częstotliwość Nynquist’a.

N= ½ log

2

(n)

N – dodatkowa rozdzielczość bitowa
n – współczynnik nadpróbkowania

Przykład: n= 4  N=1;  n=16  N=2
Założenie to wynika z błędu standardowego który maleje 
odwrotnie proporcjonalnie z pierwiastkiem liczby pomiarów 
(założenie braku korelacji)

background image

 

 

Rozdzielenie części analogowej i 

cyfrowej

Masa analogowa i cyfrowa powinny być połączone 
ze sobą tylko w jednym miejscu (relatywnie 
cienkim łączem) tak aby sygnały cyfrowe nie 
przechodziły przez część analogową.

Zasilanie cyfrowe i analogowe powinny być 
rozdzielone np. za pomocą filtru LC (dławik-
kondensator)


Document Outline