Ćwiczenia audytoryjne dzienni

Godziny zajęć

Zagadnienia

1 - 2

Obliczanie prawdopodobieństwa wprowadzenia do sprzedaży
wadliwego UC;
Obliczanie długości sekwencji testów;
Określanie sekwencji testującej z wykorzystaniem D-algorytmu.

3

– 4

Wyznaczanie

sygnatur, prawdopodobieństwo maskowania błędów.

Obliczanie czasu trwania testów pamięci RAM
Określanie złożoności i wydajności testów pamięci RAM.

5

– 6

Kolokwium zaliczające ćwiczenia

Ćwiczenia audytoryjne 1

Obliczanie prawdopodobieństwa wprowadzenia do sprzedaży wadliwego UC
Oblicz prawdopodobieństwo Pn, że w partii N=1000 sztuk układów cyfrowych będzie co
najmniej jeden wadliwy, jeżeli uzysk podczas produkcji wynosi 90%, a testy produkcyjne
wykrywają 99% błędów. Do obliczeń przyjąć

=4.

Obliczanie długości sekwencji testów;
Oblicz czas trwania wyczerpującej sekwencji testującej dla układu:

 kombinacyjnego 12-wejsciowego

 sekwencyjnego 10-wejściowego z 12 przerzutnikami.

Do obliczeń przyjąć częstotliwość generacji testów 2GHz.


Określanie sekwencji testującej z wykorzystaniem D-algorytmu.
Oblicz o ile % skróci się czas testowania poniższego układu jeśli sekwencję testującą
gruntowną zastąpimy sekwencją deterministyczną. Wyznacz, wykorzystując metodę D-
algorytmu, test wykrywający uszkodzenie typu s-a-1 w układzie przedstawionym na
poniższym rysunku.

A

B

C

D

E

F

Y

s-a-1

A

B

C

D

E

F

Y

s-a-0

Wykorzystując metodę D-algorytmu wyznacz kompletną sekwencję testującą.

Ćwiczenia audytoryjne 2

Zadanie 1
Wyznaczyć prawdopodobieństwo maskowania błędów dla układu przedstawionego na
rysunku, znajdującego się w stanie zdatności jeżeli zastosowano wymuszenie kompletne oraz:
a) technikę zliczania jedynek;
b) technikę zliczania przejść.

A

B

C

D

Y

A

B

C

D

Y

Podaj sygnatury oraz określ czy będzie maskowany w układzie zaznaczony błąd dla:
a) techniki zliczania jedynek;
b) techniki zliczania przejść.


Zadanie 2
Wyznaczyć t

n

czas testowania pamięci 4 Gb testami MSCAN oraz GALPAT. Do obliczeń

przyjąć czas cyklu testowego 1 ns.


Zadanie 3
Wyznaczyć czas trwania testu t

n

niezbędny do wykrycia z prawdopodobieństwem P

n

=0,999

uszkodzenia PSF wiążącego k=10 komórek pamięci. Do obliczeń przyjąć czas dostępu 10ns.