wielkość ziarna 1

SPRAWOZDANIE Z ĆWICZEŃ LABORATORYJNYCH

Wydział Geologii, Geofizyki i Ochrony Środowiska

Spec. Inżynieria Mineralna

Podstawy nauk o materiałach - laboratorium

Damian Krupa (254492)

Andrzej Kałkowski (254491)

Ćwiczenia nr 1
08.10.2015
  1. Wstęp

    1. Cel ćwiczenia

Dokonanie pomiaru metodą liniową oraz punktową (siatkową) udziału objętościowego wybranych faz na fotografiach zgładów poszczególnych materiałów, a także porównanie ze sobą ich wyników.

  1. Fotografie mikrostruktur analizowanych minerałów

    1. Kompozyty włókna szklane/żywica epoksydowa (żywica ciemna barwa, włókna - jasna)

  1. Kompozyt NiAl-Al2O3 (NiAl – kolor ciemniejszy, Al2O3 – kolor jaśniejszy)

  1. Metodyka i obliczenia

    1. Metoda liniowa

Na fotografię poszczególnego zgładu materiału naniesiono przezroczystą folię. W obrębie płaszczyzny zgładu poprowadzono n przypadkowo zorientowanych prostych (siecznych) L. Zmierzono (linijką), i zanotowano ich całkowite długości L oraz długości cięciw ziaren c, których dana sieczna przecinała. Następnie obliczono średnią arytmetyczną długość siecznej x. W następnym kroku zsumowano długości cięciw poszczególnej siecznej i obliczono udział objętościowy fazy β Vv(β) dla każdej siecznej, dzieląc sumę długości cięciw danej siecznej przez jej całkowitą długość. Po tej operacji obliczono średnią arytmetyczną udziału objętościowego Vv(β)śr.

Tab. 1 Dane pomierzone dla kompozyty włókna szklane/żywica epoksydowa dla metody liniowej

Symbol siecznej Długość siecznej L [cm] Długość cięciw c [cm]
L1 Uzupełnić dane z mojego zeszytu Uzupełnić dane
L2
L3
L4
L5
L6
L7
L8
L9
L10

Średnia arytmetyczna długości siecznej:

x = 9,16 [cm]

Średnia arytmetyczna udziału objętościowego fazy β:

Vv(β)śr = 0,808 [-]

Odchylenie standardowe:

s(x)1 = 0,033 [-]

Tab. 2 Dane pomierzone dla: kompozyt NiAl-Al2O3 dla metody liniowej

Symbol siecznej Długość siecznej L [cm] Długość cięciw c [cm]
L1 Uzupełnić dane Uzupełnić dane
L2
L3
L4
L5
L6
L7
L8
L9
L10

Średnia arytmetyczna długości siecznej:

x = [cm]

Średnia arytmetyczna udziału objętościowego fazy β:

Vv(β)śr = [-]

Odchylenie standardowe:

s(x)2 = [-]

  1. Metoda punktowa (siatkowa)

Na przezroczystej folii narysowano regularną, kwadratową siatką punktową o zadanej liczbie punktów s. Siatkę tę rzucono przypadkowo na poszczególne fotografie zgładów materiałów k razy. Obliczono ilość punktów trafiających w poszczególną, badaną fazę β. Następnie obliczono udział objętościowy Vv da każdego przyłożenia siatki, jako stosunek liczby punktów trafiających w daną fazę do całkowitej liczby rzuconych punktów. W następnym korku obliczono średnią arytmetyczną udziału objętościowego Vv(β)śr.

Tab. 3 Dane pomierzone dla: kompozyty włókna szklane/żywica epoksydowa dla metody punkowej (siatkowej)

Nr przyłożenia siatki k Liczba punktów padających na fazę β
k1 Uzupełnić dane z mojego zeszytu
k2
k3
k4
k5
k6
k7
k8
k9
k10

Całkowita liczba punktów na siatce o wymiarach 4,6 x 4,6 [cm]:

s = 100

Średnia liczba punktów padających na fazę β:

s(β)śr = 80,6

Średnia arytmetyczna udziału objętościowego fazy β:

Vv(β)śr = 0,806 [-]

Odchylenie standardowe:

s(x)3 = 1,86 [-]

Tab. 4 Dane pomierzone dla: kompozyt NiAl-Al2O3 dla metody punkowej (siatkowej)

Nr przyłożenia siatki k Liczba punktów padających na fazę β
k1 Uzupełnić dane
k2
k3
k4
k5
k6
k7
k8
k9
k10

Całkowita liczba punktów na siatce o wymiarach 4,6 x 4,6 [cm]:

s = 100

Średnia liczba punktów padających na fazę β:

s(β)śr =

Odchylenie standardowe:

s(x)4 = [-]

  1. Porównanie wyników metod

W celu porównania wyników obu metod dla poszczególnej próbki materiału, obliczono odchylenia standardowe dla metody siatkowej i liniowej (s(x)1, s(x)2, s(x)3, s(x)4), po czym ich średnie arytmetyczne s1(x)śr oraz s2(x)śr. Następnie obliczono statystyki t rozkładu t-Studenta i porównano je z wartością tabelaryczną, wziętą na wybranym poziomie ufności i przy liczbie swobody równej (n1 + n2 – 2) . Jeżeli obliczona wartość tobl>ttabel, mamy 95-procentową pewność, że obie średnie różnią się w istotnym stopniu. W przeciwnym przypadku (tobl<=ttabel) mamy podstawę twierdzić, że obie średnie pochodzą z tej samej populacji.

Średnie odchylenie standardowe od średniej arytmetycznej:

s1(x)śr = średnia z odchylenia standardowego metody liniowej i punktowej dla mojego przykładu

s2(x)śr = średnia z odchylenia standardowego metody liniowej i punktowej dla twojego przykładu

Statystyka t-Studenta:

Wstawić wzór, wartość z tabeli, wypisać przedział ufności i wypisać wyniki dla mojego przykładu i Twojego.

  1. Podsumowanie i wnioski

Obie metody (siatkowa i liniowa) dały porównywalne wyniki, niemal identyczne dla poszczególnego materiału. Badano oczywiście dokładnie te same fotografie zgładów, ale różnymi metodami. Potwierdziła je analiza statystyczna rozkładu t-Studenta z 95-procentową pewnością, że obie próbki pochodzą z tej samej populacji. Udziały objętościowe faz β wyliczone obiema metodami wynoszą, niemal tyle samo. Już na pierwszy rzut oka można przypuścić z relatywnie dużym prawdopodobieństwem, jak będą się przedstawiać udziały objętościowe faz w poszczególnych materiałach. Obliczenia matematyczne weryfikują tutaj szeroko pojmowaną ludzką intuicję.

  1. Bibliografia

J. Białoskórski i in., Laboratorium z nauk o materiałach, Uczelniane Wydawnictwo Naukowo-Dydatktyczne, Kraków 2000


Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Określenie wielkości ziarna metodą Scherrera
zanieczyszczenia w stalach i ocena wielkosci ziarna doc
4 Linie wpływu wielkości statycznych w ustrojach prętowych
wyklad 13nowy Wyznaczanie wielkości fizykochemicznych z pomiarów SEM
Wykład Ch F wielkości kol
Hydroliza zwiazkow wielkoczasteczkowych 1
Zasady przechowywania ziarna zbóż, nasion roślin strączkowych i oleistych
Budzik Versa wielkość karty kredytowej instrukcja EN
czynniki fizyczne i techniczne wpływające na wielkośc dawki
DIALEKT WIELKOPOLSKI
kuran,Metrologia wielkosci geom Nieznany
25 Podstawy działania przetworników opto, Elektrotechnika-materiały do szkoły, Pomiary elektryczne w
POMIAR DŁUGOŚCI I OBWODÓW KOŃCZYN GÓRNYCH I DOLNYCH, utp, Sensory i pomiary wielkości nieelektryczny
Sprawko - ćw 6a, Politechnika Poznańska, Lab. Pomiary Wielkości Mechanicznych
KUJAWY Z WIELKOPOLSKĄ

więcej podobnych podstron