Projekt współfinansowany przez Uni
Projekt współfinansowany przez Uni
ę
ę
Europejsk
Europejsk
ą
ą
w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego
w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego
Część II
Część II
:
:
„Badania laboratoryjne
„Badania laboratoryjne
elementów i układów elektronicznych
elementów i układów elektronicznych
”,
”,
zrealizowana w ramach zadania nr 9 projektu:
zrealizowana w ramach zadania nr 9 projektu:
„
„
Program Rozwojowy Potencjału Dydaktycznego Politechniki Świętokrzyskiej w Kielcach: kształcenie na miarę
Program Rozwojowy Potencjału Dydaktycznego Politechniki Świętokrzyskiej w Kielcach: kształcenie na miarę
sukcesu.”,
sukcesu.”,
nr umowy: UDA-POKL 04.01.01. – 175/08-00.
nr umowy: UDA-POKL 04.01.01. – 175/08-00.
Materiały dydaktyczne pomocnicze i informacyjne do przedmiotu
Materiały dydaktyczne pomocnicze i informacyjne do przedmiotu
PODSTAWY ELEKTRONIKI
PODSTAWY ELEKTRONIKI
dr inż. Marek Fijałkowski
dr inż. Marek Fijałkowski
Katedra Elektroniki i Systemów Inteligentnych
Katedra Elektroniki i Systemów Inteligentnych
Wydział Elektrotechniki, Automatyki i Informatyki Politechniki Świętokrzyskiej
Wydział Elektrotechniki, Automatyki i Informatyki Politechniki Świętokrzyskiej
Al. 1000-lecia P.P. 7, 25-314 Kielce
Al. 1000-lecia P.P. 7, 25-314 Kielce
tel.: +48 41 34 24 203, e-mail: m.fijalkowski@tu.kielce.pl
tel.: +48 41 34 24 203, e-mail: m.fijalkowski@tu.kielce.pl
Ćwiczenie 6:
Ćwiczenie 6:
Badanie tranzystorów polowych MOSFET.
Badanie tranzystorów polowych MOSFET.
Spis treści
2.2. Wyznaczanie charakterystyk tranzystora MOS
2. Przebieg ćwiczenia laboratoryjnego
2.1. Cel ćwiczenia
3. Symulacje charakterystyk tranzystora MOS
2.3. Opracowanie wyników pomiarów
1.1. Budowa i zasada działania tranzystora polowego
MOS
1.3. Charakterystyki tranzystora MOS w układzie
wspólne źródło
1.2. Układy pracy tranzystora
1.4. Parametry tranzystora polowego MOS
1.Wstęp teoretyczny
Do grupy tranzystorów unipolarnych należą tranzystory z izolowaną
bramką
(IGFET).
W obrębie rodziny tranzystorów IGFET wyróżniamy:
tranzystory MIS (ang. Metal-Insulator-Semiconductor, co oznacza
układ: metal-izolator-półprzewodnik),
tranzystory cienkowarstwowe TFT.
Szczególnym przypadkiem tranzystorów MIS są tranzystory MOS
(ang. Metal-Oxide-Semiconductor, co oznacza układ: metal-tlenek-
półprzewodnik). Są one używane nieporównywalnie częściej niż
tranzystory cienkowarstwowe.
Tranzystory polowe MOS dzielą się na:
„normalnie załączone”,
„normalnie wyłączone”.
W każdej z tych dwu podgrup wyróżniamy tranzystory z kanałem:
typu n,
typu p.
Rys. 1. Oznaczenia graficzne tranzystora unipolarnego MOS z
kanałem wzbogacanym tranzystor „normalnie wyłączony” a) z
kanałem typu p b) z kanałem typu n. Oznaczenia graficzne
tranzystora unipolarnego MOS z kanałem zubożanym,
tranzystor „normalnie załączony” c) z kanałem typu p; d) z
kanałem typu n.
a
)
S
B
D
G
b
)
S
B
D
G
c)
S
B
D
G
d
)
S
B
D
G
1.1. Budowa i zasada działania tranzystora polowego MOS
Rys. 2. Tranzystor unipolarny MOS z kanałem typu n: a) tranzystor
„normalnie wyłączony”, b) tranzystor „normalnie załączony”
S
n
p -
Si
n
kanał
SiO
2
B
G
D
D (Drain)
Dren
G (Gate)
Bramka
S
(Source)
Źródło
n
p -
Si
n
kanał
SiO
2
B (Base)
Podłoże
a)
b)
W tranzystorach polowych MOS występują 4 elektrody:
Źródło (ang. Source), oznaczone literą S. Jest elektrodą, z której
wypływają nośniki ładunku do kanału.
Dren (ang. Drain), oznaczone literą D. Jest elektrodą, do której
dochodzą nośniki ładunku. Prąd drenu – I
D
, napięcie dren-źródło –
U
DS
.
Bramka (ang. Gate), oznaczone literą G. Jest elektrodą sterującą
przepływem ładunków. Napięcie bramka-źródło – U
GS,
.
Podłoże (ang. Base), oznaczone symbolem B. Elektroda ta
spełnia podobną rolę sterującą jak bramka, jest ona oddzielona od
kanału tylko złączem p-n. Gdy nie korzysta się z funkcji sterującej
podłoża, wówczas łączy się je ze źródłem. Połączenie to może być
wykonane wewnątrz obudowy i wtedy nie ma wyprowadzenia na
zewnątrz.
Obowiązuje następująca zasada polaryzacji podłoża:
w tranzystorze z kanałem typu p podłoże powinno być na
najwyższym potencjale,
w tranzystorze z kanałem typu n – na najniższym potencjale.
Gdy warunek ten nie jest spełniony, złącze kanał-podłoże może zostać
spolaryzowane w kierunku przewodzenia, co zazwyczaj powoduje
uszkodzenie tranzystora.
Tranzystor polowy MOS „normalnie wyłączony” z kanałem n
zawiera podłoże krzemowe typu p o niewielkiej koncentracji domieszek
oraz bogato domieszkowane obszary typu n źródła i drenu. Źródło i
dren nie są połączone kanałem. Powierzchnia podłoża jest pokryta
izolacyjną warstwą tlenku krzemu, na której jest umieszczona warstwa
aluminium tworząca elektrodę bramki. Warstwa izolacyjna oraz
elektroda zachodzą na obszar źródła i drenu. Jeśli do bramki
przyłożymy napięcie dodatnie względem podłoża, to na powierzchni
krzemu pod warstwą tlenku zaindukuje się ładunek ujemny.
Wytworzone pole elektryczne odepchnie dziury od powierzchni.
Dostatecznie silne pole usunie z obszaru przypowierzchniowego
wszystkie nośniki większościowe – dziury, przyciągając nośniki
mniejszościowe – elektrony. Przy powierzchni znajdzie się więcej
elektronów niż dziur. Nastąpi zmiana typu przewodnictwa z p na n i
dwa obszary typu n (źródło i dren) zostaną połączone wąskim kanałem.
Jeśli dren spolaryzujemy napięciem U
DS
dodatnim względem źródła, to
nastąpi przepływ elektronów kanałem od źródła do drenu. W praktyce
podłoże i źródło są zwarte i napięcie U
GS
indukujące kanał jest
przykładane między bramkę i źródło. Gdy napięcie dren-źródło U
DS
jest
dodatnie i porównywalne z napięciem bramka-źródło U
GS
, pole
elektryczne zmienia się wzdłuż indukowanego kanału. Pole jest
najsilniejsze przy źródle, gdzie na warstwie tlenku krzemu występuje
napięcie U
GS
, najsłabsze zaś przy drenie, gdzie występuje napięcie U
GS
–
U
DS
. Charakterystyki prądu mają więc przebieg nieliniowy. Gdy oba
napięcia są równe, zanika przy drenie kanał indukowany. Prąd drenu I
D
ustala się i dalsze zwiększanie U
DS
nie wpływa na jego wartość.
Zmieniając wartości napięcia bramki U
GS
Przy dostatecznie dużych napięciach bramki o kierunku przepustowym
(duże napięcie dodatnie w przypadku podłoża typu p) będzie płynął
prąd maksymalny. Przy małych napięciach bramki popłynie mały prąd.
Napięcie bramki, przy którym zaczyna się indukować kanał nosi nazwę
napięcia załączania. W przypadku tranzystora o podłożu typu n
największy prąd popłynie po przyłożeniu do bramki dużego ujemnego
napięcia.
Tranzystor polowy z izolowaną bramką „normalnie załączony"
zawiera kanał wykonany z materiału o takim samym typie
przewodnictwa, co źródło i dren. Różni się on od tranzystora polowego
złączowego tym, że bramka jest odizolowana od podłoża warstwą
dielektryka – tlenkiem krzemu. Odpowiednia obróbka w procesie
produkcji powierzchni styku tlenek-półprzewodnik powoduje powstanie
na nim dodatniego ładunku powierzchniowego wytwarzającego pole
elektryczne. Napięcie bramki o kierunku przewodzenia zwiększa
natężenie pola elektrycznego, zmniejsza rezystancję źródło-dren, a więc
zwiększa prąd drenu I
D
. Napięcie bramki o kierunku zaporowym
zmniejsza natężenie pola, zmniejsza czynny przekrój kanału, a więc
zmniejsza prąd drenu I
D
. Całkowite odcięcie kanału uzyskuje się przy
średnich wartościach natężenia pola elektrycznego. Napięcie bramki o
kierunku zaporowym, przy którym następuje odcięcie kanału nosi
nazwę „napięcia wyłączania”.
Rys. 3. Polaryzacja tranzystora unipolarnego MOS ze wzbogaconym
kanałem typu p
w układzie WS
E
G
S
B
D
G
E
B
E
D
1.2. Układy pracy tranzystora MOS
Tranzystory polowe MOS mogą występować w trzech konfiguracjach układowych :
wspólnego źródła WS,
wspólnego bramki WG,
wspólnej drenu WD.
Rys. 4. Układy pracy tranzystora MOS ze wzbogacanym kanałem typu
p a) ze wspólnym źródłem (WS), b) ze wspólną bramką (WG), c)
ze wspólnym drenem (WD).
a
)
U
wy
U
we
WS
b
)
W
G
W
D
c)
S
B
D
G
U
wy
U
we
D
B
S
G
U
wy
U
we
S
B
D
G
1.3. Charakterystyki tranzystora polowego MOS
Właściwości statyczne tranzystora unipolarnego opisują rodziny
charakterystyk przejściowych i wyjściowych.
Charakterystyki przejściowe (bramkowe) przedstawiają zależność
prądu I
D
od napięcia bramka-źródło U
GS
, przy stałym U
DS
.
Charakterystyczne wielkości krzywych:
U
P
– napięcie odcięcia bramka-źródło – napięcie jakie należy
doprowadzić do bramki , aby przy ustalonym napięciu U
DS
nie
płynął prąd drenu.
I
DSS
– prąd nasycenia – prąd drenu płynący przy napięciu U
GS
=0 i
określonym napięciu U
DS
.
const
U
GS
D
DS
U
f
I
Rys. 5. Charakterystyki tranzystora polowego MOS ze wzbogacanym
kanałem typu p
-
1
-
2
-
3
-
4
-
5
-
6
-
7
-
8
-12 -10
-8
-6
-4
-2
-
9
U
DS
[V]
U
GS
[V]
1
2
3
4
5
6
7
8
9
1
0
I
D
[mA
]
U
DS
=
-5V
U
DS
=
-1V
P
P
1
Ch-a przejściowa
Charakterystyka wyjściowa
ΔI
D1
ΔI
D2
P
2
P
P
3
P
4
U
GS
=
-8V
U
GS
= -7V
ΔU
DS
ΔU
GS
U
T
U
GS
= -11V
U
GS
=
-10V
U
GS
=
-9V
Charakterystyki wyjściowe (drenowe) przedstawiają zależność
między prądem drenu I
D
i napięciem dren-źródło U
DS
, przy stałym U
GS
.
Wyróżnia się cztery zasadnicze zakresy charakterystyk tranzystora
unipolarnego złączowego:
Zakres liniowy. Prąd I
D
ze wzrostem napięcia U
DS
wzrasta w
przybliżeniu liniowo
const
U
DS
D
GS
U
f
I
gdzie:
ß –
współczynnik transkonduktancji – parametr
zależny od właściwości struktury tranzystora,
U
T
–
napięcie progowe.
2
2
DS
DS
T
GS
D
U
U
U
U
I
Zakres nasycenia
2
2
T
GS
D
U
U
I
a
)
U
GS
[V]
1
2
3
-
1
-
2
-
3
0
2
4
6
I
D
[mA
]
U
DS
= 20V
8
U
T
=-
3V
Rys. 7. Charakterystyki tranzystora polowego MOS ze zubożanym
kanałem typu n
a) charakterystyka przejściowa, b) charakterystyka wyjściowa
Rys. 6. Charakterystyki tranzystora polowego MOS ze zubożanym
kanałem typu p
a) charakterystyka przejściowa, b) charakterystyka wyjściowa
a)
I
D
[mA]
U
GS
[V]
1
2
3
-
1
-
2
-
3
0
2
4
6
U
DS
=-20V
8
U
T
=3
V
U
GS
[V]
-15 -10
-
5
-25
-30
-20
0
2
4
6
I
D
[mA]
8
U
GS
= 1V
U
GS
= 0V
U
GS
=
-1V
U
GS
=
-2V
b)
U
GS
[V]
2
0
2
5
3
0
1
0
5
1
5
I
D
0
2
4
6
I
D
[mA]
8
U
GS
=-1V
U
GS
= 0V
U
GS
= 1V
U
GS
= 2V
b)
U
GS
[V]
2
0
2
5
3
0
1
0
5
1
5
0
2
4
6
I
D
[mA]
8
U
GS
= 8V
U
GS
=
10V
U
GS
=
12V
U
GS
=
14V
Rys. 9. Charakterystyki tranzystora polowego MOS ze wzbogacanym
kanałem typu n
a) charakterystyka przejściowa, b) charakterystyka wyjściowa
Rys. 8. Charakterystyki tranzystora polowego MOS ze wzbogacanym
kanałem typu p
a) charakterystyka przejściowa, b) charakterystyka wyjściowa
U
GS
[V]
-
6
-
4
-
2
-10
-12
-14
0
2
4
6
I
D
[mA]
U
DS
=
-20V
8
U
T
=
-4V
-
8
a)
U
GS
[V]
-15 -10
-
5
-25
-30
-20
0
2
4
6
I
D
[mA]
8
U
GS
= -8V
U
GS
=
-10V
U
GS
=
-12V
U
GS
=
-14V
b)
a
)
I
D
[mA]
U
GS
[V]
8
1
0
1
2
4
0
2
4
6
U
DS
=
20V
8
U
T
=
4V
2
6
1
4
b)
1.4. Parametry tranzystora unipolarnego
Dla tranzystora unipolarnego określa się parametry statyczne dla
dużych wartości sygnałów oraz parametry dynamiczne dla małych
wartości sygnałów.
Parametry statyczne – to przede wszystkim parametry graniczne:
I
Dmax
– dopuszczalny prąd drenu (od kilku do kilkudziesięciu mA)
U
DSmax
–
dopuszczalne napięcie dren-źródło (od kilkunastu
do kilkudziesięciu V)
P
max
– dopuszczalne straty mocy (od kilkudziesięciu do kilkuset
mW)
Parametry dynamiczne – to parametry małosygnałowe:
g
m
– kondunktancja wzajemna (transkonduktancja) w punkcie
P(U
GS
,I
D
)
(zgodnie z oznaczeniami z rys 5. P
1
(U
GS1
,I
D1
), P
2
(U
GS2
,I
D2
)).
Punkty P
1
i P
2
powinny być położone symetrycznie
względem punktu P.
W interpretacji graficznej jest to tangens kąta nachylenia
stycznej do
charakterystyki przejściowej w
określonym punkcie P.
const
U
U
I
U
U
I
I
DS
GS
1
D
1
GS
2
GS
1
D
2
D
m
g
g
d
– kondunktancja drenu (kondunktancja wyjściowa) w punkcie
P(U
DS
,I
D
)
(zgodnie z oznaczeniami z rys 5. P
3
(U
GS3
,I
D3
), P
4
(U
GS4
,I
D4
)).
Punkty P
3
i P
4
powinny być położone symetrycznie
względem punktu P. W interpretacji
graficznej jest to tangens kąta nachylenia stycznej do
charakterystyki
wyjściowej w określonym
punkcie P.
const
U
U
I
U
U
I
I
r
1
g
GS
DS
2
D
3
DS
4
DS
3
D
4
D
d
d
r
d
– rezystancja drenu (rezystancja wyjściowa) (w zakresie
liniowym – przyjmuje
niewielkie wartości, w zakresie
nasycenia – od kilkudziesięciu do kilkuset k).
const
U
I
U
I
I
U
U
g
1
r
GS
2
D
DS
3
D
4
D
3
DS
4
DS
d
d
k
u
– współczynnik wzmocnienia napięciowego.
const
I
ΔU
ΔU
k
D
GS
DS
U
Rys. 10.
Wyznaczanie współczynnika wzmocnienia napięciowego
k
U
z charakterystyk przejściowych tranzystora polowego
złączowego z kanałem typu n.
-12 -10 -8
-6
-4 -2
U
GS
[V]
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
I
D
[mA]
U
DS2
=-
7V
U
DS1
=-
3V
P
1
I
D1
=const
P
2
ΔU
GS
U
T
0
Wartość współczynnika wzmocnienia napięciowego można wyznaczyć
graficznie z charakterystyk statycznych tranzystora (rys. 10 –
charakterystyki przejściowe, rys. 11 – charakterystyki wyjściowe) lub
analitycznie, posługując się wzorem
U
m
d
k
g r
@
�
W przypadku charakterystyk przejściowych należy wykreślić linię
stałego prądu drenu I
D1
, która przecina dwie gałęzie charakterystyki w
punktach P
1
i P
2
. Po zrzutowaniu współrzędnych tych punktów na oś
napięcia U
GS
otrzymuje się bezpośrednio przyrost napięcia
U
GS
,
natomiast przyrost napięcia
U
DS
oblicza się jako różnicę dwóch
wartości stałych, przy których wyznaczano odpowiednie gałęzie
charakterystyk. Tak więc zgodnie z oznaczeniami na rys. 10,
współczynnik wzmocnienia napięciowego oblicza się jako:
const
I
ΔU
U
U
k
1
D
GS
1
DS
2
DS
U
I
D2
=const
-
1
-
2
-
3
-
4
-
5
-
6
-
7
-
8
-
9
U
DS
[V]
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
I
D
[mA]
P
1
P
2
U
GS2
=-
8,8V
U
GS
=-
7V
ΔU
D
S
U
GS
=-
12V
U
GS
=-
11V
U
GS
=-
10V
0
U
GS1
=-
9,2V
Rys. 11.
Wyznaczanie współczynnika wzmocnienia napięciowego
k
U
z charakterystyk wyjściowych tranzystora polowego
złączowego z kanałem typu n
W przypadku charakterystyk wyjściowych należy wykreślić linię
stałego prądu drenu I
D2
, która przecina dwie gałęzie charakterystyki w
punktach P
1
i P
2
. Po zrzutowaniu współrzędnych tych punktów na oś
napięcia U
DS
otrzymuje się bezpośrednio przyrost napięcia
U
DS
,
natomiast przyrost napięcia
U
GS
oblicza się jako różnicę dwóch
wartości stałych, przy których wyznaczano odpowiednie gałęzie
charakterystyk. Tak więc zgodnie z oznaczeniami na rys. 11,
współczynnik wzmocnienia napięciowego oblicza się jako:
Należy zwrócić uwagę, że wyznaczone powyższymi trzema sposobami
wartości współczynnika wzmocnienia napięciowego tranzystora mogą
się różnić ze względu na niejednakowe punkty pracy, w których zostały
obliczone.
const
I
U
U
U
k
2
D
1
GS
2
GS
DS
U
2.Przebieg ćwiczenia
2.2. Pomiar charakterystyk statycznych tranzystora
polowego MOS ze wzbogacanym z kanałem typu p
2.1. Cel ćwiczenia
Celem ćwiczenia jest poznanie zasady działania i własności
tranzystora polowego MOS ze wzbogacanym kanałem typu p poprzez
wyznaczenie jego charakterystyk statycznych i parametrów układzie
wspólnego źródła WS. Będą wyznaczane rodziny charakterystyk
wyjściowych oraz przejściowych. Parametry będą wyznaczone w
określonym punkcie P
Charakterystyki
będą
wyznaczane
na
podstawie
pomiarów
multimetrami:
napięć wejściowych układu – U
GS
,
napięć wyjściowych układu – U
DS
,
prądów wyjściowych – I
D
.
Schematy pomiarowe
Rys. 12.
Układ do pomiaru statycznych charakterystyk
tranzystora polowego MOS
ze wzbogacanym kanałem typu p
R
G
R
D
mA
I
D
V
GS
U
GS
V
DS
U
DS
T
S
B
D
G
E
G
E
D
E
B
Sposób przeprowadzenia pomiarów
Połączyć układ pomiarowy przedstawiony na rys.12. (R
G
= 560k, R
D
= 1k,
T - tranzystor polowy MOS ze wzbogacanym z kanałem typu p SMY 50.
Określić napięcie progowe tranzystora U
T
. Ustawić zasilaczem E
D
napięcie U
DS
na wartość około -2V. Zwiększając (co do bezwzględnej wartości) zasilaczem
E
G
napięcie U
GS
obserwujemy, kiedy zaczyna płynąć prądu drenu I
D
.
Odczytujemy napięcie U
T
=
U
GS
, jeżeli wartość prądu drenu będzie bliska zeru
np. I
D
= 0,05 mA.
Wypełnić w Tabeli 1 kolumnę napięcia U
GS
od wartości U
T
do napięcia -12V
.
Wykonać pomiary charakterystyki przejściowej dla kilku (określa prowadzący)
stałych wartości napięcia U
DS
. U
B
=0V. Pomiar polega na ustawieniu
regulowanym zasilaczem E
G
napięcia U
GS
(woltomierz V
GS
), ustawieniu
regulowanym zasilaczem E
D
określonej stałej wartości napięcia U
DS
(woltomierzem V
DS
), i odczycie prądu drenu I
D
(miliamperomierz mA). Ustawić
kolejną wartość napięcia U
DS
i odczytać prąd I
D
Wyniki notujemy w tabeli 1.,
którą wypełniamy wierszami.
Wykonać pomiary charakterystyki wyjściowej dla stałych wartości napięcia
U
GS
.: U
GS1
=U
T
- 1V, U
GS2
=U
T
- 2V U
GS3
=U
T
- 3V, U
GS4
=U
T
- 4V Pomiary
wykonujemy analogicznie jak dla charakterystyki przejściowej. Wyniki
notujemy w tabeli 2., którą wypełniamy kolumnami.
Tabela 1.
Pomiar charakterystyki przejściowej I
D
=f(U
GS
)|
U
DS
=const.
Lp
U
GS
[V]
U
B
=0V U
DS1
=
U
B
=0V U
DS2
=
U
B
=0V U
DS3
=
U
B
=0V U
DS4
=
U
B
=5V U
DS2
=
I
D
[mA]
I
D
[mA]
I
D
[mA]
I
D
[mA]
I
D
[mA]
1.
U
T
2.
3.
-6,0
4.
-6,5
5.
-7,0
6.
-7,5
7.
-8,0
8.
-8,5
9.
-9,0
10.
-9,5
11
-10,0
12.
-10,5
13.
-11,0
14.
-11,5
15.
-12,0
Tabela 2.
Pomiar charakterystyki wyjściowej I
D
=f(U
DS
)|U
GS
=const.
Lp
U
DS
[V]
U
B
=0V U
GS1
=
U
B
=0V U
GS2
=
U
B
=0V U
GS3
=
U
B
=0V U
GS4
=
U
B
=5V U
GS2
=
I
D
[mA]
I
D
[mA]
I
D
[mA]
I
D
[mA]
I
D
[mA]
1.
0
2.
-0,2
3.
-0,4
4.
-0,6
5.
-0,8
6.
-1,0
7.
-2,0
8.
-3,0
9.
-4,0
10.
-5,0
11
-6,0
12.
-7,0
13.
-8,0
14.
-9,0
15.
-10,0
2.3. Opracowanie wyników pomiaru
W sprawozdaniu należy zamieścić:
Schematy układów pomiarowych realizowanych na ćwiczeniu.
Tabele pomiarowe z wynikami.
Charakterystyki tranzystora polowego MOS ze wzbogacanym kanałem
typu p sporządzone na podstawie przeprowadzonych pomiarów.
Wyznaczenie parametrów r
d
, g
m
, k
u
dla określonego punktu pracy P(U
GS3
,
U
DS3
).
W tabelach pomiarowych należy zaznaczyć (np. innym kolorem, pogrubić)
pomiary (punkty P
1
, P
2
, P
3
, P
4
), które posłużyły do wyznaczenia
parametrów. Na wykreślonych charakterystykach statycznych tranzystora
zaznaczyć punkty P oraz punkty pomocnicze P
1
, P
2
, P
3
, P
4
.
Wnioski.
Symulacje charakterystyk tranzystora
polowego MOS
z wzbogacanym kanałem typu p (SMY
50)
Rys. 13.
Schemat symulacji charakterystyk tranzystora MOS
SMY 50
M1
SMY50
Vd
Vg
0
Vb
0V
I
Rys. 14.
Rodzina ch-k wyjściowych tranzystora MOS z kanałem
typu p SMY 50 U
b
=0V
Rys. 15.
Rodzina ch-k przejściowych tranzystora MOS SMY 50
U
b
=0V
Rys. 16.
Rodzina ch-k wyjściowych tranzystora MOS z kanałem
typu p SMY 50 U
b
=5V
Rys. 17.
Rodzina ch-k przejściowych tranzystora MOS SMY 50
U
b
=5V
Rys. 18.
Rodzina ch-k przejściowych tranzystora MOS SMY 50
U
DS
=-1V
Projekt współfinansowany przez Uni
Projekt współfinansowany przez Uni
ę
ę
Europejsk
Europejsk
ą
ą
w ramach Europejskiego Funduszu
w ramach Europejskiego Funduszu
Społecznego
Społecznego
Część II
Część II
:
:
„Badania laboratoryjne
„Badania laboratoryjne
elementów i układów elektronicznych
elementów i układów elektronicznych
”,
”,
zrealizowana w ramach zadania nr 9 projektu:
zrealizowana w ramach zadania nr 9 projektu:
„
„
Program Rozwojowy Potencjału Dydaktycznego Politechniki Świętokrzyskiej w Kielcach: kształcenie na miarę
Program Rozwojowy Potencjału Dydaktycznego Politechniki Świętokrzyskiej w Kielcach: kształcenie na miarę
sukcesu.”,
sukcesu.”,
nr umowy: UDA-POKL 04.01.01. – 175/08-00.
nr umowy: UDA-POKL 04.01.01. – 175/08-00.
Materiały dydaktyczne pomocnicze i informacyjne do przedmiotu
Materiały dydaktyczne pomocnicze i informacyjne do przedmiotu
PODSTAWY ELEKTRONIKI
PODSTAWY ELEKTRONIKI
DZIĘKUJĘ ZA UWAGĘ!
DZIĘKUJĘ ZA UWAGĘ!
Następna prezentacja pt.:
Następna prezentacja pt.:
Ćwiczenie 7:
Ćwiczenie 7:
Tranzystorowy wzmacniacz małej częstotliwości
Tranzystorowy wzmacniacz małej częstotliwości