Zespół Szkół Mechanicznych Nr 1 w Bydgoszczy |
4 |
Patryk Jankowski I Hm grupa I |
|
23-05-2012 |
Pomiar Wałka |
|
|
1.Wałek o średnicy φ=22mm
|
Lp |
Narzędzia miernicze |
Płaszczyzna Pomiaru |
Nr pomiaru |
Pomiar |
Wymiar tolerancyjny |
Jakość wykonania |
||
|
|
|
|
D1 |
D2 |
D3 |
|
|
1 |
Suwmiarka o dokładności 0,2 i zakresie 250mm. |
1 |
1 |
22 |
22 |
22 |
|
|
|
|
|
2 |
22,01 |
22,01 |
22,02 |
|
|
|
|
|
Ś |
22,005 |
22,005 |
22,01 |
|
|
|
|
2 |
1 |
22 |
22,01 |
22 |
|
|
|
|
|
2 |
22 |
22 |
22 |
|
|
|
|
|
Ś |
22 |
22,005 |
22 |
|
|
2 |
Suwmiarka o dokładności 0,05 i zakresie 150mm.
|
1 |
1 |
22,05 |
22,05 |
22,05 |
|
|
|
|
|
2 |
22 |
22 |
22 |
|
|
|
|
|
Ś |
22,25 |
22,025 |
22,025 |
|
|
|
|
2 |
1 |
22 |
22 |
22 |
|
|
|
|
|
2 |
22 |
22 |
22 |
|
|
|
|
|
Ś |
22 |
22 |
22 |
|
|
3 |
Mikrometr 0,01 |
1 |
1 |
22,01 |
22,02 |
22,01 |
|
|
|
|
|
2 |
22,01 |
22,01 |
22,02 |
|
|
|
|
|
Ś |
22,01 |
22,015 |
22,015 |
|
|
|
|
2 |
1 |
22,02 |
22,01 |
22,02 |
|
|
|
|
|
2 |
22,02 |
22,01 |
22,01 |
|
|
|
|
|
Ś |
22,02 |
22,01 |
22,015 |
|
|
4 |
Transometr o dokładności 0,002 |
1 |
1 |
22,03 |
22,04 |
21,99 |
|
|
|
|
|
2 |
22,04 |
22,03 |
22 |
|
|
|
|
|
Ś |
22,035 |
22,035 |
21,995 |
|
|
|
|
2 |
1 |
21,99 |
22,01 |
22,01 |
|
|
|
|
|
2 |
22 |
22 |
21,98 |
|
|
|
|
|
Ś |
21,995 |
22,005 |
21,995 |
|
|
SCHEMAT UKŁADU OPTYCZNEGO OPTIMETRU
Rys.1. Schemat układu optycznego lunety optimetru.
1 - lusterko oświetlające,
2 - szklana płytka,
3 - pryzmat,
4 - skala,
5 - pryzmat odbijający,
6 - obiektyw,
7 - zwierciadło,
8 - okular,
9 - obraz podziałki,
10 - trzpień mierniczy.
Oświetlające lusterko 1 obraca się tak, aby oświetlić skalę 4. Lusterko osadzone jest
w oprawie, na odwrotnej stronie której znajduje się biała płytka matowa. Promień
światła odbity od lusterka 1 przechodzi przez szklaną płytkę 2 zakończoną
pryzmatem 3 i pada na skalę 4, która zgodnie ze schematem na rys. 1b. jest nieco
z boku w stosunku do głównej osi optycznej. Po przejściu przez skalę promień pada
na pryzmat odbijający 5, załamuje się pod kątem 900 i przechodzi przez obiektyw 6.
Po wyjściu z obiektywu wiązka promieni odbija się od zwierciadła 7 i zgodnie ze
schematem pokazanym na rys.1c tworzy obraz podziałki w płaszczyźnie tejże
podziałki, lecz po drugiej stronie głównej osi optycznej. Ponieważ promienie
wychodzą ze wszystkich punktów płytki, z wyjątkiem zaczernionych kresek
podziałki, to obraz podziałki, również będzie przedstawiać się w postaci czarnych
kresek na jasnym tle.
Podziałka 4 optimetru wykonana jest na płytce ogniskowej po jednej stronie
pionowej linii symetrii przechodzącej przez środek płytki i w nie dużej odległości od
tej linii.
Jeżeli lustrzana płaszczyzna odbijająca 7 będzie prostopadła do osi optycznej,
to obraz podziałki wypadnie dokładnie symetrycznie na drugiej połowie płytki
ogniskowej. Przy tym zerowa kreska podziałki 4 jak i jej obraz 9 pokryją się z
poziomą linią symetrii zaznaczonej krótkim nieruchomym wskaźnikiem - kreską.
Przy poosiowym przesuwie trzpienia mierniczego 10, kąt pochylenia zwierciadła w
stosunku do osi optycznej będzie się zmieniał i obraz podziałki będzie się przesuwał
równolegle do pionowej linii symetrii względem nieruchomego wskaźnika.
Pomiarów możemy dokonywać przy pomocy trzpienia ze ściętym ostrzem lub
z ostrzem kulkowym w zależności od badanych powierzchni.
Pośredni pomiar wałków
Pomiar suwmiarką:
Zaleca się, aby mierzony przedmiot wprowadzać głęboko między szczeki płaskie suwmiarki, możliwie blisko prowadnicy. Szczęki należy dociskać prostopadle do powierzchni mierzonego przedmiotu, w miejscach wyznaczających wymiar. Średnicę rowka mierzy się częścią krawędziową szczęk.
Pomiar mikrometrem:
W czasie pomiaru mikrometr może być trzymany w ręku bądź zamocowany w podstawie. Jeżeli przedmiot jest mały i lekki, mikrometr mocuje się w podstawie. Mierzony przedmiot należy wówczas trzymać lewą ręką, prawą zaś obracać pokrętło sprzęgła. Gdy przedmiot jest duży i cięższy od mikrometru, mikrometr należy trzymać palcami lewej ręki poprzez nakładki kabłąka.
Pomiar czujnikami i płytkami wzorcowymi:
W warunkach przemysłowych pomiar za pomocą czujnika z równoczesnym użyciem płytek wzorcowych (metodą różnicową) należy do dokładniejszych. Pomiaru dokonuje się techniką pomiarową stykową. Styk końcówki pomiarowej (a także stolika pomiarowego) z mierzonym przedmiotem może być punktowy, liniowy lub powierzchniowy.