Pomiar grubości warstw i ścianek
WSTP
Pomiar grubości ścianki w warunkach warsztatowych można dokonywać za pomocą
tradycyjnych urządzeń pomiarowych t.j. suwmiarka, mikrometr, bądz też za pomocą
specjalistycznych urządzeń wykorzystujących zjawisko ultradzwięków lub też zjawisko przebiegu
strumienia pola magnetycznego.
Gdy dostęp do miejsca pomiarowego jest łatwy pomiaru możemy dokonać prostymi narzędziami
pomiarowymi t.j. suwmiarka czy też mikrometr. Sytuację komplikuje brak łatwego dostępu do
miejsca pomiarowego. Wtedy wykorzystujemy urządzenia specjalistyczne. Jednym z takich urządzeń
jest urządzenie ultradzwiękowe wykorzystujące zjawiska typowe dla ruchu falowego , zachodzące w
danym środowisku oraz na jego granicach. Głównym powodem wykorzystania tego zjawiska było
odbicie fali na granicy ośrodka. Za pomocą przetwornika magnetostrykcyjnego lub
piezoelektrycznego wytwarzamy falę dzwiękową o odpowiedniej długości. Fala przechodząc przez
dany obiekt ulega transformacjom i odbiciom przez co jesteśmy w stanie określić grubość i ilość
warstw badanego obiektu. Rozróżniamy trzy metody badań ultradzwiękowych:
a) metoda cienia zwana metodą przepuszczania opartą na pomiarze natężenia fali przechodzącej
przez dany obiekt
N
Obiekt
b) metoda echa inaczej metoda odbicia polegająca na wytworzeniu i wprowadzeniu do
badanego materiału impulsów fal ultradzwiękowych oraz ich odbiorze po odbiciu od
powierzchni ograniczonej
N O
Obiekt
b) metoda rezonansu, opartą na zjawisku odbicia fali od powierzchni ograniczonej
N Oooo O
Obiekt
Drugą metodą pomiaru grubości i warstw ścianki poprzez zaburzenia strumienia pola
magnetycznego. Poprzez materiał przepływa strumień pola magnetycznego.
B = u H [ V S/m2 = 1T ]
B indukcja magnetyczna
U przenikliwość
H natężenie pola magnetycznego
Strumień magnetyczny przechodząc z ośrodka o większej przenikliwości do ośrodka o mniejszej
przenikliwości załamie się do prostopadłej do granicy tych ośrodków. Powstaje rozproszenie pola
magnetycznego, dzięki któremu możemy odczytać ilość warstw lub grubość badanego materiału.
B
obiekt
POMIARY
Pomiaru dokonujemy na ściankach łożyska głównego. Do pomiaru wykorzystujemy
grubościomierza 545H. Dane techniczne:
Przyrząd składa się z 1) grubościomierz 545H 2) zasilacza baterii 545HB 3) ładowarki 5400H 4)
głowic ultradzwiękowych typu nadajnik-odbiornik 4LDS10H (zakres 2-50); 4LDL(zakres 5-150)
Dokładność +/- 0,1mm Rozdzielczość 0,1mm. Kalibracja dla stali (prędkość fali ultradzwiękowej
5930m/s)
PRZYGOTOWANIE PRZYRZDU DO POMIARU
Przed przystąpieniem do pomiaru nalęży sprawdzić stopień rozładowania baterii. Następnie należy
połączyć je do urządzenia. W określonej kolejności podłączamy głowicę (której typ zależy od
grubości materiału). Uruchamiamy przyrząd i kalibrujemy go za pomocą płytki wzorcowej o grubości
5mm znajdującej się na obudowie urządzenia. Przed dokonaniem pomiaru każdorazowo należy
zwilżyć głowicę (olejem w naszym przypadku) aby odbić fal od powietrza znajdującego się pomiędzy
głowicą a przedmiotem badanym.
WYNIKI POMIARÓW
" Lewa burta
Zewnętrzna ścianka 9,2 mm +/- 0,1mm
Wewnętrzna ścianka 9,0mm +/- 0,1mm
" Prawa burta
Zewnętrzna ścianka 7,8mm +/- 0,1mm
Wewnętrzna ścianka 9,5mm +/- 0,1mm
WNIOSKI:
Tak duża rozbieżność pomiaru może wynikać :
1) pomiar był pomiarem warstwowym, głowica buła nadawczo-odbiorcza ,musieliśmy dokonać
dwóch pomiarów : zewnętrznego i wewnętrznego , wybór miejsca pomiaru jest przypadkowy
2) zakłócenia może powodować powietrze znajdujące się pomiędzy ścianka a farbą
3) skazy znajdujące się w materiale t.j. pęknięcia, mikropęknięcia itp. Mogą powodować odbicie fal
ultradzwiękowych
Wyszukiwarka
Podobne podstrony:
POMIAR GRUBOŚCI WARSTW I SCIANEKOkreślanie grubości warstwy powłok metalowychpomiar charakterystycznych wielkości turbulentnej warstwy przyściennej na płaskiej płycie73 Metody otrzymywania dwuwarstw lipidowych i pomiar ich grubości170 Metody otrzymywania dwuwarstw lipidowych i pomiar ich grubosciANALIZA KOMPUTEROWA SYSTEMÓW POMIAROWYCH — MSEInstrukcja do cwiczenia 4 Pomiary oscyloskopowePomiaryAkustyczneMIERNICTWO I SYSTEMY POMIAROWE I0 04 2012 OiORachunek niepewnosci pomiarowychWykonywanie pomiarów warsztatowych311[15] Z1 01 Wykonywanie pomiarów warsztatowychPomiar Potencjałów Wzbudzenia Atomów Rtęco (2012)do pomiary temperatury cpu ReadMe!więcej podobnych podstron