S Y L L A B U S P R Z E D M I O T U
PRZEDMIOT: Podstawy Miernictwa w Chemii
kod przedmiotu:
1. AUTORSTWO PROGRAMU PRZEDMIOTU
Autor: dr inż. Jarosław Puton
Wydział: Nowych Technologii i Chemii
Instytut: Chemii
Zakład: Radiometrii i Monitoringu Skażeń
2. REALIZACJA PRZEDMIOTU
Rodzaj studiów: studia I stopnia
Kierunek: chemia
Specjalności: Materiały niebezpieczne i ratownictwo chemiczne, Ekologia
i Monitoring Środowiska, Materiały Wybuchowe
i Pirotechnika
Język realizacji: polski
3. ROZLICZENIE GODZINOWE
semestr |
forma zajęć, liczba godzin/rygor |
punkty |
|||||
|
razem |
wykłady |
ćwiczenia |
laboratoria |
projekt |
seminarium |
|
II |
106 |
44/X |
30/+ |
32/+ |
|
|
7 |
razem |
106 |
44 |
30 |
32 |
|
|
|
4. WAŻNOŚĆ SYLLABUSA
rok akademicki |
imię, nazwisko |
podpis |
2006/2007 |
dr hab. inż. Stanisław Cudziło - prof. WAT |
|
|
|
|
|
|
|
5. EFEKTY KSZTAŁCENIA
Nauczyć:
podstawowej terminologii metrologicznej, metod opracowywania wyników badań,
zasad wykonywania pomiarów wielkości elektrycznych,
podstawowych metod analizy obwodów elektrycznych.
Zapoznać z:
elementami teorii pomiarów i formalnymi aspektami metrologii,
przetwornikami wielkości nieelektrycznych stosowanymi w chemii i technologii chemicznej.
6. BEZPOŚREDNIE POWIĄZANIE Z INNYMI PRZEDMIOTAMI
Bazuje na przedmiotach:
fizyka,
matematyka.
Podbudowuje przedmioty:
inżynieria chemiczna,
analiza instrumentalna,
monitoring środowiska,
7. TREŚĆ PRZEDMIOTU
lp |
tematyka zajęć |
liczba godzin |
||||
|
|
wykł. |
ćwicz. |
lab. |
proj. |
semin. |
1. |
1. ELEMENTY TEORII POMIARÓW 1.1. Miernictwo i metrologia - pojęcia podstawowe Definicja pomiaru. Wielkości pomiarowe i ich wzorce. Przegląd jednostek układu SI.
|
2 |
- |
- |
- |
- |
2. |
1.2. Właściwości metrologiczne przyrządów pomiarowychModel pomiaru. Nominalna statyczna charakterystyka przetwarzania. Charakterystyki dynamiczne. Definicje parametrów przyrządu pomiarowego. |
2 |
2 |
- |
- |
- |
1.3. Błędy i niepewność pomiaru
Klasyfikacja niepewności i błędów pomiarowych. Prawa przenoszenia błędów. Metody analizy statystycznej. |
2 |
2 |
- |
- |
- |
|
1.4. Metody analizy wyników pomiaru
Zasady zapisu wyników pomiaru. Sporządzanie wykresów. Metody regresji. Współczynniki korelacji. |
2 |
2 |
- |
- |
- |
lp |
tematyka zajęć |
liczba godzin |
||||
|
|
wykł. |
ćwicz. |
lab. |
proj. |
semin. |
5. |
2. ELEKTROTECHNIKA I ELEKTRONIKA W POMIARACH 2.1. Wielkości elektryczne Pojęcia podstawowe i jednostki miar. Elementy obwodów elektrycznych. Źródła prądowe i napięciowe. Obwody prądu stałego.
|
2 |
4 |
- |
- |
- |
6. |
2.2. Sygnały sinusoidalne Analiza obwodów prądu sinusoidalnego. Pasmo przenoszenia układu. „Decybelowa” miara wzmocnienia. Wartość skuteczna prądu i napięcia. Moc w obwodach prądu sinusoidalnego.
|
2 |
2 |
4 |
- |
- |
7. |
2.3. Ogólna charakterystyka sygnałów elektrycznych w układach pomiarowych Przebiegi okresowe, niesinusoidalne. Rozwinięcie funkcji okresowej w szereg Fouriera. Stany nieustalone. Szumy i zakłócenia.
|
2 |
- |
4 |
- |
- |
8. |
2.4. Elementy półprzewodnikoweDioda półprzewodnikowa. Prostownik. Tranzystory bipolarne i polowe. Tranzystor jako przełącznik i wzmacniacz.
|
2 |
2 |
4 |
- |
- |
9. |
2.5. Wzmacnianie sygnałów elektrycznych Sprzężenie zwrotne. Idealny wzmacniacz operacyjny (WO). Układy pracy WO. Proste przykłady zastosowań.
|
2 |
4 |
4 |
- |
- |
10. |
2.6. Metody pomiarów wielkości elektrycznych Pomiar prądu, napięcia, mocy i oporności. Pomiary częstotliwości i czasu. Pomiary precyzyjne.
|
2 |
2 |
- |
- |
- |
11. |
2.7. Elementy techniki cyfrowej Stany logiczne. Kody liczbowe. Bramki logiczne. Technologie układów cyfrowych. Układy kombinacyjne i sekwencyjne.
|
2 |
- |
4 |
- |
- |
12. |
2.8. Wybrane elektroniczne przyrządy pomiarowe Współczesne mierniki cyfrowe. Oscyloskopy. Zasilacze. Generatory i układy czasowe.
|
2 |
2 |
- |
- |
- |
lp |
tematyka zajęć |
liczba godzin |
||||
|
|
wykł. |
ćwicz. |
lab. |
proj. |
semin. |
13. |
3. POMIARY WSPOMAGANE KOMPUTEROWO3.1. Mikrokontrolery w pomiarach Przetwarzanie analogowo-cyfrowe. Systemy mikrokontrolerów w przyrządach pomiarowych. Przykłady analizatorów i „inteligentnych” czujników stosowanych w chemii.
|
2 |
- |
- |
- |
- |
14. |
3.2. Systemy pomiarowe oparte na kartach do PC i modułach pomiarowych Interfejsy pomiarowe. Przekazywanie danych między mikrokomputerem a układem pomiarowym. Oprogramowanie wspierające pomiary.
|
2 |
- |
4 |
- |
- |
15. |
4. PRZETWORNIKI STOSOWANE W POMIARACH Opis matematyczny przetwornika. Typy przetworników. Pomiary sygnałów wyjściowych z czujników.
|
2 |
- |
- |
- |
- |
16. |
4.2. Ciśnieniomierze i przepływomierze Ciśnieniomierze pojemnościowe. Układy MEMS w pomiarach ciśnienia. Przepływomierze ze zwężkami. Przepływomierze cieplnoprzewodnościowe.
|
2 |
2 |
4 |
- |
- |
17. |
4.3. Czujniki termometryczneCzujniki termorezystancyjne. Termopary. Czujniki półprzewodnikowe. Zasady pomiaru temperatury. Uniwersalne regulatory temperatury.
|
2 |
- |
4 |
- |
- |
18. |
4.4. Inne czujniki wielkości fizykochemicznych Poziomomierze. Czujniki położenia i ruchu. Tensometry. Wilgotnościomierze.
|
2 |
- |
- |
- |
- |
19. |
4.5. Proste czujniki składu chemicznego Podział czujników. Pehametry. Czujniki katalityczne i katarometryczne. Czujniki półprzewodnikowe. Matryce czujników. Układy do kalibracji i testowania czujników składu chemicznego.
|
2 |
2 |
- |
- |
- |
lp |
tematyka zajęć |
liczba godzin |
||||
|
|
wykł. |
ćwicz. |
lab. |
proj. |
semin. |
20. |
5. WYBRANE ELEMENTY CHEMOMETRII Podstawowe pojęcia chemometrii. Analiza podobieństwa. Podobieństwo cech i próbek.
|
2 |
- |
- |
- |
- |
21. |
5.2. Metoda składowych głównych (PCA) Przygotowanie danych. Analiza przestrzeni cech. Interpretacja głównych składowych. Praktyczne przykłady zastosowań metod chemometrycznych.
|
2 |
2 |
- |
- |
- |
22. |
w chemii Podstawowe pojęcia teorii pomiarów. Rodzaje planów pomiarów. Przegląd metod optymalizacji.
|
2 |
2 |
- |
- |
- |
|
RAZEM : |
44 |
30 |
32 |
- |
- |
8. LITERATURA
T. Grzegorczyk, J. Janiszewski, R. Trębiński, „Metrologia i teoria eksperymentu”, cz. I i II Skrypt WAT 2004, S-59928,S-59929
J. Piotrowski, „Podstawy miernictwa”, WNT 2002
J.R. Taylor, „Wstęp do analizy błędu pomiarowego”, PWN 1995
T. Skubis, „Opracowanie wyników pomiarów”, Wydawnictwo Politechniki Śląskiej 2003
praca zbiorowa (P. Hempowicz), „Elektrotechnika i elektronika dla nieelektryków”, WNT 2004
P. Horowitz, W. Hill , „Sztuka elektroniki”, WKŁ 1999
D. Senczyk, „Podstawy teorii pomiarów”, Wyd. Poltechniki Poznańskiej 2003
J. Zakrzewski, „Czujniki i przetworniki pomiarowe”, Wyd. Politechniki Śląskiej, Gliwice 2004
Z. Brzózka, W. Wróblewski „Sensory chemiczne”, Oficyna Wyd. Politechniki Warszawskiej 1999
J. Fraden J.S. ”Handbook of Modern Sensors - physics, designs and applications” 3rd Ed. Springer 2003
9. ZASADY ZALICZANIA
Zaliczenie ćwiczeń: w trakcie ćwiczeń przeprowadzone zostaną dwa sprawdziany pisemne; ponadto studenci będą otrzymywali oceny z rozwiązywania zadań oraz z przygotowywanych samodzielnie krótkich referatów. Warunkiem zaliczenia ćwiczeń jest uzyskanie średniej oceny z powyższych rygorów nie mniejszej niż 3.0. Konieczne jest przy tym zaliczenie co najmniej jednego sprawdzianu pisemnego.
Zaliczenie ćwiczeń laboratoryjnych: oceny ze sprawdzianów ustnych przed każdym z ćwiczeń + oceny ze sprawozdań. Ocena zaliczenia jest średnią ze wszystkich ocen.
Egzamin: pisemny, można przystąpić pod warunkiem zaliczenia ćwiczeń rachunkowych i laboratoryjnych. Egzamin ma charakter testu składającego się z kilkunastu pytań, na które należy udzielić odpowiedzi.
1
6
"Z A T W I E R D Z A M"
DZIEKAN WYDZIAŁU NOWYCH TECHNOLOGII I CHEMII
.......................................................................
Prof. dr hab. inż. Krzysztof CZUPRYŃSKI
Warszawa, dnia ..........................
autor SYLLABUSA
dr inż. Jarosław PUTON
................................
imię i nazwisko, podpis
kierownik zakładu
odpowiedzialnego za przedmiot
dr inż. Jarosław PUTON
................................
imię i nazwisko, podpis