Badanie tranzystorów polowych 4 doc


b) dla UDS=const.

UDS = 4 V

UDS = 6 V

UGS [V]

ID [mA]

UGS [V]

ID [mA]

-1

0,6

-1

0,75

-1,1

0,45

-1,1

0,53

-1,2

0,3

-1,2

0,37

-1,3

0,18

-1,3

0,24

-1,4

0,07

-1,4

0,1

-1,5

0,05

-1,5

0,06

-1,6

0,03

-1,6

0,04

-1,7

0,0018

-1,7

0,02

-1,8

0,0007

-1,8

0,01

-2

0

-2

0

4) Przykładowe obliczenia:

Na podstawie uzyskanych charakterystyk tranzystora sprawdzić można słuszność wzoru:

gdzie: IDS - maksymalna wartość prądu drenu dla UGS=0

UP - napięcie odcięcia

Dla badanego tranzystora BF 245:

IDSS = 3,4mA

UP = -2V

0x01 graphic
z wykresu ID1=1,98mA

0x01 graphic
z wykresu ID2=0,66mA

a) Obliczanie rezystancji wyjściowej dla 0x01 graphic
:

dla UGS=0 Vi 0x01 graphic

rd=400

dla UGS=-0,5 V i 0x01 graphic
0x01 graphic

rd=1000

dla UGS=-1 V i 0x01 graphic

rd=1428

b) Obliczanie transkonduktancji dla 0x01 graphic

dla UDS=4 V i 0x01 graphic

gm=

gm=1,1mS

dla UDS=6 V i 0x01 graphic

gm=1,3mS

5. Charakterystyki:

0x01 graphic

0x01 graphic

6) Uwagi i wnioski:

Na podstawie pomiarów wyznaczono dwie rodziny charakterystyk tranzystora polowego w układzie OS (wspólnego źródła):

1.Charakterystyka bramkowa ID=ID(UGS) przy UDS=const.

2.Charakterystyka wyjściowa ID=ID(UDS) przy UGS=const.

Na podstawie charakterystyk bramkowych wyznaczono transkonduktancję (nachylenie) gm= 1,3mS dla UDS=6V oraz napięcie odcięcia UP=-1,98V.

Z charakterystyk wyjściowych wyznaczono rezystancję drenu oraz wyznaczono IDSS. Pewne rozbieżności pomiędzy wartościami odczytanymi z charakterystyk a obliczonymi wynikają z niedokładności wskazań mierników oraz czasami z odczytanego jedynie przybliżonego wyniku.

Duża rozbieżność obliczonego IDSS a odczytanego z charakterystyk powstaje na skutek tego, że wzór ten ma zastosowanie do idealnego modelu tranzystora, który może być do tranzystora rzeczywistego zastosowany jedynie z pewnym przybliżeniem i to tylko w liniowym przedziale prądów i napięć.

Badany tranzystor polowy BF245 ma parametry w granicach tolerancji zgodne z katalogowymi.

Dzięki dużej rezystancji wejściowej (prąd bramki pomijalnie mały) tranzystory te znalazły zastosowanie w stopniach wejściowych (np. mierników elektronicznych czy wzmacniaczy).



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Badanie tranzystorow polowych zlaczowych JFET cw5
Badanie tranzystorow polowych MOSFET cw6
Badanie tranzystorów polowych 4
Badanie tranzystorów polowych złączowych JFET
Badanie tranzystorów polowych 1
Badanie tranzystorów polowych 3
Badanie tranzystorów polowych 2
Badanie charakterystyk tranzystora i reszta DOC
Badanie tranzystorów bipolarnego i unipolarnego doc
Badanie tranzystorów doc
Badanie tranzystorów unipolarnych typu JFET i MOSFET
Tranzystor polowy
124 tranzystor polowy
wykres tranzystor polowy
Badanie tranzystora bipolarnego
Badanie tranzystorowych stopni wzmacniających v2
Ćw.3 -Badanie tranzystorowych stopni wzmacniających, Politechnika Lubelska
Badanie tranzystorowych stopni wzmacniających v4, Politechnika Lubelska
Badanie tranzystorowych stopni wzmacniających 3, Politechnika Lubelska

więcej podobnych podstron