POMIAR GRUBOŚCI WARSTW I SCIANEK


T: POMIARY GRUBOŚCI WARSTW I ŚCIANEK
Podział metod pomiarów spotykanych przy mierzeniu długości i kątów może być
dokonywany ze względu na:
a)sposób postępowania przy pomiarze:
-bezpośrednie;
-pośrednie;
-uwikłane;
b)otrzymywany efekt mierzenia:
-bezwzględne;
-porównawcze;
c)sposób przejmowania impulsów informujących:
-stykowe;
-bezstykowe.
Pomiar bezpośredni jest wtedy gdy , wartość liczbowa mierzonego wymiaru jest
równa wynikowi pomiaru i otrzymywana jest bezpośrednio w wyniku dokonania czynności
pomiarowych. Przykładem może być pomiar średnicy wałka suwmiarką lub kąta
kątomierzem. Istotę pomiaru bezpośredniego można przedstawić za pomocą wzoru: y=x
gdzie:
y-poszukiwana wielkość;
x-wartość zmierzona.
Pomiar pośredni jest wtedy , gdy poszukiwaną wielkość otrzymuje się w sposób
pośredni przez wykonanie odpowiednich czynności pomiarowych , mających na celu
zmierzenie wielkości pomocniczych oraz przeprowadzenie odpowiednich przeliczeń .
Przykładami pomiarów pośrednich mogą być : pomiar średnicy podziałowej gwintu metodą
trójwałeczkową , płytek wzorcowych i czujnika . Istotę pomiaru pośredniego można
przedstawić za pomocą wzoru :
y=f (x1,x2,x3,...xn) gdzie:
y-poszukwana wielkość , zależna od x1,x2,x3,...xn, które mogą być zmierzone przez pomiar
bezpoośredni.
Pomiar złożony polega na tym , że mierzy się szereg wielkości
x12 ,x22 ,...xn2 ,x12 2 ,x22 2 ,...xn2 2 ,x1^n,x2^n,...x3^n które są związane z wynikami pomiarów
y1,y2,...yn za pomocą układu równań:
f1( y1,y2,...yn,x12 ,x22 ,...xn2 )=0
f2(y1,y2,...yn,x12 2 ,x22 2 ,...xn2 2 )=0
....................................................
fn(y1,y2,...yn,x1^n,x2^n,...xn^n)=0
Układ równań służy do obliczenia wyników pomiarów y1,y2,...yn. Należy podkreślić że
przy ustalaniu wartości wymiarów liniowych i kątowych , pomiary złożone nie mają na ogół
zastosowania .
Pomiar bezwzględny polega na tym ,że efektem mierzenia jest otrzymanie całkowitej
wartości mierzonego wymiaru jako wskazania narzędzia pomiarowego . Przykładem pomiaru
bezwzględnego może być pomiar średnicy wałka mikrometrem lub pomiar na
długościomierzu Abbego .
Istotę pomiaru bezwzględnego można wyrazić wzorem :
y=x=w gdzie:
w-wskazanie narzędzia pomiarowego .
Pomiar względny polega na tym , że efektem mierzenia jest otrzymanie całkowitej
wartości mierzonej wielkości różnej od wartości wskazania , co wyrazić można wzorem :
y =x`"w
Przykładem takiego pomiaru może być mierzenie długości płytki na mikroskopie
warsztatowym .
Pomiar porównawczy polega na tym , że efektem mierzenia jest otrzymanie jako
wskazania narzędzia pomiarowego tylko odchyłki od wymiaru nastawczego . Przy pomiarach
porównawczych konieczne jest stosowanie wzorców odtwarzających wymiary nastawcze tj.
wymiary wg których nastawia się przyrząd na wskazanie zerowe . przykładem pomiaru
porównawczego jest pomiar średnicy wałka na optimetrze lub średnicy otworu za pomocą
średnicówki czujnikowej .
Wynik pomiaru może być przedstawiony za pomocą wzoru :
y=n ą x gdzie :
x-wartość wymiaru nastawczego , według którego nastawia się przyrząd na wskazanie zerowe
.
Pomiar stykowy polega na tym , że podczas mierzenia następuje stykanie się
elementów roboczych narzędzia lub przyrządu ( elementami roboczymi są najczęściej
powierzchnie pomiarowe ) z powierzchniami mierzonego przedmiotu w miejscu mierzenia .
Przykładami pomiarów stykowych są pomiary wykonywane za pomącą suwmiarek ,
mikrometrów , optimetrów , kątomierzy itp.
Przy pomiarach stykowych pomiędzy elementami roboczymi narzędzia pomiarowego
może występować styk : powierzchniowy ,liniowy lub punktowy .
Pomiar bezstykowy polega na tym , że dokonuje się go stykania elementów
roboczych przyrządu z powierzchniami przedmiotu w miejscu mierzenia . Pomiary
bezstykowe mogą być dokonywane przez wykorzystanie np. metody: optycznej ,
pneumatycznej , interferencyjnej , indukcyjnej i izotopowej .
Literatura :
-Praca zbiorowa  Poradnik Metrologa Warsztatowego 3 WNT Warszawa 1973 r.


Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Pomiar grubości warstw i ścianek
Określanie grubości warstwy powłok metalowych
pomiar charakterystycznych wielkości turbulentnej warstwy przyściennej na płaskiej płycie
73 Metody otrzymywania dwuwarstw lipidowych i pomiar ich grubości
170 Metody otrzymywania dwuwarstw lipidowych i pomiar ich grubosci
ANALIZA KOMPUTEROWA SYSTEMÓW POMIAROWYCH — MSE
Instrukcja do cwiczenia 4 Pomiary oscyloskopowe
PomiaryAkustyczne
MIERNICTWO I SYSTEMY POMIAROWE I0 04 2012 OiO
Rachunek niepewnosci pomiarowych
Wykonywanie pomiarów warsztatowych
311[15] Z1 01 Wykonywanie pomiarów warsztatowych
Pomiar Potencjałów Wzbudzenia Atomów Rtęco (2012)
do pomiary temperatury cpu ReadMe!

więcej podobnych podstron