Elektor
4/98
zieren. Dabei ist es gar nicht so kom-
pliziert, aus der Fülle der Funktionen
des Testgeräts die passende zu wählen
und die Möglichkeiten der Tastatur mit
ihren sechs Tastern kennenzulernen,
zumal die Menüführung keinerlei
Unklarheiten zuläßt. Zudem
gewähren die Bilder 1...8 einen guten
Überblick der Strukturen der wichtig-
sten Untermenüs des Testers. Wenn
eine Taste nicht ihre Standardfunktion
besitzt, wird dies besonders aufge-
führt.
Die meisten von Ihnen werden
sowieso nicht viel mehr als die Menüs
1:Test und 3:Retest (wenn sie einen
Stoß gleicher ICs überprüfen) kennen-
lernen (wollen).
T
E S T V E K T O R
- D
A T E I
Hier beginnt die Hohe Schule des IC-
Testers. Will man nämlich Testvektoren
erstellen oder modifizieren, ist ein bes-
seres Verständnis in die Zusammenar-
beit von Hard- und Software unab-
dingbar. Um zu verstehen, wie die
Software Logik-ICs überprüfen kann,
haben wir ein Test Vector File perma-
nent im EPROM (zusammen mit dem
Mikrocontroller-Programm) gespei-
chert, anhand dessen die Struktur des
Testvektors analysiert werden kann.
Eine Kopie der im “Default-System-
EPROM” gespeicherten kompilierten
und binär konvertierten Testvektor-
Datei ist auch auf der Diskette/CD-
ROM (unter /INT/BIN) zu finden. Sie
Letzten Monat haben
wir die Hardware die-
ses leistungsfähigen
und vielseitigen IC-
Testers kennenge-
lernt. Im zweiten und
abschließenden Teil
des Artikels geht es
um die Bedienung
und Programmierung
des Geräts.
Um die Informationen dieses Artikels
in der Praxis anzuwenden, ist ein funk-
tionierender IC-Tester und eine Reihe
von Dateien der Diskette EPS 986014-1
oder CD-ROM EPS 986001-1 Grund-
voraussetzung. Zur Erinnerung: Der
Tester ist betriebsbereit, wenn nach
dem Einschalten die Meldung
IC-Tester
1:Test
im LC-Display erscheint.
Das Projekt unterstützt eine Reihe von
trickreichen Testroutinen für die Hard-
ware, und obwohl man sie nicht unbe-
dingt durchlaufen muß, werden rele-
vante Routinen später erläutert. Für den
Augenblick ist es ausreichend, festzu-
stellen, daß der Tester sauber arbeitet.
M
E N Ü S T R U K T U R
Schon letzten Monat haben wir festge-
stellt, daß der IC-Tester drei Wege
kennt, um mit seiner Umgebung Kon-
takt aufzunehmen, nämlich über die
kleine Tastatur, das LC-Display sowie
der seriellen PC-Schnittstelle. Während
des Betriebs nutzt der IC-Tester Menüs,
um mit dem Anwender zu kommuni-
62
Entwurf von L. Lamesch
IC-Tester
Teil 2: Menüstruktur und
Testvektoren
IC Tester
1:Test
Select Library
74 x x x
Insert IC,
Press Enter
Testing, don't
remove IC !
ICCL :
ICCH :
x mA
x mA
up/dn
ent
esc
=
=
=
rollen auf/ab
akzeptiert nächstes Menü
zurück zum Hauptmenü
up/dn
ent
esc
Select IC:
74 : 00
up/dn
ent
esc
ent
esc
D6 leuchtet
ent = Test wiederholen
esc
ent = Test wiederholen
esc
in Ordnung
Test ok
Ent: rep Esc: exit
Taste drücken
980029 - 2 - 11
Test failed:
Ent: rep Esc: exit
nicht in Ordnung
Normale Tastaturfunktionen:
Bild 1. Struktur der
Menüoption 1: Test IC.
1
enthält sämtliche Informationen, die
das System braucht, um die Menge
der in der Tabelle im ersten Teil
genannten ICs zu überprüfen. Die
Datei heißt VECT.VTC , kann mit
einem beliebigen Texteditor geöffnet
und analysiert werden.
Semikolon ;
Alle Zeichen, die in einer Zeile hinter
dem Semikolon stehen, werden als
Kommentar betrachtet und vom
System ignoriert.
LIBARY
lib_name
Definiert den Beginn einer IC-Biblio-
thek. Dies sollte stets das erste Schlüs-
selwort in einer .TVC-Datei sein (aus-
genommen die Kommentarzeilen).
Alle folgenden IC-Typen gehören zur
Bibliothek lib_name. Der Bibliotheks-
name darf maximal 15 Zeichen lang
sein, eine Beschränkung der Zahl der
Bibliotheken in der .TVC- Datei ist
nicht gegeben.
NAME
ic_name
Definiert den Beginn der IC-Daten
und startet den Testvektorsatz für das
IC mit der Bezeichnung ic_name (maxi-
mal 15 Zeichen). Es gibt keine
Beschränkung der Anzahl der ICs in
einer Bibliothek. Das Ende des Test-
vektorsatzes wird einfach durch den
Beginn des nächsten gekennzeichnet,
also durch NAME, LIBRARY oder dem
Ende der .TVC-Datei.
CHILD
parent_ic_name
Wenn ein IC mit den gleichen Test-
vektoren arbeitet wie ein schon defi-
niertes, also kompatibel ist, wird es als
child eines parents bezeichnet. So sind
zum Beispiel ein 74:132 und ein 74:00
in Funktion und Anschlußbelegung
gleich. Im Gegensatz zum 74:00 besitzt
der 74:132 Schmitt-Trigger-Eingänge,
was aber vom Tester nicht überprüft
wird. Ein 74:132 ist deshalb wie folgt
definiert:
NAME 74:132
;define new IC
CHILD 74:00
;declare as 74:00
offspring
Ein Parent kann (in diesem Fall) bis zu
100 Children besitzen.
PINS
pin_count
Ungeachtet der Tatsache, daß ein IC
ein Child ist, müssen seine Testvekto-
ren definiert werden. In diesem Fall ist
das erste gebrauchte Schlüsselwort
immer PINS, das die Anzahl der IC-
Anschlüsse definiert.
PINORDER
pin_order
Verbindet die individuellen IC-
Anschlüsse mit den Testvektor-Reihen.
PINORDER darf nur auf PINS folgen,
die Anschlüsse werden durch ihre Pin-
Nummern identifiziert. Individuelle
Pin-Nummern werden durch ein
Leerzeichen voneinander getrennt.
Alle IC-Anschlüsse müssen in pin_order
definiert werden, auch die nicht
genutzten oder getesteten.
PINDEF
pin_definition
Definiert die Funktion jedes einzelnen
Anschlusses. Folgende Funktionen
sind verfügbar:
O Ausgang
I Eingang
G Masse
V VCC (Versorgungsspannung)
Die einzelnen Pinfunktionen müssen
durch Leerzeichen voneinander
getrennt werden. Anschlüsse, die nicht
getestet werden sollen, sind als Aus-
gänge (O) definiert, außerdem in den
VCT-Zeilen mit X (nicht testen) mar-
kiert.
PINDEF geht der ersten VECT-Zeile
63
Elektor
4/98
IC Tester
2:Identify
Select Pincount:
14
Select VCC Pin:
Unknown
Select GND Pin:
Unknown
Mark Libraries:
Cancel
up/dn
ent
esc
up/dn
ent
esc
up/dn
ent
esc
Mark Libraries:
74 x x x
up/dn
ent
esc
up/dn
ent = zurück zum Hauptmenü
esc
ent = zurück zum Hauptmenü
Bibliothekzugehörigkeit
wird gezeigt
up/dn
ent
esc
Taste dn drücken, um zur
vorletzten Eingabe zu rollen
980029 - 2 - 12
Mark Libraries:
Accept
Insert IC
Press Enter
74 x x x
74 : 00
IC found, Parent:
74 : 00
No IC found
Press Enter
Taste dn drücken, um zur
letzten Eingabe zu rollen
IC nicht gefunden
IC gefunden
Child ICs:
74 : 24
Library:
74 x x x
Ent: Continue
Esc: Exit
kompatible ICs gefunden
während
der
Suche
up = zeige vorheriges kompatibles IC,
wenn vorhanden, sonst Bibliothekzugehörigkeit
dn = zeige nächstes kompatibles IC,
wenn vorhanden, sonst Bibliothekzugehörigkeit
ent = Suche fortsetzen
esc = zurück zum Hauptmenü
dn = zeige kompatibles IC,
wenn vorhanden, sonst
Bibliothekzugehörigkeit
ent = Suche fortsetzen
esc = zurück zum Hauptmenü
up = zeige vorheriges kompatibles IC,
wenn vorhanden, sonst Bibliothekzugehörigkeit
dn = zeige ent/esc-Option
ent = Suche fortsetzen
esc = zurück zum Hauptmenü
up = zeige Bibliothekzugehörigkeit
ent = Suche fortsetzen
esc = zurück zum Hauptmenü
up/dn
ent
esc
=
=
=
rollen auf/ab
akzeptiert nächstes Menü
zurück zum Hauptmenü
Normale Tastaturfunktionen:
2
Bild 2. Struktur der
Menüoption 2: Identify.
voraus. Nach einer VECT-Zeile darf
die Pinfunktion durch ein neues PIN-
DEF geändert werden.
VECT
test_vector
Ein Testvektor kann aus folgenden Ele-
menten bestehen:
1 Ausgang: kontrolliert, ob der
Anschluß 1 ist
Eingang: Legt eine 1 an den
Anschluß
0 Ausgang: kontrolliert, ob der
Anschluß 0 ist
Eingang: Legt eine 0 an den
Anschluß
Z Kontrolliert, ob der Anschluß
hochimpedant ist
X Anschluß wird nicht getestet
Die einzelnen Elemente können, müs-
sen aber nicht durch Leerzeichen von-
einander getrennt werden. Ist ein
Anschluß als GND definiert, sollte eine
0 an der entsprechenden Stelle im
Testvektor eingetragen sein. Gleiches
gilt für VCC, dort muß eine 1 zu fin-
den sein.
REPEAT
count,
ENDR
Dieses Keywort erlaubt es,
eine Schleife zu imple-
mentieren, die Testvekto-
ren (VECT) und Pindefi-
nitionen (PINDEF) ent-
hält. Jede Schleife wird durch ENDR
abgeschlossen. Verschachtelte Schlei-
fen sind nicht erlaubt.
PULL
on_off
Das Keywort weist den IC-Tester an,
den genannten IC-Anschluß während
des Test mit einem Pull-down-Wider-
stand (on_off = 1) auszustatten oder
nicht (on_off = 0). Wenn on_off Null
ist, sind die Ausgänge kontinuierlich
über Pull-up-Widerstände angeschlos-
sen, so daß ein Hochimpedanz-Test
unmöglich ist.
ICCL
Diese Instruktion weist den IC-Tester
an, die Stromaufnahme des ICs zu
messen. Der Strom wird anschließend
mit ICCL bezeichnet. Der ICCL-Befehl
darf nur einmal pro IC erfolgen.
ICCH
Diese Instruktion weist den IC-Tester
ebenfalls an, die Stromaufnahme des
ICs zu messen. Der Strom wird
anschließend mit ICCH bezeichnet.
Der ICCH-Befehl darf nur einmal pro
IC erfolgen.
Außerdem sind die folgenden Punkte
zu beachten, will man Testvektoren
einfügen, die nicht in der vorgegebe-
nen Bibliothek enthalten sind.
4 Alle IC-Eingänge müssen sowohl
auf Null als auch auf Eins geschaltet
werden, und dies in einer Art und
Weise, daß jeder Wechsel eine Ände-
rung des Ausgangszustandes hervor-
ruft.
4 Alle Ausgänge müssen während des
Test Null und Eins und, wenn dies mög-
lich ist, auch hochimpedant (Z) sein.
4 Bei ICs mit einem sequentiellen
Innenleben dürfen die Takteingänge
eines Speicherflipflops ihren logischen
Status nicht gleichzeitig mit Datenein-
gängen ändern, wenn diese Änderung
einer aktiven Flanke des Taktsignals
gleichkommt. So darf der Takteingang
beispielsweise bei einem
74:74 nicht von Null auf
Eins wechseln, wenn der
Dateneingang zur glei-
chen Zeit seinen Pegel
ändert. Diese Vorschrift trifft ebenso
auf Takt- und Enable-Eingänge syn-
chroner Zähler zu.
64
Elektor
4/98
IC Tester
3:Retest
74 x x x
74 : 00
Insert IC,
Press Enter
Testing, don't
remove IC !
ent
esc
ent = Test wiederholen
esc
ent = Test wiederholen
esc
IC in Fassung einsetzen
Test in Ordnung
Test ok
Ent: rep Esc: exit
Test nicht in Ordnung
Test failed!
Ent: rep Esc: exit
Taste drücken
980029 - 2 - 13
up/dn
ent
esc
=
=
=
rollen auf/ab
akzeptiert nächstes Menü
zurück zum Hauptmenü
Normale Tastaturfunktionen:
IC Tester
4:Trace
Select Library
74 x x x
Select IC:
74 : 00
Insert IC:
Press Enter
V11
0
0
11
0
0
01
1
1
11
0
0
G
up/dn
ent
esc
up/dn
ent
esc
ent
esc
ent = Test wiederholen
esc
ent, up /dn = nächster Testvektor
esc
dn = überspringe Schleife
Messung ICCH, ICCL,
Test beendet
980029 - 2 - 14
pin 1 = untere Reihe linke Position
pin 14 = obere Reihe linke Position
V = Vcc-Pin
G = Masseanschluß
0 = IC-Eingang auf 0
1 = IC-Eingang auf 1
Z = IC-Ausgang hochohmig (Z)
0
0
= IC-Ausgang auf 0, soll 0 sein
0
1
= IC-Ausgang auf 1, soll 0 sein
0
Z
= IC-Ausgang auf Z, soll 0 sein
1
0
= IC-Ausgang auf 0, soll 1 sein
1
1
= IC-Ausgang auf 1, soll 1 sein
1
Z
= IC-Ausgang auf Z, soll 1 sein
ERR = Fehler in Ausgangsstufe
Ent: Restart
Esc: Exit
D6 leuchtet
up/dn
ent
esc
=
=
=
rollen auf/ab
akzeptiert nächstes Menü
zurück zum Hauptmenü
Normale Tastaturfunktionen:
3
4
Bild 3. Struktur der Menü-
option 3: Retest IC.
Bild 4. Struktur der Menü-
option 4: Trace.
4 Wenn der Pegel eines Enable-Ein-
gangs eines Latch-Flipflops wechselt,
darf der Dateneingang des Flipflops
dies nicht zur gleichen Zeit tun. Dies
trifft sowohl auf positive als auch
negative Flanken zu.
Um dieses Kapitel abzuschließen, zeigt
Bild 9 ein Beispiel für einen Satz Test-
vektoren für den 12stufigen binären
CMOS-Zähler mit Überlauf (4040).
Obwohl hier nicht alle Keywords des
Compilers genutzt werden, zeigt das
Beispiel doch sehr schön den Zusam-
menhang zwischen der Struktur der
Vektoren und den Funktionsabläufen
des ICs. Die Anschlußbelegung hilft
beim Verständnis der Testvektoren.
Beachten Sie, daß der repeat-Befehl
genutzt wird, um den logischen Pegel
des Takteingangs (cp) zu wechseln.
Abhängig von der Anzahl der auf
diese Art erzeugten Taktimpulse sollte
der entsprechende Ausgang (qx) auf
High gehen. Die Hardware erfaßt den
Zustand des Ausgangs und vergleicht
ihn mit dem Sollwert, der im Testvek-
tor angegeben ist. So soll zum Beispiel
eine logische Eins an Ausgang Q8 auf-
tauchen, wenn der 4040 128 Taktim-
pulse erhält. Wird der angegebene
Wert nicht nach dem Ende der Schleife
(ENDR) erreicht, mit anderen Worten,
wenn das Verhalten des getesteten ICs
nicht den Angaben des Testvektors
hinter ENDR entspricht, ist das IC als
fehlerhaft entlarvt und kann entsorgt
werden. Die Bezeichnungen der IC-
Anschlüsse findet man als Kommentar
im Testvektor-Beispiel in Zeile 4. Zu
beachten ist auch, daß manche
Halbleiterhersteller den untersten Ein-
gang nicht - wie der Testvektor - mit
Q0, sondern mit Q1 kennzeichnen.
Dies hat auf den Test und auf die
Funktion des ICs natürlich keinerlei
Auswirkungen, sondern betrifft aus-
schließlich die Nominierung.
Mehr Scripts von IC-Testvektoren und
interne Diagramme sind auf den
Datenblättern in der Heftmitte zu fin-
den.
K
O M P I L I E R E N U N D
D
E B U G G E N
V O N T E S T V E K T O R E N
Die Analyse einer bestehenden Test-
vektor-Datei soll es dem Anwender
ermöglichen, selbst Testvektoren für
ICs zu erzeugen, die nicht in der Ur-
Bibliothek aufgenommen wurden. Im
Prinzip benötigt man lediglich ein
Datenblatt mit einer Wahrheitstabelle,
die genau angibt, wie das IC funktio-
nieren sollte. Man kann neue Testvek-
toren der bestehenden Datei
VECT.TVC anfügen und in ein neues
System-EPROM brennen. Die Vorge-
hensweise und die dazu erforderli-
chen Programme sollen im folgenden
beschrieben werden. Die folgenden
Informationen sind rein akademischer
Natur, wenn sie mit der Auswahl der
ICs in der bestehenden Testvektorda-
tei zufrieden sind.
Starten Sie die Programme niemals
direkt von der Diskette, sondern unter
DOS mit CHECK 2 ein Prüfprogramm,
das die Unversehrtheit aller Dateien
kontrolliert. Dann und erst dann
kopiert man alle Dateien in ein Unter-
verzeichnis beziehungsweise einen
Ordner mit geeignetem Namen auf
die Festplatte.
ICTVC.EXE
ist der Testvektor-Compiler. Er hat die
Aufgabe, einen Testvektor-Quellkode
(wie VECT.TVC) in eine binäre Test-
vektor-Datei umzuwandeln. Dieses
65
Elektor
4/98
IC Tester
5:Options
Mark Options:
Disp ICC
Mark Options:
Accept
up/dn
ent = markieren, Markierung löschen
esc
up/dn
ent = zurück zum Hauptmenü
esc = zurück zum Hauptmenü
up/dn
ent
esc
Taste dn drücken zur
letzten Eingabe
980029 - 2 - 15
Mark Options:
Cancel
Optionen:
Disp ICC: zeige ICCL oder ICCH nach IC-Test
Ident: zeige alle IC-Typen während der Suche
Retain Selectn: ausgewählte ICs, Bibliotheken,
Anschlußzählung,
Lage der Versorgungsspannungsanschlüsse
sind immer gespeichert
Taste dn drücken zur
vorletzten Eingabe
up/dn
ent
esc
=
=
=
rollen auf/ab
akzeptiert nächstes Menü
zurück zum Hauptmenü
Normale Tastaturfunktionen:
IC Tester
7:Self Check
HW Check:
1:GND switches
HW Check:
2:VCC switches
HW Check:
3:Set Pins
HW Check:
4:Pull
HW Check:
5:I
CC
Test Masse-Transistoren
Test VCC-Transistoren
Setzen/Löschen
DUT-Anschlüsse
Pull-up und Pull-down-
Widerstände am
DUT anschließen
Zeige I
CC
-Wert
ent = Test starten
esc
up/dn
up2 /dn2
980029 - 2 - 17
IC Tester
6:Info
IC Tester 1.0 (C)
L. Lamesch 1997
980029 - 2 - 16
zum Hauptmenü
beliebige Taste
drücken
5
6
7
Bild 5. Struktur der Menü-
option 5: Options.
Bild 6. Struktur der Menü-
option 6: Info.
Bild 7. Struktur der Menü-
option 7: Self Check.
wird anschließend an das Mikrocon-
troller-Programm ICT.BIN angehängt,
um eine große binäre Datei zu erzeu-
gen, die in das EPROM gebrannt wer-
den kann. Um die zwei Dateien
zusammenzufügen, nutzt man den
DOS-Befehl
copy ict.bin+vect.out /b
eprom.bin
Der Compiler wird durch
ICTVC [source file.TVC]
aufgerufen, also beispielsweise
ICTVC [VECT.TVC]
Der Compiler generiert die Dateien:
4 TVC.OUT
binäre Testvektor-
Datei
4 ERR.OUT
Alle Fehler, die
während der Kompilation auftreten,
werden in diesem Fehlerreport ver-
merkt, nicht auf dem Monitor.
4 LIST.OUT
Textdatei, die Infor-
mationen über die Quelldatei, die
binäre Datei, eine mit Zeilennummern
versehene Kopie der Quelldatei ein-
schließlich der Bytes, die von jeder
Zeile erzeugt werden, enthält.
4 TMP.OUT
Temporäre Datei,
die von ICTVC.EXE genutzt wird.
TVCHK.EXE
Dies ist eine Art Shell-Programm, das
zu ICTVC.EXE gehört beim Debuggen
von Testvektoren hilft. Um den
Debugger einzusetzen, muß der IC-
Tester über die serielle Schnittstelle mit
dem PC verbunden sein. TVCHK
sollte mit einem angehängten, die
gewählte Schnittstelle bezeichnenden
Parameter gestartet werden. Entweder
gibt man die COM-Portnummer 1...4
(zum Beispiel TVCHK 2) oder die
Adresse (in Hex) ein, gefolgt von der
dazugehörenden Interruptleitung
66
Elektor
4/98
IC Tester
8:Remote Mode
Waiting for Host
Esc: Cancel
* *
Connected
* *
Esc: Exit
esc
esc
Sync detektiert auf
RS232-Schnittstelle
980029 - 2 - 18
ja
nein
Synchronisiert zum Host
up/dn
ent
esc
=
=
=
rollen auf/ab
akzeptiert nächstes Menü
zurück zum Hauptmenü
Normale Tastaturfunktionen:
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
V
DD
GND
Q11
CD4040
Q10
Q9
Q7
Q8
R
CLK
Q1
Q2
Q3
Q6
Q4
Q11
Q5
Q0
Q10
Q9
Q7
Q8
RESET
CLOCK
Q0
Q5
Q4
Q6
Q3
Q2
Q1
980029 - 2 - 19
name 4040
; 12-bit CMOS ripple carry counter
pins
16
pinorder
10
11
1
15
14
12
13
4
2
3
5
6
7
9
8
16
;
/cp mr q11 q10 q9
q8
q7
q6
q5
q4
q3
q2
q1
q0
gnd vcc
pindef
I
I
O
O
O
O
O
O
O
O
O
O
O
O
G
V
vect
0
1
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
1
vect
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
1
vect
1
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
1
vect
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
1
0
1
vect
1
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
1
0
1
vect
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
1
0
0
1
vect
1
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
1
0
0
1
vect
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
1
1
0
1
vect
1
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
1
1
0
1
vect
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
1
0
0
0
1
repeat 4
vect
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
X
X
X
0
1
vect
1
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
X
X
X
0
1
endr
vect
0
0
0
0
0
0
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0
0
0
1
0
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0
0
1
repeat 8
vect
0
0
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0
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0
0
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X
X
X
X
0
1
vect
1
0
0
0
0
0
0
0
0
0
X
X
X
X
0
1
endr
vect
0
0
0
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0
0
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1
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0
1
repeat 16
vect
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0
0
0
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0
0
0
0
X
X
X
X
X
0
1
vect
1
0
0
0
0
0
0
0
0
X
X
X
X
X
0
1
endr
vect
0
0
0
0
0
0
0
0
1
0
0
0
0
0
0
1
repeat 32
vect
0
0
0
0
0
0
0
0
X
X
X
X
X
X
0
1
vect
1
0
0
0
0
0
0
0
X
X
X
X
X
X
0
1
endr
vect
0
0
0
0
0
0
0
1
0
0
0
0
0
0
0
1
repeat 64
vect
0
0
0
0
0
0
0
X
X
X
X
X
X
X
0
1
vect
1
0
0
0
0
0
0
X
X
X
X
X
X
X
0
1
endr
vect
0
0
0
0
0
0
1
0
0
0
0
0
0
0
0
1
repeat 128
vect
0
0
0
0
0
0
X
X
X
X
X
X
X
X
0
1
vect
1
0
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0
X
X
X
X
X
X
X
X
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endr
vect
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0
0
0
1
0
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0
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0
0
0
1
repeat 256
vect
0
0
0
0
0
X
X
X
X
X
X
X
X
X
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1
vect
1
0
0
0
0
X
X
X
X
X
X
X
X
X
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1
endr
vect
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0
1
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0
0
1
repeat 512
vect
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0
0
0
X
X
X
X
X
X
X
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X
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1
vect
1
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0
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X
X
X
X
X
X
X
X
X
X
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1
endr
vect
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1
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1
repeat 1024
vect
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0
0
X
X
X
X
X
X
X
X
X
X
X
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1
vect
1
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0
X
X
X
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X
X
X
X
X
X
X
0
1
endr
vect
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1
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0
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1
vect
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0
0
0
0
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0
0
0
0
1
vect
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
1
iccl
; measure IC current
icch
; measure IC current
9
8
Bild 9. Hier ist ein Beispiel
eines Testvektor-Quellkodes
zu sehen. Zusammen mit der
Anschlußbelegung ist er
leicht nachzuvollziehen.
Bild 8. Struktur der
Menüoption 8:
Remote mode.
(1...7) an. Wohlgemerkt, es
geht um die Schnittstelle,
an die der IC-Tester
gekoppelt ist. Der Screen-
dump listet einige der
Möglichkeiten auf, die
TVCHK bietet.
EDT.BAT
Diese sehr kleine Stapelverarbeitungs-
datei ruft den Texteditor auf, mit dem
Testvektor-Dateien geladen, modifi-
ziert und gesichtert werden sollen.
Wünscht man einen anderen DOS-
Texteditor als EDIT.COM einzusetzen,
ist EDT.BAT entsprechend zu ändern.
Geben Sie den Namen der zu erstel-
lenden oder modifizierenden Datei
hinter EDT ein. Wenn VECT.TVC zu
groß für den Editor ist, kann der
anzuhängende Teil als eigene Datei
erstellt, korrigiert (gedebuggt?) und
ohne TVCHK an VECT.TVC gehängt
werden. Als nächstes kompliliert man
die Datei mit der TVCHK-Option Com-
pile tv source und erhält eine fertige
Datei, mit der das EPROM gebrannt
werden kann. Solange der Umgang
mit dieser Option noch ungewohnt ist,
sollte man statt VECT.TVC die
Übungsdatei SMALL.TVC unter
Menüoption 2 in TVCHK einsetzen.
Das Hauptmanü
von TVCHK bietet
folgende Optio-
nen:
Test vector
compiler
1: Test vector
source: VECT.TVC
Bezeichnet den
Namen der Test-
vektor-Quelldatei
2: Edit & compile
tv source file
3: Compile tv
source file
4: View error
report ERR.OUT
5: View list file
LST.OUT
6: EPROM binary
file: EPROM.BIN
Bezeichnet den
Namen der Binärdatei, die in das
EPROM gebrannt werden soll.
7: Generate EPROM file (das Aus-
gangsformat ist binär!)
8: Write GAL source file GAL.PLD
Test vector check
A: Lib name: 74xxx
Bezeichnet den Namen der Bibliothek,
die den zu testenden oder zu modifi-
zierenden Testvektor enthält.
B: Ic Name: 74:00
Bezeichnet den Namen des Testvek-
tors, der getestet/modifiziert werden
soll.
C: Test IC
Checkt die Testvektoren. Dieser Vor-
gang kann je nach Testvektor vor
allem bei sequentiellen ICs einige
Minuten dauern, für einen 4020 zum
Beispiel etwa zehn Minuten. Wohlge-
merkt, es handelt sich dabei um den
Test der Vektoren und nicht (!) des ICs.
D: Trace Test vectors
Dies ist das aktuelle Werkzeug zum
Debuggen. Für jeden Testvektor wer-
den die zu erwartenden logischen
Zustände und die am DUT gemesse-
nen Einsen angezeigt. Fehler sind in
Rot hervorgehoben. Pin 1 befindet sich
immer an der linken, der Anschluß mit
der höchsten Nummer an der rechten
Seite. REPEAT...ENDR-Schleifen kön-
nen durch Drücken der S-Taste über-
sprungen werden.
Z: Exit
Beendet das Programm
Com Port Adr:0x2F8 Int:3
Teil dem PC mit, welche COM-Schnitt-
stelle zur Kommunikation mit dem IC-
Tester genutzt wird. Hier ist die
Adresse der Schnittstelle 2F8 mit Inter-
rupt 3.
G
R O S S E
E P R O M
S
Wer Testvektor-Scripts für andere als
im Original-EPROM enthaltene auf-
nehmen und mit Hilfe der TVCHK-
Option 7 in Form einer erweiterten
.BIN-Datei in das EPROM brennen
will, wird sehr schnell an dessen Kapa-
zitätsgrenze von 512 kbit (64 kByte)
stoßen. Dies ist aber kein Problem,
denn die Hardware des IC-Testers ist
auch auf größere EPROMs wie dem
27(C)020 mit 2 Mbit (256 kByte) vorbe-
reitet. Da diese Giganten-Speicher in
Bänke á 64 kByte unterteilt sind,
benötigt man die Ausgänge B6 und B7
des PIO-Bausteins IC2 und die
Adreßleitung A17, die durch Jumper
JP1 in Stellung NOT-A aktiviert wird.
Wie auch immer, mit dem IC-Tester
haben wir Ihnen ein leistungsfähiges,
schaltungstechnisch modernes Labor-
gerät vorgestellt, das sich preiswert
aufbauen und erweitern läßt (siehe
Kasten) und darüber hinaus einem in
Ehren ergrauten PC zu einer neuen
Daseinsberechtigung verhilft.
(980029-2)rg
67
Elektor
4/98
Bild 10. Das Programm
TVCHK stellt eine nütz-
liche Hilfe zur Über-
prüfung neu erstellter
Testvektoren dar.
100 % Do it Yourself
Der IC-Tester läßt sich am bequemsten aufbauen, wenn man GAL und EPROM fertig program-
miert und am besten in Kombination mit einer Leerplatine und der Diskette unter der Bestell-
nummer EPS 980029-C bei Elektor erwirbt.
Preiswerter, aber mit Eigenleistungen verbunden ist es, wenn man alle für den IC-Tester not-
wendigen Informationen, Programme und Dateien der CD-ROM µP-µC Hard & Software 97-
98 (Bestellnummer EPS 986001-1) entnimmt, die außerdem Hard- und Software aller gewin-
nenden Projekte aus dem letztjährigen Mikrocontroller-Wettbewerb enthält.
Im Ordner INT findet man Quellkodes in C und Assembler, Binärkodes zur Programmie-
rung von GAL (.JED) und EPROM (.BIN), den Quellcode für den 535-Controller, die Master-
Testvektordatei, alle Software-Utilities und sogar Schaltplan und Platinenlayout, allerdings
vom Originalprojekt, das im Januarheft vorgestellt wurde. Mit den entsprechenden Mitteln
(Programmiergeräte für EPROM und GAL sowie eine Platinenätzeinrichtung) läßt sich das
gesamte Projekt - abgesehen von den Bauteilkosten - fast zum Nulltarif erstellen.
Eventuell kommt für Sie ein Mittelweg in Frage: Wenn Sie nämlich die Leerplatine fertig
kaufen, benötigen Sie nur noch die Diskette (mit dem gleichen Inhalt wie der CD-ROM-
Ordner INT, allerdings ohne Assemblerfiles, Platinenlayout und Schaltplan.