Określenie wtórnego modułu odkształcenia za pomocą płyty statycznej VSS
Badanie polega na pomiarze odkształceń pionowych (osiadań) badanej warstwy podłoża
pod wpływem nacisku statycznego wywieranego na stalową okrągłą płytę o średnicy D = 300
mm. Nacisk na płytę wywierany jest za pośrednictwem dz
wignika hydraulicznego, który oparty
jest o przeciwwagę (np. ramę samochodu). Badanie należy przeprowadzić w temperaturach
otoczenia powyżej 0Ú C .
Przygotowanie aparatu do wykonania oznaczenia polega na wyrównaniu powierzchni
badanej warstwy podłoża gruntowego lub podbudowy, dociskając płytę i okręcając ją
kilkukrotnie. Następnie należy ułożyć statyw tak, aby punkty podparcia były w jak największej
odległości od siebie oraz kół przeciwwagi. Kolejno należy zamontować przedłużacz rurowy z
płytą górną oraz zamocować czujniki w uchwytach na stelaża.
Badanie podłoża płytą VSS
Pierwszą czynnością po ustawieniu przyrządu jest wprowadzenie wstępnego obciążenia
0,02 MPa. Następnie należy wyzerować czujniki do pozycji 0,00 mm a potem doprowadzić
ciśnienie na badaną warstwę do wartości 0,05 MPa. Wskazania czujników przy tym samym
ciśnieniu, regulowanym od czasu do czasu powolnym ruchem dz
wigni pompy, odczytuje siÄ™ co
2 min. Jeżeli różnica kolejnych dwóch odczytów w odstępie 2 min. na czujnikach jest mniejsza
od 0,05 mm, to należy przejść na następny stopień obciążenia jednostkowego większy od
poprzedniego o 0,05 MPa. Każdy odczyt należy zapisać w formularzu badawczym, w którym
należy określić czas odczytu, wskazanie manometru oraz wskazania czujników.
Końcowe obciążenia doprowadza się w zależności od rodzaju gruntu do 0,25 MPa  dla
podłoża gruntowego oraz nasypów lub 0,35 MPa  dla podłoża ulepszonego (stabilizowanego).
Po osiągnięciu wymaganego obciążenia końcowego należy przeprowadzić odciążenie stopniowo
co 0,1 MPa, aż do osiągnięcia zerowej wartości obciążenia. Wskazania czujników należy
zapisywać co 2 min oraz odczekać 5 min przed ostatnim odczytem. W ten sposób oznacza się
pierwotny moduł odkształcenia E .
1
1
Po całkowitym odciążeniu płyty zadać wstępne ciśnienie 0,05 MPa i dalsze badania
prowadzi się analogicznie jak powyżej. W ten sposób oznaczamy wtórny moduł odkształcenia
E .
2
Wartość modułów odkształcenia E i E oblicza się ze wzoru
1 2
3" p
E = Å" D
4" s
gdzie:
E  moduł odkształcenia [MPa],
"p  różnica nacisków [MPa],
"s - przyrost osiadań odpowiadający różnicy nacisków [mm].
W zależności od badanego rodzaju podłoża stosuje się następujący sposób przeliczenia różnic
nacisków oraz przyrostu osiadań i tak dla:
- podłoża gruntowego
" p = p2 - p1
- przyrost obciążenia jednostkowego w zakresie od 0,05 MPa do
0,15 MPa,
"s - przyrost odkształcenia odpowiadający zakresowi obciążeń
" s = s0,15 - s0,05 ) [mm]
(
- podłoża ulepszonego
" p = p2 - p1
- przyrost obciążenia jednostkowego w zakresie od 0,15 MPa do
0,25 MPa,
"s - przyrost odkształcenia odpowiadający zakresowi obciążeń
" s = s0,25 - s0,15 ) [mm]
(
Rozporządzenie określa następujące minimalne wartości modułu odkształcenia wtórnego
- KR1 i KR2 E = 100 MPa I = 1,00
2 s
- KR3  KR6 E = 120 MPa I = 1,03
2 s
2
Określenie wtórnego modułu odkształcenia za pomocą płyty dynamicznej
Ze względu na długotrwałość badań płytą statyczną VSS istnieje metoda alternatywna 
płyta dynamiczna. Jedno badanie trwa ok. 3 min., a nie jak podczas badania płytą VSS
kilkadziesiąt. Poza tym do badań płytą statyczną potrzebny jest ciężki sprzęt, który w tym
samym czasie mógłby być wykorzystany do innych celów. Dodatkowo w najnowszych typach
płyt dynamicznych otrzymujemy natychmiastowo potrzebne wydruki z badań.
Sposób przeprowadzenia badania polega na ułożeniu płyty w badanym miejscu,
umieszczeniu prowadnicy w uchwycie płyty i ustawieniu urządzania w pionie. Jeżeli podłoże
jest nierówne należy pod płytę zastosoać podsypkę piaskową. Następnie należy wykonać
bijakiem trzy uderzenia wstępne w celu kalibracji sprzętu. Po tych czynnościach należy włączyć
odczyt i wykonać trzy uderzenia badawcze. Po ostatnim opuszczeniu bijaka na wyświetlaczu
pokazany jest wynik w MPa. Jest to odczyt wielkości zwanej dynamicznym modułem
odkształcenia E . Aby przeliczyć wynik na wtórny moduł odkształcenia E konieczne jest
vd 2
skorzystanie ze współczynnika przeliczeniowego, który można wyznaczyć indywidualnie, jeżeli
mamy możliwość przeprowadzenia kilku badań płytą VSS w tych samych miejscach co płytą
dynamiczną. W przeciwnym przypadku należy skorzystać z badań przedstawionych w
literaturze.
Przykładowe przeliczniki modułów odkształcenia
Dynamiczny moduł Współczynnik Wtórny moduł
odkształcenia E przeliczeniowy odkształcenia E
vd 2
80 2,25 180
70 2,14 150
60 2,00 120
50 2,00 100
40 2,00 80
25 1,80 45
15 1,33 20
3