POLITECHNIKA ŚWIĘTOKRZYSKA W KIELCACH				LABORATORIUM METROLOGII
Temat : Błędy przypadkowe w pomiarach bezpośrednich.
Hubert Majewski		GRUPA: 33.A			ZESPÓŁ 2.
Data: 7.10.99	Ocena :		Podpis:

Pomiar mikrometrem:

1.Określenie parametrów rozkładu:

a). zakres zmienności:

W= max {x_i} - min{x_i}

W= 0.11

b). wartość średnia:

c). błąd średni kwadratowy pojedynczego pomiaru:

d). błąd średni kwadratowy średniej arytmetycznej:

e). współczynnik zmienności:

2.Obliczenie ostatecznego wyniku pojedynczego pomiaru z zadanym prawdopodobieństwem:

p = 0.9 - prawdopodobieństwo

t = 1.64

3.Obliczenie ostatecznego wyniku średniej arytmetycznej z zadanym prawdopodobieństwem:

p = 0.9 - prawdopodobieństwo

t = 1.64

4. Ostateczny wynik pojedynczego pomiaru i serii pomiarów z błędem maksymalnym:

5. Histogram:

Pomiary czujnikiem indukcyjnym

1.Określenie parametrów rozkładu:

a). zakres zmienności:

W= max {x_i} - min{x_i}

W= 0.082 mm; (82μm.)

b) .wartość średnia:

c). błąd średni kwadratowy pojedynczego pomiaru:

d). błąd średni kwadratowy średniej arytmetycznej:

e). współczynnik zmienności:

2.Obliczenie ostatecznego wyniku pojedynczego pomiaru z zadanym prawdopodobieństwem:

p = 0.9 - prawdopodobieństwo

t = 1.64

3.Obliczenieostatecznego wyniku średniej arytmetycznej z zadanym prawdopodobieństwem:

p = 0.9 - prawdopodobieństwo

t = 1.64

4. Ostateczny wynik pojedynczego pomiaru i serii pomiarów z błędem maksymalnym:

5. Histogram:

6. Test χ²

wynika z tego że rozkład jest zgodny z normalnym

Wnioski:

Na podstawie przeprowadzonych obliczeń możemy stwierdzić że pomiary przy pomocy obu czujników obarczone są błędem. Błędy przy pomiarze mikrometrem mogą wynikać z nieprawidłowego odczytania wskazań , na błąd przy pomiarze miernikiem indukcyjnym mogło mieć wpływ nieprawidłowe ustalenie max średnicy. Test χ² wskazał że , więc nie ma podstaw do stwierdzenia że rozkład błędów przypadkowych w rozpatrywanej serii rożni się od rozkładu normalnego.

1

- 4 -

1

---